con Se, Si y N sobre la actividad

fotocatalítica en HCOOH y en las

propiedades fisicoquímicas del S-
TiO2
Marcela Fernández Puerta
Joven Investigador Colciencias
Grupo Procesos Fisicoquímicos Aplicados
Universidad de Antioquia

FC05
Asesores:
Prof. Juan Miguel Marín
Prof. Gloria Restrepo
 CONTENIDO

1. Introducción
2. Metodología
3. Resultados y discusión
4. Conclusiones
5. Agradecimientos
6. Referencias

2
 INTRODUCCIÓN
Tratamiento de Fotocatálisis
efluentes heterogénea
Producción de hidrógeno Ap Os
li ca TA
cio
Superficies ne
s No Tóxico
autolimpibles
Celdas solares Ventajas
TiO2 Estabilidad
química
Insoluble
Área ísti cas
ra cter
superficial C a Bajo costo
Tamaño de partícula
Sol-gel
Cristalinidad
Solvotermal
Morfología
Sonólisis
Modificación
química / Band gap Métodos combinados
3
 METODOLOGÍA
1. Síntesis y modificación del catalizador
H2O:TiOSO4 Tc (ºC) tagitación (h) tc (h) C2H6O:TiOSO4
(mol/mol) (mol/mol) M. Sol-gel +
T. Solvotermal
3,5 250 2 2 15

N: Urea y Trietilamina
Adición del precursor al
0,05 %w/w Si: Tetraetilo Ortosilicato
Se: Dióxido de Selenio

Etanol absoluto
Agua microfiltrada
Oxisulfato de titanio
en ácido sulfúrico
4
 METODOLOGÍA
2. Caracterización de los materiales

Composición y
Estructura distribución Área Propiedades
Morfología
cristalina de los Superficial ópticas
elementos
FRX SEM
DRX (5X, 10X, 20X)
Área UV-
(KαCu, 2θ 10º - FTIR/ATR
70º)
BET vis/RDS
EDS TEM

5
 METODOLOGÍA
3. Evaluación en medio líquido

Película de poliéster

Representación del proceso de degradación fotocatalítica

Contaminante:
Ácido Fórmico a 200 ppm 6
 RESULTADOS
Se/S-TiO 2
Si/S-TiO 2 Ecuación de Scherrer
N/S-TiO 2 [Triet]
N/S-TiO 2 [Urea] K: constante de Scherrer (0,9)
λ: longitud de onda del CuKα,
Base
S-TiO 2 (0,1540nm)
b = Ancho del pico a mitad de la altura
θ = Posición del máximo pico
DRX

L = Tamaño del cristal (nm)

Intensity

Picos Planos
2θ (º) Muestra L (nm)
25,3 (101) S-TiO2 base 37,12
37,9 (004) N/S-TiO2 (Urea) 32,99
47,9 (200) N/S-TiO2 (Triet) 36,15
54,4 (105) Si/S-TiO2 36,35
Se/S-TiO2 36,92
20 40
2
60
Radiación CuKα 40 kV y 30 mA, 10° <2θ<70°.
Vel. de barrido de 2°/min 7
 RESULTADOS

(% en peso)
Elemento/
Compuesto S-TiO2 Si/S-TiO2 Se/S-TiO2
S 0,18 0,19 0,22
FRX

Si <0,01 1,14 <0,01

Se 0,0 0,0 0,03
TiO2 99,81 98,66 99,75
Tubo de Rodio con una potencia máxima de 4.0 KW. Análisis
semicuantitativo y la detección de elementos desde el Sodio (Na) hasta el
Uranio (U)

8
 RESULTADOS
%T

Enlace Picos
FTIR/ATR

Ti-O 800  cm-1 - 500 cm-1

H-O (F) 1640 cm-1
S-O 1230 cm-1 – 980 cm-1
Base
S -TiO 2 H-O (E) 3300 cm-1
N /S-TiO 2 [U rea]
N /S-TiO 2 [T riet]
*OH 4000 cm-1 - 3600 cm-1
S i/S -TiO 2 Si-O 1150 cm-1 - 990 cm-1
S e/S -T iO 2 Se-O 900 cm-1 - 800 cm-1
4500 4000 3500 3000 2500 2000 1500 1000 500
A (1/cm) 9
 RESULTADOS
Ti S Ti Si

O O
SEM/EDS

Imagen EDS TiO2 base Imagen EDS Si/S-TiO2

Weight% Atomic%
Elemento OK S K Ti K Si K OK SK Ti K Si K
S-TiO2 base 41.37 0.58 58.05 - 67.77 0.48 31.76 -
N/S-TiO2 (Urea) 47.42 - 52.58 - 72.97 - 27.03 -
N/S-TiO2 (Triet) 42.29 - 57.71 - 68.69 - 31.31 -
Si/S-TiO2 44.66 - 52.46 2.88 69.98 - 27.46 2.57
Se/S-TiO2 42.46 - 57.54 - 68.84 - 31.16 -
10
SEM RESULTADOS

N/S-TiO2 (Urea)
N/S-TiO2 (Triet)

S-TiO2 base
Si/S-TiO2
Se/S-TiO2
11
 RESULTADOS

N/S-TiO2 (Urea) N/S-TiO2 (Triet) Si/S-TiO2 Se/S-TiO2

TEM

Determinación de Estructura Cristalina

12
 RESULTADOS
0,06
S e/S -T iO 2
S i/S -T iO 2
0,05
N /S -T iO 2 [Triet]

0,04
N /S -T iO 2 [U rea]

B (1/[Q (P o/P - 1)])

Base
S -T iO 2
ÁREA BET

0,03

0,02

0,01

0,00
0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 0,30

A (R elative Pressure (P /Po))

