Misura della figura di diffrazione a fenditura singola

Pepe Emanuele, Stellin Simone, Stocco Calzavara Michele

Marzo 2022

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Indice
1 Introduzione 3
1.1 Obbiettivi . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1.2 Introduzione teorica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3

2 Esperienza 3
2.1 Apparato strumentale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
2.2 Configurazione apparato . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
2.3 Descrizione della presa dati . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4

3 Analisi dati 4

4 Grafici 5

5 Conclusioni e Commenti 8

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1 Introduzione
1.1 Obbiettivi
Obiettivo di questa esperienza è studiare la figura di diffrazione prodotta da un laser che attraversa
una stretta fenditura, e successivamente di determinare la larghezza della fenditura stessa (2d)

1.2 Introduzione teorica

Nel caso di diffrazione da singola fenditura l’ intensità luminosa I è legata alla posizione x sullo scher-
mo dalla seguente relazione:

sin2 ( kdx
s )
E = I0 (1)
( kdx
s )
2

dove I0 rappresenta l’intensità luminosa massima, ’k’ il numero d’onda e ’s’ la distanza tra fendi-
tura e schermo.
La formula sopra riportata vale solo se sussistono le condizioni per le approssimazioni di Fraunhofer:
larga distanza s dallo schermo e piccolo diametro angolare della figura analizzata.

2 Esperienza
2.1 Apparato strumentale
L’apparato sperimentale consiste in:

• 2 Laser: uno verde e uno rosso

• Singola fenditura montata su un sostegno apposito

• Una lente

• Fotodiodo

• Binario graduato

• Voltmetro

• Metro a nastro

2.2 Configurazione apparato

Figura 1: schema dell’apparato strumentale

Prima di procedere con la misura ci si accerta che il fascio di luce colpisca la fenditura e che il
fotodiodo sia posizionato ad un’altezza tale da poter rilevare l’intensità delle frange di interferenza;
per evitare la saturazione dello strumento, inoltre, viene schermata la parte sensibile con del nastro
isolante. Con il metro a nastro si misura la distanza tra fenditura e fotodiodo pari a s = 4.28±0.001m.

3
2.3 Descrizione della presa dati
Si sposta il fotodiodo posizionato sul binario, ortogonale al fascio luminoso, di circa 1.0mm per volta
e per ogni spostamento si registrano i valori di voltaggio rilevati dal fotodiodo. Data l’impossibilità
di eliminare il contributo dovuto a sorgenti esterne, si misura di volta in volta anche la componente
di differenza di potenziale dovuta al fondo luminoso, ostacolando il fascio laser tra la fenditura e il
fotodiodo. Lo spostamento laterale del diodo è effettuato in modo da rilevare altri tre picchi secondari
per parte oltre a quello massimo centrale. Tale procedura viene ripetuta per entrambi i laser.

3 Analisi dati
Indichiamo con x(mm) la posizione misurata sul binario del diodo e con y(V ) il voltaggio corrispon-
dente (ottenuto sottraendo la componente di fondo); dalla (1) si ricava la funzione di ft con la quale
vengono confrontati i dati raccolti:

sin2 [B(x − C)]

E=A +D (2)
[B(x − C)]2

dove A rappresenta il voltaggio massimo ( II0 ), B = kds , C è la coordinata spaziale del massimo (che
abbiamo cercato di far coincidere con lo 0 della scala graduata), D rappresenta il termine di voltaggio
di fondo che dovrebbe risultare compatibile con zero.

4
4 Grafici

Graph
χ 2 / ndf 138.4 / 37

1 A 1.09 ± 0.003155

B 0.5807 ± 0.0009846

0.8 C − 0.1073 ± 0.01743

D 0.002356 ± 0.0001165

0.6

0.4

0.2

0
−20 −15 −10 −5 0 5 10 15 20

Figura 2: Fit dati raccolti con il laser Rosso

Graph
χ 2 / ndf 82.44 / 39

p0 −1.679e− 05 ± 0.0001114

0.04 p1 −5.24e−05 ± 7.004e− 06

0.02

− 0.02

− 0.04

− 0.06
−20 −15 −10 −5 0 5 10 15 20

Figura 3: Compatibilità a zero del fit rosso

5
 resid
h1
10 Entries 41
Mean 0.1615
Std Dev 1.83
χ2 / ndf 6.827 / 6
8
Constant 8.91 ± 2.32
Mean 0.3526 ± 0.3268
Sigma 1.6 ± 0.3
6

0
−6 −4 −2 0 2 4 6

Figura 4

Graph
χ 2 / ndf 233.8 / 31
4
A 4.195 ± 0.03462

3.5 B 0.6507 ± 0.0006065

C 0.5589 ± 0.01015
3
D 0.006342 ± 0.0002737

2.5

1.5

0.5

0
−20 −15 −10 −5 0 5 10 15 20

Figura 5: Fit dei dati raccolti con il laser verde

6
 Graph
χ2 / ndf 225.3 / 33

0.1 p0 5.891e− 05 ± 0.0002364

p1 −4.718e −05 ± 1.625e− 05

0.05

− 0.05

− 0.1

− 0.15

−20 −15 −10 −5 0 5 10 15 20

Figura 6: Compatibilità a zero del fit verde

resid
h1
12 Entries 35
Mean − 0.05029
Std Dev 2.584
10 χ 2 / ndf 6.512 / 5
Constant 6.416 ± 1.889
Mean − 0.05905 ± 0.57293
8 Sigma 2.663 ± 0.778

0
−8 −6 −4 −2 0 2 4 6 8

Figura 7

7
5 Conclusioni e Commenti
In conclusione si sono raggiunti i due obiettivi dell’esperienza:

• La verifica del fenomeno di diffrazione tramite il fit dei dati che segue la legge teorica sopraci-
tata. Il fit stesso si presenta coerente con la previsione con un valore di χ2 di circa 3.7 e una
compatibilità con 0 che rientra per tutte le misure, tranne alcuni che comunque sono accettabili
entro le 3σ per il laser rosso. Per il laser verde invece il χ2 assume un valore di circa 7.5 dovuto
anche al fatto che per i valori del picco il voltmetro era molto instabile sulla misura il che è
anche una delle cause delle grandi barre d’errore per le misure centrali.

• La misura della fenditura ottenuta dalla stima dei fattori interni alla legge del primo punto viene
calcolata mediante la formula inversa:
Bs
d=
k
I valori delle costanti risultano:
Laser rosso:

• A = 1.090 ± 0.003 V

• B = 0.5807 ± 0.0010 mm−1

• C = −0.107 ± 0.017 mm

• D = 0.00236 ± 0.00012 V

Laser verde:

• A = 4.195 ± 0.035 V

• B = 0.6507 ± 0.0006 mm−1

• C = 0.559 ± 0.010 mm

• D = 0.00634 ± 0.00027 V

Dai quali abbiamo ricavato i due valori di ’d’ con i rispettivi errori propagati:

• dR = 0.2571 ± 0.0009 mm

• dV = 0.2358 ± 0.0007 mm

I due valori non sono compatibili entro le 3σ, il cambiamento della larghezza della fenditura può essere
stato generato da un urto del sistema ottico durante la sostituzione del laser rosso con quello verde.