Documenti di Didattica
Documenti di Professioni
Documenti di Cultura
Diagrama detallado que muestra la cascada de eventos hacia el origen de una falla de sistema.
Combina las prob. De falla, tasa de falla o tasa de reparacin para evaluar la prob. Del evento superior
Cuando usarlo
Identificar problemas potenciales de confiabilidad y seguridad durante la fase de diseo Evaluar la confiabilidad y seguridad durante la operacin normal Identificar componentes que pueden requerir pruebas o un aseguramiento de calidad ms riguroso
Procedimiento
Definir el evento indeseable (falla superior) Trazar hacia atrs la causa efecto desde la causa inmediata, usar descripciones concretas Partir descripciones amplias en eventos especficos. Especificar componentes Construir el rbol de falla con compuertas lgicas Analizar el rbol de falla Modificar el diseo
Ningn evento puede conectarse con otro sin pasar por una compuerta lgica
Continuar hasta que todos los eventos bsicos sean determinados o no se requiera ms detalle
Asignar probabilidades a eventos raz y fallas en componentes y det. prob. De falla del evento superior Localizar grupos mnimos y fallas en un punto, en todo caso Simplificar el rbol con lgebra booleana Modificar el diseo con redundancia, uso de componentes ms confiables o desacoplando modos 4 de falla
2.
Trazar la ruta de causa y efecto Trabajar hacia atrs de las causas inmediatas Identificar causas conjuntas Identificar causas condicionales Encontrar los grupos mnimos (reducir el rbol) Calcular la probabilidad del evento superior
3.
2.
4.
Evento de falla:
Resulta de la combinacin de los otros eventos de falla. Sus causas se desarrollan por medio de compuertas lgicas
Compuertas AND
Todos los eventos de entrada son requeridos para producir el evento de salida (Prob. P4 = P1*P2*P3)
Compuertas OR
Cualquier evento de entrada es suficiente para producir el evento de salida (Prob. P4 = P1 + P2 + P3)
Encontrar tasas de falla elementales de bases de datos, MIL-HDBK-217D, GIDEP Combinar tasas de falla por medio de compuertas lgicas
Evento superior:
Sala a obscuras
Sin energa, focos fundidos Fallas en el suministro Fusibles rotos
Causas prximas:
Sin energa
Focos fundidos
Fusible fundido
Foco 1 fundido
Foco 2 fundido
10
Eventos
Tipos de fallas
Clase I (fallas): falla a realizar la funcin intencionada Clase II: realiza una funcin inadvertida
11
Defectos y Fallas
Defectos
Estado del elemento del sistema que contribuye a la ocurrencia de una falla Para describir un defecto, especificar el estado con defecto y cuando el elemento est en este estado
Falla
Estado del elemento del sistema en el cual el elemento es incapaz de realizar su funcin Para describir una falla, especificar solo el modo de falla
12
Ejemplos de eventos
Normal
Defecto tipo I
Defecto tipo II
13
Tipos de defectos
Primario
Los componentes fallas dentro del diseo Los defectos son inherentes a los elementos considerados
Los componentes fallan fuera del diseo El defecto se debe a esfuerzo excesivo en el elemento
Secundario
14
Reemplazar motor opera mucho tiempo con corriente a motor por mucho tiempo
Reemplazar explosin de tanque con explosin por sobrellenado, o explosin por reaccin qumica, etc.
15
Guas
Reemplazar sobre calentamiento con falta de enfriamiento acoplada con no apagado del sistema Fuego causado por fugas de fluido flamable y arcos del relevador
16
Guas
Sin milagros
Si la funcin normal propaga una secuencia de defecto, asumir que el componente funciona normalmente
Escribir descripciones completas y detalladas de defectos Siempre completar entradas a compuertas No conectar compuertas sin eventos intermedios Pensar localmente
17
Cada Ki es un grupo mnimo el cual por si mismo puede causar el evento superior Falla en un punto: Ki consiste de un evento primario
Una falla en la funcin y el sistema se cae La estrella muerta (taln de Aquiles en STAR WARS)
18
Representar cada compuerta con una ecuacin Booleana Substituir ecuaciones de bajo orden en ecuaciones de mayor orden Reducir ecuaciones de alto orden a su forma mnima usando lgebra Booleana por ejemplo:
Continuar hasta que se tenga una expresin mnima para el evento superior 19
Entonces
Grupos mnimos
20
E1
E1
AyB
E3
E3
21
T = E1 y E2 donde E1 = A u E3 E2 = C u E4 T = (A u E3) y (C u E4) donde E3 = BuC y E4 = AyB T = (Au (BuC)) y (C u (AyB)) T = ((AuB) u C) y (C u (AyB)) por ley asociativa T = (C u (A u B)) y (C u (AyB)) por ley conmutativa T = (C u ((A u B) y (AyB)) por ley distributiva T = C u (AyB) por ley de absorcin As la falla superior puede ocurrir ya sea porque ocurre C (falla de un solo punto) o porque ocurre A y B al mismo tiempo
22
Definir y esquematizar el evento superior Dibujar ramas hacia causas inmediatas va compuertas Trabajar hacia atrs desde los eventos secundarios Repetir hasta que todos los eventos bsicos sean determinados Eventos bsicos (causas raz)
23
Crear un rbol de falla del siguiente circuito Identificar conjuntos mnimos de falla y fallas en puntos simples Calcular la tasa de falla superior a partir de las tasas de falla de los componentes
Lamda (probabilidad de falla del comp) 0.00438 0.00263 0.00876 0.01752 0.00438 0.03679
24
C4
Resistor
C6
Pila C8
C3
C5 Foco
25
Organizar comportamiento anormal en un formato lgico y grfico Mejor capacidad para evaluar y comunicar riesgos
26
Consume tiempo para sistemas grandes detallados Asume eventos binarios (activo, fuera)
27
Resumen
Uso de AMEF para anticipar y proritizar la atencin a las fallas potenciales del diseo (o del proceso de produccin) Uso de AAF o FTA para estimar la probabilidad de una falla superior notada en el AMEF e identifica elementos del diseo (conjuntos mnimos) que requieren atencin para prevenir ocurrencia
28
Solucin al ejercicio
Cinco conjuntos mnimos y dos puntos simples de falla (C1 y C2 y C3) u (C6 y C7) u (C6 y C8) u C5 u C4
29