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2. Propriet Ottiche
40
P = E
(2-1)
dove la suscettivit dielettrica. Se il campo elettrico varia nel tempo si ha uno sfasamento fra campo applicato e polarizzazione, di cui si tiene conto assegnando un valore complesso alla suscettivit:
= 1 + i 2
(2-2)
(2-3)
che lega il campo elettrico al campo di spostamento elettrico D, ed una conducibilit complessa () tale che
J = E = (1 + i 2 )E
(2-4)
che lega il campo elettrico alla corrente J = P / t . , e sono funzioni della frequenza e, per mezzi isotropi, possono essere trattate come scalari complessi anzich come tensori. Linterazione radiazione-materia descritta dalle equazioni di Maxwell che, in unit cgs, sono [2.1]
41
D = 4
E + con le relazioni costitutive
D = E
B = 0
(2-5)
1 B =0 c t
H =
1 D 4 + J c t c
(2-6)
B = H
(2-7)
dove H il campo magnetico, B linduzione magnetica, la carica esterna e la permeabilit magnetica. Per cristalli non magnetici (=1) ed elettricamente neutri (=0) le (2-5,6) si possono riscrivere
E = 0 H = 0
(2-8)
E +
1 H =0 c t
H =
E 4 E + c t c
(2-9)
dove r il vettore posizione rispetto ad un sistema di coordinate arbitrario, la pulsazione, E 0 una quantit complessa che descrive lampiezza e la polarizzazione dellonda e q = q1 + i q 2 il vettore donda complesso che ne descrive la dispersione ( q1 ) e lattenuazione spaziale ( q 2 ) le (2-8,9) diventano qE = 0 qH = 0 (2-11)
qE =
H c
qH =
E c
(2-12)
(2-13)
ma se si considerano lunghezze donda molto pi grandi delle distanze interatomiche del mezzo si pu trascurare la variazione spaziale della funzione di risposta e porre
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qq =
2 c2
(2-14)
che lega la variazione spaziale di q con la variazione temporale . Oltre alla funzione dielettrica complessa si pu considerare lindice di rifrazione complesso
N () = n() + ik ()
(2-15)
dove n lindice di rifrazione ordinario, mentre k il coefficiente di estinzione, legato alla funzione dielettrica dalla relazione
N2 =
da cui segue che
1 = n 2 k 2 2 = 2nk
1/ 2
(2-16)
(2-17)
1 2 n = 1 + 1 + 2 2 2
k=
2 2n
(2-18)
Le funzioni ottiche n e k sono reali e positive e, come vedremo (3), possono essere determinate da misure spettroscopiche. Dalla (2-14) e dalla (2-16 ) si ha dunque
q=
N c
(2-19)
che permette di riscrivere in modo esplicito lespressione per il campo elettrico nel mezzo
E(r, t ) = E 0 e
kr i ( nr t ) c e c
(2-20)
dove il primo fattore, in cui compare la parte immaginaria di N, descrive lattenuazione dellampiezza dellonda in funzione della distanza percorsa, mentre il secondo, in cui compare la parte reale di N, descrive unonda viaggiante con velocit di fase c/n. Per onde piane omogenee (q1 e q2 paralleli, ovvero isotropa)
q1 =
n c
q2 =
k c
(2-21)
43
In questo caso, inoltre, il flusso di energia o intensit dellonda elettromagnetica (potenza che attraversa lunit di superficie nella direzione di propagazione) che in generale dato dal modulo del vettore di Poynting S mediato nel tempo, [2.2]
S=
E (q E)* c c Re E H * = Re 8 8
(2-22)
avendo fatto uso della (2-12); sviluppando il doppio prodotto vettore analogamente a quanto fatto per ricavare la (2-14), la (2-22) si pu riscrivere S= nc nc 2 E 0 E* u q e 2q 2 r = E 0 u q e 2q 2 r 0 8 8
(2-23)
dove uq un versore parallelo a q1 e q2. Quindi, dopo che londa ha attraversato uno spessore d, la sua intensit I = S risulta attenuata di un fattore e
2 q 2 d
. Il
coefficiente di assorbimento (), definito come la diminuzione relativa del flusso energetico per unit di distanza nella direzione di propagazione, pertanto
=
1 dS 2k 4k = 2 q2 = = c S dr
(2-24)
dove la lunghezza donda della radiazione nel vuoto. Cos lintensit di un fascio luminoso che attraversa un mezzo di spessore d data da
I = I 0 e d
(2-25)
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Figura 2-1 Riflessione e rifrazione di unonda piana allinterfaccia di due mezzi con differenti costanti ottiche.
