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INDUSTRIALE
(anno accademico 2002 -2003)
Convertitori di energia
2
1.-Introduzione.
I convertitori di energia elettrica assolvono al compito di trasformare sorgenti di
energia continua (DC) in sorgenti di energia alternata (AC) e viceversa. Essi
normalmente impiegano interruttori comandati (meccanici o elettronici) che
hanno il vantaggio di non assorbire energia dato che, sia nello stato chiuso che in
quello aperto, il prodotto della tensione per la corrente nullo. Poich limpiego
di interruttori (cio dispositivi tutto niente) ha per conseguenza la creazione di
tensioni ad onda quadra il compito del progettista quello di studiare delle leggi
di commutazione che minimizzino il loro contenuto di armoniche. La presenza di
armoniche nelle forme donda sintetizzate non solo inutile ma anche dannosa
perch esse sono causa di disturbi elettromagnetici e di perdite di energia per
riscaldamento nei materiali conduttori circostanti.
2.-Convertitori DC/AC ad interruttore elettronico.
Un semplice esempio di convertitore a transistori con tensione di uscita ad onda
quadra quella riportato in Fig. 1.
d
dt
d
v s = ns
dt
Prima della commutazione il flusso nel trasformatore va dunque crescendo con
legge lineare1, mentre corrente e differenza di potenziale ai capi della resistenza
rimangono costanti fintantoch, a partire dall'istante t0, causa l'interdizione di Tr2,
la corrente nella met inferiore del primario cessa bruscamente. Subito dopo la
commutazione si ha perci un transitorio le cui modalit variano a seconda che la
parte superiore del primario cominci o non cominci subito a condurre corrente.
Se infatti all'istante t0 si ha E < np d/dt il transistor Tr1 risulta polarizzato con
tensione negativa e non pu condurre corrente. In questo caso il secondario si
evolve liberamente con andamento esponenziale tendente a zero e cio:
E = np
= 0e
t t0
In pratica il flusso non pu crescere linearmente oltre un certo limite dato che esso tende al
E
in cui Lp ed Rp sono linduttanza e la resistenza primaria.
Rp
5
Il circuito di Fig. 3 ovvero la sua realizzazione a mezzo di interruttori allo stato
solido, data la sua semplicit costruttiva, molto diffuso nelle applicazioni
industriali. Il tipo di interruttori allo stato solido impiegati dipende dalla potenza
assorbita dal carico e va dagli SCR, per le alte potenze, ai transistori bipolari o
Mos per le potenze pi basse. Nel caso si voglia utilizzare i transistori, uno dei
problemi pi difficili che deve risolvere il progettista consiste nel pilotaggio della
base (o del gate) quando lemettitore (o la sorgente) non collegato a massa.
Fortunatamente se si usano MOS questo problema si risolve facilmente con
limpiego della cosidetta pompa di carica, il cui schema elettrico riportato in
Fig. 5.
6
semiperiodo possibile ottenere una tensione (e quindi una corrente) con un
certo numero di armoniche nulle.
Fig. 7: Forma donda PWM a due livelli (caso a) e a tre livelli (caso b).
Per fissare le idee si supponga di voler annullare le armoniche di ordine 3 e 5 (le
armoniche pari sono tutte nulle se la forma donda simmetrica) con la
fondamentale eguale a V0. L'espressione generale delle armoniche di tensione
nella forma d'onda di Fig. 7-b (caso a tre livelli) data dalla relazione:
4E
V2 n 1 =
[ sin( 2n 1) 1 sin( 2n 1) 2 + sin( 2n 1) 3 ...]
n=1,2,.
( 2n 1)
dove i sono gli istanti angolari in cui la forma d'onda commuta.
Utilizzando allora le note formule trigonometriche:
3( x1 x2 + x3 ) + 4( x13 x 23 + x33 ) = 0
5( x1 x2 + x3 ) 20( x13 x23 + x33 ) + 16( x15 x 25 + x35 ) = 0
nelle 3 incognite xi = cosi , i=1,2,3.
Tale sistema essendo di tipo algebrico e non trascendente abbastanza facile
da risolvere per via numerica (esso inoltre direttamente estensibile al caso
generale di un numero qualsiasi di istanti di commutazione).
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Una volta calcolati i valori di xi e quindi di i che lo soddisfano, per vari valori
diversi dellampiezza V0 della fondamentale, questi ultimi valori possono essere
inseriti nella memoria permanente di un microcalcolatore che provvede a
comandare gli interruttori Si di Fig. 6. Questa procedura, che attualmente di
gran lunga la pi diffusa nella pratica, ha per alcuni punti deboli. Anzitutto
allaumentare del numero di armoniche da eliminare cresce di conseguenza il
numero degli angoli di commutazione con conseguente aumento delle perdite
negli interruttori allo stato solido utilizzati. Inoltre non sempre leliminazione
delle armoniche 3, 5 ecc. sufficiente a garantire un corretto funzionamento del
carico. Molto spesso infatti il carico alimentato di tipo elettromeccanico (motore
pi parte mobile da spostare) e le sue caratteristiche possono variare in modo
imprevedibile durante il normale funzionamento. Per esempio un braccio mobile
di un manipolatore che sposta dei pesi pu assumere posizioni caratterizzate da
frequenze di risonanza meccanica di valore variabile col pericolo che una di esse
possa coincidere con una delle armoniche non-eliminate nellonda PWM. In
questo caso la corrente associata allarmonica in questione assume ampiezze
molto elevate ed il braccio inizia a vibrare fortemente con conseguenze dannose
facilmente prevedibili.
5.- La PWM a minima potenza.
Una tecnica che in teoria dovrebbe consentire di ottenere una forma donda di
corrente quasi perfettamente sinusoidale quella nota col termine di controllo a
isteresi. Essa consiste nellimporre una fascia di variazione (isteresi) alla corrente
nellintorno di un andamento sinusoidale di riferimento, come mostrato in fig. 8.
8
ogni caso impiegare tecniche che facciano uso di un numero fisso e limitato di
commutazioni per ogni periodo onde limitare gli stress e le perdite sugli
interruttori.
Un approccio che ha dato buoni risultati quello della minimizzazione di una
grandezza che meglio identifichi leffetto delle armoniche sul carico e
precisamente la potenza ad esse associata. Tale minimizzazione va inoltre fatta
mantenendo fisso il numero di commutazioni per periodo onde non aggiungere
consumi ulteriori legati ai processi di commutazione.
Se si suppone allora di utilizzare interruttori ideali, la tensione continua E
viene trasformata dal convertitore di Fig. 6, senza apprezzabile perdita di
potenza, nella tensione alternata v(), riportata in Fig. 7, la quale invia nel carico
la potenza media:
1
P=
v ( )i ( )d
2
Se uno degli angoli di commutazione, ad esempio i viene variato di anche la
potenza erogata subisce una variazione di entit:
1
P
[ v ( )i ( ) + v ( ) i ( )]d
2
Lintegrale del prodotto v()i() facile da calcolare dato che, come mostrato in
Fig. 9 nel caso in cui si faccia variare 1 , v() una funzione formata da impulsi
(indicati in colore rosso) di larghezza piazzati in corrispondenza degli angoli
di commutazione i . Facendo allora lipotesi che la variazione sia
abbastanza piccola si ha:
1
( 1) i 1
v
(
)
i
(
)
d
[i ( i ) + i ( i )]
2
dove il termine (-1)i-1 dovuto al fatto che un incremento angolare provoca un
incremento dellarea degli impulsi se i dispari, ovvero un decremento se i
pari.
di ( )
d
Moltiplicando ambo i membri per i(-) si ottiene:
di ( )
i ( ) v ( ) = Ri ( ) i ( ) + wLi( )
d
Utilizzando lidentit:
di ( ) di ( )i ( )
di ( )
i ( )
=
+ i ( a )
d
d
d ( )
v ( ) = Ri ( ) + L
si ha:
di ( )
d [ i ( )i ( )]
]i ( ) + L
d ( )
d
di ( )
ossia, tenendo conto della relazione v ( ) = Ri ( ) + L
, si ricava:
d ( )
d [ i ( )i ( )]
i ( ) v ( ) = v ( ) i ( ) + L
d
A questo punto integrando ambo i membri e tenendo conto che sia la v() che la
v() sono simmetriche rispetto allorigine si ha (la funzione moltiplicata da L
d contributo nullo essendo la derivata di una funzione periodica):
i ( ) v ( ) = [ Ri ( ) + L
i ( ) v ( )da =
v ( ) i ( )d
10
IPi =
2E
Fig. 10: Sintesi di una forma donda a bassa frequenza a mezzo di semisinusoidi.
In linea di principio ci possibile nel caso DC/AC se la tensione continua da
convertire preventivamente trasformata in una corrente (o tensione) alternata
ad alta frequenza le cui singole semisinusoidi vengano applicate poi al carico
aprendo o chiudendo gli interruttori del convertitore negli istanti in cui esse
transitano per lo zero. In altre parole si ha la situazione di Fig. 10 in cui vengono
riportate per confronto le forme donda PWM tradizionali e quelle ottenute a
mezzo di elementi semisinusoidali.
In pratica se la frequenza delle semisinusoidi sufficientemente elevata, la
forma donda sintetizzata che si ottiene non differisce sostanzialmente da una
PWM tradizionale con la differenza fondamentale che in questultimo caso
possibile aggiungere o togliere solo semisinusoidi intere. Vi perci una
discretizzazione delle durate dei singoli impulsi dellonda di bassa frequenza
sintetizzata che possono perci assumere solo valori multipli del semiperiodo
11
dellonda di alta frequenza. Il vantaggio, come gi detto, consiste nel fatto che
laggiunta delle semisinusoidi avviene commutando interruttori in istanti in cui
la corrente (o tensione) appunto nulla, come viene mostrato in Fig. 11 nel caso
di un interruttore realizzato con un transistore. Come si vede la commutazione
avviene in ogni caso evitando il passaggio attraverso zone con prodotto vi 0.
12
13
AC-link perch dalla connessione (link) ad alta frequenza vengono estratti degli
impulsi di corrente o tensione la cui forma quella di una sinusoide tagliata
esattamente a met. Esiste per la possibilit di utilizzare in modo diverso queste
forme donda e cio aggiungendo loro una componente continua in modo da
avere un impulso elementare di ampiezza pi elevata.
Facendo riferimento al caso del convertitore risonante serie, laggiunta di una
componente continua di corrente I0 si ottiene inserendo in parallelo alla capacit
C del circuito risonante una induttanza La, come mostrato in Fig. 15.
Fig. 16: Asimmetria nella tensione del condensatore introdotta da una pausa .
Questa procedura ha come risultato di ottenere una forma donda di tensione ai
capi del condensatore C di valore medio non nullo. Indicando allora con V0 tale
valore e con Ra la resistenza dellinduttanza ausiliaria, attraverso di essa circoler,
dopo un certo tempo necessario a raggiungere la situazione di regime, una
corrente continua pari a I0=V0/Ra. Questultima viene inviata tutta sul carico
sommandosi alle semionde di corrente del circuito risonante.
Naturalmente la presenza della componente I0 altera il regime iniziale,
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riportato in fig. 16, che diventa quello di fig. 17. In questultimo caso, che
rappresenta la situazione di regime corrispondente ad un valore prefissato di ,
il condensatore si scarica secondo una rampa lineare e la semionda negativa di
corrente sparisce del tutto.
15
16
ondulazione sovrapposta (dovuta alla scarica del condensatore di filtro), la
medesima forma donda PWM che si ha nel convertitore DC/AC per cui
lequivalenza dimostrata. La verifica di tale equivalenza ci permette quindi di
affermare che tutte le tecniche di eliminazione e minimizzazione delle armoniche
sviluppate per il caso DC/AC sono trasferibili senza alcuna modifica al caso
AC/DC.
In Fig. 20, a titolo di esempio, riportata la forma donda della corrente
alternata di linea in un convertitore AC/DC in cui il ponte a interruttori stato
fatto funzionare seguendo le tecniche di minimizzazione armonica viste in
precedenza. Come si pu vedere il ponte a interruttori, pur nei limiti delle 7
commutazioni permesse, favorisce un tracciato di corrente che molto vicino ad
una sinusoide ideale.
Fig. 21: Schema di principio di collegamento tra una sorgente AC e un carico DC.
In realt tale equivalenza pu in taluni casi limite non essere del tutto verificata ma tale
17
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agiscono ora sullingresso ora sulluscita a seconda della posizione del deviatore
S ed quindi noto col termine di convertitore step-up-down.
Fig. 24: Schema semplificato e diagramma di fase del convertitore step-up con
rifasamento della corrente di linea IL.
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Risulta allora chiaro che una volta fissato il valore desiderato della tensione
continua sul carico, la condizione di fase nulla consente di identificare sia la fase
che la ampiezza di Vx. Qui di seguito verranno perci riportati i dettagli del
calcolo relativi al caso del convertitore step-up fermo restando il fatto che negli
altri due casi (step-down e misto) si pu procedere in modo analogo.
10.- Guadagno di tensione del convertitore step-up.
