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DEPARTAMENTO DE ELECTRÓNICA
SECCIÓN DE INSTRUMENTACIÓN Y CONTROL
CONTROL DIGITAL
Libro Texto: Ogata K. Sistemas de Control en Tiempo Discreto. Printece Hall. 2da Edición.
Franklin G. F., Powell J. D., Workman M. Digital Control of Dynamic Systems. Addison Wesley. 3ra.
Edición.
Phillips C. L., Nagle H. Troy. Digital Control System Analysis and Design. Printece Hall. 3ra Edición.
Dabney J. B., Harman T. L., Mastering Simulink 2. Prentice Hall. 1ra. Edición.
UNEXPO
CONTROL DIGITAL
SOCIEDADES TÉCNICAS Y CIENTÍFICAS
Analizar los sistemas de control en tiempo discreto usando la teoría de espacio de estado.
UNIDAD I: SISTEMAS
DISCRETOS Y
TRANSFORMADA Z
UNIDAD I: CONTENIDO
Señales y sistemas discretos.
Dispositivos de muestreo y retención.
Análisis del proceso de muestreo.
Teorema del muestreo.
Convertidores A/D, D/A y el proceso de quantización.
Transformada Z, Z modificada, sus inversas, teoremas y
propiedades.
Mantenedores y reconstructores de datos.
Ecuaciones En Diferencia Lineal.
Aplicaciones.
INTRODUCCIÓN
La importancia de estudiar los sistemas de control digital estriba en el hecho de que prácticamente la gran
mayoría de las herramientas existentes en el mercado hoy, para realizar labores de control, son digitales:
Computadoras (CP), Controladores Programables (PLC), Procesadores Digitales de Señales (DSP),
Sistemas Microcontroladores, etc.
Esto impone la necesidad de establecer una nueva teoría, que explique la forma como estos dispositivos
trabajan desde el punto de vista del control y la manera como ellos interactúan con las variables de los
procesos. A esta teoría se le conoce como: LA TEORIA DE LOS SISTEMAS MUESTREADOS.
Hoy son muy pocos los sistemas de control que no funcionan con equipos digitales, y prácticamente esta
teoría se enseña en todos los pénsum de estudios orientados hacia instrumentación y control.
En este curso estudiaremos los fundamentos de la teoría de los sistemas muestreados y su aplicación en
el análisis y diseño de sistemas de control en tiempo discretos.
ANTECEDENTES HISTÓRICOS
Shannon en 1949 estableció el teorema del muestreo, base de toda la teoría de los sistemas muestreados.
Ragazzini y Zadeh en 1952 definen la transformada Z. Jury y otros, que fueron alumnos de Ragazzini en la Universidad de
Columbia - USA, consolidaron las técnicas transformadas al final de los cincuenta; apareciendo varios libros de texto escritos
por este grupo de investigadores.
A finales de los cincuenta se desarrolló la Teoría de Espacio de Estado. Kalman contribuye notablemente en la aplicación de
esta teoría a los sistemas de control.
A comienzos de los sesenta se desarrolló la teoría de control optimo y estocástico, conduciendo esto a la teoría Lineal
Cuadrática Gaussiana (LQG) usada hoy en Sistemas Lineales Multivariables.
A finales de los años sesenta y comienzos de los setenta se reestableció el carácter algebraico de los problemas, lo que
condujo a una mejor comprensión de los fundamentos de la teoría de sistemas lineales. Aquí se emplearon métodos
polinomiales para resolver problemas específicos.
En la década de los setenta se desarrollaron las técnicas de identificación de sistemas. Åström y otros contribuyeron
significativamente a esto.
Con el desarrollo y aplicación intensivo del computador se ha hecho posible la realización práctica de algoritmos de control mas
complejos, tales como control adaptativo, control predictivo, y técnicas de control inteligente como Lógica Fuzzy y Redes
Neuronales. A esto han contribuido significativamente Åström y Zadeh entre otros.
VISIÓN CONTINUA
VARIABLE MANIPULADA
Controlador
-COMPUTADOR ANALÓGICO
OPAM
Referencia e(t) Uc(t) ELEMENTO FINAL DE
CONTROL
r(t) +
- E.D.O.L
b(t)
Fluido a procesar y(t)
PROCESO
SENSOR
TRANSMISOR
FIG. N° 01: DIAGRAMA ESQUEMATICO DE UN SISTEMA DE CONTROL CONTINUO
ALGORITMO DE CONTROL CONTINUO
uc = Señal de control
e = Señal de error OPAM
K = Constante de proporcionalidad
Ti = Tiempo integral E.I.D.O.L
Td = Tiempo derivativo
VISIÓN DIGITAL
Controlador de proceso
-PLC
-PC RELOJ VARIABLE MANIPULADA
-DSP
-SCADA
b(t) SENSOR
TRANSMISOR
uc = Señal de control
e = Señal de error
T = Período de muestreo
Ko, a y b = constantes reales
k = Instante de muestreo (0, 1, 2, 3,..., n)
PROCESO INTERCAMBIADOR
DE CALOR
Vapor WS (s )
FIT
10
mA
Trampa
de Vapor
Algoritmo uC kT
T0 s , C
Válvula
Tsp
kT , C de W s
GW s
0
+ Control D/A GV (s ) S
Proceso
Controlador Controlador
TIC11 FIC10
GT s
- -
i
Ti ( s )
b1 (kT ) b1 (t )
A/D H TF (s )
Sensor/Transmisor
FIT10
b2 (kT ) b2 (t )
A/D H TT (s )
Sensor/Transmisor
TIT11