Il campo elettrico fisico rappresentato dalla parte reale di E nella (2-10) e, nel caso in cui londa sia polarizzata ed abbia vettore donda parallelo allasse z di un sistema di riferimento ortogonale, dato da
(2-26)
dove Ep ed Es sono le ampiezze complesse di E in direzione rispettivamente parallela e perpendicolare al piano di incidenza (il piano che contiene il vettore di propagazione dellonda incidente e la normale alla superficie dincidenza). Lo stato di polarizzazione dellonda specificato dai valori relativi di E p ed E s , attraverso la grandezza complessa definita come = Ep Es (2-27)
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Le relazioni fra gli angoli di incidenza (i), di riflessione (r) e di trasmissione (t) e fra le ampiezze dellonda incidente (Ep,s), riflessa (E'p,s) e trasmessa (E''p,s) sono determinate dalle condizioni al contorno delle equazioni di Maxwell, che richiedono la continuit delle componenti tangenziali di E ed H sulla superficie di separazione dei due mezzi. Per gli angoli si ricava i = r (riflessione speculare) (legge di Snell) (2-28) (2-29)
N1 sen i = N 2 sen t
dove i ,t nella (2-29) sono grandezze complesse che coincidono con i ,t solo se i due mezzi sono trasparenti (N1=n1, N2=n2). Per le ampiezze, invece E 'p = r p E p
' E 'p = t p E p
' E s = rs E s
(2-30) (2-31)
' E s' = t s E s
dove i coefficienti di riflessione rp,s e di trasmissione tp,s sono dati dalle formule di Fresnel (si suppone che londa viaggi dal mezzo 1 al mezzo 2) [2.3]
rp = N 2 cos i N1 cos t tan( i t ) i = = rp e p N 2 cos i + N1 cos t tan( i + t )
(2-32)
rs =
sen( i t ) N1 cos i N 2 cos t = = rs e i s sen( i + t ) N1 cos i + N 2 cos t t p = 1 + rp = 2 N1 cos i N 2 cos i + N1 cos t 2 N1 cos i N1 cos i + N 2 cos t
(2-33)
(2-34)
t s = 1 + rs =
(2-35)
Si definiscono poi la riflettivit (R) e la trasmittivit (T) come rapporto fra lintensit dellonda riflessa (I') o trasmessa (I'') e quella dellonda incidente (I), legate ai coefficienti di Fresnel dalle relazioni
Rp = I 'p Ip = rp
2
Rs =
' Is
Is
= rs
(2-36)
46
Tp =
' I 'p
Ip
N = Re 2 t p N 1
Ts =
N = Re 2 t s N Is 1
' I s'
(2-37)
Si pu verificare che T+R=1, come deve essere per la conservazione dellenergia allinterfaccia. Nel caso di incidenza normale (i=0) la (2-32) e la (2-33) coincidono a meno del segno ( r p = rs ), quindi si ha
N N1 R = R p = Rs = 2 N +N 1 2
2
(2-38)
(n 1) 2 + k 2 (n + 1) 2 + k 2
(2-39)
n + ik 1 = r e i n + ik + 1
(2-40)
(2-41)
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Figura 2-2 Onda piana che incide su un film omogeneo, a facce piane e parallele immerso in aria o in
vuoto.