Facendo riferimento allo schema semplificato di fig. 24 in cui la tensione continua
sul carico si suppone costante ed eguale ad E, si indichi con V1cos la tensione
alternata di linea e con Vxcos(+) la componente fondamentale della tensione
PWM vx supposta sfasata dellangolo . Lampiezza di Vx1 come noto data dalla
relazione:
V x = 2 pE
dove il termine p, denominato parzializzazione espresso in funzione degli angoli
di commutazione dalla relazione:
2
p = ( sin 1 sin 2 + sin 3 ...)
Ovviamente gli angoli i vanno scelti oltrech per ottenere un dato valore di p
anche in modo da minimizzare il contenuto armonico della corrente dovuta alla
tensione PWM, come discusso nel capitolo relativo ai convertitori DC/AC. La
componente complessiva di corrente sinusoidale che fluisce attraverso la linea
data allora dallespressione:
V
p
I L = 1 cos( + ) 2 E cos( + + )
Z
Z
dove Z la reattanza della linea di collegamento e della induttanza L e
langolo di fase relativo. Se si sviluppano i coseni, la relazione precedente si pu
riscrivere nella forma:
1
1
I L = [V1 cos 2 pE cos( + )] cos [V1 sin 2 pE sin( + )] sin
Z
Z
in cui la componente in quadratura si annulla se soddisfatta la condizione:
V1 sin = 2 pE sin( + )
Questultima viene denominata condizione di fase e come si era gi visto
esaminando la Fig. 24 pu essere soddisfatta sia agendo su che sulla
parzializzazione p.
Si consideri ora il problema del calcolo della tensione continua VDC. Tale
tensione dovuta alla componente media di corrente che raggiunge la sezione
DC moltiplicata la componente resistiva RL del carico stesso. La corrente media
data dalla relazione :
V
1
I DC =
I L PWM d
2
E
20
La presenza del termine VPWM/E si spiega col fatto che quando la tensione PWM e
cio la VPWM nulla non entra corrente nel carico mentre la IAC entra nel carico
solo quando la tensione PWM non nulla e cio si ha VPWM/E = 1. Sostituendo
allora la sola componente in fase di IAC (a rigore occorrerebbe tener anche conto
delle armoniche che contribuiscono alla formazione della IDC, ma esse si
trascurano supponendo di funzionare in una situazione di contenuto armonico
minimo) si ha:
V cos 2 pE cos( + )
I DC = 1
VPWM cosd
2ZE
ossia dato che lintegrale esprime semplicemente la componente di prima
armonica della forma donda PWM:
V cos 2 pE cos( + )
I DC = 1
p
Z
da cui segue immediatamente:
pR L
E=
[V1 cos 2 pE cos( + )]
Z
Se a questo punto si ricava il termine 2pE dalla condizione di fase e si sostituisce,
si ottiene:
pRLV1 sin
E=
Z sin( + )
Moltiplicando ambo i membri per la condizione di fase si ha:
Z sin
p2 =
2 R L sin( )
Mentre dividendo si ha:
R sin sin
E
( )2 = L
V1
2 Z sin 2 ( + )
Questultima lespressione cercata del guadagno G = E/V1 del convertitore. In
Fig. 25 sono riportati, a titolo di esempio, i grafici relativi alla p e al guadagno al
variare di per una data Z ed RL.
Fig. 25: Andamento del guadagno di tensione G = E/V1 del convertitore e della
parzializzazione p al variare di , con = 60.
21
22
In Fig. 27 viene invece mostrato un esempio realizzativo di convertitore step-updown monofase. Come si pu vedere nel convertitore step-up-down di Fig. 27 il
condensatore C stato spezzato in due e cio C1 e C2. Questa semplice modifica
ha lo scopo di permettere un bilanciamento a seconda dei casi delle
caratteristiche del convertitore: se ad esempio C1>>C2, prevarr il
comportamento di tipo step-up mentre si avr invece un comportamento stepdown se C1<<C2.
2
Il comportamento dinamico di una giunzione p-n.
La giunzione p-n la base di tutti i dispositivi a semiconduttore, siano essi bipolari
o Mos e la conoscenza del suo comportamento dinamico quindi essenziale per
comprendere cosa avviene durante la commutazione nei dispositivi pi complessi,
dai transistori agli SCR ecc.
Distribuzione di cariche in una giunzione.
Il funzionamento statico di una giunzione p-n sintetizzata in fig. 1 in cui sono
mostrate le densit di cariche ai bordi della zona di svuotamento per valori
rispettivamente positivi e negativi della tensione di polarizzazione esterna V.
Normalmente i valori delle densit di cariche maggioritarie di parecchi ordini di
grandezza superiore a quelli delle cariche minoritarie per cui i grafici di fig. 1 sono
spezzati al centro.
(1)
3
np= nn+ e-q/kT eqV/kT
(2)
(3)
che stata ricavata nellipotesi di bassi regimi di corrente in cui si pu assumere pp-
ppo e nn+ nno. . Lo studio della giunzione per alti regimi di corrente comunque
molto complesso e non generalmente possibile trovare una relazione analitica
sostitutiva della (3).
Per concludere la situazione del diodo polarizzato direttamente quella di Fig. 2
in cui sono evidenziate le correnti sia nella giunzione che in prossimit degli
elettrodi laterali.
4
dovuta al campo elettrico e laltra di verso opposto dovuto alla diffusione La
corrente Ip invece dovuta alla sola diffusione delle lacune minoritarie (leffetto del
campo trascurabile sulle lacune poich la loro densit molto minore). Un
discorso duale vale per la zona p. Ovviamente in entrambi i casi si ha I n + I p =
E
R
5
Ovviamente un fenomeno analogo si ha sulle densit di elettroni minoritari (nella
zona p) e di riflesso su entrambe le cariche maggioritarie in eccesso (per garantire
la neutralit di carica).
Come si vede a partire dallistante t = 0 la densit delle cariche minoritarie pn+ su
bordo destro della giunzione cala fino a raggiungere, per t = t0, il valore pn0 che
corrisponde in base alla (1) ad una tensione V esterna nulla. In altre parole il diodo
rimane in conduzione fino al tempo t < t0 e tutta la tensione negativa esterna E cade
ai capi della resistenza serie. La corrente esterna dopo essersi invertita di colpo
rimane quindi costante ed eguale a E/R.
Durante la discesa di pn+ tutti i profili di densit di cariche minoritarie in eccesso
si incurvano su se stessi e si evolvono nel tempo come indicato in Fig. 4. Questa
fase dominata dalla presenza delle cariche minoritarie in eccesso ai bordi della
zona di svuotamento e la sua durata complessiva denominata storage time.
Dal punto di vista delle correnti la situazione quella di Fig. 5 in cui la giunzione,
avendo ancora un accumulo extra di cariche ai suoi capi, si trova a lavorare in
situazione di conduzione e quindi presenta una caduta di tensione trascurabile.
Si hanno cio due fenomeni che, almeno in prima approssimazione, non
interagiscono tra di loro ossia la corrente esterna, che assume il il valore negativo E/R, e le cariche in eccesso sulla giunzione che vanno via via decrescendo sia per
ricombinazione locale che per diffusione verso gli elettrodi esterni.
6
maggioritarie che ora hanno cambiato di segno. In ogni caso la corrente elettrica
esterna, salvo il segno, rimasta inalterata ed eguale a E/R.
Seconda fase: al tempo t = t0 la densit (pn+ pn0 ) di cariche minoritarie in eccesso sul
bordo della zona di svuotamento ha raggiunto un valore nullo (curva verde di Fig.
4) e inizia a invertire il proprio segno anche se i blocchi di semiconduttore p ed n
hanno ancora cariche residue da smaltire. Per questultimo motivo il transitorio di
corrente assume connotati non ben chiari e di difficile definizione. In ogni caso al
calare di pn+ la zona di svuotamento della giunzione inizia ad allargarsi (questo
fenomeno non mostrato per ovvie difficolt grafiche in fig. 4!) e la caduta di
tensione V ai capi del diodo che era nulla per t = t0 assume valori via via pi
negativi. La tensione sulla resistenza esterna cala, la corrente comincia a diminuire
di conseguenza e tutte le cariche nelle zone p ed n tendono a raggiungere lassetto
finale. Il tempo necessario affinch si compia questa fase detto fall time.
Ovviamente tutto quanto ora detto sulle lacune vale anche per gli elettroni
minoritari. Occorre notare che la presenza di due portatori con caratteristiche
(mobilit, vita media ecc.) notevolmente diverse e che interagiscono tra di loro
onde mantenere la neutralit di carica, complica notevolmente levoluzione
transitoria di entrambe le fasi ora descritte. In ogni caso landamento della corrente
esterna grossomodo quello riportato in fig. 6, in cui sono evidenziate le fase di
storage e di fall. Va notato che la corrente finale sarebbe eguale a quella non nulla di
saturazione inversa; essa per non appare in Fig. 6 in quanto ritenuta trascurabile.
7
pn+ crescenti, il transitorio che ne consegue caratterizzato esternamente solo da un
tempo di salita (rise) come mostrato in fig. 7.
2
1-Il diodo IMPATT.
Il diodo IMPATT (IMPact Avalance Transit Time) un dispositivo a stato solido
utilizzato per generare o amplificare una corrente ad alta frequenza (1 - 300 GHz).
Esso formato da una struttura a giunzione brusca p+- n fatta crescere su di un
substrato n+, come indicato in Fig. 1.
(E) = A e-(b/E)2
A=18.0 105
b=5.55 105
nel GaAs
Non appena la quantit di cariche generate in tutta la giunzione supera quella delle
cariche che si ricombinano e cio quando la condizione
w
( E )dx > 1
0
3
varia "solamente" con E2.5. Questo permette di suddividere la regione di
svuotamento lunga w in due parti, come illustrato in Fig. 1. La prima lunga xa, pi
interna e molto stretta, detta di avalanche in cui la funzione (E) assume valori
significativi e provoca ionizzazione e l'altra detta di trascinamento, in cui (E)
praticamente trascurabile e quindi non vi ionizzazione ma il campo E ancora
abbastanza forte da far viaggiare le cariche generate alla massima velocit possibile
vs (velocit di saturazione) che si aggira sui 105 m/s nel GaAs. In questo modo la
corrente nel dispositivo dovuta agli elettroni generati nella regione di avalanche
che attraversano la regione di trascinamento ed emergono dalla regione n+ di Fig. 1
con un ritardo pari al tempo di transito.
Si supponga ora di applicare al diodo una tensione continua inversa di valore
appena pi piccolo di quello Vo necessario all'innesco del fenomeno di avalanche.
Se, come indicato in Fig. 2, a tale tensione si sovrappone una componente
alternativa, quest'ultima provoca durante i suoi picchi positivi la generazione di
cariche nella zona di avalanche. Tale fenomeno cessa invece durante i picchi
negativi di modo che la regione di avalanche si comporta come un generatore di
corrente impulsiva della stessa frequenza della tensione alternata applicata al
diodo.
4
e allargandosi a causa della mutua repulsione delle cariche, cosicch la corrente che
esce ha una forma notevolmente pi lunga e appiattita dellimpulso generato nella
zona calda. Se si sceglie il periodo T dell'onda di tensione circa eguale al doppio
del tempo di transito Tt si ha la situazione di Fig. 2 in cui la tensione alternata e la
componente di prima armonica della corrente in uscita risultano in controfase. Ci
equivale a dire che la resistenza dinamica del diodo ha assunto un valore negativo.
2-Circuito equivalente del diodo IMPATT
Come si visto il diodo IMPATT, se alimentato con una tensione alternata di
frequenza opportuna, equivale ad una resistenza dinamica negativa a causa del
tempo di transito del pacchetto di elettroni che attraverso la sua regione di
trascinamento. Per quel che riguarda la regione di avalanche, sede della generazione
di cariche, essa si pu assimilare invece ad un circuito risonante.
Indicando infatti con J la densit di corrente dovuta alla ionizzazione si pu
dimostrare che vale la relazione (equazione di Read):
dJ
3
= J [ ( E )dx 1]
dt a x a
in cui a il tempo di transito attraverso la regione di avalanche di estensione xa.
L'equazione di Read mostra come varia col tempo la corrente di avalanche. Se infatti
il termine entro parentesi quadra:
( E )dx 1
x
dJ ac
3 d
J o E ac x a
=
a dE
dt
= 3
d v s J o
dE
e quindi cresce con la radice quadrata della corrente di polarizzazione del diodo.
A/(W-xa) per cui il circuito equivalente completo del diodo, valido per piccoli
segnali, quello di Fig. 3.
3-Impiego pratico del diodo IMPATT.
Il dodo IMPATT una delle pi potenti sorgenti di microonde allo stato solido che
permette di ottenere oscillazioni con frequenze fino a 300 GHz. Esso normalmente
viene inserito in una cavit risonante con caratteristiche variabili a mezzo di un
pistone mobile, come illustrato in Fig. 4. Si ha cos una oscillazione spontanea
dovuta al fatto che la resistenza di perdita della cavit viene annullata dalla
resistenza negativa del diodo. Variando la corrente di polarizzazione continua,
6
insieme con la posizione del pistone mobile, si pu variare la frequenza delle
microonde generate.
