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DETERMINAZIONE DELLA DIMENSIONE DEI CRISTALLITE DALL’ALLARGAMENTO DELLE LINEE Per primo, Scherrer? dimostré che la dimensione media, D, dei cristalliti che compongono una polvere @ in relazione all'allargamento puro della diffra- zione dei raggi X, 8, mediante lequazione, — 91 = Feosd’ 1) in cui K @ una costante approssimativamente uguale all'unita, ed in relazione sia con la forma dei cristalliti che al modo in cui § ¢ D sono definiti. La vali- dita dell’equazione di Scherrer fu poi confermata da altre ricerche di Lau Bragg, Selijakow +, Brill ¢ Pelzer 5, Mardock *, Patterson 7, Warren § ed altri La quantita f deve essere attentamente distinta dalla Jarghezza di una linea di diffrazione come é effettivamente osservata in date condizioni sperimentali (B nel presente studio). @ la larghezza pura di una riflessione della polvere, priva di ogni allargamento dovuto al metodo sperimentale impiegato per osser- varla, Alcuni ricercatori definiscono g come Ia larghezza angolare ad una intensita a meta altezza, mentre altri, alla maniera di Laue? si servono di essa pet rappresentare la larghezza integrale (J729020)/Tnass- I particolare signi- ficato assegnato a non deve influenzare la forma dell’equazione 9-1, perd esso modifica il valore della costante K. La precisione di applicazione dell’equa- zione di Scherrer é limitata dalle incertezze di K € dal successo con cui f pud essere dedotto dalla larghezza sperimentale osservata, B*. * B stata universalmente accettata la convenzione in base alla quale tutte le lar- ghezze delle linee, come # ¢ B, indicheranno le larghezze angolari effettivamente misu- rate sulla pellicola o con il goniometro, vale a dire in funzione di 4 20 anziche Ad. Bragg ha fornito una derivazione semplificata dell'equazione di Scherrer, impiegando soltanto i comuni principi della diffrazione ottica. Con riferimento alla fig. 9-1, considetiamo la diffrazione di raggi X di Iunghezza d’onda i da un cristallo con Ia forma tabulare. Supponiamo che esso consti di piani atomici p, (Bbl), di distanza d paralleli alla superficie, cosicché, per valori moderata- mente grandi di p, il suo spessore é molto prossimo a pd. Occorre trovare una relazione tra Dy; = pd ¢ la larghezza ad intensit’ a mezza altezza della rifles- sione (Al). Per questo studio semplificato non si terra conto dell’estensione Fig. 9-2. laterale dei piani (EI) vale a dire delle dimensioni dei cristalliti in direzioni parallele ai piani. Se impieghiamo I'analogia della riflessione, 'ampiczza di un raggio dif- fratto sark massima quando la differenza di traiettoria Al tra i raggi riflessi dai piani successivi é uguale ad un multiplo della lunghezza d'onda Al=2d sin 9=ni. . (9-2) Quando Pangolo di Bragg differisce da # per una piccola quantita e, la diffe- renza di cammino pué essere scritta nel seguente modo: Al=2d sin (9 +2) =2d|sin 0 cos e-+cos # sin e] (9-3( =ni cos e-+sine - 2deos 0. Poiché I'ampiezza difftatta @ apprezzabile soltanto con valori molto piccoli di €, cid si pud con buona precisione scrivere nella seguente forma La corrispondente differenza di fase é 2m A= 2an+ A A Acred cos da ed cos 0 (9-4) Secondo un ben noto principio di ottica ®, se » vettori uguali in ampiezza a differiscono di fase per incrementi uniformi successivi, 'ampiezza risultante & an (05) a dove « @ meta della differenza di fase tra il primo ¢ I'ultimo vettore della serie, Per ritornare al presente problema, la differenza di fase del primo e del pesimo piano é Axped cos : a ¢, secondo la formula 9-5 l'ampiezza risultante dell’onda riflessa é . eee cos 8 ) ap sin| 2adedcos) — * (96) a Liampiezza del raggio riflesso @ massima quando © = 0 ed i raggi riflessi da tutti i piani p sono in fase Ay=4p « (9-7) Tenendo presente che l'intensita di un’onda elettromagnetica varia come il qua- drato dell'ampiezza ad una intensita a mezza altezza, possiamo scrivere : 9 sin? Ae 2 a email’ (9-8) a2 (8) \2 \ p/o\? Da un grafico di {sin 5) Hi (6) in funzione di ©, si @ teovato che l'equa- ® zione 9-8 & soddistatta quando $ 1,40, Allora 2apeynd cosd Ad 1,40, e la larghezza angolare intera ad intensita a mezza altezza della riflessione di-