Se R la riflettivit (2-36), lintensit della radiazione riflessa dalla prima faccia del film I R e quella che penetra nel materiale I (1 R) . Alla seconda faccia giunge unintensit pari a (1 R ) e d , essendo il coefficiente di assorbimento (2-24), che in parte viene nuovamente riflessa e in parte trasmessa. Cos, se il materiale abbastanza assorbente da poter trascurare i contributi successivi, la trasmittanza T, definita come il rapporto fra lintensit della radiazione trasmessa e quella della radiazione incidente, data da T= It = (1 R ) e d (1 R ) = (1 R ) 2 e d I (2-42)
Noto lo spessore del film la (2-42) consente di determinarne il coefficiente di assorbimento da una misura di trasmissione a incidenza normale se si conosce R o se, ad esempio, la si pu ritenere costante nellintervallo spettrale considerato. Se invece
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il prodotto d tale da consentire alla radiazione riflessa dalla seconda faccia di raggiungere, attenuata, la prima, i processi di riflessione e trasmissione si ripetono. Teoricamente bisogna calcolare la trasmittanza e la riflettanza (R, definita come il rapporto fra lintensit della radiazione riflessa e quella della radiazione incidente) sommando infiniti contributi, dati dalle ampiezze delle onde emergenti dopo ciascuna riflessione interna; in questo modo si tiene conto del cambiamento di fase subito dallonda sia per effetto delle interfacce sia per effetto del diverso cammino ottico. Il risultato stato ricavato da Stratton [2.4] T=
(1 R e )
[ (1 R) 2 + 4 R sen 2 ] e d
d 2
+ 4R e
sen ( + )
2
(2-43)
R=
Ir R [ (1 e d ) 2 + 4e d sen 2 ] = 2 I 1 R e d + 4 R e d sen 2 ( + )
(2-44)
dove = 2nd / indica lo sfasamento dovuto alla differenza di cammino ottico, mentre , per incidenza normale, data dalla (2-41). Se, come spesso accade, k << n allora lo sfasamento piccolo ( sen << 1 , << ) e le (2-42,43) si riducono alle formule di Airy [2.5] T=
(1 R e )
(1 R e )
(1 R) 2 e d + 4R e
d
d 2
sen
2
(2-45)
R=
R [ (1 e d ) 2 + 4e d sen 2
d 2
+ 4 R e d sen 2
(2-46)
Lintensit trasmessa, dunque, periodica in , cio il suo spettro presenta frange di interferenza. Sperimentalmente si pu osservare leffetto dinterferenza solo se entrambe le superfici sono ben riflettenti, non diffondenti e soprattutto parallele. Inoltre il termine di interferenza sen 2 dipende dal rapporto d/ e la radiazione utilizzata sperimentalmente non rigorosamente monocromatica, ma copre un piccolo intervallo spettrale [, ] che dipende dalla risoluzione dello strumento. Se e d
sono tali che per il corrispondente si abbia / 2 linterferenza non apprezzabile. In tal caso, mediando le frange di interferenza per 0 < < / 2 , le (2-45,46) si riscrivono
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T =
1 (1 R ) 2 e d Td = 0 1 R 2 e 2 d
(2-47)
R(1 R ) 2 e 2d 1 R = Rd = R + 1 R 2 e 2 d 0
(2-48)
Si osservi che se d tale che R 2 e 2d << 1 la (2-47) coincide con la (2-42). Infine, per tenere conto dei processi di assorbimento intrinseco del materiale si introduce un termine di assorbanza A che garantisca la conservazione dellenergia (T+R+A=1); in tal modo, utilizzando le (2-47,48), si ricava
A= (1 R )(1 e d ) 1 R e d
(2-49)
Le propriet ottiche di un cristallo semiconduttore sono strettamente legate alla struttura delle bande elettroniche. Il problema della derivazione di tali propriet pu essere affrontato con un approccio semiclassico, in cui il campo elettrico esterno trattato classicamente mentre gli elettroni di Bloch nel solido sono trattati quantisticamente. Gli elettroni, inoltre, sono considerati indipendenti, cio si suppone che la radiazione provochi la transizione di un singolo elettrone lasciando inalterato lo stato degli altri. E noto che lenergia cinetica di un elettrone in presenza di un campo elettromagnetico si ottiene con la sostituzione minimale p p + ( e / c )A(r, t )
T(r, t ) =
eA(r, t ) 1 p + 2m c
2
(2-50)
Nel gauge di Coulomb ( A = 0 ), trascurando il termine in A 2 che determina effetti del secondordine (approssimazione di dipolo elettrico), lHamiltoniana di interazione radiazione-elettrone si pu dunque scrivere
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H rad (r, t ) =
e A(r, t ) p mc
(2-51)
Hrad pu essere trattata come una perturbazione dipendente dal tempo. Per unonda piana del tipo (2-10) il potenziale vettore dato da
(2-52)
dove e il vettore di polarizzazione nella direzione del campo elettrico. Al primo ordine la probabilit per unit di tempo che una perturbazione armonica del tipo
He i induca una transizione fra lo stato iniziale i di energia Ei e lo stato finale f
f Hi
E f Ei
(2-53)
Come si vede dalla (2-53) il primo termine della (2-52) responsabile dei processi di assorbimento mentre il suo complesso coniugato (c.c.) dei processi di emissione; per i nostri scopi trascureremo questultimo. Al secondo ordine, invece, la probabilit di transizione per unit di tempo
Pi f = 2
f H Hi E Ei
E f Ei
(2-54)
dove un qualunque stato intermedio della transizione, compresi quello iniziale e quello finale. Lelemento di matrice che compare nella (2-54) pu essere considerato come il risultato di due processi consecutivi: una prima transizione dallo stato iniziale
i
finale f . Lenergia non conservata durante la transizione intermedia, ma soltanto nellintero processo. Anche in questo caso valgono le osservazioni fatte sopra riguardo ad emissione ed assorbimento.