7
assumere valori qualsiasi della coppia di grandezze Energia - Momento (quantit
di moto). In particolare per il GaAs si ha il legame di Fig. 6 da cui risulta
chiaramente che l'elettrone in banda di conduzione pu muoversi lungo il reticolo
e assestarsi su due minimi di energia a livelli non molto differenti ma caratterizzati
da comportamento dinamico notevolmente diverso.
8
fonte di varie forme di instabilit nella distribuzione delle cariche libere (elettroni)
nel semiconduttore drogatoSi consideri ad esempio un prisma di GaAs drogato
uniformemente di tipo n al cui interno viene generato un campo elettrico uniforme
a mezzo di una tensione esterna costante (vedi Fig. 8).
Eo - E2
w
E1 - E 2
10
il corpo del semiconduttore risultano automaticamente esterni alla zona instabile e
cio a pendenza negativa della caratteristica E-J. Questo fatto viene sfruttato per la
generazione di impulsi equidistanti ad alta frequenza, utilizzando semplicemente
la struttura di Fig. 8 che viene denominata diodo Gunn (ovviamente non si tratta di
un diodo). Quando infatti si forma un grumo singolo (o dipolare) esso si muove
dal catodo all'anodo insieme a tutto il gas di elettroni liberi che riempie il
semiconduttore, collassando infine sullelettrodo esterno dellanodo e dando luogo
ad un impulso di corrente esterno. Contemporaneamente il campo si riporta a
valore eguale ad Eo lungo tutta l'estensione del semiconduttore, anche se ci
avviene anticipatamente in corrispondenza del catodo che, essendo la zona pi
distante, subisce meno l'influenza del grumo (o del dipolo) uscente. Ci ha per
conseguenza la generazione di una nuova instabilit localizzata nel catodo
(drogato in modo da favorire l'insorgere di una instabilit locale) che poi viaggia
verso l'anodo e ivi collassa. Gli impulsi di corrente esterna sono perci equidistanti
e hanno una frequenza legata alla distanza w del blocco di semiconduttore
utilizzato oltrech alla velocit di propagazione che si aggira sui 105 m/s nel GaAs .
3-Il transistore MESFET.
Il transistore MESFET (MEtal-Semiconductor-Field-Effect-Transistor) si pu
pensare come un normale transistore MOS in cui stato eliminato lo strato di
ossido isolante tra metallo (Gate) e substrato. La sua struttura riportata in Fig. 12,
in cui si vede come lestensione del canale di conduzione, posto al di sopra dello
strato di blocco (Buffer Layer) venga modulata dalla zona di svuotamento indotta
dal contatto metallo-semiconduttore.
Quando infatti si pone un semiconduttore drogato n in contatto con un metallo
gli elettroni liberi del semiconduttore si trovano normalmente a livelli energetici
pi elevati di quelli, anch'essi liberi, del metallo e pertanto diffondono in esso come
un gas compresso. La diffusione provoca la formazione di una barriera di
potenziale di modo che il contatto metallo-semiconduttore si comporta come un
diodo.
11
Tale diodo, detto anche diodo Schottky, presenta l'importante differenza,
rispetto ai diodi tradizionali di tipo p-n, di condurre solo attraverso le cariche
maggioritarie (elettroni) e quindi di avere una elevata velocit di commutazione.
Eventuali lacune, presenti nel semiconduttore in prossimit del contatto, vengono
infatti riempite dagli elettroni del metallo che si trovano a bassi livelli di energia
(vedi Fig. 12).
Utilizzando quale substrato l'Arseniuro di Gallio si ha un canale in cui si
muovono elettroni a massa efficace ridotta (pari a circa 0.068 quella dell'elettrone
libero come mostrato nel paragrafo relativo al diodo di Gunn) e che pertanto
consentono di ottenere dispositivi ad alta velocit.
DISPENSE DI ELETTRONICA
INDUSTRIALE
(anno accademico 2002-2003)
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1.-Transistori di potenza ad effetto di campo.
I transistori di potenza ad effetto di campo con struttura Metallo-OssidoSemiconduttore (Mos-Fet) pur presentando notevoli vantaggi rispetto ai normali
transistori bipolari sono stati utilizzati fino a qualche tempo fa esclusivamente per
applicazioni a bassa potenza a causa di una limitazione apparente legata alla loro
struttura fisica planare. Osservando la fig. 1 che riporta la struttura tipica di un
transistore Mos-Fet a canale n ad arricchimento di carica (enhancement mode) si
nota come la configurazione del canale sia piuttosto sottile e quindi inadatta alla
conduzione di forti correnti.
3
idrossido di potassio (KOH) o simili. Rimangono cos i piani pi resistenti (cio i
piani <111>) che formano una V il cui vertice corrisponde ad un angolo di 54.7.
Purtroppo per proprio lo spigolo vivo della V cos ottenuta il tallone dAchille
del dispositivo di fig. 2: la concentrazione di campo elettrico che ne consegue
provoca sia il restringimento delle linee di flusso della corrente (vedi fig. 3), con
conseguente aumento della resistenza di conduzione, sia la perforazione del
dielettrico sovrastante.
4
superficie e funge da elettrodo di Source. Va notato che luso del Silicio
policristallino, che ha il grosso difetto di avere una resistivit pari a circa 3000
volte quella dellalluminio, reso necessario dalla difficolt che si incontrerebbe
nel tentativo di sepellire lalluminio nel biossido.
Collegando in parallelo le celle elementari di fig. 4 si ottiene una struttura
ripetitiva di considerevole eleganza geometrica come quella esagonale riportata
in fig. 5 (che va sotto il nome commerciale HexFet ma che per non lunica
utilizzata in pratica).
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Lamplificatore operazionale stabilisce un collegamento virtuale tra i due
elettrodi di sorgente S1 ed S2, dimodoch tutte le celle lavorano nelle medesime
condizioni. Se le celle sono tutte eguali, attraverso il Mos di misura (indicato in
colore) fluisce una corrente pari a I/n che viene inviata sulla resistenza di misura
R riferita a massa, ottenendo cos una tensione proporzionale alla corrente I,
senza con questo alterare in nessun modo il circuito in serie al carico.
3.- Il fenomeno del latchback nel MOS di potenza.
La struttura di fig. 4 e 5, oltre alla resistenza e capacit di Gate gi menzionata nel
paragrafo precedente, presenta alcuni parametri parassiti che ne possono limitare
severamente luso.
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sopportare sovratensioni notevolmente maggiori (vedi capitolo sui transistori
bipolari). A tale scopo si inseriscono due zone p+ di cortocircuito disposte
simmetricamente in prossimit dellelettrodo di Sorgente (vedi fig. 8 in cui per
semplicit una sola di tali zone evidenziata).
Il transistor parassita non presenta per solo svantaggi. Se la tensione tra
Drain e Source si inverte esso si comporta come un diodo (precisamente la
giunzione collettore base che funge da diodo) cortocircuitando il segnale inverso
che potrebbe avere effetti pericolosi sulla struttura Mos-Fet. La velocit di
commutazione di tale diodo abbastanza alta sopratutto se la regione p della
giunzione stata ottenuta con la tecnica dell'impiantazione ionica. In questo
ultimo caso il bombardamento di ioni crea delle microfratture (dislocazioni) nel
cristallo che agendo da centri di ricombinazione aumentano la velocit di
commutazione del diodo. per buona norma, se si vuole una protezione
veramente efficace contro le tensioni inverse, inserire in parallelo al transistore un
diodo veloce per commutazione (Schottky) posto esternamente.
4.- L'area di sicurezza nei Mos-Fet di potenza.
Le considerazioni valide per la costruzione dell'area di funzionamento sicuro
fatte nel caso dei transistor bipolari si possono adattare senza particolari
variazioni anche al caso dei Mos-Fet. Anzitutto il Mos-Fet pur sempre un
resistore il cui valore minimo d luogo ad una linea di separazione (rDS(on) limit) al
di sopra della quale il dispositivo non fisicamente in grado di andare a
funzionare. Vi sono poi i limiti di corrente dovuti alla necessit di evitare danni
agli elettrodi (package limit) insieme ad un limite di tensione legato all'avalanche
breakdown (moltiplicazione per urto delle cariche). E naturalmente vi un limite
di potenza legato alla possibilit limitata di smaltimento del calore generato nel
canale (thermal limit). Manca invece, e questo un enorme vantaggio dei MosFet, il fenomeno della fuga termica e il conseguente direct biased second
breakdown.
Mentre infatti nel transistor bipolare un aumento di temperatura ha per
conseguenza un aumento esponenziale delle correnti di fuga che vengono
amplificate dalla giunzione base-emettitore, nel Mos-Fet non presente tale
effetto di amplificazione. Un aumento di temperatura nel Mos-Fet induce
semplicemente una maggiore vibrazione del reticolo cristallino con conseguente
diminuzione della mobilit delle cariche ed aumento di resistivit del canale con
effetto stabilizzante. A rigore occorrerebbe tener anche conto della formazione di
coppie lacuna-elettrone per effetto termico ma questo fenomeno che aumenta la
conducibilit con la temperatura di entit inferiore. Inoltre nei Mos-Fet il
secondo breakdown dovuto a fenomeni di ionizzazione per urto durante i
8
transitori ancora presente ma mancando dell'aiuto dell'instabilit termica
laterale non si fa sentire in modo apprezzabile. Si ha cos un'area di sicurezza pi
ampia come indicato in fig. 9.
9
struttura di tipo tetrapolare p-n-p-n e lo scopo del componente Mos sembra solo
quello di permettere linnesco iniettando cariche nella zona n adiacente lanodo.
In realt le cose vanno in modo alquanto differente sia per la presenza della zona
p+ posta al centro della zona p sia per la natura dello strato epitassiale n- posto
subito al di sopra del substrato (anodo).
10
iA = G 1 R 2
1 1 2
dove 1 ed 2 sono i guadagni di corrente di emettitore del transistor pnp ed npn
rispettivamente e iG la corrente proveniente dal Mos-Fet.
Come si nota dalla formula precedente, la corrente iR ha effetto opposto a
quella controllata dal Gate iG e pertanto tende a ridurre la corrente anodica
complessiva; inoltre essa sottraendo corrente alla base del transistore npn lo fa
lavorare con basse correnti di emettitore in corrispondenza delle quali il suo
guadagno di corrente 2 molto minore di 1 e la condizione di non innesco:
1 + 2 < 1
soddisfatta.
Uno svantaggio dell' IGBT legato al fatto che il controllo delle cariche
11
iniettate nella zona epitassiale (lacune e elettroni) piuttosto difficile dal punto di
vista dinamico. Infatti essendo esse poste a notevole distanza dagli elettrodi
esterni bisogna aspettare che decadano da sole annullandosi a vicenda.
Applicando allora una tensione di ingresso a onda quadra si ha la forma donda
di corrente anodica mostrata in fig. 12.
12
amplificatori di carica.
9. Misure di dilatazione.
10. Misure di temperatura.
11. Trasduttori piroelettrici.
12. Amplificatori per strumentazione.
13. Pilotaggio della calza schermante.
14. Pilotaggio del corpo del trasduttore.
15. Autoazzeramento.
16. Amplificatori di isolamento.
17. Zero crossing detector.
18. Trasduttori di posizione.
19. Il trasduttore lineare a trasformatore differenziale.
20. Inductosyn.
21. Codificatori digitali di posizione.
22. Posizionamento digitale.
23. Trasduttori incrementali.
24. Tecniche di controllo strutturale dei materiali.
25. Controllo strutturale mediante correnti parassite.
26. Impiego pratico del metodo.
Convertitori di energia.
1. Introduzione.
2. Convertitori DC/AC a interruttore elettronico, monofase e trifase.
3. Convertitori DC/AC di potenza.
4. La tecnica PWM.
5. La PWM a minima potenza.
6. Convertitori DC/AC risonanti.
7. Convertitori risonanti AC e DC link.
8. Convertitori AC/DC.
9. Convertitori AC/DC a fattore di potenza unitario.
10. Circuiti realizzativi dei tre tipi di convertitori AC/DC.
Testi Consigliati: Appunti e Dispense del Corso reperibili in rete allindirizzo:
http://131.114.9.130:80/Dispense/Dispense.htm
1.-I Thyristori.
I Thyristori, detti anche SCR (Silicon Controlled Rectifier) sono dispositivi a
semiconduttore che permettono di controllare elevate potenze in modo abbastanza
semplice ed economico. Esempi ben noti di tali applicazioni sono i convertitori di
energia, i quali comprendono tutta quella vasta categoria di apparecchiature
statiche che trasformano una tensione continua (DC) in una tensione alternata (AC)
o viceversa. Non vanno inoltre dimenticati quei particolari sistemi di controllo
della velocit di rotazione dei motori elettrici le cui applicazioni ai trasporti
ferroviari e urbani sono oggigiorno sempre pi diffuse.
Per comprendere le caratteristiche di funzionamento di un SCR si consideri il
circuito formato da due transistori complementari riportato in fig. 1.
3
ben noto effetto amplificatore del transistor: la corrente di base perturbando
l'equilibrio della giunzione base-emettitore fa fluire una corrente di collettore
volte pi grande ( il guadagno di corrente di base del transistor ed
normalmente molto maggiore di uno).
