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Davide Resnati
June 23, 2011
Quelle
la cella cubica semplice (CS, 1 atomo/cella) cubica a facce centrate (CFC, 4 atomi/cella) cubica a corpo centrato (CCC, 2 atomi/cella).
Il cristallo di sodio (
2 atomi a3 cm3 .
1.2
Illustrare il modello atomico di Bohr, ricavando l'espressione del raggio medio delle orbite. Utilizzare questo risultato per stimare il passo atomico del cristallo di Sodio.
Il modello atomico di Bohr (semiclassico, perch unisce concetti di meccanica classica alla quantizzazione dell'energia) si basa sulle seguenti ipotesi:
Gi elettroni rivoluzionano attorno al nucleo lungo orbite circolari ben denite e quantizzate. Mentre orbitano non emettono energia elettromagnetica (=Maxwell) Emettono/assorbono energia solo se passano da un'orbita ad un'altra.
mvr = n
e la forza coulombiana determina un moto circolare uniforme:
(1.1)
2 Zqe 4 0 r2
dove
mv 2 r
(1.2)
r e v sono raggio e velocit della sua orbita, n il numero h = 1.05 1034 J s. Dal sistema delle (1.1), (1.2), ponendo Z = 1 si ottiene il raggio 2 dell'orbita in funzione di n, valido in un atomo idrogenoide (1 elettrone di valenza) :
e sono massa e carica dell'elettrone, quantico principale e
rn = n2
dove con
4 0 2 = n2 r0 2 qe m
(1.3)
mediamente
r0
0.45 nm
n = 3. Il raggio dell'orbita dell'unico elettrone di valenza rN a = 9r0 a = 2rN a = 0.90 nm. Il modello di Bohr in realt preciso solo per l'atomo Kg eettivo si ricava dalla densit del sodio, N a = 968 cm3 , da cui si ottiene:
atomiN a molN a N a mol atomi =N =N = 2.53 1022 = 6.022 1023 0.042 cm3 cm3 mmol cm3 cm3
da cui
a=
2 2.531022
0.43 nm
dove
(struttura CCC).
1.3
Illustrare l'apparente contraddizione tra la II legge della dinamica e la legge di Ohm. Introdurre il modello a rilassamento per la velocit di deriva e la mobilit.
V(a,b) = (Vb Va ) =
a
Edl =
a
F dl qp
(1.4)
I= JdS =
qp nv dS V = IR
(1.5)
Dalla 1.4 vediamo che la tensione dipende dalla forza applicata al portatore di carica, mentre la 1.5 mostra la dipendenza della corrente dalla velocit del portatore di carica. La legge di Ohm che la
velocit
aerma quindi
del portatore di carica, e non la sua accelerazione, proporzionale alla forza ad esso applicata.
L'apparente contrasto con il II prinicipio della dinamica newtoniana dovuto al fatto che l'elettrone non si muove nel vuoto ma in un reticolo di nuclei atomici positivi che ne inuenzano il movimento. Il movimento di un elettrone in un solido approssimabile come m.r.u.a. reticolo o altri elettroni) separati da un intervallato da urti (contro il
vd = v(t) =
qE qE m t = 2m , dove m la massa ecace dell'elettrone nel materiale considerato. In realt il modello non cos semplice, dato che l'urto un evento statistico; si pu applicare il II principio q v vd della dinamica in un tempo pari a : m t = m = qE da cui vd = m E . Il coeciente
=
la
q m
(1.6)
mobilit elettronica.
Discutere la conducibilit in un conduttore metallico e la sua dipendenza dalla temperatura.
1.4
Un conduttore metallico a temperatura ambiente possiede gi un gran numero di portatori di carica in grado di formare una corrente elettrica. I metalli sono quindi caratterizzati da valori di conducibilit molto elevati (resistivit dell'ordine del
/cm).
nq 2 me . In questa formula n la concentrazione di elettroni liberi il tempo medio tra un urto con il reticolo e il successivo, scrivibile grazie al teorema di equipartizione
dell'energia come
a vth
= a(
3kT 1 , dove m )
N nq me a
3kT m
Vediamo che la conducibilit aumenta al diminuire della temperatura; in realt la dipendenza ad alte temperature del tipo reticolo.
1 T 5 +Na dove
Na
1.5
Illustrare le propriet dei semiconduttori del IV gruppo (reticolo, concentrazione intrinseca, sua dipendenza dalla temperatura, la lacuna).
2 celle CFC traslate di a/4 lungo la diagonale, 8
La cella elementare del reticolo cristallino di silicio e germanio analoga a quella del primo elemento del IV gruppo, il carbonio (la struttura si dice diamond cubic): conduttori n buoni isolanti) Nei semiconduttori la concentrazione intrinseca aumenta con la temperatura: questo avviene perch l'elettrone pu assorbire energia portandosi dalla banda di valenza alla banda di conduzione e lasciando nella prima una atomi/cella. La concentrazione intrinseca di portatori di carica molto inferiore a quella dei metalli (n buoni
ni = c T 2 e kT (cfr graco pag 37) e pu essere spiegato con i E E ckT F concetti esposti nel punto [3.7]: applicando la formula n = NC e alla concentrazione intrinseca otteEgap E (EC +EF )/2 2kT C kT = NC e . NC la densit di stati equivalenti ed proporzionale alla niamo ni = NC e 3 temperatura secondo la relazione: NC c T 2 .
positiva; L'andamento del tipo Gli elettroni (negativi) e le lacune (positive) generati termicamente contribuiscono entrambi alla corrente elettrica nel materiale, che per questo viene detta la seguente espressione per la corrente elettrica:
lacuna
Egap
bipolare.
particella positiva che si muove nella banda di valenza; matematicamente si pu esprimere la situazione scrivendo
c I qvj q k=j
dove
v c vk = qvj q k
c vj
Sommando e sottraendo
v qvj
si pu porre la
sommatoria uguale a 0 (globalmente gli elettroni in banda di valenza non si muovono); il termine aggiunto rappresenta la lacuna ed matematicamente equivalente a un elettrone con carica positiva che si muove in verso opposto agli elettroni.
1.6
Stimare la conducibilit del Silicio/Germanio puro a temperatura ambiente (commentare l'espressione, quanticare i termini)
Jd = E
Jd = qe n vd =
(1.7)
q E (n n + p p)
da cui:
= qe (n n + p p)
Nel silicio intrinseco a temperatura ambienten
2 2
= p = ni = 1.45 1010 cm3 , n = 1450 cm e p = 480 cm da cui V s V s S applicando la (1.7) : 4.48 cm . Il materiale un pessimo conduttore e allo stesso tempo uno scarso isolante. cm2 13 3 Analogamente nel germanio intrinseco a temperatura ambiente n = p = ni = 2.40 10 cm , n = 3900 V s cm2 mS e p = 1900 V s da cui 22.3 cm . La maggiore conducibilit spiegata dal band gap pi elevato (0.66 eV
contro 1.12 eV del silicio); questo spiega anche la
ni
pi elevata).