51
occupato v della banda di valenza con vettore donda ki ed energia Ev e lo stato vuoto c della banda di conduzione con vettore donda kf ed energia Ec [2.6]
Pv,k i c,k f =
2 eA0 mc
ck
e i (qr ) e p ck i
E c (k f ) Ev (k i )
(2-55)
Per la legge di conservazione dellimpulso cristallino in un mezzo periodico lelemento di matrice che compare nella (2-55) diverso da zero solo nel caso in cui
k f = ki + q + h
(2-56)
con h generico vettore del reticolo reciproco. I vettori k permessi sono dellordine di 2/a con a10, quindi per tipiche energie dei fotoni dellordine di 1 eV (104)
q = 2 / << k . Inoltre k f e k i sono ridotti alla prima zona di Brillouin, quindi
k f ki = k
(2-57)
Dalla (2-57) si vede che le uniche transizioni che possono essere indotte da un campo di radiazione sono di tipo diretto (Figura 2-3).
(2-58)
con
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e M cv (k ) = ck e p vk = e
ck (r, s)(i
* volume cristallo
) vk (r, s )dr
(2-59)
dove c,v sono le funzioni donda di Bloch degli stati finale ed iniziale ed s lindice di spin. Per ottenere il numero complessivo di transizioni per unit di tempo indotte da una radiazione di frequenza bisogna sommare la (2-58) su tutti i possibili stati iniziali e finali (si trascura il contributo della funzione di occupazione del livello nesimo dovuto alla temperatura finita)
W() =
2 eA0 mc
2 e M cv (k )
v ,c
(E c (k ) E v (k ) )
(2-60)
kBZ
Tenendo presente la (2-25) si ha che il coefficiente di assorbimento dato dallenergia assorbita nellunit di tempo nellunit di volume, divisa per il flusso di energia, ovvero () = dove W() u (c / n) (2-61)
velocit di propagazione della radiazione nel mezzo ed u la densit di energia che, nel caso di un campo di radiazione descritto dal potenziale vettore (2-52) legato alle costanti ottiche dalla relazione
u=
2 n 2 A0 2
2c 2
(2-62)
Dalla (2-61) e dalla (2-62), ricordando che la sommatoria sui k permessi si pu trasformare in un integrale esteso alla prima zona di Brillouin secondo la
3 dk kBZ (2 )
V
BZ
(2-63)
43 e M cv (k ) nc
dk
v ,c BZ
(Ec (k ) Ev (k ) )
(2-64)
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2 nc
(2-65)
che, con la (2-64) permette di mettere in relazione anche la parte immaginaria della funzione dielettrica con la struttura a bande 2 () = 4 2 e 2
43 e M cv (k ) m 2 2
dk
v ,c BZ
(E c (k ) E v (k ) )
(2-66)
La (2-66) preferibile alla (2-64) perch non dipende dallindice di rifrazione. Inoltre la (2-66), congiuntamente alla relazione di dispersione di Kramers-Krnig [2.7]
2 1 1 () = 1 + P ' 2 (' ) '2 d ' 2
(2-67)
dove P indica la parte principale dellintegrale, permette di ricavare anche la parte reale della funzione dielettrica
1 () = 1 + 8e 2 m
2
e M cv (k )
(2-68)
o anche, posto cv = E c (k ) E v (k )
v ,c
(2-69)
La funzione dielettrica di un insieme di oscillatori armonici classici, carichi, espressa da (modello di Lorentz) [2.1]
1 () = 1 + 4e 2 m
2 i2
N
i i
(2-70)
dove Ni il numero di oscillatori per unit di volume di frequenza i. Dal confronto fra la (2-69) e la (2-70) evidente che la quantit adimensionale f cv = 2 e M cv (k ) m cv
2
(2-71)
rappresenta essenzialmente il numero di oscillatori di frequenza cv . Per questo f cv detta forza delloscillatore della transizione ottica. Generalmente il fattore
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e M cv (k )
e M cv J c,v ( )
(2-72)
BZ
43 (Ec (k ) Ev (k )
dk
) =
1 4
3
k [Ec (k ) Ev (k )]
