Microscopias de barridos por sondas aplicadas al estudio de superficies

Microscopias de fuerzas atmicas AFM Atomic Force Microscopy

Para las microscopias de barridos por sonda, Cules son los requisitos?
Interaccin

fuertemente dependiente con la distancia (entre la punta censora y la superficie de la muestra) Gran proximidad entre la punta y la muestra La punta tiene que ser extremadamente aguda Posicionamiento estable de la sonda con respecto a la muestra con gran precisin

Qu informacin puedo obtener?

Una imagen tridimensional de la superficie de la muestra (desde dimensiones atmicas hasta micrmetros) a partir de la cual es posible analizar y cuantificas :
Morfologa Rugosidad Tamao

de grano Distribucin de tamao de las partculas Evolucin de procesos superficiales en tiempos reales Propiedades de los materiales

Cadenas moleculares

Arreglos y agregados moleculares

Nanoparticulas de oro

Islas hexagonales de Cu

Clulas cancerigenas

Por qu son tiles?

No

se utiliza lentes No se necesitan condiciones de ultra alto vacio para el analisis Es posible obetener resolucion atomica Es posible operar en medios liquidos Desventaja: Necesita una estricta estabilidad mecanica entre la punta de prueba y la muestra.

Dependiendo de la interaccin punta muestra encontramos

Cmo funcionan?

Combina dos capacidades importantes:

Poder

acercar la punta y la muestra a distancias de Angstrom en forma controlada Poder mover la punta de manera controlada sobre la superficie

Principio del fundamento:

se basa en la medicin de las fuerzas de atraccin y de repulsin que se presentan al acercar una sonda de prueba a la superficie de la muestra

Curvas en funcin de la distancia vertical entre la punta y la muestra que se observan comnmente en experimentos de AFM en el aire

A) la punta entra en contacto con la superficie B) el listn se dobla siguiendo los movimientos de la punta C) la punta comienza a alejarse de la superficie y el listn se dobla hacia la superficie D) transicin del rgimen de contacto a no contacto

Deteccin de las deflexiones verticales y torsionales de listn a partir de seales diferenciales delta CD y AB en los detectores verticales y horizontales respectivamente

Modos de operacion

Contacto No

contacto intermitente

Se miden fuerzas de interaccin entre la muestra y el tip dependiendo de las posiciones

El AFM puede ser usado para medir fuerzas normales, laterales, de adhesin, de friccin, propiedades mecanicas,elasticas y plsticas, propiedades magnticas y elctricas en una posicin determinada de la superficie de la muestra

En un AFM, la muestra es montada en un portamuestra motorizado que se desplaza en las posiciones X e Y, y el sensor de fuerza (un cantilver con una punta muy afilada (tip) en su extremo). Cuando la muestra esta fija en una posicin el tubo escner (al que llamamos PZT tube scanner) escanea con el tip la superficie de la muestra en las direcciones x e y controla la distancia entre el tip y la muestra con un movimiento muy preciso en la direccin z. el movimiento vertical del scanner (direccin z) es manejado por una seal de retroalimentacin que esta

La

dependencia de las fuerzas de interaccin entre el tip y la superficie de la muestra con la distancia entre ellos provee las bases fsicas para el funcionamiento del AFM. Debido a la superposicin de fuerzas de largo alcance (atractivas) con las fuerzas de corto alcance (repulsivas) la fuerza de interaccin total no tiene un comportamiento montono con la distancia

Cuando

el tip es llevado cerca de la superficie de la muestra, al principio siente una fuerza de interaccin atractiva, la cual alcanza un mximo y luego decrece. Esta interaccin finalmente cambia y se transforma en una repulsin la cual incrementa fuertemente con la disminucin de la distancia entre el tip y la muestra.

El

haz del laser se ajusta de manera que la trayectoria vertical del mismo golpee la parte superior del cantilver cerca del extremo libre de este ultimo, donde se refleja el haz. el cantilver se inclina hacia abajo aproximadamente 10 con respecto al plano horizontal, el haz reflejado se separa del haz primario y es desviado a travs de un sistema de espejos ajustables hasta que finalmente llega a un fotodetector con 4 cuadrantes

Cuando

La

fuerza que siente el tip debida a su interaccin con la muestra es censada mediante la deteccin de la deflexin del cantilver. un sistema que consiste en una deflexin ptica de un haz de luz

Es

El ajuste, el cual se realiza en la posicin de descanso del cantilver, resulta en igualar las seales ( A+B) ( C+D) con ( A + C) - (B +C) donde A, B, C y D son las foto intensidades medidas por los cuadrantes individuales del fotodetector. Antes de escanear la superficie, el cantilver se cambia de posicin de descanso a una posicin de medida cercana a la superficie de la muestra. En esta posicin, la seal diferencial ( A +B) ( C + D) provee la seal que censa la fuerza de interaccin normal con la correspondiente deflexin del haz del laser causada por la deflexin del cantilver