1.7
Introdurre il concetto di drogante, illustrare l'inuenza dei droganti sulla conducibilit del semiconduttore a partire dal modello ad orbitali di legame.
Si dicono
droganti
sostituzionale
+ lacune.
con un Quindi
numero maggiore (donori) o minore (accettori) di elettroni. Aumentano il numero dei portatori di carica: aumentano in modo signicativo e conduciblit del materiale perch Meccanismo: atomi donori per l'elettrone pi esterno di:
controllabile
+ e- liberi, accettori
Il drogaggio n ottimizza la
n > p .
5 e- di valenza, 4 fanno legame sp3 con quelli del Si, il 5 rimane libero (=
portatore di carica). Ad esempio fosforo, donore, trattandolo come idrogenoide otteniamo un raggio dell'orbita
rP =
rSi r0
0.5 nm
1.8
Stimare sulla base del modello di Bohr, l'energia di legame dell'elettrone del Fosforo, quando immerso nel reticolo di Silicio.
Sempre con le ipotesi di Bohr, ricordando la denizione di energia potenziale e che dell'elettrone
mv 2 =
ET OT = Epot + Ek =
2 Zqe 4 0 r (1
2 Zqe 4 0 r , l'energia
+ 1) 2
sostituendo
rn
otteniamo
ET OT =
dove
2 Zqe Ry 1 = 2 2 2(4 r ) n n 0 0
Ry 13, 6 eV
Ry
2 rSi
dell'elettrone. Per il calcolo si tiene conto della costante dielettrica relativa del silicio (vale anche a livello microscopico: l'e- libero polarizza la nube elettronica come se fosse un dielettrico). Trattando P come idrogenoide:
EP =
= 136 meV
che confrontabile con l'energia termica, quindi P quasi sempre ionizzato a temp
ambiente (cfr 7)
1.9
In un semiconduttore deniamo un
ricombinazione R(T, n, p)
e un analogo
tasso di
da cui necessariamente
G(T ) = np = n2 i r(T )
(1.8) Ne
deriva che se il drogaggio aumenta la concentrazione di elettroni liberi (n, maggioritari in questo caso), le lacune (p, minoritarie) si ridurranno proporzionalmente di numero in modo che l'analogia con lo studio dell'equilibrio di una reazione chimica, dove e
ni
n2 i
la concentrazione dei prodotti (che, come in cinetica chimica, una funzione della temperatura).
semiconduttore in cui i portatori maggioritari sono gli elettroni si dice di le lacune si dice di
tipo p.
tipo n,
1.10
diminuzione di mobilit.
p e n diminuiscono
in identiche proporzioni
di valenza )
1.11
p < n in
banda
Illustrare la dipendenza della conducibilit di un semiconduttore drogato al variare della temperatura distinguendo tra i regimi di freeze-out/conducibilit estrinseca/ conducibilit intrinseca.
La conducibilit in un semiconduttore drogato dipende da due diversi fattori legati alla tempartura: la percentuale di atomi droganti ionizzati e la concentrazione intrinseca di portatori. Entrambi i fattori crescono con la temperatura ma mentre il primo cresce asintoticamente no alla concentrazione di drogante (ionizzazione completa), il secondo cresce illimitatamente ma solo per alte temperature. Ne deriva che oltre una certa
tem-
Per
ni
atomi droganti sono ionizzati e la concentrazione intrinseca di portatori si avvicina asintoticamente allo 0; ne deriva che la conducibilit tende ad annullarsi (regione di freeze out) Chiaramente la conducibilit direttamente proporzionale alla concentrazione di portatori di carica secondo la (1.7), osservando che in un semiconduttore estrinseco una delle due concentrazioni (n o rispetto all'altra; distinguiamo quindi tre regioni di temperatura anche per la conducibilit.
p)
trascurabile
Figure 1.1:
1.12
Illustrare, partendo dall'esempio della distribuzione di un gas in una colonna isoterma, i risultati fondamentali della statistica di Boltzmann (distribuzione in energia, rapporto della concentrazione a due quote, dipendenza dalla temperatura).
Dallo studio della termodinamica noto che in una colonna isoterma di gas valgono le seguenti relazioni:
P = kB nT dP = mng dz
dove
ottiene
dn dz
= mgn kB T
n(z) = n0 e
(1.9)
ovvero la concentrazione di particelle decresce esponenzialmente con l'altezza. Il numero totale di particelle
+ mgz BT NT OT = 0 e kB T n0 dz = kmg n0 . Analogamente le particelle che stanno sopra una data altezza h sono: mgh(0) + mgz Nh = h e kB T n0 dz = NT OT e kB T . Notiamo che mgh l'energia potenziale delle particelle ad altezza h, e ugualmente 0 l'energia potenziale associata a NT OT , vedendo quest'ultimo come il numero di particelle che stanno sopra l'altezza 0. La precedente pu essere quindi generalizzata a due altezze qualsiasi, a
due concentrazioni invece che a due quantit di particelle e, in generale, a una qualsiasi distribuzione continua di energie in quella che si dice
distribuzione di Boltzmann :
E (h )E (h ) n(h2 ) p 2 Tp 1 kB =e n(h1 )
(1.10)
temperatura, ovvero le particelle del gas si portano mediamente ad un'altezza maggiore per via dell'aumento di
Una giunzione p-n formata da un semiconduttore drogato n e uno drogato p aancati. Il dispositivo ha la particolarit di condurre corrente elettrica solo in un dato verso (da p ad n, cio gli elettroni possono andare solo dalla zona n alla zona p). La distribuzione di carica all'equilibrio determinata da fenomeni diusivi: il
n2 i NA . Possiamo trattare gli elettroni liberi alla stregua di particelle di un gas ideale e quindi applicare la statistica di
lato n avr una concentrazione di elettroni liberi
ND
Boltzmann:
n(lato n) n(lato p)
NA ND n2 i
=e
qVn qVp kB T
Vbi = Vp Vn =
kB T NA ND ) ln( q n2 i
(2.1)
Qualitativamente, quello che accade la migrazione, con successiva ricombinazione, di parte degli elettroni liberi dalla zona n alla zona p. Ne deriva la formazione di una
giunzione metallurgica) dove le cariche degli ioni di drogante sono esposte cio non bilanciate da portatori in eccesso. In questa zona la densit di carica non nulla e ne deriva un campo elettrico diretto dalla zona n alla zona p. In polarizzazione, la tensione applicata ai morsetti della giunzione modica il potenziale ai capi della zona di carica spaziale : una tensione di polarizzazione diretta si oppone alla tensione di built-in data dalla (2.1) ; ne consegue una riduzione del campo elettrico e quindi dell'estensione della zona di carica spaziale (il generatore inietta portatori di carica che vanno a coprire la carica netta in zona svuotata). Viceversa, in polarizzazione inversa la tensione ai capi della zona di carica spaziale aumenta e ne aumenta anche l'estensione.