Muestras (m²/g)
S-TiO2 Base N/S-TiO2 (Urea) N/S-TiO2 (Triet) Si/S-TiO2 Se/S-TiO2
29,40 30,37 32,39 43,36 25,99
13
 RESULTADOS
Se/S-TiO 2
1,2
Si/S-T iO 2 Determinación del ancho de banda
N /S-TiO 2 [Triet]
1,0 Ecuación planteada por Kubelka-Munk
UV-vis/RDS

N /S-TiO 2 [U rea]
B ase
  αhν   Se grafica:
0,8 S-TiO 2
: longitud de onda del espectro (nm).
h:: Energía del fotón.
A bsorbance

A: Constante de proporcionalidad.
0,6
Eg: Energía de ancho de banda (eV)

0,4 Material Band gap (eV)

TiO2 D-P25 3,2 (A) – 3,0 (R)
0,2 S-TiO2 Base 2,88
N/S-TiO2 (Urea) 2,96
0,0

200 300 400 500 600 700 800

N/S-TiO2 (Triet) 2,96
(nm ) Si/S-TiO2 2,92 14
 RESULTADOS
100 1,0

0,8
DEGRADACIÓN

C /C o (U V radiation)
80 0,6

Base
S -T iO 2
0,4
N /S -T iO 2 [U rea]
% D egradation

60 0,2 N /S -T iO 2 [T riet]
S i/S -T iO 2
0,0 S e/S -T iO 2
40 0 50 100 150 200 250 300

t (m in)

1,00

20 0,98

0,96

C /C o (Visible radiation)
0,94

0 0,92

S-TiO 2 Base N /S-T iO 2 [U ] N /S-TiO 2 [T] Si/S-TiO 2 Se/S-TiO 2 0,90 B ase

S -T iO 2
% U V D egradation % Visible D egradation 0,88 N /S-T iO 2 [U rea]

0,86
N /S -T iO 2 [T riet]
Si/S-T iO 2
0,84
Contaminante: 0,82
Se/S-T iO 2

Ácido Fórmico a 200 ppm 0 50 100 150

t (m in)
200 250 300

15
 CONCLUSIONES
Se obtuvieron materiales de TiO2 con actividad fotocatalítica en la presencia de
radiación UV y visible.
La selección del óxido base para la realización de las modificaciones químicas
se realiza con criterio económico
Todos los materiales obtenidos presentaron una estructura cristalina en fase
Anatasa.
No se evidencia un efecto relevante de la impureza (N, Si, Se) sobre el tamaño
del cristal de la matriz de TiO2
El área superficial de los materiales no es determinante del tamaño del cristal
y de la actividad fotocatalítica.
Se determinó la disminución del ancho de banda de cada uno de los
materiales.
16
 CONCLUSIONES

Las propiedades fisicoquímicas del S-TiO2 no se ven fuertemente afectadas por

la introducción de impurezas de N.

Las propiedades fisicoquímicas del S-TiO2 se encuentra visiblemente afectado

por la introducción de impurezas de Si y Se

17
AGRADECIMIEN
TOS
Programa
Jóvenes
Investigadores
Colciencias de
la convocatoria
645-2014

Universidad de
Antioquia

Grupo
Procesos
Fisicoquímicos
Aplicados
(PFA)

18
REFERENCIAS
[1] Carp O. et al. Prog. Solid State Chem. (2004) (32) (33).
[2] Rodríguez J. et al. (2005) Solar Safe Water. El fotocatalizador: síntesis, propiedades y limitaciones, Argentina, pp. 135.
[3] Parida K.M. et al. J. Colloid Interface Sci. (2008) (318) (231).
[4] Mosquera-Pretelt J. Trabajo de investigación de maestría en Ciencias Químicas, Universidad de Antioquia, 2016.
[5] A. Kafizas. Et al. J. Phc Phb A: Chem. (2010) (216)(156)
[6] Yin Y. et al. Mat. Chem Phy (2008) (982)
[7] Asahi R. et al. Sci. (2001) (269)
[8] Gurkan. Et al. Chem Eng. Jou. (2013) (34)
[9] Yan S. et al. App. Sur. Sci. (2008)(255)(2167)
[10] Ramos C. et al. Ciencias de la Ingeniería y Tecnología, Handbook. (2014)(69)
[11] Sakai T. et al. Sol. Sta. Ionics. (2010)(181)(1746)
[12] Jordan N. et al. Geo. Et Cosm. (2011)(75)(1519)
[13] Bui D. et al. Cat. Comm. (2011)(13)(14)
[14] Doménech X. et al. Procesos Avanzados de Oxidación para la eliminación de contaminantes. Editor: Miguel Blesa, Red CYTED
VIII G, 1-5, 22.
19
 REFERENCIAS EQUIPOS
• Difractómetro Rigakus modelo Miniflex.
• Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X secuencial por longitud de onda dispersiva (WDXRF) marca PANalytical
modelo AXIOS mAX.
• Espectrómetro de infrarrojo con transformada de Fourier Shimadzu IR Prestige-21, provisto del accesorio de
Reflectancia Total Atenuada (ATR).
• Microscopía electrónica de barrido y análisis por energía dispersiva de Rayos X (SEM/EDS) marca JEOL JSM 540.
• Microscópio Electrónico de Transmisión TECNAI F20 ST
• Analizador de área superficial Micromeritics Gemini VII. Uso de desgasificador VacPrep 061 de la marca
Micromeritics.
• Espectrofotómetro UV-Visible marca Thermo, modelo Evolution 600 provisto con accesorio para análisis de
reflectancia difusa.

REFERENCIAS IMÁGENES
• Micrografías: Equipo SEM y TEM
• Gráficas: Origin Pro 8.5 licencia: ABAC54B0CF0DD1F9
20
¡Gracias!

21