Microscopio

de
Fuerza Atmica

Integrantes:
Comolli Pablo Alfredo legajo: 35041
Comolli Diego Alejandro legajo: 34161
MICROSCOPIO DE FUERZA ATMICA

El Microscopio de Fuerza Atmica

(MFA) es un instrumento mecano-
ptico capaz de detectar fuerzas
del orden de los nano Newton. Al
analizar una muestra, se registra
continuamente la altura sobre la
superficie de una sonda o punta
cristalina de forma piramidal. La
sonda va acoplada a un listn
microscpico, muy sensible al
efecto de las fuerzas, de slo unos
200 m de longitud
La fuerza atmica se puede detectar
cuando la punta se aproxima a la
superficie de la muestra. Se registrar
la pequea flexin del listn mediante
un haz lser reflejado en su parte
posterior. Un sistema auxiliar
piezoelctrico desplaza la muestra
tridimensionalmente, mientras que la
punta recorre ordenadamente la
superficie. Todos los movimientos son
controlados por una computadora. La
resolucin del instrumento es de
menos de 1 nm, y la pantalla de
visualizacin permite distinguir
detalles en la superficie de la muestra
con una amplificacin de varios
millones de veces.
 La fuerza de la micro palanca
viene dada por el fabricante y
se determina por laley de
Hooke. En este caso, la ley de
Hooke se representa por la
ecuacin del resorte, donde se
relaciona la fuerzaFejercida
por el resorte con la distancia
adicionalxproducida por
alargamiento, del siguiente
modo:
El Microscopio de Fuerza
Atmica provee la imagen
de una superficie sin que
intervengan los efectos
elctricos, al medir las
fuerzas mecnicas en la
punta detectora, por lo
que tambin resulta til
para materiales no
conductores.
Tipos de medidas, modos de operacin y
aplicaciones
El microscopio de AFM puede realizar
dos tipos de medidas: imagen y fuerza.

En elmodo de imagenla superficie es

barrida en el plano de la superficie (X-
Y) por la punta. Durante el barrido la
fuerza interatmica entre los tomos
de la punta y los tomos en la
superficie muestral provoca una flexin
del listn. Esta flexin es registrada
por un sensor adecuado (normalmente
balanza ptica) y la seal obtenida se
introduce en un circuito o lazo de
realimentacin. Este ltimo controla
unactuador piezoelctricoque
determina la altura (Z) de la punta
sobre la muestra de forma que la
flexin del listn se mantenga a un
nivel constante (Normalmente
introducido por el operador).
Representando la altura de la punta (Z)
frente a su posicin sobre la muestra
(X, Y) es posible trazar un mapa
topogrfico de la muestra Z=Z(X, Y). La
fuerza interatmica se puede detectar
 Enmedidas de fuerzala punta se hace
oscilar verticalmente mientras se
registra la flexin del listn. La medida
se expresa entonces representando
fuerza (F) frente a altura (Z) sobre la
muestra. Las medidas de fuerza son
tiles en estudios de fuerzas
deadhesiny permiten estudiar a nivel
de una sola molcula interacciones
especficas entre molculas (ej:
interaccin antgeno-anticuerpo,
interaccin entre hebras
complementarias de ADN) o
interacciones estructurales de las
biomolculas (plegado de protenas)
as como caracterizar la elasticidad de
polmeros. Tambin es til en estudios
de indentacin de materiales blandos
(polmeros) que permitan caracterizar
propiedades elsticas de la muestra
como elmdulo de elasticidado
viscoelsticas.
Modos de operacin:
a. Modo contacto.
b. Modo de no contacto.
c. Modo de repiqueteo

Modo contacto
En el barrido enmodo contacto(figura a) la
fuerza entre punta y muestra se mantiene
constante, manteniendo una constante de
deflexin. Ladeflexinde la punta esttica se
utiliza como una seal deretroalimentacin.
 Modo dinmico
En losmodos dinmicosse hace vibrar la micro
palanca a su frecuencia de resonancia valindose para
ello del actuador piezoelctrico. La interaccin punta-
superficie modifica la amplitud, frecuencia y fase de la
resonancia, mientras el lazo de realimentacin
mantiene constante alguna de estas tres propiedades.
Qu propiedad sea sta es el criterio que determina el
modo concreto de operacin:
En elModo de no contacto o de frecuencia
modulada(FM-AFM) (figura b) se mantiene constante
lafrecuencia de resonancia. La principal aplicacin del
FM-AFM es levantar topografas de superficies duras a
escala atmica y operando en vaco extremo o UHV (de
sus siglas en ingls Ultra High Vacuum)
En elModo de repiqueteo(del ingls "tapping
mode")o de amplitud modulada(AM-AFM) (figura c)
se mantiene constante laamplitud. Se usa
principalmente en medio lquido para obtener imgenes
de muestras biolgicas que slo son estables en
soluciones acuosas.
Originalmente el uso del modo de no contacto
implicaba que la punta se encontraba siempre a
distancia constante de la superficie, mientras que en el
modo de repiqueteo la punta golpeaba
intermitentemente la superficie. Posteriormente se ha
demostrado que ambos modos puden ser operados
tanto a distancia de la muestra como en contacto con
ella.