4
corrente che fluisce assume valori cos piccoli che il fenomeno rigenerativo appena
descritto non pu pi autosostenersi. Infatti al di sotto di un valore limite detto Ihold
(corrente di mantenimento) entrambi i transistori interdicono e l'interruttore si
riapre.
Il circuito ora descritto non meriterebbe una particolare considerazione se non
fosse per una particolarit che lo distingue. Osservando infatti la fig.1 si nota che i
conduttori che collegano tra di loro i due transistor, fungono da congiunzione tra
zone di semiconduttore aventi lo stesso tipo di drogaggio (zona n con zona n, zona
p con zona p). perci ovvio che, supponendo di far tendere a zero la lunghezza
di tali conduttori, la struttura del dispositivo si riduce a quella formata da 4 zone
di semiconduttore, riportata in fig. 3, che prende appunto il nome di SCR (Silicon
Controlled Rectifier).
Fig. 3: Struttura fisica e simbolo elettrico di un SCR.
In fig. 3 insieme alla struttura basilare a tre giunzioni dell' SCR viene riportato il
suo simbolo elettrico, nonch la struttura planare a mezzo della quale viene
realizzato in pratica.
2.-Caratteristiche elettriche degli SCR.
Allo scopo di caratterizzare il funzionamento di un SCR, nelle varie condizioni di
alimentazione cui normalmente sottoposto in una applicazione pratica, si
supponga di alimentare l'elettrodo di comando (denominato Gate) con una
corrente costante di modesta entit e contemporaneamente applicare tra anodo (A)
e catodo (K) una tensione crescente come indicato in fig. 4.
Supposto che la tensione VAK sia positiva, delle tre giunzioni che compongono
l'SCR due sono polarizzate direttamente mentre quella centrale bloccata: pertanto
il dispositivo complessivo si comporta come un diodo polarizzato inversamente
attraverso il quale fluisce la sola corrente di fuga di origine termica.
6
la posizione del tratto 2 di fig. 4 che precede l'innesco: al crescere di IG tale tratto si
sposta verso sinistra, come mostrato in fig. 5. In tale figura riportata anche la
retta di carico relativa al circuito di Fig. 4, allo scopo di far vedere come sia
possibile identificare la minima corrente di gate necessaria per linnesco.
Osservando la Fig. 5 si vede che linnesco dellSCR avviene anche a tensioni
anodiche molto basse, in corrispondenza delle quali il fenomeno descritto di
ionizzazione pu non risultare sufficientemente efficace. chiaro allora che nella
struttura dellSCR debbono aver luogo anche altri processi che ne favoriscono
linnesco anche in caso di basse tensioni. In pratica si tratta del fenomeno
rigenerativo gi descritto in Fig. 2 che per pu essere spiegato da un punto di
vista leggermente diverso, senza necessit di utilizzare la struttura equivalente a
due transistori complementari, riportata in Fig. 1.
Si supponga infatti di far scorrere attraverso la giunzione Gate-Catodo una
corrente di lacune a mezzo di una sorgente esterna. Per ragioni di neutralit di
carica a tale flusso si deve accompagnare un flusso di cariche di segno opposto
(elettroni) che per, invece di terminare sul Gate viene deviato verso lAnodo,
come mostrato in Fig. 6 a). Questultimo flusso di elettroni, sempre per ragioni di
neutralit di carica, devessere a sua volta accompagnato da un flusso di lacune
nella zona di Anodo il quale a sua volta richieder un flusso di elettroni nella zona
di catodo, non pi elettricamente neutra (vedi Fig. 6 b), ecc. Si innesca perci un
fenomeno di creazione di regimi paralleli di corrente di lacune ed elettroni che
ricercando la neutralit di carica si spostano velocemente verso destra saturando di
plasma il corpo dellSCR.
7
addirittura la tensione anodica in modo da ottenere un passaggio pi rapido e
sicuro dalla fase di conduzione a quella di interdizione. In questo caso si ha un
fenomeno transitorio la cui conoscenza molto importante e che d conto di uno
dei principali limiti dellSCR.
Invertendo infatti la tensione VAK la corrente cambia verso di percorrenza e
penetrando nelle giunzioni contribuisce all'annullamento delle cariche (plasma)
che si erano accumulate durante la fase di conduzione. Tuttavia finch tale
processo di annullamento delle cariche immagazzinate, che dura un tempo non
trascurabile, non si completato l'SCR rimane ancora in conduzione. In altre parole
per spegnere completamente l'SCR occorre attendere che sia trascorso un intervallo
di tempo denominato turn-off time solo al termine del quale si pu riapplicare una
tensione di alimentazione positiva senza che l'SCR riinneschi spontaneamente.
Un'altra limitazione all'uso dell'SCR deriva dalla presenza delle capacit
parassite poste tra le giunzioni.
8
opportuno impulso di comando sul Gate, la corrente anodica, se il carico
puramente resistivo, raggiunge pressoch istantaneamente il suo valore di regime.
Tuttavia nei primi istanti di conduzione il fenomeno non interessa l'intera area
delle giunzioni ma solo parte di essa (si veda ad esempio la struttura realizzativa
di fig. 3 nella quale, causa la sua inevitabile disimmetria, l'innesco interessa prima
le zone di giunzione a destra in prossimit del Gate e poi si propaga a tutto il resto
della struttura). ovvio allora che la densit di corrente pu raggiungere valori
cos elevati nella zona limitata di primo innesco, che nei grossi SCR pu essere
anche inferiore all' 1% dell'intera zona utile, da portare al danneggiamento
permanente del dispositivo. Occorre quindi impedire che la corrente anodica
aumenti troppo velocemente in modo da dare sempre il tempo alle giunzioni di
portarsi a regime. In altre parole la di/dt all'innesco va limitata (di solito con una
piccola induttanza posta in serie all'anodo) e deve essere in ogni caso inferiore al
valore massimo indicato dal costruttore.
Riassumendo nell'uso dell'SCR occorre tener presente tre parametri limitativi
findamentali:
- il tempo di spegnimento (turn-off time)
- la massima velocit (curva limite esponenziale) di variazione dVAK/dt permessa
alla tensione anodica con lSCR non innescato
- la massima velocit di aumento di/dt permessa alla corrente anodica all'innesco
Esistono ovviamente anche altre limitazioni legate per esempio alla massima
potenza dissipabile, nonch alla massima tensione inversa applicabile ecc. ma
almeno da questo punto di vista si pu ben dire che lSCR sia un elemento di
natura oltremodo robusta e affidabile che non crea problemi al progettista.
3.-Applicazioni degli SCR.
Dal punto di vista dell'uso degli SCR si possono suddividere le applicazioni in due
grandi categorie. La prima quella in cui la sorgente di f.e.m. di alimentazione
alternata (sinusoidale) e che particolarmente favorevole in quanto l'SCR pu
essere innescato durante le semionde positive per poi spegnersi spontaneamente
non appena la f.e.m. cambia segno: per le frequenze industriali (50 Hz) non
esistono in genere problemi legati al turn-off time, n al dv/dt. La seconda
viceversa comprende tutti i casi in cui l'SCR viene alimentato da tensioni continue
con le quali esiste il grosso problema dello spegnimento che, come visto in
precedenza, pu avvenire solo annullando o invertendo il segno della f.e.m. di
9
alimentazione.
Nelle applicazioni con f.e.m. alternata sinusoidale l'SCR viene di solito
impiegato al posto dei normali diodi raddrizzatori. Si hanno cos dei convertitori
AC/DC in cui il valore della tensione continua pu essere regolato variando a
piacere l'istante di innesco dell'SCR, durante la semionda positiva, come mostrato
in fig. 8.
10
sperimentalmente a partire dalla caratteristica dellSCR, riportata in Fig. 5,
variando la retta di carico al variare di E = Vac e leggendo nel diagramma il valore
minimo di IG necessario allinnesco.
11
spegnimento dell' SCR principale S1 posto in serie al carico. L'energia necessaria a
tale scopo viene immagazzinata nel condensatore C e viene scaricata su S1 al
momento richiesto innescando l' SCR ausiliario S2. Si supponga infatti che il
circuito in questione si trovi a riposo cio sia S1 che S2 siano spenti e il carico non
sia percorso da corrente. Inviando un impulso sul Gate di S1 se ne provoca
l'innesco alimentando cos il carico Z. L'innesco di S1 ha anche come effetto
secondario la carica del condensatore C la cui d.d.p. dopo un certo tempo assume il
valore di batteria E.
A questo punto si invii sul gate di S2 un impulso che a sua volta ne determini
l'innesco: il transitorio che ne segue deve avere come conseguenza lo spegnimento
di S1. In effetti la tensione del punto B si porta di colpo a zero per cui quella del
punto A, essendo A e B posti ai capi di un condensatore carico, si deve portare al
potenziale negativo -E determinando cos lo spegnimento di S1. In realt le cose
vanno in modo un p diverso a causa del tempo di turn-off di S1. Nei primissimi
istanti dopo l'innesco di S2, S1 ancora in conduzione: i punti A e B sono entrambi
a massa e il condensatore C risulta in corto circuito. Il picco elevatissimo di
corrente che ne consegue, attraversa i due SCR provocando la distruzione di S2 a
causa dell'abbondante superamento del suo di/dt limite all'innesco. perci
essenziale l'aggiunta di una piccola induttanza L in serie a S2 sia per proteggere
quest'ultimo sia per impedire la scarica del condensatore in un tempo troppo
breve. In tal caso, l'evoluzione della tensione del punto B e della corrente attraverso
C durante il tempo di turn-off di S1 quella di fig. 12.
12
attraversa ritorni di segno positivo.
Poich l'SCR, attraversato da corrente negativa (area tratteggiata di fig. 12),
passa gradualmente dalla conduzione allo spegnimento, la sua resistenza varia di
conseguenza dal valore zero al valore infinito. Lo studio teorico in tali condizioni
molto difficile e perci conviene fare l'ipotesi semplificativa che la resistenza di S1
sia pari a zero fino all'istante in cui l'SCR spegne (vedi fig. 12) e diventi infinita
subito dopo. Una volta spento S1 il condensatore C prende perci a scaricarsi
attraverso il carico Z e se quest'ultimo induttivo, l'andamento che ne consegue
pu essere oscillatorio (l'effetto della piccola induttanza in serie ad S2 si pu
trascurare). La corrente che in tal modo attraversa S2 diventa negativa, favorendo
cos lo spegnimento anche di quest'ultimo.
In ogni caso, per sicurezza, il valore della resistenza R viene scelto
sufficientemente elevato cos che se anche durante il transitorio suddetto S2 non si
fosse spento, la corrente che attraversa R non sia da sola in grado di mantenerlo in
conduzione, per cui alla fine il suo spegnimento sia garantito comunque.
4.-Transistore unigiunzione.
Nei paragrafi precedenti si sempre supposto che l'innesco dell' SCR avvenga a
mezzo di un opportuno impulso di corrente applicato al gate. In realt il problema
di creare un impulso di sufficiente ampiezza e tale da provocare l'innesco degli
SCR anche di grande potenza senza eccessivi ritardi non dei pi semplici da
risolvere per cui si sentita la necessit di realizzare un apposito dispositivo a
semiconduttore che si adatti in modo semplice ed economico a questo scopo.
13
le zone n vicine a B1 e B2 con due resistori.
14
opportunamente nella zona dei valori intermedi si ha la caratteristica complessiva
di fig. 16.
15
Quest'ultimo un oscillatore non-sinusoidale a bassa o bassissima frequenza
(frazione di Hertz) utilizzato principalmente per l'innesco degli SCR ma che, causa
la sua buona stabilit e la facilit con cui se ne pu variare la frequenza, trova utile
impiego nei casi pi disparati (lampeggiatori, clock di BF per circuiti digitali, ecc.).
Per comprenderne il funzionamento si consideri anzitutto il caso in cui sia
assente il condensatore C; in tale evenienza la situazione (statica) sintetizzata in
fig. 18. Da notare che il valore Vp della tensione di picco dato dall'espressione:
Vp =
R1 + RB1
VBB VBB
R1 + RB1 + R2 + RB 2
VBB V p
Ip
> R + R1 >
VBB Vv
(vedi anche Fig. 18).
Iv
16
corrente che provocher linnesco dellSCR. La situazione allora quella riportata
in fig. 19 in cui la differenza di potenziale tra la tensione del condensatore e quella
del transistore unigiunzione viene colmata dalla Lpdi/dt ai capi di una induttanza
parassita dovuta ai fili di collegamento e al moto delle cariche elettriche nel
semiconduttore.
17
dell'unigiunzione (tratto (c)). A questo punto si rientra in zona a pendenza
negativa con relativa commutazione veloce (tratto (d)), dopodich ha inizio la
carica (lenta) di C attraverso R e si ripete un nuovo ciclo. Il punto di
funzionamento descrive perci una curva chiusa detta ciclo limite il cui interno
ombreggiato in Fig. 21. Va infine notato che il circuito equivalente di fig. 19
valido durante i tratti veloci a), b) e d) mentre nel tratto c) il condensatore C si
scarica sulla resistenza equivalente positiva dellunigiunzione e il circuito
tenderebbe (tratto tratteggiato di c)) verso il punto di equilibrio Q riportato in fig.