2.2
Tracciare il prolo di energia potenziale ai morsetti di una giunzione p-n all'equilibrio ed in polarizzazione diretta/inversa e giusticare le dipendenze attese per la espressione della corrente.
Figure 2.1: Gli elettroni vedono una barriera di potenziale pari al potenziale di built in (i ) verso la zona p. La corrente dalla zona p alla zona n sar direttamente proporzionale alla concentrazione di elettroni minoritari in zona p:
I21
n2 i NA . La corrente dalla zona n alla zona p dipender invece dalla barriera di potenziale, secondo un q(i +VR ) kT esponenziale di Boltzmann: I12 ND e . In condizioni di equilibrio (VR = 0) abbiamo I21 = I12 qVR n2 kT i mentre in polarizzazione inversa abbiamo In = I21 I12 ). NA (1 e
Figure 2.2: Un ragionamento simile per le lacune (gura 2.2 (a)) ci porta a scrivere la dipendenza attesa per la corrente in polarizzazione inversa, dove
VR
I = (n
qVR n2 n2 i + p i )(1 e kT ) NA ND
(2.2)
I12 :
I12 ND e
q(i VD ) kT
da cui, con
I = (n
2.3
qVD n2 n2 i + p i )(e kT 1) NA ND
(2.3)
Ricavare l'andamento dettagliato di campo elettrico e prolo di potenziale in una giunzione p-n con drogaggi uniformi polarizzata all'equilibrio. Dare le espressioni esplicite del campo elettrico massimo e della estensione della zona di carica spaziale.
Nella zona di carica spaziale sono presenti due distribuzioni di carica di segno opposto, di densit lato p e
qNA
dal
qND
dal lato n. Per il principio di conservazione della carica elettrica deve chiaramente essere
(2.4)
|xn |
|xp |
Figure 2.3: Ora, la legge di Gauss per il campo elettrico (I equazione di Maxwell) aerma che: ragionando in una dimensione: Da queste si ottiene
E =
ovvero,
dE dx dE dx
= = qND
qNA
E(xp ) = E(xn ) = 0.
Emax =
qNA xp
qND xn
, xp < x 0 , 0 < x xn
qNA x2 +qND x2 qN x (x +x ) p n = A p2 p n , che la stessa tensione di built in data dalla (2.1) (sono 2 state imposte le condizioni V (xp ) = 0 e la continuit in 0). N La larghezza totale della zona svuotata pu essere scritta, ricordando la (2.4) come W = xp +xn = xp (1+ A ); ND Vbi 2 inoltre dal punto precedente vediamo che W = qNA xp . Dal sistema delle due si ottiene
dove si posto
Vbi =
W =
(2.5)
Notiamo inne che possiamo riscrivere l'espressione del campo massimo di giunzione come
2.4
Introdurre la corrente di diusione e ricavare la Legge di Fick giusticando il legame tra coeciente di diusione e mobilit (relazione di Einstein).
Gli elettroni liberi in un semiconduttore sono soggetti al dell'asse x, abbiamo che il usso di elettroni dal punto dal punto
moto browniano.
verso l'origine
+, + = 1 n() vth (prendiamo come il libero cammino 2 concentrazioni n() e n() con Taylor al primo ordine otteniamo il usso netto di elettroni attraverso il punto n scelto come origine degli assi dovuto al moto browniano in condizioni stazionarie (cio t = 0): (0) = + = 1 n n n vth (n(0) (0) n(0) (0)) = D (0) 2 x x x
Questa legge, che mostra la dipendenza del usso di elettroni dal gradiente di concentrazione, la prima
legge 1 2 di Fick. D = vth il coeciente di diusione; ricordando che l'energia cinetica dell'elettrone 2 mvth = kT , 2 kT 2 possiamo riscrivere quest'ultimo come D = vth = e dalla (1.6) otteniamo la relazione di Einstein m
=
kT q
:D
2.5
L'equazione di continuit rappresenta la legge di conservazione della carica elettrica espressa in condizioni non
J t + x = 0. La relazione va scritta per i portatori di carica di entrambi i segni; se si suppone che non ci siano processi di generazione/ricombinazione di coppie
stazionarie; in una dimensione pu essere scritta come: elettrone/lacuna va bene cos, considerando invece i tassi di generazione e ricombinazione otteniamo, ad esempio,
Rn
Jn che
essendo
Per determinare i due tassi di generazione/ricombinazione ragioniamo nel modo seguente: supponiamo di
drogato p in cui non possa avvenire ricombinazione in volo tra elettrone lacuna (in Si-
Ge non si conserva la quantit di moto); qui la ricombinazione avviene con la cattura di un minoritario da parte di uno degli ioni del reticolo e con la successiva ricombinazione con un maggioritario. ragionevole quindi che
Rn
e inversamente dal
1 n 1 . Otteniamo Rn = In = (n NT vth ) n ; al contrario, si pu supporre la generazione costante e dipendente solo dalla concentrazione di equilibrio: 0 di generazione e la ricombinazione netta Gn = nn . Un ragionamento analogo considera nullo il tasso dipendente dalla concentrazione di portatori n = nn0 . L'equazione di continuit diventa, in entrambi
della frequenza delle interazioni tra minoritari e ioni del reticolo:
di questi ultimi
n .
n =
iniettati
totale
i casi:
n 1 Jn n n0 = t q x n
Resta solo da esplicitare la densit di corrente che formata da una componente di da una componente di
deriva Jndr = qn nE
perch la corrente positiva nel verso opposto al gradiente di concentrazione). Le equazioni di continuit sono quindi, nelle ipotesi considerate:
= n E =
(2.6)
p E
(2.7)
2.6
Integrare l'equazione di continuit per ricavare l'andamento del prolo di portatori minoritari iniettati in una zona neutra ai capi di una giunzione p-n polarizzata direttamente.
nn0 n
=0
riscrivibile in funzione di
n (Wp ) = 0 qV n (xp ) = n0 (e kT 1)
ipotizzando il diodo
Ln )
mettendo il sistema di riferimento con l'origine sulla giunzione metallurgica e verso positivo dalla parte della zona n. Da queste si ottiene il prolo cercato (per gli elettroni minoritari iniettati in zona p):
n (x) = n0 (e kT 1)e
Vediamo che al limite della zona svuotata vale
qV
x+xp Ln
(2.8)
n(xp ) = n0 + x (xp ) = n0 e kT =
qV
n2 VV i e th NA
(2.9)
2.7
Ricavare l'espressione della corrente totale che attraversa una giunzione p-n in polarizzazione diretta. Tracciare e giusticare l'andamento della densit di corrente di lacune e di elettroni.
