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VEO
Sonatest veo
16:64 Phased Array TOFD integrato Immagini superiori Registrazione completa dati Scansioni veloci codificate Multi Scan UT & PA simultanei Calcolo focali istantaneo Facile generazione Report Protezione IP65 Wizards di calibrazione 3D ScanPlan Database di sonde e zoccoli TCG e DAC Architettura a 16 bit Scansione illimitata Dimensione File (2GB) Memorizzazione USB key Batterie Hot Swap
Semplicit
Il men di sistema intuitivo ed il flusso di lavoro guidato. Lhelp integrato ed i Wizards, guideranno lutente attraverso limpostazione della scansione, i suggerimenti per ottimizzare la scansione ed assicureranno che VEO lavori sempre nel migliore dei modi. La vista 3D ScanPlan fornisce immediata conferma della corretta impostazione e copertura degli ultrasuoni, anche in complesse applicazioni multi-sonda. Veloci ed efficienti wizards per la velocit, ritardo, TCG, DAC, TOFD e per la calibrazione dellencoder sono tutti forniti come standard. Una chiara indicazione dello stato della calibrazione fornita sullo schermo tramite un semplice sistema a semafori, in modo che loperatore possa controllare a colpo docchio che il VEO sia correttamente calibrato per lattivit di controllo. Il men di navigazione utilizza una rotella, per una veloce selezione dei parametri, e tasti rapidi per le funzioni pi frequentemente utilizzate. I comuni tasti Start, Stop e Record permettono di accedere velocemente alle funzioni di set up, di acquisizione e registrazione.
sonatestveo.com
VEO
Capacit
La potente piattaforma di VEO raggiunge un nuovo livello di prestazioni in uno strumento portatile, aiutandoti a massimizzare lefficienza sul luogo del controllo. Il piano di ispezione mostra, in 2D e 3D, dove le sonde sono posizionate sulla zona da controllare, semplificando la configurazione dellispezione e fornendo un ispezione di riferimento per il reporting. Tutte le calibrazioni delle leggi focali sono istantanee, con una risoluzione di 0.10 per gli angoli e fino a 1024 leggi focali senza perdita di prestazioni. Possono essere visualizzate e confrontate contemporaneamente diverse scansioni eseguite con differenti sonde. Sono supportate dal VEO tutte le scansioni settoriali multiple. Le ispezioni TOFD e Phased array possono essere effettuate in tandem alla piena velocit di scansione e con 2GB di memoria lispezione ancora pi efficiente. La forma donda ad alta risoluzione memorizzata direttamente in una USB Key per agevolare il trasferimento su PC ed il backup. Il VEO ha 4 canali mono elemento dedicati per il rilevamento dei difetti. Basato sui rilevatori di difetto Masterscan i canali hanno generatori di impulsi 400 V, tempo compensato del guadagno e basse amplificazioni del rumore, per le applicazioni pi esigenti. Una impressionante specifica hardware fornisce allutente dati ad alta qualit tramite un architettura ad alta velocit a 16 bit ed una tecnologia digitale di processo immagini ADC a 12 bit migliora linterpretazione delle immagini. Misurazioni e dimensionamento delle indicazioni possono essere rapidamente raggiunti attraverso l'utilizzo di strumenti avanzati di misurazione come cursori iperbolici per TOFD e misure del segnale di picco dai cursori 2D. I report possono essere velocemente generati sullo strumento e memorizzati come file PDF nella USB data key. Per qualsiasi rilevatore di difetti il display un elemento cruciale. Il VEO ha un LCD TFT, che fornisce alta visibilit in tutte le condizioni, con il pi alto rapporto tra schermo e dimensione di ogni strumento sul campo.
Multi Scans
VEO pu essere rapidamente configurato per visualizzare una vasta gamma di punti di vista multipli di scansione. Questo permette allutente di selezionare le viste importanti per lispezione. Diversi settori di scansione possono essere combinati con viste multiple. Cursori e righelli sono usati per identificare indicazioni, mentre gli strumenti di misura forniscono dimensioni ed annotazioni.