18.
18
dente di sega mentre ai capi di R1 si ha una serie di impulsi brevi, come mostra la
fig. 22.
e da cui si ha:
V Vv
1
RC ln
T = RC ln BB
1
VBB V p
6.-Il Gate Turn Off Thyristor (GTO).
Come si visto nel capitolo dedicato agli SCR la principale limitazione di tali
dispositivi risiede nell'impossibilit di portarli dallo stato ON allo stato OFF a
mezzo di un semplice comando sull'elettrodo di Gate, con la conseguente necessit
di impiego di circuiti ausiliari di spegnimento costosi e complicati. Si spiegano
pertanto i ripetuti tentativi fatti dai costruttori per l'introduzione di componenti
allo stato solido completamente equivalenti ad un interruttore comandato. Tra
questi il pi noto il GTO (Gate Turn Off) che non differisce in modo essenziale da
un normale SCR ma viene realizzato in modo da poter essere portato dallo stato
ON allo stato OFF applicando un impulso di corrente negativa sul Gate.
Per comprendere come sia possibile provvedere allo spegnimento di un normale
SCR applicando un impulso negativo sul Gate, si consideri la fig. 23 in cui viene
riportata la normale situazione di conduzione in un SCR.
Una elevata quantit di corrente di elettroni esce dal catodo (che essendo una
regione n+ appunto una sorgente di elettroni) ed una corrispondente corrente di
lacune esce dall'anodo (che una regione p+ cio sorgente di lacune). Tale
mescolanza di cariche forma un plasma (elettricamente neutro) ad alta densit che
19
cortocircuita la giunzione centrale n-p impedendogli di bloccare la corrente.
20
Anzitutto occorre rendere pi intimo il contatto tra Gate e Catodo allo scopo di
aumentare lefficacia della tensione di Gate nel controllare la corrente che fluisce
nel catodo. Questo si pu ottenere impiegando forme particolari quali quella
cosidetta spirale involuta, riportate in Fig. 25.
21
scena dei dispositivi a semiconduttore, la sua vita stata molto tribolata e solo
negli ultimi anni esso sembra aver raggiunta una certa maturit, bench le sue
prestazioni non siano ancora entusiasmanti. Il suo tallone d'Achille infatti l'ancor
elevato valore di corrente negativa di gate necessaria per lo spegnimento che si
aggira su di un valore pari a un decimo della corrente anodica da estinguere.
DISPENSE DI ELETTRONICA
INDUSTRIALE
(anno accademico 2002-2003)
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1.-Caratteristiche elettriche dei transistori di potenza bipolari.
Se si effettua il tracciamento delle caratteristiche elettriche di un transistore
bipolare, come indicato in Fig. 1, si nota che possibile mettere in evidenza tre
regioni distinte di funzionamento.
La prima zona, ridotta in pratica ad una retta quasi verticale, corrisponde al
funzionamento in saturazione del transistor; esso si comporta infatti come una
resistenza di valore costante entro una gamma di valori di tensione e corrente
dipendente dall'entit della corrente di base applicata.
Fig. 1: Caratteristiche elettriche di un transistore bipolare.
Facendo riferimento alla fig.1 si vede che applicando una corrente di base pari a
Ib3 il transistor assimilabile ad una resistenza pari a R = Vsat/Isat a patto che la
tensione applicata sia inferiore a Vsat. Se la tensione di collettore supera il valore
sopraddetto il transistor entra nella zona di funzionamento lineare, in cui esso si
comporta, in prima approssimazione, come un generatore di corrente costante e
indipendente dalla tensione Vce.
La terza zona quella a destra dell'iperbole di massima dissipazione e in
corrispondenza di essa si verificano fenomeni di varia natura tutti legati ad un
eccessivo innalzamento di temperatura delle parti che compongono il transistor.
Per meglio comprendere i fenomeni che verranno descritti in seguito conviene
fare riferimento alla fig. 2 in cui riportata la struttura tipica di un transistor
bipolare di potenza di tipo NPN.
La fig. 2 evidenzia alcune caratteristiche strutturali dei transistor che hanno lo
scopo di ottenere alcune qualit essenziali del dispositivo e precisamente:
a) elevato guadagno di corrente
b) elevata velocit di commutazione
3
c) elevata corrente massima
d) elevata tensione massima sopportabile
e) bassa resistenza nello stato ON
Il guadagno elevato legato essenzialmente ad una regione di base sottile e
poco drogata. In tal modo infatti si riduce la probabilit di ricombinazione nella
regione di base con conseguente aumento del numero di cariche che raggiungono
la zona di giunzione base-emettitore e ne influenzano il potenziale. Va messo in
evidenza che per aumentare la velocit di funzionamento del transistor, la base
viene drogata non uniformemente: ci ha lo scopo di creare un campo elettrico
interno che aumenta la velocit delle cariche e ne abbrevia il tempo di transito
lungo la base.
4
della giunzione collettore-base che tanto pi ampia quanto pi le regioni vicine
alla giunzione sono debolmente drogate. Il campo elettrico, essendo inversamente
proporzionale alla estensione della regione di svuotamento risulta perci ridotto
e non provoca quegli effetti di ionizzazione per urto che, come verr descritto in
seguito, possono innescare fenomeni distruttivi incontrollabili.
La regione di base va fatta anch'essa piuttosto estesa in spessore onde
contribuire a sopportare parte della tensione applicata: questo naturalmente
comporta una diminuzione di guadagno e di velocit massima di funzionamento.
La presenza di una zona poco drogata nella regione di collettore, se da un lato
permette di ottenere dispositivi con tensione di funzionamento maggiori, ha il
difetto di introdurre una resistenza serie; la retta quasi verticale di fig.1 viene
ruotata verso destra e il transistor, quando utilizzato come interruttore chiuso,
presenta una resistenza equivalente dell'ordine di qualche ohm o anche di decine
di ohm. A tale proposito esiste una legge empirica esponenziale che lega la
massima tensione sopportabile BV (Breakdown Voltage) al valore della resistenza
nello stato ON Ron e all'area A del transistor (visto dall'alto). Si ha infatti
(BV)n = A Ron ;
n = 2.3 - 2.7
(1 - e-AD)2
AD
in cui si posto
A area del dispositivo
D densit di difetti presenti normalmente nel wafer
n numero di passi nel processo realizzativo
K(n) fattore esponenziale variabile secondo una potenza negativa di n
Per valori di A molto piccoli e comunque minori di 1 mm quadro ( il caso dei
transistor di segnale) la resa molto elevata e il costo proporzionalmente basso.
Se per l'area supera i 2.5x2.5 mm2 la resa cala rapidamente a causa del notevole
5
numero di dispositivi difettosi e il costo subisce una scalata notevole. Un
transistor da 450 volt con 1 ohm di Ron pu costare da 4 a 6 volte un transistor con
la stessa tensione massima ma con 2.5 ohm di Ron.
Esaurito il breve commento sulle caratteristiche strutturali della fig. 2 conviene
esaminare ora gli effetti legati al riscaldamento che sono, per il progettista dei
dispositivi di potenza, quelli pi importanti. La sorgente di calore principale del
transistor la giunzione base collettore su cui si concentra quasi tutta la tensione
applicata. Il calore generato tende a diffondere attraverso il meccanismo della
conduzione verso le zone a temperatura pi bassa ed cura del costruttore che
queste siano a contatto termico con una struttura dotata di buone capacit di
smaltimento del calore medesimo (per esempio un dissipatore alettato come
quello indicato in Fig. 2). Un eventuale eccessivo innalzamento di temperatura
della zona di base e di collettore porterebbe infatti a una serie di fenomeni
particolarmente dannosi che data la loro importanza e varia natura verranno
studiati in dettaglio nei prossimi paragrafi. Qui va notato per concludere che la
iperbole di massima dissipazione di fig.1 legata di solito alla necessit di evitare
la migrazione e la ridistribuzione delle impurit nel cristallo di Silicio con
conseguente degrado delle giunzioni. Tale fenomeno di solito comincia a
manifestarsi al di sopra dei 250 C.
2.-Limiti di corrente e di tensione nei transistori bipolari.
Come si nota osservando la fig.2 l'area di collettore, piuttosto ampia, affacciata
ad un'area di emettitore che per ragioni costruttive necessariamente pi
limitata. Le linee di corrente che attraversano il collettore tendono perci a
restringersi e a concentrarsi in modo non uniforme con l'inevitabile conseguenza
che in alcune zone la densit di corrente pu raggiungere valori tali da
danneggiare il cristallo. Esiste perci un valore massimo di corrente oltre il quale
bene non spingersi per non incorrere in conseguenze catastrofiche. Va detto
per che in genere un limite ancor pi severo alla massima corrente posto dai
collegamenti con gli elettrodi esterni che possono distaccarsi a causa delle elevate
correnti. Questo limite dipende anche dal tipo di funzionamento a cui
sottoposto il transistor; la corrente massima sopportabile in regime permanente
(corrente costante) infatti minore di quella che il dispositivo pu sopportare
senza danno in regime impulsivo. Ci legato al fatto che il danneggiamento
della struttura cristallina e delle connessioni esterne si verifica con un certo
ritardo rispetto alla causa che lo provoca e cio l'elevata corrente. In altre parole
una corrente molto intensa pu essere sopportata senza danni purch sia
mantenuta per un tempo sufficientemente breve.
Un altro fenomeno distruttivo che si verifica in presenza anche di piccole
6
correnti ma con elevate tensioni applicate quello ben noto della ionizzazione per
urto e conseguente moltiplicazione delle cariche nella zona di collettore. Se infatti
la tensione applicata tra collettore ed emettitore supera un certo valore le cariche
che si muovono lungo la regione di collettore vengono accelerate dal campo
elettrico presente e possono acquistare energia sufficiente a liberare altre cariche
che a loro volta vengono accelerate. Si innesca cos un fenomeno rigenerativo
(avalanche breakdown) che porta alla distruzione del transistor. Il valore della
tensione di breakdown, indicato con la sigla BVce, a differenza di quanto avviene
per la corrente massima non influenzato in modo sensibile dalla durata; esso
invece oltre che dal profilo di drogatura della zona di collettore dipende dalle
caratteristiche del circuito con cui si alimenta la base.
Nel caso in cui l'elettrodo di base sia lasciato libero (fluttuante) tutte le cariche
minoritarie (lacune) generate termicamente nella zona di collettore raggiungono
la zona di base e aumentandone il potenziale equivalgono ad un segnale di
tensione esterno che provoca un flusso di corrente di collettore amplificato. Le
cariche corrispondenti possono cos venire accelerate dando luogo al fenomeno
dell'avalanche breakdown.
Viceversa se l'elettrodo di base collegato a massa la regione di base tende a
rimanere a potenziale zero e solo quelle zone di essa che si trovano pi lontane
dall'elettrodo esterno subiscono un aumento di potenziale. In questo ultimo caso
perci il fenomeno dell'avalanche breakdown si verifica a tensione superiore
rispetto al caso della base fluttuante. Una situazione ancora pi favorevole si ha
quando la base mantenuta a potenziele negativo; in tal caso vale la relazione:
BVcex(base negativa) > BVces(base a massa) > BVceo(base aperta)
A titolo indicativo si pu dire che, a seconda dei casi, vi sia una differenza che va
da 50 a 250 volt tra la tensione di breakdown a base aperta e quella a base
negativa. Una volta innescato il fenomeno del breakdown laumento di corrente
e di cariche libere che ne consegue porta a funzionare il transistore in una
situazione del tutto indipendente dalle condizioni di partenza per cui si ha la
situazione di fig. 3 in cui le tre suddette tensioni tendono ad un limite comune
denominato BVcesus (sustaining voltage) il quale quello che di solito riportato
nelle caratteristiche elettriche fornite dal costruttore. Come ultima annotazione
va anche detto che le tensioni di breakdown aumentano entro certi limiti al
crescere della temperatura; in altre parole crescendo la temperatura il transistore
sopporta tensioni pi elevate.
8
carico resistivo. Supposto il transistor termicamente stabile, si immagini di
riscaldarlo a mezzo di una sorgente di calore esterna.
Q=
(T j Tamb )
ja
10
collettore dovute a cambiamenti accidentali delle condizioni operative (tensioni
di alimentazione, temperatura ambiente ecc.). Sfortunatamente mantenere
costante la corrente di collettore nel suo complesso1 non equivale a mantenere
costante la corrente che fluisce internamente lungo tutta la estensione della
regione del collettore stesso. Si possono avere infatti delle zone limitate del corpo
del transistor bipolare in cui si ha un momentaneo aumento della corrente
eventualmente bilanciato da una diminuzione equivalente in altre zone. Si crea
cos un corrispondente squilibrio termico in una zona limitata della giunzione
base-emettitore che favorisce un ulteriore aumento locale di corrente senza che il
circuito di stabilizzazione esterno possa intervenire dato che la corrente
complessiva si mantiene pressoch costante o varia di poco. La fuga termica
locale cos un fatto inevitabile e il riscaldamento subito dalle zone interessate,
generalmente di estensione assai ridotta e denominate punti caldi (hot spots),
cos intenso da portare alla fusione locale del cristallo di silicio (che fonde a 1550
C). Il fenomeno molto subdolo perch si accompagna inizialmente ad un
aumento impercettibile di corrente esterna e solo quando il guasto ormai
irreparabile si manifesta come un cortocircuito netto tra collettore ed emettitore.