Per ricavare la corrente totale troviamo prima l'espressione della densit di corrente totale di lacune e elettroni nella giunzione. Dalla (2.8) possiamo subito ricavare la densit di corrente dei minoritari nelle rispettive zone neutre:
x+xp qV dn qDn = n0 (e kT 1)e Ln dx Ln qV qDp dp xxn = qDp = p0 (e kT 1)e Lp dx Lp
Jn Jp
= qDn
(2.10)
(2.11)
qV qV qDp qDn kT 1) e J (x ) = kT 1) p n Ln n0 (e Lp p0 (e Ipotizzando trascurabili i fenomeni di ricombinazione in zona di carica spaziale, le densit di correnti di
Jn (xp ) =
minoritari si conservano all'interno di essa, e quindi la densit di corrente in zona svuotata vale Per continuit, questa la densit di corrente di tutta la giunzione. giunzione quindi:
JT = Jn (0)+Jp (0)
IT = JT A = qA(
dove e
qV qV Dn n2 Dp n2 i + i )(e kT 1) = Is (e kT 1) Ln NA Lp ND
(2.12)
p0 =
n2 i NA . (2.2), (2.3).
n0 =
Is
si dice
n2 i ND
Figure 2.4:
La continuit della corrente ha come conseguenza il prolo mostrato in gura: la corrente di maggioritari nelle zone neutre non costante ma compensa punto a punto la diminuzione di corrente di minoritari; ad esempio dal lato n vengono iniettati elettroni liberi che ai margini della giunzione hanno concentrazione pari a
Jp (xp ).
2.8
correnti di drift
Si consideri una giunzione p-n polarizzata inversamente: ricavare l'andamento del prolo di minoritari in una delle zone neutre adiacenti
Vale lo stesso procedimento svolto in precedenza e quindi, per gli elettroni minoritari, vale ancora la (2.6). In questo caso per
n (x)
rappresenta una
diminuzione
n (Wp ) = 0 n (xp ) = n0 (e
qVR kT
1)
x+xp Ln
. Inoltre
VR
il modulo della
tensione inversa applicata al diodo. In tutto quindi il prolo dei minoritari in zona neutra p dato da:
n(x) = n0 n (x) = n0 n0 (1 e
qVR kT
)e
Figure 2.5:
Una giunzione pn polarizzata direttamente presenta un accumulo di minoritari ai margini della zona svuotata, ricavabile, per gli elettroni in zona p, integrando la (2.8) lungo la zona neutra:
QDn = q
xp
n (x)dx =
10
n2
|QDn | L2 /Dn n
totale
QDp =
V n2 i qLp NA (e Vth
V.
Deniamo quindi
V
capacit di diusione
V
1) e Jp = 1 : QD = QDp + |QDn | e
la grandezza
Jn = QDp p . Si pu dimostrare
vediamo che
CD =
dove si posto unilatera:
p QD0 = qn2 ( NA + i supponiamo NA ND
(3.1)
Ln ND ). Una scrittura pi interessante della (3.1) si ottiene per una giunzione da cui QD QDp = p Jp = p JD . Da qui deriva che
CD =
p JD Vth p
non rappresenta il tempo di vita
Lo stesso risultato valido anche per un diodo a base corta, dove per medio della lacuna ma il pari a
tempo di transito
tr,n =
3.2
Discutere la risposta capacitiva di una giunzione p-n in polarizzazione inversa (capacit di svuotamento) e illustrare il corrispondente circuito per piccoli segnali del diodo.
In polarizzazione inversa l'accumulo di carica mobile che genera la capacit di diusione non presente e quindi l'unico eetto capacitivo dovuto alla carica che la carica per unit di supercie :
Qj presente nella zona svuotata. Dalla (2.4) Qj = qND xn = qNA xp . Dalla (2.5) possiamo poi esplicitare
si ottiene o
xp o xn :
xn =
QJ =
2q (Vbi + VR )
NA ND (NA + ND )
di svuotamento o di giunzione
2q
Cj =
1 (Vbi + VR )) = 2 Vbi + VR
NA ND (NA + ND )
(3.2)
Cj0 = Cj |Vrev =0 =
Cj =
Cj esattamente la capacit
W : Cj =
Figure 3.1:
1 intuitivamente,
entrambe le distribuzioni di carica inducono una distribuzione di segno opposto sull'altro lato della giunzione.
11
In gura 3.1 sono riportati gli andamenti dei due eetti capacitivi. capacit di diusione, mentre
CJ
2Cj0 .
In polarizzazione inversa la
capacit di diusione nulla (e cos anche le correnti) e c' solo l'eetto dovuto alla zona svuotata. I modelli circuitali per la polarizzazione diretta (a) e la polarizzazione inversa (b) sono riportati in gura 3.2 .
Figure 3.2:
3.3
Fenomeni di breakdown di una giunzione p-n: illustrare il fenomeno di breakdown per eetto Zener, stimarne il campo elettrico critico sulla base di un semplice modello di legame.
107 V /cm).
In queste condizioni
gli elettroni che formano i legami covalenti del reticolo vengono strappati dai rispettivi atomi e formano coppie elettrone-lacuna che partecipano alla corrente di saturazione inversa. Essendo il campo elettrico di giunzione dipendente direttamente dal drogaggio, questo eetto comune solo in dispositivi fortemente drogati e per questo, in genere, la tensione di breakdown Zener e in genere pi bassa rispetto alla tensione che causa il breakdown per eetto valanga. All'aumentare della temperatura la tensione di breakdown per eetto Zener
diminuisce
in quanto ad alte
temperature sono sucienti campi elettrici inferiori per strappare la stessa quantit di elettroni dal reticolo.
Figure 3.3: L'eetto coesiste con il breakdown a valanga, che prevale se la zona svuotata pi larga (gli elettroni devono avere spazio per accelerare). In diodi fortemente drogati prevale invece l'eetto Zener: questo spiegabile osservando che per forti drogaggi li elettroni possono passare dalla banda di valenza alla banda di conduzione per eetto tunnel anche in presenza di tensioni inverse relativamente basse
12
3.4
Fenomeni di breakdown di una giunzione p-n: illustrare il fenomeno di breakdown per ionizzazione ad impatto e stimare il campo critico sulla base di un semplice modello. Discutere la dipendenza del campo critico dal drogaggio.
la carica spaziale vengono fortemente accelerati dal campo elettrico di giunzione; in questo caso acquistano energia cinetica suciente da rompere un legame covalente in caso di collisione con gli ioni del reticolo. rottura del legame implica la formazione di una coppia elettrone-lacuna che verr anch'essa accelerata dal campo elettrico, potendo a sua volta generare altre coppie elettrone-lacuna e aumentano cos la corrente inversa. La tensione in corrispondenza della quale si ha questo fenomeno in genere pi alta della tensione di breakdown dei diodi Zener. L'eetto valanga ha una dipendenza inversa dalla temperatura rispetto all'eetto Zener: un aumento della temperatura provoca infatti una diminuzione del libero cammino medio dei portatori e quindi della loro eneriga cinetica. Di conseguenza, ad alte temperatura sar necessario un campo elettrico pi elevato per produrre l'eetto valanga. Si pu stimare che il campo elettrico necessario a produrre l'eetto valanga sia il campo elettrico che fornisca a un elettrone un energia pari all'energia di ionizzazione degli atomi del reticolo; in formule:
qE B = Ei
dove
= vth =
30 nm . Essendo l'energia di ionizzazione dell'ordine dell'elettronvolt otteniamo un campo critico di E B 300 kV /cm. Dalle espressioni del campo massimo ottenute nel punto [2.3] possiamo poi 2(Vbi +VRB ) scrivere EB = se la giunzione fortemente drogata p (oppure sostituendo ND se una giunzione EB
qNA
3kT m m q
VRB
3.5
2 EB 3 1017 V 2qNA NA
Illustrare la formazione delle bande di livelli energetici in un solido cristallino con particolare riferimento ai solidi degli elementi del IV gruppo della tavola periodica.