 El

microscopio de AFM puede realizar dos tipos de medidas : imagen y fuerza el modo de imagen la superficie es barrida en el plano de la superficie (X-Y) por el tip. Durante el barrido la fuerza interatmica entre los tomos del tip y los tomos en la superficie muestra provoca una flexin del cantilver . Esta flexin es registrada por un sensor adecuado y la seal obtenida se introduce un circuito o lazo de realimentacin. Este ultimo controla u actuador piezoelectrico que determina la altura Z de la punta sobre la muestra de forma que la deflexion del cantilever se mantenga a un nivel constante. Representando la altura de la punta Z frente a su posicion sobre la muestra (X-Y) es posible trazar un mapa topografico de la muestra Z=Z(X-Y)

En

En

medidas de fuerza el tip se hace oscilar verticalmente mientras se registra la flexion del cantilever. La medida se expresa entonces representando fuerza (F) frente a altura (Z) sobre la muestra. Las medidas de fuerza son utilies en estudios de fuerzas de adhesion y periten estudiar a nivel de una sola molecula interacciones especificas entre moleculas

Modos de operacin en modo imagen

Las

tecnicas de AFM pueden dividirse segn se utilicen con modos dinamicos ( si AFM hace uso de un sistema adicional de oscilacion: se hace vibrar el cantilever a su frecuencia de resonancia valiendo para ello del actuador piezoelectrico. La interaccion tip-superficie modifica la amplitud, frecuencia y fase de resonancia, mientras que el lazo de realimentacion mantiene constante alguna de estas tres propiedades. Que propiedad sea esta es el criterio que determina el modo concreto de operacin) o estaticos. Los modos estaticos mas comunes son el modo contacto y tambien la formacion de imgenes de fuerzas laterales en un microscopio de fuerzas laterales (LFM), mientras qye los modos dinamicos mas utilizados son el modo de no contacto y modo

Modo contacto

En el barrido en modo contacto la fuerza entre la punta y la muestra se mantiene constante manteniendo la deflexion constante. La deflexion de la punta estatica se utiliza como seal de retroalimentacion. En este modo se inicia con el escaneado lateral sobre la superficie de la muestra cuando la deflexion vertical del cantilever alcanza el valor del punto de ajuste ( elegido por el operador ) el cual corresponde a una interaccion repulsiva entre la muestra y el tip. Para entender la razon de la eleccion del punto de ajuste, es de utilidad considerar las fuerzas entre el tip y la muestra entre el tip y la muestra en mas detalle utilizando la curva de fuerza distancia. Cuando se aplica un potencial triangular al equipo que controla la posicion Z del scanner, la curva fuerza distancia describe la seal del cantilever como funcion de la posicion z del escanner en un ciclo. Este ciclo incluye el acercamiento del tip a la superficie de la muestra y el respetivo alejamiento

La medida de la fuerza comienza y termina cuando la muestra esta lejos del tip, posicion de reposo del cantilever (punto A1 y A2). Cuando la distancia tip-muestra es grande ( A1 B) el cantilever no mostrara deflexion alguna, como lo indica la parte plana de la curva. Sin embargo cuando el tip se acerque a la muestra y la distancia que los separa es del orden de unos pocos nanometros ( punto B) el tip experimentara una fuerza atrativa la que generara que el cantilever se doble hacia abajo.

Si la fuerza de atraccin supera a la fuerza estatica del cantilever, entonces este ultimo sera empujado hacia la muestra (punto C1) . El contacto entr eel tip y la muestra, provocara que el cantilever se doble hacia arriba, reflejando las fuerzas repulsivas que se generan entre ellos. . Esto esta representado por la parte inclinada dela curva (C1 D, D C2). Cuando el Z- piezo empieza a alejarse de la muestra, el tip se siente atraido hacia la muestra por la fuerza de capilaridad ( C2 E) la accion de las fuerza de capilaridades resulta en una histeresis en la curva de fuerza- distancia. Las fuerzas de capilaridad son causadas en su mayoria por una capa de liquido contaminante que esta presente en la superficie de la muestra cuando esta se encuentra rodeada por aire. Por lo antes dicho, se necesita una fuerza de desprendimiento para sacar e tip del punto E en el grafico. Esta fuerza puede ser usada como medida de la adicion entre el tip y la muestra. En el llamado force volume mode las curvas de fuerza distania se forman con la coleccin de una gran cantidad de puntos en el area de interes y la informacion de cualquier tipo de fuerzas de interes se muestra en un mapa. Cuando se utiliza las fuerzas de repulsion, pueden obtenersemapas superficiales de propiedades mecanicas, y se pueden obtener mapas de propiedades de adhesion de la muestra cuando se utilizan las fuerzas de la zona de liberacion del tip. Similamente la topografia, la rigidez local y la adicion pueden ser simultaneamente mapeadas por el pulsed force mode (PFM)

 Si

el escaneado se realiza con la deflexion de punto de ajuste que corresponde a la fuerza atractiva del desprendimiento, las imgenes se pueden lograr utilizando la menos fuerza aplicable. Sin embargo, bajo estas condiciones es dificil trabajar debido al posible desenganche del tip, ademas los efectos limites de la capilar limitan la fuerza minima.. La influencia no deseada de la fuerza de capilaridad puede evitarse ubicando la musetra y realizando la medida por debajo de un liquido. Sin embargo el tomado de imgenes bajo liquidos tiene sus propias limitaciones. Por lo tanto el modo de contacto en AFM usualmetnte se realiz con un punto de ajuste que corresponde a uan interaccion repulsiva pequea representada por la porcion de la curva que se ubica entre