Una delle cause principali che favoriscono l'innesco del fenomeno appena
descritto sono i bruschi transitori cui sottoposto il transistore durante il
funzionamento in regime variabile. Si consideri infatti a titolo di chiarimento il
caso dell'applicazione di un impulso di tensione in base, che faccia passare il
transistor dallo stato di interdizione a quello di conduzione. Facendo riferimento
alla fig. 6 si vede che, a causa della forma geometrica planare del transistor e
tenendo conto che la base debolmente drogata e quindi presenta una resistenza
distribuita non trascurabile, l'impulso di tensione di comando agisce
prevalentemente sui bordi laterali della giunzione base-emettitore, pi vicini agli
elettrodi esterni e al contrario viene fortemente attenuato dalla resistenza della
zona di base prima di giungere nella zona centrale.
In tal modo le zone laterali sono quelle che conducono per prime e sono perci
maggiormente soggette ad andare in fuga termica laterale. per tale motivo che il
fenomeno descritto noto col nome di instabilit laterale (lateral instability o anche
forward biased second breakdown). La denominazione di second breakdown deriva
dal fatto che bench la presenza della fuga termica locale sia sufficiente a spiegare
il fenomeno nel suo complesso, esso per cos violento da far supporre che
anche altri meccanismi contribuiscano alla sua evoluzione. L'ipotesi pi
accreditata quella del manifestarsi nei punti caldi di una intensa ionizzazione
1Ovviamente
dato che i segnali variabili applicati in base faranno certamente variare la corrente medesima.
11
per urto che provoca una proliferazione di cariche libere e quindi la perforazione
della giunzione per fenomeno di breakdown oltrech per fusione termica.
12
guasto.
Se si fa uso di coordinate entrambe logaritmiche sia l'iperbole di massima
dissipazione che la curva limite di secondo breakdown diventano rette e l'area di
sicurezza, denominata SOAR (Safe Operating ARea) assume la forma tipica di fig.
7. Osservando la fig. 7 si nota, come gi anticipato, che le curve limite di secondo
breakdown (rilevate sperimentalmente) sono due (talvolta c'e n' una sola); la
prima valida per valori pi bassi di tensione ed caratterizzata dal valore n = 2
mentre l'altra, valida per tensioni pi elevate, ha n = 1.
5.-L'area di sicurezza in regime impulsivo.
Nei paragrafi precedenti si introdotto il concetto di area di sicurezza (SOAR)
immaginando di portare il transistor a funzionare in vari punti del piano V-I e
verificando poi se si manifestano fenomeni distruttivi. In pratica per tale tipo di
funzionamento (denominato spesso funzionamento continuo) non rispecchia le
situazioni reali in cui vengono impiegati i transistori di potenza, per cui
necessario estendere il concetto di area di sicurezza anche al caso di un singolo
impulso (regime mono-impulsivo) nonch a quello di impulsi ripetitivi. Si
supponga allora che la potenza dissipata nel transistor sia assimilabile a una
sequenza periodica di impulsi di durata t1 e periodo t2. Il circuito equivalente
termico approssimato del transistor quello di fig. 8 in cui e C indicano
rispettivamente resistenze e capacit termiche.
1 e t1 / 1
1 e t1 / 2
+
ca]Pmax
jc
1 e t 2 / 2
1 e t 2 / 1
13
in cui 1 = jcCjc e 2 = caCca sono le costanti di tempo termiche della giunzione e
del dissipatore, rispettivamente.
Si hanno allora i seguenti due casi:
Tjmax = (jc + ca)(Pmax)DC regime continuo (t1, t2 = )
Tjmax = (jc + kca)(Pmax)imp
in cui, posto che la costante di tempo termica 2 del dissipatore sia molto grande,
si ha:
k=
t
1 e t1 / 2
= 1 (duty cycle)
t 2 / 2
1 e
t2
ed inoltre il fattore
1 e t1 / 1
1 e t 2 / 1
14
( Pmax ) DC
1+
ca
jc
ca
Tc
=
jc T j Tc
si ottiene
Tc
)( Pmax ) DC
Tj
Tc
Il fattore (1 - T ) che fa diminuire la potenza massima dissipabile quando
j
'
( Pmax
) DC = (1
15
Fig. 10: Derating factor della potenza e del secondo breakdown per il transistor
BUX-15 .
Utilizzando i grafici della fig. 10 possibile costruire l'area di sicurezza in
continua per qualsiasi valore della temperatura dell'involucro. Basta infatti
ridurre le ordinate delle curve di potenza e di secondo breakdown di un fattore
percentuale pari al rispettivo derating factor. Va notato inoltre che le curve di
massima corrente e massima tensione non sono sostanzialmente influenzate dalla
temperatura dell'involucro.
6.-Il reverse biased second breakdown.
Dal punto di vista della effettiva pericolosit, il fenomeno del forward biased
second breakdown appena decritto non st al primo posto nelle preoccupazioni
del progettista dei sistemi di potenza a transistor bipolare. A parte infatti la
precauzione di lavorare sempre all'interno dellarea di sicurezza, occorre tener
presente che le componenti induttive, sempre presenti nel carico, tendono ad
impedire con la loro inerzia elettrica i fenomeni transitori troppo veloci che
possono innescare la fuga termica laterale.
Una situazione particolare molto pericolosa si ha invece nel caso, piuttosto
frequente in pratica, del brusco passaggio dallo stato di conduzione a quello di
completa interdizione del transistor. La tensione di spegnimento (nulla o
negativa) applicata all'elettrodo di base del transistor in conduzione, fa sentire
anche in questo caso i suoi effetti prima lungo il bordo della giunzione per cui
l'area di conduzione va restringendosi verso il centro come mostrato in fig. 11.
Sfortunatamente il processo di rapida estinzione contrastato dall'inerzia del
carico che pi o meno sempre induttivo e che tende a mantenere costante la
corrente di collettore. Nella zona centrale di conduzione che va velocemente
restringendosi si concentra perci una corrente di valore pressoch costante la cui
densit in breve raggiunge valori proibitivi dando luogo alla formazione di un
16
punto caldo (hot spot) centrale: la distruzione del transistor cosa perci
pressoch certa. Bench in questo caso non sia corretto parlare di fuga termica il
fenomeno della ionizzazione per urto certo ancora presente in modo massiccio
ed perci che il fenomeno descritto prende il nome di reverse biased second
breakdown.
17
Per ogni tipo di transistor viene perci specificata dal costruttore la massima
energia (espressa in joule), indicata con la sigla ES/B, che il dispositivo in grado di
sopportare senza danni. Tale energia massima sopportabile tanto pi piccola
quanto pi rapidamente viene effettuato lo spegnimento del transistor; infatti se si
spegne lentamente il transistor l'energia viene diluita nel tempo e quindi pi
facilmente sopportata. In pratica, dato che per aumentare la velocit di
commutazione si usa applicare alla base una forte tensione negativa, viene fornito
di solito l'andamento di ES/B al variare della tensione negativa di interdizione
applicata in base.
In fig. 12 riportato a titolo di esempio un andamento tipico di ES/B al variare
della tensione negativa -Vbe A tale proposito occorre notare infine che anche la
resistenza interna del generatore Rb che eroga il segnale di comando in base,
influenza in qualche modo l'andamento di ES/B.
7.-Circuiti di protezione.
Come gi visto a proposito del fenomeno del reverse biased second breakdown,
durante la fase di spegnimento, l'energia immagazzinata nella componente
induttiva del carico dissipandosi nel transistor pu danneggiarlo. Occorre perci
predisporre dei circuiti opportuni che hanno il compito di proteggere il transistor
stesso durante le fasi critiche di funzionamento, pur non intervenendo durante il
resto del tempo. Il circuito impiegato quello riportato in fig. 13.
18
Tuttavia poich qualsiasi diodo ha un tempo di intervento non nullo esso non
in grado di impedire che parte della sovratensione si manifesti in ogni caso. Il
punto di funzionamento si sposta infatti lungo la traiettoria in colore posta in alto
e riportata in fig. 14.
19
20
Fig.17 : Dilatazione della regione di base di un transistor bipolare nei vari stati di
conduzione.
Durante il funzionamento in zona lineare le lacune nella base sono in quantit
limitata e non vengono attratte dal collettore che si trova a potenziale positivo
rispetto alla base (la giunzione base-collettore polarizzata negativamente).
Aumentando per la corrente di base e di conseguenza quella di collettore, la
caduta sul carico esterno fa calare il potenziale del collettore stesso fino a portare
alcune sue zone a un potenziale pi basso di quello di base: la giunzione base
collettore risulta quindi polarizzata positivamente e la base pu iniettare lacune
nelle aree pi prossime del collettore (stato di quasi saturazione). Se si aumenta
ancora la corrente di base le lacune arrivano a toccare la zona n+ del collettore: la
base si estende sempre di pi e il transistor saturo. Un ulteriore aumento della
corrente di base (cui per non fa seguito un apprezzabile aumento della corrente
di collettore) porta il transistore in sovrasaturazione: parte della regione n+ di
21
collettore viene invasa dalle lacune aumentando cos ulteriormente lestensione
della zona equivalente di base.
Se a questo punto si vuole effettuare il percorso inverso e cio portare il
transistore dallo stato ON allo stato OFF si vede subito che fintantoch leccesso
di carica non stato asportato, cio la zona di base equivalente non stata
riportata ai valori normali, la tensione di collettore rimane al valor minimo e
l'interruttore equivalente non da segno di cominciare ad aprirsi. Il tempo
necessario per eliminare le cariche (lacune) di saturazione detto storage time.
Lo storage time ha lo svantaggio di essere largamente indipendente dal valore
della tensione inversa che si applica in base durante la fase di spegnimento. Se si
applica una tensione negativa all'elettrodo di base, solo le lacune poste in
prossimit dell'elettrodo vengono drenate, mentre quelle di saturazione poste in
cima alla zona n+ di collettore sono scarsamente influenzate e vengono eliminate
per ricombinazione in loco. Va infatti tenuto presente che per garantire la
neutralit di carica, allincremento di lacune descritto in fig. 17 fa sempre
riscontro un identico incremento degli elettroni: le coppie lacuna-elettrone
coesistenti tendono quindi a ricombinare localmente. Una volta eliminata la
carica di saturazione, ha inizio la fase di risalita della tensione (voltage rise time) e
di concomitante caduta a zero della corrente di collettore (current fall time) come
viene indicato in fig.18.
22
appena visto che durante tutte le fasi di saturazione e sovrasaturazione si
manifesta un notevole accumulo di cariche minoritarie nel collettore (lacune), che
vengono eliminate solo per ricombinazione locale. Pertanto l'applicazione di una
tensione inversa eccessiva, oltre che inutile, anche dannosa. Infatti la giunzione
base-collettore rimane conduttrice a causa delle lacune presenti ed equivale ad
una resistenza di basso valore anche con tensione inversa.
23
fall-time.
24
trattare, la cosa pi vantaggiosa da fare consiste nell'evitare che esso avvenga. Ci
si ottiene col circuito di fig. 21 che denominato appunto circuito di
antisaturazione.
Come si vede, quando la tensione di collettore durante lo stato ON tende ad
assumere valori troppo bassi il diodo Das entra in conduzione e impedisce alla
tensione che pilota la base di crescere ulteriormente e quindi di sovrasaturare il
transistore stesso. Ovviamente tale fenomeno di blocco si manifesta tanto prima
quanto maggiore il numero di diodi in serie alla base. Pertanto maggiore il
numero di diodi serie DD, minore il grado di saturazione del transistore nello
stato ON. La presenza del diodo DS serve ad eliminare leffetto del circuito di
antisaturazione durante la fase di spegnimento del transistor.
2
1.-Introduzione.
La natura delle grandezze da misurare nelle applicazioni pratiche in genere
estremamente varia ed a tale scopo stata creata una grande variet di trasduttori
e amplificatori dedicati. Qui, senza pretendere di esaurire il vasto campo di
fenomeni fisici considerati vengono descritti solo alcuni dispositivi di uso pi
comune.
2.-Fenomeni fisici utilizzati nei trasduttori.
Esiste una grande variet di fenomeni fisici che possono essere utilmente
impiegati per la misura di grandezze meccaniche, termiche ecc. Qui ci si limita ad
una panoramica estremamente succinta dei pi noti e delle loro applicazioni.
3.-Piezoelettricit, Piroelettricit e Ferroelettricit.
Quando due o pi atomi diversi si uniscono in una molecola scambiandosi
elettroni allinterno di un cristallo, la nube di elettroni che li circonda spesso non
ha il baricentro coincidente con quello dei corrispondenti nuclei positivi per cui si
forma un dipolo di carica come indicato schematicamente in Fig. 1.