In gura 3.4(a) mostrata la densit di probabilit per gli elettroni di due atomi di idrogeno in funzione del raggio. Avvicinando i due atomi, le due curve si sovrappongono, il che implica un'interazione fra i due elettroni. Per il principio di esclusione di Pauli, quindi, essi andranno a occupare due dierenti livelli energetici (che, alla formazione della molecola questi sono per compresi in un 3.4(c)).
H2
molecolari
mostrata in gura 3.4(b). Ripetendo il procedimento per n atomi si ottengono n livelli energetici separati; originario. Ne deriva una distribuzione quasi-continua di livelli energetici che forma una
intervallo di energie ristretto in quanto corrispondono a un unico stato quantico banda di energie (gura
Figure 3.4: Questa situazione vale anche nel silicio (gura 3.5): qui i livelli energetici s e quelli p, inizialmente separati per i due atomi isolati, si mischiano formando 2 stati a pi bassa energia (orbitali leganti sp) e 2 stati a pi alta energia (orbitali antileganti sp), con ogni stato che pu ospitare due elettroni di spin opposto. Anche qui il meccanismo si ripete con la formazione del cristallo, e alla distanza interatomica di equilibrio, d origine a due bande di livelli energetici separate, la
banda di valenza
e la
banda di conduzione.
Vediamo che tutti gli orbitali leganti (2 per ogni atomo) fanno parte della banda di valenza. Questo vuol dire che allo zero assoluto la banda di valenza risulter completamente riempita da elettroni e viceversa, tutti gli stati della banda di conduzione (orbitali antileganti) risultano liberi.
13
Figure 3.5:
3.6 Illustrare e la statistica di occupazione dei livelli energetici e introdurre la denizione di livello di Fermi.
Per determinare la distribuzione degli elettroni nei diversi livelli energetici, e quindi della bande, non va bene la statistica di Maxwell-Boltzmann, poich questa prevede che uno stesso stato energetico (quantico) possa essere occupato da un numero qualsiasi di elettroni, in contrasto con il principio di esclusione di Pauli. Una statistica che integra invece questo principio la
(3.3)
fh (E) = 1 f (E) =
1+e
1
EF E kT
energia di Fermi.
E < EF
e 0 per
T = 0K , f (E)
vale 1 per
E > EF ,
EF
energy gap.
Se ci poniamo in un semiconduttore intrinseco (basse concentrazioni di portatori di carica) possiamo supporre che tutti gli elettroni liberi abbiano energia ). Se chiamiamo relazione
Ee EC
1
Eh EV
NC
NV
EC
EV
e supponiamo
n = p si pu riscrivere come NC
= NV
1
EF EV 1+e kT
NC = NV la EF si ottiene
(3.4)
EF =
EC + EV 2
, cio il livello di Fermi si trova approssimativamente al centro della banda proibita. L'energia di fermi in un semiconduttore intrinseco chiamata anche
14
Figure 3.7:
3.7
Denire le densit di stati equivalenti in banda di conduzione e valenza. Illustrarne il legame con la concentrazione intrinseca ed il gap.
Secondo quanto detto nora, la concentrazioni di elettroni liberi a una data energia
E > EC
si ottiene come
totale
dove
g(E EC )
E.
La
n0 =
g(E EC ) f (E)dE
EC
(3.5)
Se ipotizziamo che
E EF > 3kT
possiamo approssimare
f (E) e
EEF kT
n=
g(E EC ) e
EC
EEF kT
dE = e
Ec EF kT
g(E EC ) e
EC
EEC kT
dE = NC e
Ec EF kT
(3.6)
NC il valore dell'integrale denito. Abbiamo ricavato che n uguale alla concentrazione di elettroni che ci sarebbe in un sistema equivalente con NC livelli energetici tutti a energia EC occupati con la rispettiva probabilit. Per questo motivo la quantit NC rappresenta la densit di stati equivalenti in banda di conduzione.
chiamando Chiaramente un'espressione analoga da un procedimento simile si ottiene per le lacune: tipici sono
p = NV e
EF EV kT
(valori
Figure 3.8:
15
Vediamo che con questa approssimazione la distribuzione di tipo maxwelliano, con le energie riferite al livello di Fermi; questo avviene perch nella nostra ipotesi (energie che superano di diversi kT l'energia di Fermi) ci sono pochi elettroni in banda di conduzione e il principio di esclusione ha eetti trascurabili. In un semiconduttore intrinseco
n2 = n p = NC e i
avendo posto
Ec Ei kT
NV e
Ei EV kT
= NC NV e kT
EG
(3.7)
EG = EC EV
indipendente dal livello di Fermi ed funzione dell'ampiezza dell'energy gap, oltre che della temperatura.
3.8
ND n = NC e NC ) ND
Ec EF kT
da cui
EC EF = kT ln(
ovvero il livello di Fermi si avvicina al limite inferiore della banda di conduzione all'aumentare del drogaggio (ricordiamo che
NC 1019
Vale un
EV = kT ln( NV ). NA
Ponendo
NA = ND = n i
in queste due relazioni troviamo un utile espressione per il livello di Fermi intrinseco:
Ei =
coerente con la (3.4). Deniamo tipo n:
EC + EV NC kT ln( ) 2 NV = 1 (EF EI ) q
(3.8)
potenziale di Fermi
n =
la quantit
(3.9)
Al contatto tra questi due tipi di semiconduttore il livello di Fermi deve necessariamente equalizzarsi in tutto il materiale (ricordiamo che esso denito come il pi alto livello occupato dagli elettroni allo zero assoluto); ne deriva un
piegamento delle bande energetiche, la cui posizione relativa rispetto al livello di Fermi deve rimanere
J = n p = kT ND NA ln( ) q n2 i
invariata. Il gradino di potenziale che si forma fra i due lati della giunzione pari alla somma dei moduli dei due potenziali di Fermi:
che ancora il potenziale di built-in della giunzione ottenuto nella (2.1). L'andamento delle bande energetiche in una giunzione p-n quindi quello mostrato in gura 3.9.
Figure 3.9:
16
funzione lavoro w
la minima quantit di energia necessaria per strappare un elettrone da un solido: come si vede in gura 4.1 (a) questa pu essere vista come la dierenza tra il livello di Fermi e il livello di vuoto (energia alla quale gli elettroni non sono pi vincolati al solido).