S
dS
(2-73)
La densit congiunta degli stati mostra dei picchi (singolarit di Van Hove [2.8]) in corrispondenza ai valori di per cui E c ( k ) = E v ( k ) (2-75)
che prendono il nome di punti critici e che, in genere, coincidono con i punti ad alta simmetria o con le linee di simmetria della zona di Brillouin. La (2-73) pu essere approssimata espandendo E c (k ) E v (k ) in serie di Taylor in un intorno del punto critico, in modo da ricavarne il comportamento analitico: nel caso tridimensionale si ha
1 2m * J c ,v ( ) = 2 2 2
3/ 2 d d ( E g )1 / 2 ( E g )
(2-76)
Heaviside. In definitiva il coefficiente di assorbimento per energie prossime al gap diretto ha un andamento del tipo
d ( ) = 0 d 1 d 1/ 2 ( ) ( E g )
d per < E g d per E g
(2-77)
Pertanto rappresentando ( ) 2 in funzione dellenergia al di sopra della soglia di assorbimento si ottiene una retta la cui intercetta con lasse delle ascisse coincide
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comunemente utilizzata nello studio di materiali semiconduttori per accertare la natura diretta di un gap ottico e per determinarne lenergia.
k f ki + q
(2-78)
Linterazione elettrone-fonone un effetto delle vibrazioni reticolari che, provocando lo spostamento degli atomi dalla loro posizione di equilibrio, determinano anche una variazione del potenziale elettronico. Facciamo lipotesi semplificativa che il potenziale sentito da un elettrone allinterno del cristallo sia la somma dei potenziali atomici centrati nei diversi nuclei; supponendo che i potenziali atomici seguano rigidamente gli spostamenti dei nuclei, lHamiltoniana che descrive la perturbazione indotta dalle vibrazioni reticolari data da H ret =
[Va (r R i R i ) V (r R i )]
i
(2-79)
dove V a indica il potenziale atomico, r la posizione dellelettrone ed R i la posizione delli-esimo nucleo. Espandendo la (2-79) in termini di R i e fermandosi al primo ordine dello sviluppo si ha H ret =
R i rVa (r R i )
i
(2-80)
56
La simmetria traslazionale del reticolo, inoltre, consente di espandere R i in coordinate normali, quindi di riscrivere la (2-80) come somma di diversi termini relativi a un dato fonone in una determinata branca, ognuno del tipo [2.6] H ph = 2Mq
1/ 2
a (q)
ei e
i
i (qR i qt )
rVa (r R i ) + c.c.
(2-81)
dove e i il vettore di polarizzazione del fonone di momento q e frequenza , M la massa dellintero cristallo ed a(q), a*(q) gli operatori di creazione e distruzione rispettivamente. Il fattore di normalizzazione ( / 2 M q )1 / 2 stato introdotto in modo che siano soddisfatte la relazioni
n 1 a(q) n = n n + 1 a * (q) n = (n + 1)
(2-82)
dove n
interazione elettrone fonone (2-81) pu essere riscritto come H ph = a (q) e dove si posto Vph (q, r ) = 2 Mq
1/ 2
iqt
(2-83)
e i e iqRi rVa (r R i )
i
(2-84)
Il primo termine della (2-83) responsabile dellassorbimento di un fonone, mentre il secondo dellemissione. LHamiltoniana di perturbazione che descrive la transizione indiretta, pertanto, data da H ' = H rad + H ph (2-85)
Nella Figura 2-4 schematizzato un processo di assorbimento indiretto in cui un elettrone transisce dallo stato occupato v della banda di valenza con vettore donda ki ed energia Ev allo stato vuoto c della banda di conduzione con vettore donda kf ed energia Ec, passando dallo stato intermedio di una banda di conduzione virtuale; durante tale processo vengono assorbiti un fotone di energia energia q e momento q = k f k i .
