3

O Erro de Medio
Fundamentos da Metrologia
Cientfica e Industrial

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MCI
 Erro de Medio

sistema de
medio mensurando

indicao valor verdadeiro

erro de
medio

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 2/67)

 Um exemplo de erros...
Teste de preciso de tiro de canhes:
Canho situado a 500 m de alvo fixo;
Mirar apenas uma vez;
Disparar 20 tiros sem nova chance para
refazer a mira;
Distribuio dos tiros no alvo usada
para qualificar canhes.
Quatro concorrentes:

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 3/67)

 A B

D C

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 4/67)

Ea Ea

Es Es

A B

D C

Ea Ea

Es Es

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 5/67)

 3.1
Tipos de erros

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MCI
 Tipos de erros
Erro sistemtico: a parcela
previsvel do erro. Corresponde ao
erro mdio.

Erro aleatrio: a parcela

imprevisvel do erro. o agente que
faz com que medies repetidas
levem a distintas indicaes.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 7/67)

 Preciso & Exatido
So parmetros qualitativos
associados ao desempenho de um
sistema.

Um sistema com tima preciso

repete bem, com pequena disperso.

Um sistema com excelente exatido

praticamente no apresenta erros.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 8/67)
 3.2 e 3.3
Caracterizao e
componentes do erro de
medio

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MCI
 Exemplo de erro de medio

(1000,00 0,01) g
E = I - VVC

1 E = 1014 - 1000

1014
E = + 14 g
1014
0g
g

Indica a mais do
que deveria!

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 10/67)

 Erros em medies repetidas
1020

1014 g

disperso
1015 g
1017 g
(1000,00
(1000,00
(1000,00
0,01)
0,01)
0,01)
g g g
1012 g
1015 g
111 1018 g
1014 g 1010

erro mdio
1015 g
1016 g
1014
1015
1017
0g
1013 g
1016 g
1015 g

1000
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 11/67)
 Clculo do erro sistemtico

Es I VV

VV I
mdia de infinitas indicaes
condies:
valor verdadeiro conhecido exatamente

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 12/67)

Estimativa do erro sistemtico

Td I VVC

VVC I
tendncia

Td U Td

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 13/67)

 3.4
Erro sistemtico, tendncia e
correo

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MCI
 Algumas definies
Tendncia (Td)
uma estimativa do Erro Sistemtico
Valor Verdadeiro Convencional (VVC)
uma estimativa do valor verdadeiro
Correo (C)
a constante que, ao ser adicionada
indicao, compensa os erros
sistemticos
igual tendncia com sinal trocado

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 15/67)

Correo dos erros sistemticos

Td C = -Td

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 16/67)

 Indicao corrigida
N I C Ic Ea
1 1014 -15 999 -1 C = -Td
2 1015 -15 1000 0
3 1017 -15 1002 2 C VVC I
4 1012 -15 997 -3
5 1015 -15 1000 0 C = 1000 - 1015
6 1018 -15 1003 3
7 1014 -15 999 -1 C = -15 g
8 1015 -15 1000 0
9 1016 -15 1001 1
10 1013 -15 998 -2
11 1016 -15 1001 1
12 1015 -15 1000 0
mdia 1015 -15 1000 0

995 1000 1005

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 17/67)
 3.5
Erro aleatrio, incerteza
padro e repetitividade

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MCI
 Erro aleatrio e repetitividade

Ea i I i - I

-5 0 5
O valor do erro aleatrio imprevisvel.

A repetitividade define a faixa dentro da qual

espera-se que o erro aleatrio esteja contido.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 19/67)

 Distribuio de probabilidade
uniforme ou retangular

1.2

probabilidade 1

Probabilidade (1/6)
0.8

0.6

1/6 0.4

0.2

0
0 1 2 3 4 5 6 7
Valores
1 2 3 4 5 6
Lanamento de um dado

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 20/67)

 Distribuio de probabilidade
triangular
probabilidade (1/36)

1,0 1,5 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 4,5 5,0 5,5 6,0
Mdia de dois dados

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 21/67)

 Distribuio de probabilidade
triangular
7

6
Probabilidade (1/36)

5
4

3
2

0
0 1 2 3 4 5 6 7
Mdia de 2 dados

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 22/67)

 Lanamento de um dado
1.2

1
Probabilidade (1/6)

0.8

0.6

0.4

0.2

0
0 1 2 3 4 5 6 7
Valores

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 23/67)