Figure 4.1: Nel semiconduttore (di tipo n, mostrato a destra) la denizione non pi esattamente valida in quanto non ci sar mai nessun elettrone avente energia l'
anit elettronica q
Si denisce
EF
come l'energia necessaria per estrarre dal semiconduttore un elettrone libero avente
potenziale di contatto tra due materiali la dierenza fra le rispettive funzioni lavoro e, similmente, potenziale di contatto instriseco il potenziale di contatto fra un materiale e il silicio intrinseco. In gura 4.1 (b)
Vbi = m s
(4.1)
EC .
ed la barriera di potenziale vista dagli elettroni del semiconduttore verso il metallo; questa causata dall'accumulo di carica
positiva, cio di portatori minoritari, nella zona di giunzione W. Gli elettroni del metallo vedono invece
B0 = m .
Quest'ultima una grandezza costante e non varia neanche se alla giunzione
una barriera di
applichiamo una dierenza di potenziale, quindi non mai possibile un usso considerevole di elettroni dal metallo verso il semiconduttore. Se applichiamo una dierenza di potenziale positiva rispetto al semiconduttore (gura (a)) la barriera di potenziale aumenta (le energie di Fermi devono equalizzarsi solo all'equilibrio!) e quindi non possibile un usso di elettroni attraverso il dispositivo (non passa corrente). Al contrario una dierenza di potenziale positiva rispetto al metallo causa un abbassamento della barriera di potenziale e quindi facilita il usso di elettroni dal semiconduttore al metallo. Questa giunzione quindi una giunzione corrente simile a quella della giunzione p-n.
retticante
17
Tutto questo possibile solamente sotto l'ipotesi che il potenziale di contattoVbi sia In totale abbiamo quattro tipi possibili di giunzone metallo-semiconduttore:
positivo.
Se cos non
fosse la giunzione permetterebbe il usso di elettroni in entrambi i versi formando quindi un contatto
ohmico.
metallo-semic. tipo n con metallo-semic. tipo n con metallo-semic. tipo p con metallo-semic. tipo p con
Per ricavare questi risultati si tracci il diagramma delle bande della giunzione all'equilibrio, vericando che un aumento di maggioritari nella zona di giunzione produce un contatto ohmico. In realt dicile realizzare buoni contatti ohmici con gran parte dei semiconduttori, soprattutto se drogati p (bisogna utilizzare un metallo in genere con una
m > 5V ).
canti ma con semiconduttori fortemente drogati (contatti n+ o p+) in modo da piegare fortemente le bande e permettere il usso di elettroni in entrambi i versi per
eetto tunnel.
4.2
Illustrare l'elettrostatica di una struttura MOS, identicando le cadute di potenziale in condizione di banda piatta.
La struttura MOS analoga a un condensatore a facce piane parallele, dove un armatura formata dal contatto metallico (solitamente silicio policristallino fortemente drogato), l'altra la supercie del semiconduttore e fra di esse interposto uno strato di
SiO2
come dielettrico.
gate )
nell'interfaccia metallo-ossido che generano un campo elettrico e un corrispondente accumulo di carica positiva (maggioritaria) all'interfaccia ossido-semiconduttore (come in un condensatore). Una tensione positiva al gate genera distribuzioni di carica opposte, in particolare una carica netta
negativa
sucientemente alta la concentrazione delle lacune diminuisce tanto che tutti gli eetti di tipo n. Il fenomeno si dice inversione (gura 4.2(c)).
Figure 4.2: In gura 4.3 sono mostrate le bande energetiche in tutto il dispositivo MOS. Imponendo la costanza del livello di Fermi (che vale anche in polarizzazione, poich comunque l'ossido non conduce corrente) abbiamo
m + Vox0 = +
m Vox0 Eg
e
Eg 2q
s0 + p
18
Figure 4.3:
p s
si dice
all'equilibrio)
+Vox0 + s0 = (m ( +
dove
Eg + p )) = ms 2q
(4.2)
ms
indica la dierenza fra le funzioni lavoro del metallo e del semiconduttore (sempre riferite all'ossido).
Si denisce
s = 0
Vox
e di
Vox = Cox
ox
dove
Qox
generalmente positiva, intrappolata nell'ossido in fase di lavorazione (questa carica induce una carica negativa in supercie al semiconduttore che noi vogliamo annullare). Si ottiene quindi
VG |s =0 = VF B = ms
Si noti che
Qox Cox s = 0.
(4.4)
ms
funzione del drogaggio del substrato e del tipo di metallo usato come elettrodo di gate. Le
Figure 4.4:
4.3
Se
Struttura MOS: denire le condizioni di svuotamento e forte inversione. Ricavare l'espressione della tensione di soglia.
il condensatore MOS si dice in zona di
VG < VF B
accumulazione :
elettroni mentre all'interfaccia Ox-Si si accumulano lacune, queste ultime tutte a ridosso dell'interfaccia (questo
19
ha un valore negativo ma comunque prossimo a 0); il comportamento quindi molto simile a con
VG VF B > 0
VG VF B
svuotamento :
praticamente priva di portatori liberi (le lacune vengono respinte e gli elettroni sono pochissimi) ed quindi
zona svuotata
Se alziamo ulteriormente
VG
in supercie per via del campo elettrico. Per la loro concentrazione vale la distribuzione di Boltzmann:
V (0)V (xd ) Vth s n2 i e Vth NA
n(0) = n(xd ) e
Dalla (4.5) osserviamo che per dice che si ha un'
(4.5)
ossia per
s = Vth 2 ln( NA ) = 2p (gura 4.2 (c)). Per s > 2p la carica totale presente all'interfaccia ni Si-Ox approssimabile con n(0) (prima contava di pi la carica ssa negativa dovuta alla zona di svuotamento). Questo vuol dire che a piccole variazioni di s corrispondono grandi variazioni della carica totale in supercie
avviene per secondo la (4.5) (vedi gura 4.5).
inversione del drogaggio poich la supercie del semiconduttore a tutti gli eetti uno strato drogato n. Quando la concentrazione di elettroni diventa confrontabile con la carica presente nella zona svuotata, cio NA (vedi punto successivo), il condensatore MOS si dice in regime di forte inversione ; questo
s > p (livello di Fermi del semiconduttore) la ni ; per questi valori del potenziale di supercie si
s sono davvero =
piccole (qualche
l'estensione della zona svuotata in zona di forte inversione quindi approssimativamente costante e uguale a (vedi punto successivo)
xdmax =
2 s s qNA
VG > VF B
VG VF B = s + Vox = s
dove
(4.7)
Qc e `
carica sia concentrata in un sottile strato a ridosso dell'interfaccia che viene chiamato considera nulla in zona di debole inversione e quindi si denisce la
canale.
Qc si
20
che permette l'entrata in zona di forte iniezione, cio la formazione del canale. alla soglia fra debole e forte iniezione (s
VT 0
= 2p , Qd = Qdmax , Qc = 0): 2p + VF B VT 0
come (4.8)
VT 0 = 2p +
dove si posto
2q s NA (coeciente di eetto body). D'ora in avanti si indicher Cox si discuter nella domanda [4.7].