TOFD
VEO ha un'architettura dedicata analogica per il controllo TOFD, utilizzando filtri analogici sviluppati da Sonatest per la rilevazione di difetti. Accoppiato con gli amplificatori a pi basso rumore, alta velocit di acquisizione dati e un display ad alta definizione, permette di vedere scansioni TOFD di qualit superiore al tempo stesso del Phased Array. Lo strumento di valutazione integrato permette veloci ed accurate valutazioni dellispezione TOFD, che pu essere inclusa nel report di test.
VEO
Affidabilit
Design robusto e provata affidabilit sono attributi essenziali in ambienti NDT. Il tempo costoso e deve essere ridotto al minimo per garantire la massima produttivit. Sonatest ha prodotti robusti di alta qualit e la sua buona reputazione stata guadagnata in oltre 50 anni al servizio dell'industria. VEO costruito nel rispetto degli standard mediante un rigido, ed antiurto, telaio interno circondato da un corpo per ammortizzare gli urti e sigillato con protezione IP65. Progettato per incorporare molte caratteristiche e per rendere pi facile il lavoro nel cantiere, VEO dotato nel suo standard di attacco per treppiedi. Inoltre i quattro angoli D-ring consentono a VEO di collegare cinghie e cinture a 4 punti del corpo per un facile spostamento e liberando le mani per la scansione. VEO ha due batterie progettate per un cambio a caldo, minimizzando il tempo di fermo ed aumentando laffidabilit delle prestazioni sul campo.
UT Studio
UT Studio un pacchetto software basato su PC per l'analisi phased array e la generazione di report. I dati registrati nel VEO possono essere facilmente trasferiti tramite la USB data key e usati per generare nuove viste e proiezioni. Utilizzando una familiare interfaccia drag and drop, lutente pu creare viste multiple come Top, End e B-Scan semplicemente trascinando il file sul template per la visualizzazione. Potenti cursori di misura ed estrattori vengono utilizzati per identificare le indicazioni, le dimensioni ed annotare i difetti. I report sono facilmente generati e possono essere esportati nel formato PDF.
3D Scanplan
VEO supporta scansioni e sonde multiple, consentendo la messa a punto dei piani di ispezione da un certo numero di fonti in modo rapido ed efficiente. Scegli tra una vasta gamma di geometrie di saldature e visualizza le sonde sulla parte nella zona che scegli. Pi percorsi vengono visualizzati sullo Scanplan 3D permettendo all'utente di garantire la copertura per le ispezioni di saldatura. Possono essere definiti semplici punti di riferimento per l'interpretazione facile ed il posizionamento delle sonde sulla parte. Miscele di tipi di sonde sono supportati in pulse echo: phased array, TOFD o UT convenzionale. Lo Scanplan un riferimento insostituibile per il rapporto di ispezione, comunicando i risultati del controllo in modo pi chiaro, e salvando i dati del controllo per un uso futuro.
A-Scan
VEO supporta tradizionali test ad ultrasuoni con mono trasduttori. Il display LCD interattivo ad alta definizione e veloce rendering grafico, garantisce sia un elevato livello di precisione che una visualizzazione rapida delle forme d'onda. Grazie all'alta risoluzione del display LCD, le misure sono chiare e di facile lettura. Il formato widescreen fornisce una vasta area di visualizzazione per la scansione. Lo schermo dell'A-Scan assicura che il segnale di picco sia sempre visualizzato in modo che non si perda alcun difetto.