 Mdia de dois dados
7

6
P rob a b ilid ade (1/36)

0
0 1 2 3 4 5 6 7

M di a d e 2 d ado s

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 24/67)

 Mdia de trs dados
30

25
P r o bab ilid ade (1/2 16)

20

15

10

0
0 1 2 3 4 5 6 7

M di a d e 3 d ado s

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 25/67)

 Mdia de quatro dados
16 0

14 0
P ro bab ilid a d e (1 /12 96)

12 0

10 0

80

60

40

20

0
0 1 2 3 4 5 6 7

M di a d e 4 d ado s

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 26/67)

 Mdia de seis dados
500 0
450 0
P ro b a bili dad e ( 1/ 466 56)

400 0
350 0
300 0
250 0
200 0
150 0
100 0
50 0
0
0 1 2 3 4 5 6 7

M di a d e 6 d ado s

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 27/67)

 Mdia de oito dados
160000
Probabilidade (1/1679616)

140000
120000
100000
80000
60000
40000
20000
0
0 1 2 3 4 5 6 7
Mdia de 8 dados

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 28/67)

 Teorema do sopo
Quanto mais
ingredientes
diferentes forem
misturados mesma
sopa, mais e mais o
seu gosto se
aproximar do gosto
nico, tpico e
inconfundvel do
"sopo".

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 29/67)

 Teorema central do limite
Quanto mais variveis aleatrias
forem combinadas, tanto mais o
comportamento da combinao se
aproximar do comportamento de
uma distribuio normal (ou
gaussiana).

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 30/67)

 Curva normal

pontos de inflexo
desvio padro

mdia

assntota assntota

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 31/67)
 Efeito do desvio padro

>>

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 32/67)
 Clculo e estimativa do
desvio padro

clculo exato: estimativa:

(da populao) (da amostra)
n n

i
( I I ) 2
i
( I I ) 2

lim i 1
s i 1
n n n 1

Ii i-sima indicao
I mdia das "n" indicaes
n nmero de medies repetitivas efetuadas
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 33/67)
 Incerteza padro (u)

medida da intensidade da componente

aleatria do erro de medio.
corresponde estimativa do desvio
padro da distribuio dos erros de
medio.
u=s
Graus de liberdade ():
corresponde ao nmero de medies
repetidas menos um.
=n-1
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 34/67)
 rea sobre a curva normal

95,45%

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 35/67)
 Estimativa da repetitividade
(para 95,45 % de probabildiade)

A repetitividade define a faixa dentro da qual,

para uma dada probabilidade, o erro aleatrio
esperado.

Para amostras infinitas: Para amostras finitas:

Re = 2 . Re = t . u

Sendo t o coeficiente de Student para = n - 1

graus de liberdade.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 36/67)

 Coeficiente t de Student

t t t t
1 13.968 10 2.284 19 2.140 80 2.032
2 4.527 11 2.255 20 2.133 90 2.028
3 3.307 12 2.231 25 2.105 100 2.025
4 2.869 13 2.212 30 2.087 150 2.017
5 2.649 14 2.195 35 2.074 200 2.013
6 2.517 15 2.181 40 2.064 1000 2.003
7 2.429 16 2.169 50 2.051 10000 2.000
8 2.366 17 2.158 60 2.043 100000 2.000
9 2.320 18 2.149 70 2.036 2.000

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 37/67)

 Exemplo de estimativa da
repetitividade
1014 g 12
1015 g
1017 g
i
( I 1015) 2

(1000,00 0,01) g
1012 g u i 1

1015 g 12 1
1 1018 g
u = 1,65 g
1014 g
1014
1015 g = 12 - 1 = 11
1016 g
1014
0g
g

1013 g t = 2,255
1016 g
1015 g Re = 2,255 . 1,65
mdia: 1015 g Re = 3,72 g
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 38/67)
 Exemplo de estimativa da
repetitividade

-3,72 1015 +3,72

1010 1015 1020

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 39/67)

 Efeitos da mdia de medies
repetidas sobre o erro de medio
Efeito sobre os erros sistemticos:
Como o erro sistemtico j o erro
mdio, nenhum efeito observado.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 40/67)

 Efeitos da mdia de medies
repetidas sobre o erro de medio
Efeitos sobre os erros aleatrios
A mdia reduz a intensidade dos erros
aleatrios, a repetitividade e a incerteza
padro na seguinte proporo:
ReI uI
ReI uI
n n
sendo:
n o nmero de medies utilizadas para calcular a
mdia

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 41/67)

 Exemplo
No problema anterior, a repetitividade da
balana foi calculada:

