Transmission Electron

Microscopy (TEM)

Environmental Instrumentation (EVSC 5165)

Joevanny Agostini Rodríguez
 Agenda

• Introducción
• Principio y funcionamiento
• Descripción del Instrumento
• Aplicaciones
• Ventajas, Limitaciones y Limite
de Detección
• Conclusión
 Introducción

• 1938 – El primer TEM

comercial (resolución 10
nm) - Ernst Ruska & Bodo
von Borries.
• 1954 – Ruska construye
en Siemens el modelo
Elmiskop 1 – condensador
doble (difracción de electrones
rutinaria). Technological University of Berlin

• 1986 – Ernst Ruska recibe el

premio Nobel en física.
 Cont. Introducción

Primer TEM Elmiskop 1

 Principio y Funcionamiento
• Electrones generados por emisión termiónica o
campo electrónico.
• Fuente de e- Tungsteno o lanthanum hexaboride.
• Haz de electrones exhibe conducta de onda
<340 nm.
• Electrones acelerados por un potencial eléctrico
(~100-300 kV ). Vacuum 10−7 to 10−9 Pa.
 Cont. Principio y Funcionamiento

• Electromagnetos dirigen y enfocan el haz de

electrones.

• Campo electrostático deflexiona el haz de e- de

forma constante en un ángulo determinado.

• Magnificación mediante modulación de corriente

en source, y lentes cuadropolos y hexapolos.
 Cont. Principio y Funcionamiento

• Imagen generada por una pantalla de phosphor

hecha de partículas finas de sulfidrilo de zinc, o un
CCD.

• La muestra debe ser cortada a un ancho entre 20

nm – 380 nm.
 Descripción del Instrumento
Electron gun, monochromatic electrons →

Condenser lenses 1 and 2 produce a →

small, thin, coherent beam

Condenser aperture knocks out →

high angle electrons

Transmitted electrons are focused by the

objective lens into an image →
Objective & selected area apertures →
restrict the beam

Intermediate and projector lenses focuses and

enlarge angle of e- dispersion →

Light is generated. Few e- transmitted = darker,

Many e- transmitted = lighter →
Cont. Descripción del Instrumento
 Ventajas, Limitaciones y Limite de Detección

• Ventajas:
- Provee uno de los grados mas altos de
magnificación . Resolución alcanza hasta 42-200 pm.

• Limitaciones:
- La preparación de la muestra puede ser
exhaustiva y consumir mucho tiempo.
- El haz de electrones interacciona con la muestra.
- Muestras biológicas deben ser fijadas con uranyl
acetate (vapores nocivos).
 Ventajas, Limitaciones y Limite de Detección
(HR)TEM EELS / EFTEM EDX HAADF
Spatial Atomic EELS: 0.5 nm 1 nm Atomic
resolution: resolution EFTEM: 1 nm resolution
(0.2 nm) (0.2 nm)
Detectable - All B and heavier No unique
elements: elements Z assignment

Detection limits: - 0.1 % 0.1 % 2%

Issues: - Elaborate sample Due to limited Sample thickness
preparation (very energy resolution variations and
thin and clean some high Z voids
sample needed). elements have may complicate
- Very sensitive for overlapping Interpretation.
light elements. spectra.

Samples: Solid materials (amorphous and crystalline): bulk, thin film, aqueous dispersions
and powders. The area of interest should be thinner than 0.1-0.2 μm. For most
samples, this implies sample preparation.
In-house Focussed Ion Beam (FIB), mechanical (tripod)
sample polishing, dimple grinding, ultramicrotomy,
preparation: ion-milling, TEM-windows, vitrification of aqueous samples.
 Aplicaciones
• Investigaciones de Cáncer:
- Organelos, ribosomas, NTP.

• Estudios en Virología:
- Invasión, capsula, desplazamiento.

• Desarrollo de nanotubulos de C y C-metal.

• Estudios Ecológicos:
- Daño organelos de fitoplancton.
 Cont. Aplicaciones
• Estudios Ambientales:
- propiedades de polen, sooth y PM.
- Efectos de lluvia acida en granos de calcita.
- ↓ribosomas de zooplancton por
contaminación con órgano-halógenos.
• Desarrollo de semiconductores.
• Arreglo 3D de cristales minerales y proteicos.
Cont. Aplicaciones
 Cont. Aplicaciones

Polio virus 30nm Nanotubos de C

Liposomes in water Neurona mielinada

 Cont. Aplicaciones

The 3-dimensional reconstruction of the morphology of a part of

a GaP-GaAs hetero-structured nanowire with 40 nm diameter.
 Conclusion
TEM es una técnica poderosa para obtener
imágenes de materiales sólidos, estructuras
biológicas y partículas en suspensión, entre
otros, con una resolución al nivel atómico. Esta
información es útil en el estudio de las
propiedades estructurales y químico-físicas de
medicamentos, proteínas, organelos celulares,
contaminantes en el medio-ambiente, y nuevos
nanomateriales. TEM acoplado a detectores y
amplificadores de alta capacidad permite el
análisis elemental y químico de dichas
muestras/analitos a escalas subnanométricas.
 Referencias
• The Siemens Elmiskop 1 electron microscope.
http://www.sciencemuseum.org.uk/broughttolife/objects/
display.aspx?id=92497.
• Hawkes, P. (Ed.) (1985). The beginnings of Electron
Microscopy. Academic Press.
• Furuya, Kazuo (2008). "Nanofabrication by advanced
electron microscopy using intense and focused beam" (free
download pdf). Science and Technology of Advanced
Materials 9: 014110. doi:10.1088/1468-6996/9/1/014110.
• Egerton, R (2005). Physical principles of electron
microscopy. Springer. ISBN 0387258000.
• Reimer,L and Kohl, H (2008). Transmission Electron
Microscopy: Physics of Image Formation. Springer.
Preguntas
?