VT ,
il pedice 0
4.4
Struttura MOS: illustrare l'elettrostatica del sistema in condizioni di svuotamento, ricavando la densit superciale dei portatori liberi all'interfaccia e la sua dipendenza dalla tensione di controllo.
In zona di svuotamento l'intefaccia Si-Ox priva di portatori di carica, ovvero presente una zona svuotata dalla parte del semiconduttore di larghezza
xd
semiconduttore di tipo p). Da qui si ottiene, integrando come per la giunzione pn:
V (x) =
qNA 2 2 s (x xd ) . Il potenziale di supercie quindi, avendo posto La densit superciale dei portatori liberi all'interfaccia data invece dalla (4.5) che permette di scrivere:
= qNA (NA il drogaggio del E(x) = qNA (x xd ) e s A V (xd ) = 0,: s = V (0) = qNs x2 . d 2
Qn = Q0 e mkT
dove
qVG
m=
VG s
4.5
Transistore MOSFET: ricavare l'espressione della corrente di conduzione in zona ohmica, chiarendo le approssimazioni che si compiono.
Un transistore MOS si ricava dalla struttura MOS vista in precedenza ponendo due contatti metallici agli estremi del canale n ( disponibili per la conduzione; supponiamo inoltre di ssare l'elettrodo di source (posto = 0) e l'elettrodo di drain a potenziale
di body
source e drain ); la zona di semiconduttore sotto i contatti drogata n+ per avere elettroni allo stesso potenziale del contatto
VD . In zona di inversione (oltre la soglia) la conducibilit (x) = qn n(x) = Qn (x)n dove Qn (x) la carica per unit di area nel canale. Qn (x) Cox
VGS = VG VF B = 2p + Vc (x) +
dove abbiamo posto
2p + Vc (x)
0,Vc (L) = VD ),
canale:
s = 2p + Vc (x) (il potenziale di supercie diminuisce linearmente lungo il canale,Vc (0) = Qd (dovuta
Qd =
2p + Vc (x)
2p
(4.9)
Qn (x)
possiamo scrivere esplicitamente l'incremento della funzioneVc (x) tramite la legge di Ohm :
dVc = IDS
(4.10)
n Cox
0
VDS
(VGS VC VT )dVC
2 VDS ] 2
= =
IDS L dx W 0 IDS L W
=
dx n Q (x)W
dx y(x)W
1 nq
dx y(x)W
21
1 W 2 n Cox [2(VGS VT )VDS VDS ] (4.11) 2 L L'equazione mostra che in zona ohmica (tensione VDS bassa) il MOSFET si comporta come un resistore non IDS =
lineare. La caratteristica parabolica ha il vertice in
1 W n Cox (VGS VT )2 2 L
(4.12)
corrente di saturazione
del MOSFET
Transistore MOSFET: ricavare l'espressione della corrente di conduzione in saturazione, chiarendo le approssimazioni che si compiono.
Al raggiungimento di
(4.9) che in queste condizioni esiste un punto si annulla; questo punto detto di pinch o
punto di pinch o
Q (L ) = 0,
Vc (L ) = VGS VT .
il canale si
accorcia ma ai suoi capi cade sempre la stessa dierenza di potenziale; quest'ultima impone una corrente nel canale, ricavabile similmente a quanto visto nel punto precedente:
IDS =
.
(4.13)
In genere il punto di pinch o arretra di una piccola frazione rispetto alla lunghezza del canae; quindi in prima approssimazione si pu approssimare costante e pari a
L L.
IDS = IDS,sat
(4.12). da notare che gli elettroni, una volta arrivati al punto di pinch o,
sono spinti verso il terminale di drain dal forte campo elettrico che si sviluppa a causa della caduta di potenziale
VDS VDS,sat
4.7
LL.
Transistore MOSFET: chiarire l'origine e la denizione di coeciente di effetto body . Discuterne l'impatto sulla capacit di corrente del transistore.
Finora abbiamo supposto che source e body fossero contatti di source e di body formano una canale per la variazione di
equipotenziali, ovvero VSB = 0. Se, invece, VSB > 0 i giunzione pn polarizzata inversamente (ricordiamo che l'area sotto
Questo implica che gli elettroni che si creano nel di quelli del source e quindi tendono a uire verso
VG
quest'ultimo; di conseguenza aumenta la carica ssa presente sotto l'ossido in zona di inversione data dalla (4.6):
Qdmax = qNA xdmax = 2q s NA (2p + VSB ). Sostituendo questa nella (4.7), sempre con le condizioni di inversione, otteniamo la tensione di soglia: VT = 2p + 2p + VSB + VF B = VT 0 + ( 2p + VSB 2p ).
2q s NA e si osserva che esso regola la dipendenza della tensione di soglia Cox dalla tensione fra source e body. Se VSB = 0 abbiamo ovviamente VT,mn = VT 0 .
Il coeciente di eetto body
Un altro eetto legato al coeciente di eetto body legato all'approssimazione eettuata nella (4.9) nella quale si
sovrastimata
la carica libera presente nel canale, supponendo che la zona di carica spaziale sotto il dove vediamo che la proporzionalit regolata ancora da
( 2p + Vc (x)
2p )),
(4.10) e integrando si ottiene un espressione della corrente di saturazione del MOSFET trovata di un fattore moltiplicato per
minore
di quella gi
4.8
Transistore MOSFET: discutere la variazione della corrente di saturazione al variare della polarizzazione di drain. Chiarirne la sica e l'impatto sulle prestazioni del componente.
L'approssimazione fatta nel punto [4.6] non tiene conto del fatto che all'aumentare di canale diminuisce (
VDS
la lunghezza
del
VDS
implica
(4.14)
ricordi che
d ( 1 ) dx y(x)
1 = y(x)2
dy(x) dx
22
Considerando questo eetto, la corrente di saturazione si ottiene al primo ordine sviluppandone l'espressione in serie di Taylor:
(4.15)
1 dL = L dVDS
detto
drain superiori a quella di saturazione, la corrente aumenti linearmente a causa della variazione della lunghezza eettiva del canale n. Questo implica che la del transistor non innita in zona di saturazione (ovvero non un generatore di corrente ideale) ma ha un valore nito dipendente da
e pari a
I r0 = ( VDS |VDS,sat )1 . DS
transconduttanza
G = vd /vg
del componente: la
gm =
(4.16) Il guadagno
e quindi lega la variazione della corrente erogata alla variazione della tensione di controllo. teoricamente pari a
G = gm RL , dove RL la resistenza di carico fra drain e massa; se r0 non nulla abbiamo per: vd = gm vg RL ||r0 gm vd r0 per RL r0 , ovvero il guadagno limitato da r0 . Osserviamo anche che inversamente proporzionale alla lunghezza del canale: il fenomeno sopra descritto,
quindi, si manifesta maggiormente in transistor sub-micrometrici piuttosto che in transistor pi grandi (infatti i transistor in microelettronica guadagnano 5~10).