ReI = 3,72 g
Se vrias sries de 12 medies fossem
efetuadas, as mdias obtidas devem
apresentar repetitividade da ordem de:
3,72
Re I12 1,07 g
12
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 42/67)
 3.6
Curva de erros e erro mximo

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MCI
 Curva de erros
Td + Re
Td
erro Td - Re
Emx
15

1015 indicao

- Emx
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 44/67)
 Algumas definies
Curva de erros:
o grfico que representa a distribuio
dos erros sistemticos e aleatrios ao
longo da faixa de medio.
Erro mximo:
o maior valor em mdulo do erro que
pode ser cometido pelo sistema de
medio nas condies em que foi
avaliado.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 45/67)

 3.7
Representao grfica dos
erros de medio

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MCI
Sistema de medio perfeito
(indicao = VV)
indicao
960 980 1000 1020 1040

960 980 1000 1020 1040

mensurando
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 48/67)
Sistema de medio com erro
sistemtico apenas
indicao
960 980 1000 1020 1040

+Es

960 980 1000 1020 1040

mensurando
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 49/67)
Sistema de medio com erros
aleatrios apenas
indicao Re

960 980 1000 1020 1040

960 980 1000 1020 1040

mensurando
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 50/67)
Sistema de medio com erros
sistemtico e aleatrio
indicao Re

960 980 1000 1020 1040

+Es

960 980 1000 1020 1040

mensurando
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 51/67)
 3.8
Erro ou incerteza?

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MCI
 Erro ou incerteza?
Erro de medio:
o nmero que resulta da diferena entre
a indicao de um sistema de medio e o
valor verdadeiro do mensurando.
Incerteza de medio:
o parmetro, associado ao resultado de
uma medio, que caracteriza a faixa dos
valores que podem fundamentadamente
ser atribudos ao mensurando.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 53/67)

 3.9
Fontes de erros

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MCI
 Fontes de erros:
fatores externos
operador

sistema de medio
sinal de
medio indicao
fatores
internos
retroao retroao

mensurando
fatores externos

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 55/67)

 Erros provocados por fatores
internos
Imperfeies dos componentes e
conjuntos (mecnicos, eltricos etc).
No idealidades dos princpios fsicos.

alongamento

fora
regio linear regio no linear

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 56/67)

 Erros provocados por fatores
externos
Condies ambientais
temperatura
presso atmosfrica
umidade
Tenso e freqncia da rede eltrica
Contaminaes

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 57/67)

Erros provocados por retroao
A presena do sistema de
medio modifica o
mensurando.

65 C
20 C

70 C 65 C

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 58/67)

Erros induzidos pelo operador
Habilidade
Acuidade visual
Tcnica de medio
Cuidados em geral
Fora de medio

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 59/67)

 Dilatao trmica
Propriedade dos materiais modificarem
suas dimenses em funo da variao
da temperatura.

b b' b = b' - b
c = c' - c
c
c' b = . T . b
c = . T . c

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 60/67)

 Temperatura de referncia
Por conveno, 20 C a
temperatura de referncia para a
metrologia dimensional.
Os desenhos e especificaes
sempre se referem s caractersticas
que as peas apresentariam a 20 C.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 61/67)

 Dilatao trmica:
distintos coeficientes de expanso trmica

I = 40,0
I = 44,0 >
I = 38,0

20C 40C 10C

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 62/67)

 Dilatao trmica:
mesmos coeficientes de expanso trmica

I = 40,0 I = 40,0 =
I = 40,0

20C 40C 10C

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 63/67)

 Dilatao trmica:
Ce

Sabendo que a
20C
Ci = Ce
=

Qual a resposta
Ci certa a 40C?

(a) Ci < Ce
(b) Ci = Ce

(c) Ci > Ce

(d) NRA

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 64/67)

 Dilatao trmica:

(a) Ci < Ce
(b) Ci = Ce

(c) Ci > Ce

(d) NRA

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 65/67)

 Micrmetro

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 66/67)

 Correo devido
dilatao trmica

SM Pea a medir Correo devido temperatura

Mat Temp. Mat Temp.
A 20 C A 20 C C=0
A TSM 20 C A TP = TSM C=0
A TSM A TSM TP C = A . L . (TSM - TP)
A 20 C B 20 C C=0
A TSM 20 C B TSM = TP C = (A - B). (TSM - 20C) . L
A TSM B TSM TP C = [A . (TSM - 20C) - B . (TP - 20C)] . L

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 67/67)