VEO
veo
PHASED ARRAY Pulsers Configuration 16:64 (16 pulser/receivers; driving up to 64 elements) Test Mode Pulse-Echo and Transmit/Receive Transducer Socket I-PEX Pulse Voltage -50 V to -150 V (in steps of 10 V) Pulse Shape Negative square wave (with ActiveEdge) Pulse Width 10 ns to 500 ns Edge Time <10 ns in 50 ohms load Output Impedance <16 ohms Trigger Synchronisation Encoder or free-running (time based) Tx/Rx Focus Delay Range 0 to 10 s (2.5 ns resolution) Receivers Gain Range 0-80 dB, in steps of 0.5 dB Input Impedance 50 ohms Bandwidth 300 KHz - 30 MHz (-3 dB) Data Acquisition Architecture Full digital delay and sum architecture Sampling Rate 50/100 MSPS ADC Resolution 12 bits/sample Data sample width 16 bits/sample Data recording Full raw data recorded Max A-Scan Length 8192 samples (32 metres in steel LW, sampling rate 50 MSPS, sub sampling 1:128) Maximum PRF 20 kHz Focal Law Qty Up to 1024 Focussing Type Constant Depth, Constant Sound Path, Constant Offset Processing Smoothing, Averaging, Scaling, Keep Max Filters Multiple narrow bands and broadbands Sub-sampling 1:1 to 1:128 Rectifier RF, Full, Positive, negative. Synchronization Referenced on initial pulse or gate, IFT supported Multi-Group Multiple Sector scans and 1 TOFD Scan Scan & Views Supported Scans S-Scan & L-Scan Real Time Views S, L, B, C-Scan, Top and End view. Colour Maps Rainbow, Grayscale, Spectrum Cursors Type Cartesian, 2D Box, Angular Measurements Path Length, Depth, Surface Distance, Angle Peak in 2D Box and 2D Angular Box CONVENTIONAL UT/TOFD (MONO ELEMENT CHANNELS) Pulsers No. of Channels 2 TX/RX (2 multiplexed channels) 2 RX Test Mode Pulse-Echo, transmit/receive, TOFD Transducer Socket BNC or LEMO 1 (factory option) Pulse Voltage -400 V (adjustable from -100 to -400 V in steps of 10 V) Pulse Shape Negative Square Pulse (with ActiveEdge) Pulse Width Adjustable from 25 ns to 2000 ns, resolution 2.5 ns Edge Time <20 ns in 50 ohms load Output Impedance <10 ohms Receivers Gain Range 110 dB (-30 dB to 80 dB) Input Impedance 400 ohms Filter Bands Narrow bands centred at 0.5 MHz, 1 MHz, 2.25 MHz 5 MHz, 10 MHz and 15 MHz Broadband at 1 MHz to 18 MHz (-6dB) Data Acqusition Sampling Rate 50/100/200 MSPS ADC resolution 10 bits/sample Data sample width 16 bits/sample Data recording Full raw data Max. A-Scan Length 8192 samples Maximum PRF 12 kHz Processing Smoothing, Filter, Keep max Sub-sampling 1:1 to 1:128 Rectifier RF, Full, Positive, Negative Synchronization External digital input, encoder or internal Scans & Views Supported Scans A-Scans, Views A, B-Scan, TOFD Cursors Type Cartesian, Hyperbolic Measurements Path Length, Depth, Surface Distance
VEO
Accessori
veo
USB Keyboard resistente agli spruzzi Mouse impermeabile Carica della batteria Treppiedi Batteria Litio UT Studio - Professional edition Encoder traccia veloce Scansione rapida Cavo sonda DAAH Array Protezione schermo USB Memory Stick (8GB) Cavo Phased Array Y-Splitter Pre-Amplificatore TOFD 40 dB Blocco di calibrazione Phased Array in acciaio Blocco di calibrazione Phased Array in alluminio
veo Kits
veo & scanner tofd veo & sonda a ruota veo & TOFD Manuale veo & Saldatura Manuale per corrosione
veo Trasduttori
Modelli trasduttore disponibili, informarsi per la gamma completa.
SONATEST LTD Dickens Road, Old Wolverton Milton Keynes, MK12 5QQ, UK. Tel: +44 (0)1908 316345 Fax: +44 (0)1908 321323 www.sonatest.com sales@sonatest.com Part No: 147385
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