ed un fonone di
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Anche in questo caso si pu trattare lHamiltoniana (2-85) come una perturbazione dipendente dal tempo, ma necessario spingersi al secondo ordine; utilizzando le (2-51,52) e le (2-83,84) per valutare gli elementi di matrice che compaiono nella (2-54) si ottiene la probabilit di transizione per unit di tempo
Pv,k i c,k f =
2 eA0 mc
ck
Vph (q, r ) k i n1 / 2 k i e p vk i q E (k i ) Ev (k i )
(2-86)
E c (k f ) Ev (k i ) + q
dove nq indica il numero di occupazione del fonone che, in condizione di equilibrio termico dato dalla distribuzione di Bose-Einstein (1-14). Ripetendo i passaggi fatti nel 2.2.1 si ottiene la seguente espressione per il coefficiente di assorbimento
iabs () =
4 2 e 2
m 2 nc BZ BZ
dk i dk f 4 3
ck
Vph (q, r ) k i n1 / 2 k i e p vk i q E (k i ) E v (k i ) Ec (k f ) E v (k i ) + q
(2-87)
In molti semiconduttori lelemento di matrice che compare nella (2-87) pu essere considerato indipendente da k in prossimit del gap indiretto; inoltre tutti i fononi coinvolti in transizioni tra stati separati da unenergia prossima a quella del gap avranno un momento confrontabile, che assumeremo pari a q0 (Figura 2-4). Pertanto, in prima approssimazione,
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4 2 e 2 Cnq0 m 2 nc
BZ BZ
dk i dk f 4 3
Ec (k f ) E v (k i ) + q0
(2-88)
C=
ck
Vph (q, r ) k i k i e p vk i E (k i ) E v (k i )
(2-89)
k i2
* 2m v
E c (k f ) = E g +
k2 f
* 2m c
(2-90)
Introducendo tali espressioni nella (2-88) e risolvendo lintegrale sfruttando la propriet della di Dirac
g ( x )[f (x )] =
a x0
df g (x 0 ) dx
(2-91)
x =x 0
iabs
( ) =
4 2 e 2Cn q0 m n c
2
* 2m v 8( 2) 3 2
3/ 2
* 2m c 2
3/ 2
( E
i g
+ q 0
(2-92)
Quindi, in definitiva
iabs ( ) = 0 i nq i abs ( ) 0 ( E g + q0 ) 2
per per
d < E g q 0 d E g q 0
(2-93)
Analogamente si pu ricavare il contributo dato al coefficiente di assorbimento dalle transizioni indirette che avvengono con emissione di un fonone di momento q0
i ( ) = 0 emiss (n q 0 + 1) i ( ) ( E i q 0 ) 2 g emiss per per
d < E g + q 0 d E g + q 0
(2-94)
dove il fattore di proporzionalit lo stesso che nella (2-93). Il coefficiente di assorbimento totale per transizioni indirette pertanto
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i ( ) = iabs ( ) + iemiss ( )
(2-95)
In questo caso rappresentando ( )1 / 2 in funzione dellenergia in prossimit della soglia di assorbimento (plot di Tauc per transizioni indirette) si ottengono due branche rette, relative a transizioni indirette con emissione o assorbimento di un fonone; le intercette delle due branche con lasse delle ascisse corrispondono alle energie
i E g q0 . Tale procedura viene comunemente utilizzata nello studio di materiali
(2-96)
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Figura 2-5
Densit degli stati modificata da fattori di non idealit: gli stati che si estendono
La (2-96) implica che il logaritmo del coefficiente di assorbimento rappresentato in funzione dellenergia sia approssimato da una linea retta appena al di sotto della soglia di assorbimento e che, per ogni temperatura, esista un punto di convergenza comune di coordinate ( E G , 0 ) , come mostrato nella Figura 2-6.
Figura 2-6 Profilo di assorbimento i prossimit del gap di un sistema disordinato come funzione
logaritmica dellenergia. Le curve da 1 a 9 si riferiscono a diverse temperature, da T1 a T9, con indice crescente al decrescere della temperatura.