4.9
Introdurre la fenomenologia della saturazione della velocit di deriva nei semiconduttori. Denire e valutare l'ordine di grandezza del campo critico. Illustrare l'eetto sulla base di un modello a rilassamento delle grandezze dinamiche delle particelle (quantit di moto ed energia)
Per campi elettrici ordinari la velcoti di drift dei portatori in un semiconduttori proporzionale al campo elettrico tramite la mobilit (vedi (1.6)), che si assume costante. In presenza di alti campi elettrici la velocit di deriva aumenta invece meno che proporzionalmente col campo, per avvicinarsi asintoticamente a un valore detto
velocit di saturazione
1 E 1 E
per E < 103 V /cm per 103 V /cm < E < 104 V /cm per E > 104 V /cm 40 kV /cm si considera 5 10106 cm/s)
10 kV /cm la
nulla; a questo punto la velocit degli elettroni ha raggiunto il suo valore massimo (dell'ordine di
e rimane costante. Questo avviene a causa dell'aumento di probabilit di scattering da parte degli elettroni con gli ioni del reticolo cristallino all'aumentare della velocit (si riduce. Questi forti campi elettrici si hanno nei MOSFET in caso di scaling a tensione costante (vedi gura 4.6 (a)); nel canale esiste quindi un intervallo in cui la legge di Ohm non vale pi e le cariche si muovono con velocit costante eettivamente
vd,sat (prima
acceleravano lungo il
canale). Notiamo inne che la mobilit nel canale di un MOSFET (e di conseguenza la velocit di saturazione)
minore
i portatori di carica interagiscono con la supercie e con lo strato di ossido soprastante a causa del campo elettrico indotto dal gate, riducendo il loro movimento eettivo.
4.10
Discutere la dipendenza della frequenza di taglio del MOSFET dalla lunghezza di canale.
La frequenza di taglio (
In un nMOSFET
questo limite dovuto a due principali limitazioni: il tempo di transito degli elettroni nel canale e l'impedenza d'ingresso nita del transistor. Il tempo di transito minimo per gli elettroni : del canale e
vsat
vsat =
fT =
(4.17)
(b)
L'impedenza d'ingresso nita dovuta agli eetti capacitivi presenti tra le varie parti del transistor. Nel caso ideale possiamo considerare solo la capacit presente tra gate e source alla capacit per unit di area dell'ossido moltiplicata per l'area del canale: scorre nell'elettrodo di gate allora
iD = gm vGS
otteniamo:
|
Dall'espressione di
id T gm gm = 1 fT = = |= ii T Cox W L 2 2Cox W L
(4.18)
gm
4.11
La realizzazione di circuiti in tecnologia CMOS parte dalla crescita di lingotti cilindrici di silicio purissimo, di diametro crescente con l'avenzamento tecnologico (200mm negli anni '90, fra un paio d'anni entreranno in produzione lingotti da 450mm di diametro). Da questi vengono ricavate delle sottili fette di silicio dette (
wafer,
sulle quali avviene l'eettiva costruzione dei circuiti; su ogni wafer si fanno in genere molte copie dello stesso chip
die ).
I processi con cui vengono realizzati questi circuiti consistono essenzialmente nella deposizione selettiva
e sico-chimica di diversi strati omogenei sulla supercie del wafer; la selettivit garantita da una tecnica chiamata
fotolitograa.
(CVD) con
SiH4 (silano,
P H3 (fosna,
Sopra il wafer creato con metodi di crescita cristallina viene spesso fatto crescere
uno strato di silicio meno drogato di quello sottostante (p invece di p+) che viene detto strato
epitassiato.
Questo strato caratterizzato da un minor numero di impurezze rispetto al wafer originario, proprio per essere stato generato per deposizione. Le apparecchiature utilizzate sono simili a quelli dell'ossidazione termica descritto nel punto seguente e i procedimento simile: nella camera di reazione vengono iniettati i gas contenenti l'elemento di cui si vuole fare lo strato sottile, questi reagiscono o si decompongono sulla supercie del wafer e vengono in seguito espulsi dal forno.
- 1200
C).
navicella di quarzo contenuta nel forno. Quest'ultimo ha le aperture che consenstono ingresso e uscita dei gas
24
Figure 4.7:
oxidation.
O2
si parla di
dry oxidation
mentre se il gas
H2 O
si parla di
wet
La wet-ox pi veloce della dry-ox perch il legame O-H pi debole del legame O=O; di contro
l'ossido realizzato ha compatezza minore di quello realizzato in dry-ox perch la reazione genera dall'ossido e lascia dei vuoti.
H2
che esce
4.11.3 Fotolitograa
Il chip la minima area del wafer sottoposta al processo di fotolitograa. stendere sul wafer uno strato di materiale fotosensibile denominato
(foto)resist.
a una radiazione opportuna (di solito uv) e sucientemente coerente (in genere da laser). La parte di resist esposta alla luce polimerizza e diventa insolubile, rendendo possibile la rimozione delle zone non esposte. resist rimasto scherma il wafer da successive deposizione, permettendo la deposizione selettiva. Il problema principale consiste nella corretta illuminazione dello strato di resist: davanti alla sorgente luminosa viene posta una maschera di quarzo selettivamente cromato; i fori nella cromatura sono dell'ordine di grandezza dei 100nm, cio
pi piccoli
della lunghezza d'onda della luce utilizzata (~ 190nm) creando fenomeni distanza focale)
di dirazione. Questi si possono annullare ponendo delle lenti di grande apertura (diametro davanti al reticolo di dirazione .
posizione che diondono verso l'interfaccia epi-sub (il fondo del wafer lasciato non lappato per non attrarre le impurit). Il rinvenimento avviene per pochi wafer alla volta in reattori RTP (
con dei
brevi ash da riettori. Lo stesso processo di riscaldamento permette agli atomi di drogante di localizzarsi in posizione sostituzionale nel cristallo (altrimenti creano impurit); il processo si dice (che former le piazzole di contatto) con una soluzione silice + Dopo la deposizione selettiva del resist in genere si esegue una lappatura della supercie dell'ossido esposta
H2 O
25
4.11.6 Deposizione in fase vapore II e apertura contatti Si deposita ora con processo PVD (physic vapor deposition, ovvero assorbimento diretto degli atomi del materiale sorgente in fase gassosa) uno strato di BPSG (boron-phosphoron-silicon glass ) con funzioni di isolamento. In
questo strato devono essere create delel paerture per i contatti metallici: queste vengono eettuate con un attacco anisotropo (devono essere dei canali verticali) in una camera a plasma (vengono sparati degli ioni positivi che strappano un atomo alla volta). Vengono poi creati i contatti metallici con la deposizione di uno strato di tungsteno nelle aperture appena create e sopra di esso uno strato di alluminio che denisce lo strato di metal.
26