3
rigida, esistono dei materiali in cui i bipoli o gruppi di bipoli (domni), sono
parzialmente liberi di ruotare. La mutua interazione tende perci ad allinearli
lungo una orientazione comune. Lapplicazione di un campo elettrico favorisce
tale processo di passaggio da uno stato iniziale di disordine ad uno di maggior
allineamento con conseguenti fenomeni di incremento di campo elettrico,
saturazione ed isteresi analoghi a quelli ben noti dei materiali ferromagnetici
(donde il nome). La ferroelettricit comunque un fenomeno abbastanza raro
e sono pochi i composti che la presentano e in limitati intervalli di temperatura:
oltre al ben noto sale di Rochelle vi il il Titanato di Bario (BaTiO3) e pochi
altri.
Va infine aggiunto che la piroelettricit e la ferroelettricit hanno uno o pi valori
critici di temperatura, detti punto di Curie, attraversando i quali le suddette
propriet appaiono o scompaiono.
4- Termogiunzione, Fotogiunzione e Piezogiunzione.
La caratteristica tensione corrente di una giunzione p-n a semiconduttore data
dalla nota relazione:
I = I SAT ( e
qV
kT
1) I Light
in cui ILight una corrente costante indotta nella giunzione da una radiazione
esterna che incidendo sugli elettroni in banda di valenza li fa passare in banda di
conduzione. Il segno di ILight negativo perch il campo elettrico allinterno della
zona di svuotamento, che mette in moto gli elettroni appena liberati, ha segno
opposto a quello applicato esternamente. Si ha inoltre la seguente relazione di
proporzionalit:
I SAT ( kT ) 3 e
Eg
kT
4
P
I = I SAT 0 (T )e ( e
kT
qV
kT
1) I light
5
usando agenti chimici opportuni (soluzioni acquose di idrato di potassio, ecc.),
effettuare una demolizione (etching) preferenziale che rispetti i piani ad alta
densit e distrugga gli altri. In questo modo si ottengono microstrutture che sono
particolarmente utili nella realizzazione di trasduttori e dispositivi di varia natura.
Per esempio in Fig. 4 viene mostrato come sia possibile realizzare ponti,
membrane, cavit, ugelli ed anche scavi a pareti verticali.
Una delle procedure pi delicate dei processi descritti consiste nel calibrare con
precisione lo spessore delle membrane sottili o delle leve (vedi Fig. 4).
6
trova a potenziale anche di poco superiore a 0.5 volt rispetto ad essa non viene
demolito. Se allora si immerge nella soluzione demolitrice una giunzione
polarizzata inversamente con una tensione esterna di poco superiore a 0.5, la zona
n rimane protetta mentre la zona p viene dissolta in breve tempo. La velocit di
demolizione della zona p non protetta (cio quella a potenziale inferiore a 0.5 volt)
risulta essere circa 200 volte maggiore di quella nella zona n protetta, garantendo
errori trascurabili nello spessore ottenuto.
6.- Primo esempio di applicazione di microstrutture su Silicio: realizzazione di un
accelerometro assiale.
Un tipico esempio di impiego delle tecniche di realizzazione di microstrutture su
Silicio l'accelerometro assiale mostrato in Fig. 6. Come si vede una massa
centrale sospesa a quattro barrette sottili laterali in cui vengono diffusi delle
piezogiunzioni. Lo spessore tipico delle barre di sospensione 10 micron mentre il
lato della massa sospesa dell'ordine di 2000 micron e il suo peso di 4
milligrammi.
7
In altre parole per misurare la accelerazione istantanea basta misurare lentit
dello spostamento (ym y) ovvero la deformazione delle barrette di sostegno. A
tale scopo si piazza una piezogiunzione su ciascuna barretta come indicato
schematicamente in Fig. 7. Va notato che le piezogiunzioni sono poste in due
posizioni diverse allo lo scopo di favorire i segnali derivanti da un moto della
massa sospesa in direzione assiale (cio lungo l'asse z) eliminando invece gli effetti
dovuti ad altri possibili movimenti.
I C I SAT 0 e e
kT
qVBE
kT
8
pu risalire al valore di P. In pratica il termine costante c0 scompare dato che la
struttura di Fig. 7 effettua la differenza tra due piezogiunzioni eguali ma
sollecitate in modo opposto.
7.- Secondo esempio di applicazione di microstrutture su Silicio: realizzazione di
trasduttori di pressione.
Le membrane visibili in Fig. 4 si possono utilizzare per la misura di pressioni di
valore non troppo elevato (normalmente fino a 50 Bars1).
In pratica si sfrutta la variazione dimensionale (lunghezza o sezione) di resistori
diffusi in prossimit dei bordi di una membrana sottile, in cui la deformazione per
effetto della pressione pi intensa, come mostrato in Fig. 9. La disposizione dei
corpi resistivi inoltre tale da dare luogo ad un aumento di resistenza in due di
essi e ad una diminuzione negli altri due.
Il bar una unit di misura che corrisponde a circa una atmosfera fisica o pi precisamente 1
9
infatti (vedi Fig. 10):
Vout =
E
R
R
10
deformazione e quindi non nota.
Si preferisce quindi effettuare il trasferimento virtuale2 su di una capacit nota e
con caratteristiche stabili della carica generata, misurando poi la tensione ai capi di
questultima. Ci si ottiene a mezzo del cos detto amplificatore di carica, il cui
circuito riportato in Fig. 12.
La carica Q netta presente in un dato istante ai capi del quarzo la differenza
tra quella di origine dipolare kP e quella Q0 proveniente dal condensatore di
reazione C0 che in tal modo si caricato alla tensione Vout=Q0/C0.
Poich i morsetti di ingresso delloperazionale costituiscono un corto circuito
virtuale la carica complessiva sul quarzo deve essere nulla da cui segue:
kP = C0Vout
Misurando quindi Vout e conoscendo k e C0 si risale allentita P della pressione
applicata.
Infatti un trasferimento reale non sarebbe possibile perch la carica di bipolo non libera di
muoversi.
11
pressione, le pale delle turbine idrauliche, le bielle dei motori a scoppio, le ali degli
aerei e in generale tutti quei dispositivi meccanici che a lungo andare possono
incorrere in una rottura causata dalla eccessiva dilatazione o compressione subite.
I E I SAT e kT
12
valida per elevate correnti, si ha:
I I
kT
ln( E1 SAT 2 )
V B1 VB 2
q
I E 2 I SAT 1
Se allora si riesce, mediante un artificio qualsiasi, a mantenere costante il termine
entro logaritmo, la differenza di tensione misurata tra le due basi si pu utilizzare
direttamente per la misura della temperatura assoluta dellambiente in cui posta
la coppia di transistori. Normalmente si preferisce utilizzare due transistori con
caratteristiche (densit di corrente di fuga JSAT e guadagni ) identiche, ma con
unarea di emettitore diversa e controllare le rispettive correnti di collettore in
modo che siano eguali. In tal caso detto il rapporto tra le aree di emettitore si ha
(si noti che lintroduzione del rapporto ha avuto per conseguenza la sostituzione
delle correnti di saturazione con le rispettive densit di corrente):
kT 2 J SAT 2
ln(
)
V B1 VB 2
q
1 J SAT 1
che diventa
V B1 VB 2
kT
ln( )
q
13
caso della Fig. 14, si ottiene una sensibilit di circa 0.2mV per grado Kelvin.
Ovviamente possibile introdurre delle modifiche circuitali in modo che la
tensione in uscita sia proporzionale alla scala Celsius (0C=273K) o alla scala
Fahrenheit.
11.-Trasduttori piroelettrici.
Leffetto piroelettrico (vedi Par. 3) pur non avendo quelle caratteristiche di
linearit che ne permettono limpiego nella misura della temperatura, possiede
tuttavia il vantaggio di fornire valori di tensione molto pi elevati degli altri
trasduttori (termocoppie, termodiodi) e di essere largamente insensibile al tipo di
radiazione che provoca laumento di temperatura.
Essi possono pertanto essere utilizzati come rivelatori di una vasta gamma di
sorgenti di radiazione che vanno dal lontano infrarosso, ai raggi X. Il materiale pi
usato il cristallo di Tantalato di Litio, che ha un punto di Curie a 610 C. La
radiazione incidente sia essa infrarossa o a raggi X viene convertita in calore. Il
trasduttore piroelettrico perci non selettivo per natura e se tale qualit gli
permette di essere utilizzato in un vasto campo di applicazioni spesso necessario
utilizzare dei filtri appositi onde restringere il campo di lunghezze donda rivelate.
14
temperatura, introducendo dei fronti di salita e di discesa in un segnale I di tipo
impulsivo. Al contrario la connessione diretta allingresso dellamplificatore
operazionale, cortocircuitando il condensatore, ne annulla gli effetti ritardanti.
Tuttavia questultima soluzione ha per conseguenza una intensa amplificazione
degli eventuali rumori presenti, con notevole peggioramento del rapporto segnale
disturbo.
Una applicazione tipica del trasduttore piroelettrico il rivelatore di passaggio:
due trasduttori identici vengono posti uno accanto allaltro in posizione
leggermente angolata come indicato in Fig. 17.
15
Vout
R R2
= (1 + 2
)
V A VB
R0 R1
V A + VB
che, come
2
verr mostrato nel seguito, viene impiegata per minimizzare leffetto dei disturbi
soprattutto quando si usano cavi di collegamento di notevole lunghezza e
trasduttori a basso livello di tensione.
Vi inoltre disponibile la tensione di modo comune VCOM =
16
elimina i disturbi, ma impedisce al cavo di sfasarli.
17
effettuare manualmente aggiustando il valore di una delle due tensioni di
alimentazione fino a che la tensione in uscita, in assenza di segnale, nulla. Tale
procedura pu essere automatizzata impiegando il circuito di Fig. 21.
I c = kI Dn
n2
18
destra si comporta come un corto circuito virtuale, si ha Rc1 I c1 = Rc 2 I c 2 da cui
segue:
Rc 1 k 1 (
Vin
V
+ I 1 ) n1 = Rc 2 k 2 ( out + I 2 ) n2
R1
R2
Allo scopo di garantire che per tensione di ingresso nulla si abbia tensione di
uscita nulla, occorre scegliere le resistenze poste sui collettori dei transistor in
modo da soddisfare alla condizione
Rc1k1 ( I 1 ) n1 = Rc 2 k 2 ( I 2 ) n2
In pratica ci si ottiene automaticamente in sede di realizzazione del circuito
monolitico, aggiustando i valori delle due resistenze a mezzo di un fascio laser che
ne assottigli il profilo (laser trimming). Una volta sodisfatta la condizione di zero,
la tensione di uscita dell'amplificatore assume la espressione:
n
Vout
1
V
= R2 I 2 [1 + ( in + 1) n2 ]
R1 I 1
19
17.-Zero Crossing detector.
Un circuito che si usa spesso in pratica il rivelatore di passaggio per lo zero di
forme donda. Il dispositivo impiega un comparatore che commuta quando la
tensione attraversa lo zero allistante t1 ed un altro comparatore che, tramite un
flip-flop che commuta sul fronte di discesa del clock, inibisce il primo durante la
fase iniziale in cui la tensione in ingresso non ha ancora assunto valori
significativi. Lo schema e le forme donda sono riportate in Fig. 23.
Fig. 23: Schema e forme donda nel circuito rivelatore di zero crossing.
La tensione V1 in uscita al primo comparatore si annulla segnalando
lattraversamento dello zero e contemporaneamente resettando il Flip-Flop ed
inibendo il primo comparatore. In questo modo la tensione V1 presenta un
impulso strettissimo il cui fronte di discesa coincide con listante t1
18.-Trasduttori di posizione.
Quando si vuol spostare un dispositivo qualsiasi, per esempio il braccio mobile di
un robot o la piattaforma mobile di una macchina utensile si deve porre un
trasduttore rotativo o lineare, direttamente su di esso. Esiste quindi una grande
variet di dispositivi caratterizzati da precisione e campo di impiego i pi svariati.
Vi sono trasduttori rotativi e lineari analogici che codificano lo spostamento sotto
forma di una grandezza (tensione, fase ecc.) variabile con continuit, cos come
esistono trasduttori che codificano in forma binaria lo spostamento in modo da
renderlo direttamente utilizzabile dai dispositivi di calcolo digitale che
normalmente si usano nelle applicazioni.
19.-Il trasduttore lineare a trasformatore differenziale (LDVT)
Uno dei dispositivi pi diffusi, anche in virt della sua semplicit ed economicit,
il cosidetto trasduttore lineare a trasformatore differenziale (LDVT) la cui
20
struttura realizzativa e lo schema equivalente sono riportati in Fig. 24.
1
1
V1V 0 x + V1V0 cos 2t
2
2
21
tratteggiata) dello spostamento x (il termine di frequenza doppia verr eliminato a
mezzo di un filtro passa basso). Come si vede il dispositivo in questione ha un
campo di utilizzo abbastanza limitato dato che per forti spostamenti la sua
caratteristica si incurva allontanandosi dalla linearit.
20.-Syncro-resolver.