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Il parametro (T ) , che determina la pendenza della retta espresso empiricamente da [2.11] 2k T p (T ) = 0 B tanh 2k T p B (2-97)
dove 0 un parametro caratteristico del materiale inversamente proporzionale alla forza di accoppiamento fra eccitoni e fononi mentre p lenergia dei fononi
coinvolti. La regola di Urbach ben verificata in diverse situazioni, come nel caso di metalli alcalini, composti II-IV, semiconduttori III-V, materiali organici e sistemi amorfi. A seconda dei casi sono stati sviluppati modelli teorici in grado di darne una giustificazione basati, ad esempio, sulle fluttuazioni termiche casuali [2.12] o sui microcampi [2.13]. La sua generalit , comunque, fa pensare che i processi in gioco siano diversi e che la sua validit dipenda proprio dalla presenza di una qualsiasi forma di disordine. In alcuni lavori presenti in letteratura lincertezza sulla determinazione della natura e del valore del gap del disiliciuro di ferro stata imputata proprio al diverso grado di disordine presente nei campioni considerati [2.14], ed in alcuni casi se ne tenuto conto per interpretare gli spettri di assorbimento (4.3.1).
E noto che bordi di grano, frazioni di vuoto, regioni disordinate ed ogni tipo di disomogeneit su scala dellordine di 10-104 influenzano la risposta ottica di un materiale nella regione spettrale attorno al visibile, modificando la configurazione di campo locale e, di conseguenza, quella del campo macroscopico. Se il materiale macroscopicamente omogeneo e le dimensioni delle microstrutture sono piccole rispetto alla lunghezza donda della radiazione ( 0.1 ) la risposta dielettrica () pu essere descritta con una teoria di mezzo effettivo a partire da parametri medi macroscopici. Per fare ci il problema elettrostatico viene risolto esattamente per una
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data microstruttura, ottenendo il campo elettrico locale e(r) ed il momento di dipolo per unit di volume in ogni punto dello spazio p(r); queste quantit microscopiche vengono poi mediate per ottenere le corrispondenti grandezze macroscopiche E e P, definite nella (2-3). Il prototipo di dielettrico eterogeneo, che ammette una soluzione esatta per i campi microscopici, un insieme di atomi con polarizzabilit disposti in un reticolo cubico con costante reticolare a (modello di Clausius-Mossotti). Quando si applica un campo elettrico esterno uniforme (E0) gli atomi si polarizzano acquistando un momento di dipolo p = E loc dove E loc = e(R n ) il campo elettrico locale sentito nei siti reticolari R n . Il campo microscopico e(r) allinterno del mezzo la sovrapposizione di E0 e dei campi di dipolo E dip (r R n ) originati dai momenti di dipolo p, cio [2.15]
e(r ) = E 0 +
E dip (r R n )
Rn
(2-98)
dove
E dip (r ) =
3(p r )r r 2 p r5
(2-99)
Dato che i dipoli si trovano solo nei siti reticolari e che tutti i campi e(Rn) sono uguali si ha
p(r ) =
e(0)(r R n )
Rn
(2-100)
e(0) = E 0 +
R n 0
E dip (R n ) = Eloc
(2-101)
Dal momento che, per la simmetria cubica, la sommatoria sui siti reticolari si annulla, E 0 = E loc . A partire da questa soluzione microscopica esatta si pu procedere alla media macroscopica. Quella della (2-100) immediata perch compare la P=
N N p = E loc = nE loc V V
(2-102)
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dove V il volume ed n = a 3 la densit di atomi. Per calcolare quella della (2-98), invece, bisogna tenere presente che la media sul volume dei campi di dipolo - 4p , dove il fattore di depolarizzazione; utilizzando tale risultato, ed il fatto che E 0 = E loc si ottiene cos la relazione di Lorentz E = E loc (1 4n ) (2-103)
(2-104)
Estendendo il ragionamento svolto al caso di un mezzo eterogeneo composto da atomi con due diverse polarizzabilit a e b distribuiti casualmente si ha 1 4 = (na a + nb b ) +2 3 (2-106)
dove la funzione dielettrica del mezzo composto. Se sono note le funzioni dielettriche a ed b dei mezzi costituenti utilizzando la (2-104) e la (2-105) possibile scrivere la relazione di Lorentz-Lorenz per un mezzo effettivo
1 1 1 = fa a + fb b b + 2 +2 a + 2
(2-107)
dove
( f b = 1 f a ). Se le due fasi a e b non sono mescolate su scala atomica, ma si estendono in regioni abbastanza vaste (pur sempre <<) da possedere ciascuna la propria funzione dielettrica massiva e inoltre non sono contenute in vuoto (=1), ma in una matrice ospite con funzione dielettrica o, la (2-106) diventa
o o o = fa a + fb b + 2 o a + 2 o b + 2 o
(2-108)
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Se il mezzo ospite, poi, coincide con uno dei due componenti 0 = a , b la fase diluita) la (2-107) diventa la relazione di mezzo effettivo di Maxwell-Garnett [2.16]
a a = fb b + 2 a b + 2 a
(2-109)
Nel caso in cui i due componenti siano in frazioni comparabili pu non essere chiaro quale sia il mezzo ospite; in tal caso si pu fare la scelta autoconsistente 0 = e la (2-107) si riduce alla relazione di Bruggeman [2.17] fa
a + fb b =0 a + 2 b + 2
(2-110)
Fino ad ora stato assunto che le microstrutture siano di tipo puntuale ed a simmetria sferica ( = 1/ 3 ); supponiamo ora che ci non sia pi valido ed in particolare consideriamo il caso limite di microstrutture laminari come, ad esempio, un multistrato in cui lo spessore di ogni singolo strato (d) sia molto minore di .