Il syncro-resolver un trasduttore rotativo analogico realizzato a mezzo di un
rotore e uno statore su i quali sono disposti due avvolgimenti a 90 gradi, come
indicato in Fig. 26.
22
b) generatore di segnale modulato in ampiezza.
Si supponga ora di alimentare gli avvolgimenti di rotore con due tensioni
sinusoidali Va = V1 sint e Vbb' = V2 sint in fase tra di loro ma con ampiezze
diverse. In questo caso si ha:
VA = V1 cos sent V2 sin sint
VBB' = V2 sin sint + V1 cos sint
Se a questo punto si suppone che sia V1 = V0 sin0 e V2 = V0 cos0 si ottiene:
VA = V0 sen(0-) sen(t)
VBB' = V0 cos(0-) sen(t)
cio due segnali sinusoidali la cui ampiezza dipende dalla differenza tra un angolo
0 prefissabile arbitrariamente e l'angolo di rotazione attuale .
21.-Inductosyn.
L'inductosyn si pu ritenere la versione lineare del syncro resover. Esso infatti
costituito da un conduttore disposto ad onda quadra inserito in un supporto
isolante, che funge da regolo fisso, come indicato in Fig. 27, sopra il quale scorre
un cursore con due conduttori separati disposti a loro volta ad onda quadra e
sfalsati tra di loro di n-1/4 periodi.
23
concludere che quando la distanza x eguale a 0 o a T/2 la tensione indotta dalla
corrente I1 su AA massima e viceversa nulla per x=T/4. Essa di ampiezza
circa cosinusoidale al variare di x, mentre quella causata da I2 ha ampiezza
sinusoidale a causa dello sfalsamento (n-1/4)T tra le due disposizioni ad onda
quadra del cursore. In pratica, tenendo conto che per tutti gli altri tratti di
conduttore di aa e bb' vale un ragionamento analogo, si pu scrivere:
dI
dI
2x
2x
) 2 sin(
)]
V AA' = k [ 1 cos(
dt
T
dt
T
in cui k una costante dipendente dalle dimensioni geometriche del dispositivo.
Analogamente al caso del resolver si possono ottenere due tipi di segnali, uno
modulato in fase e l'altro modulato in ampiezza.
24
luce attraverso fessure disposte opportunamente in un disco opaco come mostrato
in Fig. 29. Il numero di fotodiodi (e di piste) corrispondenti dipende dal potere
risolutivo desiderato. I codificatori digitali ora descritti presentano uno svantaggio
che legato sia alla loro struttura sia al codice utilizzato. Il rilevamento della
posizione presenta delle ambiguit negli istanti in cui due o pi tracce danno
luogo ad una commutazione. Bench infatti le fessure siano realizzate con la
massima cura allo scopo di ottenere un perfetto allineamento, le commutazioni
inevitabilmente non avvengono nello stesso istante ma con piccoli ritardi l'una
rispetto allaltra dando luogo allapparizione di valori binari errati.
25
Ovviamente le cifre binarie in codice gray debbono venire tradotte in codice
binario normale prima di essere utilizzate da un dispositivo di controllo digitale.
Ci si ottiene con la formula ricorsiva:
bi = g i bi +1
dove gi liesima cifra gray e bi la corrispondente binaria pura. Le due cifre pi
significative coincidono e cio si ha bn = gn.
Il codice Gray presenta per alcuni svantaggi. Anzitutto esso deve essere
tradotto in binario per renderlo comprensibile al dispositivo di controllo. Inoltre a
causa del fatto che lultimo oscillogramma non rispetta la simmetria, due o pi
codificatori di tipo Gray non possono essere posti in cascata, come invece
possibile fare nel caso dei dispositivi che usano il codice binario naturale.
23.-Posizionamento digitale.
Nel sistema sistema di posizionamento qui descritto usato largamente nel campo
delle macchine utensili a controllo numerico, si sfrutta il segnale modulato in fase
proveniente da un syncro resolver o inductosyn confrontandolo con un segnale di
riferimento la cui fase dipende dalla quota che si vuole raggiungere. Lo schema a
blocchi del dispositivo quello di Fig. 31.
26
numerico (binario) iniziale. In tal modo, se 0 rappresenta la frequenza del segnale
di clock utilizzato, la tensione in uscita della catena di Flip-Flop si pu
rappresentare a mezzo dalla relazione (Q(t) st ad indicare un'onda quadra):
t + 2N
Vout = Q[ 0 n
]
2
essendo N un numero binario le cui cifre costituenti sono i valori a cui erano stati
presettati i rispettivi Flip Flop.
A questo punto il funzionamento del circuito di Fig. 31 risulta abbastanza
t
evidente: infatti il contatore A ad n Flip Flop viene presettato a 0 e l'uscita Q[ 0n ]
2
va al formatore che ricava i due segnali V0 sin
0
2
t e V0 cos
0
2n
t necessari per
t + ] in
2n
cui l'angolo di cui ruotato il resolver rispetto ad un riferimento prestabilito.
pilotare il resolver. All'uscita di quest'ultimo si ritrova il segnale V0 sin[
t + ] e viene
2n
confrontata con quella in uscita del contatore B che era stato presettato sul numere
binario N legato alla quota da raggiungere. Il comparatore di fase fornisce infine in
uscita una tensione proporzionale alla differenza ( - 2N/2n) la quale viene
assunta come tensione di errore per guidare il motore che fa avanzare l'organo
mobile. Ammesso che la quota finale da raggiungere corrisponda al valore 0, il
valore binario da impostare sul contatore presettabile dato dalla relazione N0 =
2n 0/(2). Per quel che riguarda il comparatore di fase esso deve assolvere alla
particolare funzione di confrontare le fasi di due onde quadre indicando anche se
il segnale di riferimento anticipi o ritardi quello di comando in modo da poter
stabilire il verso necessario di rotazione del motore. Ci si ottiene ad esempio con
un circuito come quello indicato in Fig. 32 che data la sua semplicit non necessita
di ulteriori spiegazioni.
L'uscita del resolver vienetrasformata nell'onda quadra Q[
27
Per quel che riguarda il campo di funzionamento del dispositivo di
posizionamento ora descritto esso limitato ad una rotazione completa del
syncro-resolver dato che non possibile distinguere la generica fase dalla fase
+ k2. Detto allora d0 l'escursione totale lineare dell'organo mobile espressa in
metri, che corrisponde per quanto detto a 0 = 2 cio al numero N=2n presettato
sul contatore, il minimo spostamento ottenibile risulta essere d0 = d0/2n. Da tale
relazione risulta che per raddoppiare la precisione relativa d0/d0 basta aumentare
di una sola unit il numero dei contatori binari. Questa possibilit per pi
apparente che reale dato che a partire da un certo valore di d0/d0 in poi n il
resolver n il comparatore sono in grado di discriminare la variazione di fase
minima corrispondente 0 = 2(d0 /d0) A tale limitazione si ovvia utilizzando un
secondo resolver (resolver fine) eguale al precedente ma opportunamente
demoltiplicato rispetto al primo (resolver grossolano).
24.-Trasduttori incrementali.
Si tratta di una classe particolare di dispositivi che codificano lo spostamento
(angolare o lineare) sotto forma di una serie di impulsi di tensione. Ad ogni
impulso corrisponde uno spostamento elementare d0 del cursore rispetto al
regolo fisso; normalmente il valore di d0 si aggira intorno a valori dellordine del
micron. Se perci si conta il numero di impulsi a mezzo di un contatore digitale si
ottiene un valore numerico che moltiplicato per d0 fornisce direttamente lo spazio
percorso dal cursore a partire dall'inizio del conteggio.
28
Naturalmente in questo modo l'indicazione ottenuta non assoluta e la precisione
dipende anche dall'affidabilit del contatore che deve essere reso il pi possibile
immune dai disturbi. La struttura di un trasduttore incrementale rotativo
riportata in Fig. 33. In Fig. 34 viene inoltre riportata in dettaglio la parte fissa e
quella mobile insieme con le tensioni raccolte dai trasduttori elettronici impiegati
(fotodiodi al Silicio). I segnali V1-V2 e V3-V4 sono di forma sinusoidale e vengono
poi trasformati in onde quadre per il conteggio.
29
pu eventualmente pregiudicarne l'integrit.
Il materiale da controllare portato vicino ad una bobina la quale produce un
campo magnetico alternativo ad alta frequenza che penetra all'interno del
materiale conduttore e induce delle correnti.
30
Come si vede la bobina eccitatrice provoca un campo magnetico uniforme H0 cui
si contrappone il campo H1 generato dalle correnti parassite indotte. Le equazioni
che regolano l'andamento della corrente e dell'induzione all'interno di un
conduttore sono la legge di Ohm e le equazioni di Maxwell. Applicando tali
relazioni al caso del conduttore cilindrico (i particolari del calcolo sono omessi per
semplicit), si ottiene la seguente espressione dell'induzione magnetica all'interno
del conduttore:
I ( kr )
B( r ) = B( r0 ) 0
I 0 ( kr0 )
dove I0 la funzione di Bessel modificata di prima specie e di ordine zero e k un
parametro (numero complesso) dipendente dalla conducibilit e permeabilit del
materiale e dalla frequenza impiegata, avente l'espressione:
k = i
La distribuzione dell'ampiezza dell'induzione magnetica lungo il raggio r
mostrata graficamente in Fig. 37 per diversi valori della frequenza della corrente
induttrice e del parametro caratteristico k. Il fenomeno descritto in figura, che
noto come effetto pelle, in quanto l'intensit della induzione magnetica B(r) che ne
consegue, si riduce man mano che si penetra in profondit nel materiale.
31
Indicando allora con il flusso complessivo che attraversa il conduttore (in senso
assiale) si pu scrivere:
= r02 B ( r0 ) eff
essendo:
eff = 2
r0
B( r ) r
dr
B( r0 ) r02
32
composta da due parti: quella dovuta all'induzione magnetica entro il cilindro
conduttore e quella dovuta all'induzione magnetica nella restante sezione libera.
La f.e.m. totale quindi data dalla relazione:
E = n2r02 B( r0 ) eff + n2 ( r12 r02 ) B( r0 )
E = E0 [ eff + 1 ]
avendo posto E0 = n2r02 B( r0 )
Landamento del rapporto E/E0 per vari valori di riportato in Fig. 39. In tale
figura riportata una famiglia di curve al variare del fattore di riempimento. Le
curve a tratteggio corrispondono alla situazione fisica di un cilindro con raggio
variabile interessato da correnti a frequenza fissa. In altre parole le curve
tratteggiate corrispondono all'andamento della tensione indotta sul secondario
nell'ipotesi di far variare il raggio r0 del pezzo cilindrico in esame da 0 a r1 (ossia il
fattore di riempimento da 0 a 1).
33
Osservando la precedente figura si nota un fatto piuttosto importante: supposto
infatti di far scorrere la bobina secondaria lungo il cilindro in prova, una
variazione delle sue dimensioni (cio del raggio) o una variazione delle
caratteristiche fisiche del materiale (conducibilit, permeabilit) provocano effetti
distinguibili. Pi precisamente effetti di variazione strutturale (diametro) e di
caratteristiche fisiche (conducibilit) danno luogo a variazioni in diversa direzione
nel piano complesso della tensione della bobina secondaria. Questo fatto pu
venire sfruttato per rivelare l'entit di variazioni di raggio separatamente da quelle
di conducibilit (o di permeabilit). Scegliendo opportunamente il valore del
rapporto f/f0 possibile fare in modo che le curve tratteggiate (dovute a variazione
strutturali) e quelle continue (dovute a variazione di parametri fisici) siano
inclinate di 45 nel piano complesso di Fig. 40 in modo che i due effetti siano
nettamente separati.
Fig. 40: Angolo tra curve a diametro variabile e a conducibilit variabile per il
grafico di Fig. 39 a).
Come si pu vedere osservando la Fig. 40 questo fatto si verifica soprattutto alle
pi alte frequenze. Tuttavia la scelta di una frequenza di test troppo elevata non
conveniente perch, a causa dell'effetto pelle, l'esame del materiale si limiterebbe
alla sua superficie e quindi non sarebbe in grado di rivelarne i difetti in
profondit. Per tale motivo si usa normalmente un campo di frequenze che va da
10 a 50 volte la frequenza limite.
La Fig. 39 a) e b) mette anche in evidenza la notevole diversit del risultato
ottenuto a seconda che i materiale in esame sia ferromagnetico o diamagnetico.
Questa difficolt pu essere aggirata sovrapponendo al campo magnetico variabile
un campo continuo molto intenso che, come mostrato in Fig. 41, satura il materiale
e in pratica lo trasforma in un materiale paramagnetico per cui vale sempre la Fig.
39 a).
34
35
36
riempimento si considera la distanza testina-superficie. Anche in questo caso
difetti di natura diversa danno luogo a variazioni di segnale con fase diversa e ben
determinata.
Va notato infine che la distribuzione delle correnti parassite interessa un
volume molto ristretto per cui il test che si effettua di tipo localizzato e permette
quindi di rilevare difetti su viti, bulloni, dadi ed altri particolari miniaturizzati,
inseriti in strutture pi ampie come l'ala di un aeroplano o il contenitore di un
reattore nucleare ecc.