(a)
(b)
Figura 2-7 Strutture estreme del mezzo effettivo utilizzate per derivare i limiti di Wiener per la
Se il campo applicato parallelo agli strati (Figura 2-7a) la condizione di continuit delle componenti trasversali di E mostra che il campo uniforme ovunque ( = 0 ). La polarizzazione, quindi, semplicemente proporzionale ad a o ad b, a seconda che r sia situato in a o in b. Ripetendo i passaggi per il calcolo della media, dalla (2-104) in poi, si ottiene
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= f a a + fb b
(2-111)
come nel caso di capacitori collegati in parallelo. Analogamente, se il campo applicato perpendicolarmente agli strati (Figura 2-7b), D uniforme ovunque ( = 1 ) e la media porta a 1 1 1 = fa + fb a b (2-112)
come nel caso di capacitori collegati in serie. Le (2-111,112) si possono ottenere anche con una trattazione indipendente della propagazione di unonda
elettromagnetica in un superreticolo formato da due mezzi omogenei ed isotropi, nel caso in cui il vettore donda sia rispettivamente perpendicolare o parallelo agli strati [2.18,19]. Questo modello, pertanto, pu essere utilizzato per simulare la risposta dielettrica effettiva di un mezzo eterogeneo quando la forma delle inclusioni non abbia simmetria sferica, purch lo spessore degli strati sia piccolo rispetto alla lunghezza donda della radiazione. Le equazioni (2-111) e (2-112), inoltre, costituiscono i limiti assoluti di Wiener per la funzione dielettrica [2.20]: esse stabiliscono che per qualsiasi composizione e microstruttura, le cui dimensioni siano piccole rispetto a , la funzione dielettrica deve cadere allinterno della regione del piano complesso compresa fra la retta passante per a ed b e la circonferenza passante per a, b e lorigine (Figura 2-8).
Figura 2-8 Limiti assoluti di Wiener: la funzione dielettrica di un qualsiasi mezzo eterogeneo le cui
dimensioni siano trascurabili rispetto alla lunghezza donda della radiazione devono cadere allinterno della zona evidenziata
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Infine si osservi che, nel caso in cui sia f<<1, lapprossimazione di MaxwellGarnett (2-109) fornisce per il coefficiente di assorbimento [2.21] (a e b sono sempre la matrice e la fase diluita rispettivamente)
= 4
2 nb ( n 2 + 2n a ) 2 kb f = 2 2 n (nb k b + 2n 2 ) 2 + (2nb k b ) 2
= 2 4
2 ( n 2 + 2n a ) 2 b 2 f = 2 2 b n (1 + 2n ) + ( b ) 2 2 2 ( n 2 + 2n a ) 2 nb kb f 2 n (nb + 2n 2 ) 2
(2-113)
per k b << 1
Il
termine
2 2 nb /[ (nb k b + 2n 2 ) 2 + (2nb k b ) 2
responsabile
dellinfluenza
dellindice di rifrazione della sostanza diluita sul valore del coefficiente di assorbimento. Dove nb varia fortemente causa effetti spettrali non trascurabili (4.3.2).
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