DIFRACCIN DE RAYOS X

Ronald RS
Javier OM

QUE SON LOS RAYOS X ?

Es radiacin electromagntica con longitudes de onda entre (0.01 y 10) nm y energas

entre 100eV y 100keV, Debido a su capacidad de penetracin, los rayos x son
ampliamente utilizados para la generar una imagen del interior de objetos, por ejemplo,
en radiografa mdica , seguridad, y dado que las longitudes de onda de rayos X son
similares al tamao de los tomos son tiles tambin para determinar las estructuras
cristalinas por cristalografa de rayos X .

DESCUBRIMIENTO DE LOS RAYOS X

Wilhelm Conrad Rentgen descubri los
Rayos X el 8 de Noviembre de 1895, en
la Universidad de Wurzburg, Alemania.
Rentgen us electrones para bombardear
gases inertes en tubos y descubri que
que el papel fotogrfco se haba
expuesto
a una radiacin
desconocida X.

El demostr que los rayos X viajan en lneas rectas y son muy penetrantes. Recibi el primer
premio Nobel de Fsica en 1901 por su descubrimiento, donando el dinero del premio (cerca de
$40,000) a la Universidad de Wurzburg.

DIFRACCIN DE RAYOS X
La difraccin es junto con la interferencia un fenmeno tpicamente ondulatorio. La difraccin
se observa cuando se distorsiona una onda por un obstculo cuyas dimensiones son
comparables a la longitud de onda. Este fenmeno es caracterstico de todo tipo de ondas
y genera una propagacin no rectilnea de la onda.

La difraccin de las ondas

electromagnticas se produce porque
los elementos de una rejilla, absorben
la radiacin y actan a su vez como
fuentes secundarias reemitiendo la
radiacin en todas direcciones.

En 1914 a Max von Laue le concedieron el premio Nobel por su descubrimiento de la difraccin de
rayos X en cristales. Un ao ms tarde, William H. Bragg y William L. Bragg (padre e hijo) compartieron
el premio Nobel de 1915 por usar la difraccin de rayos X para determinar cmo estn posicionados los
tomos de un compuesto en relacin con otro.
Cuando hacemos incidir un haz de rayos X sobre un
cristal, ste choca con los tomos haciendo que los
electrones que se encuentren en su trayectoria
vibren con una frecuencia idntica a la de la
radiacin incidente. Estos electrones actan como
fuentes secundarias de nuevos frentes de onda de
rayos X con la misma longitud de onda y frecuencia

POLICRISTAL

Difraccin
de rayos
x
MONOCRISTAL

APLICACIONES DE LA DIFRACCIN
POLICRISTALINA
El uso ms generalizado de difraccin de polvo es en la identificacin y caracterizacin de
los slidos cristalinos, cada uno de los cuales produce un patrn distintivo de
difraccin. Tanto las posiciones (correspondientes a espaciamientos de red) y la intensidad
relativa de las lneas en un patrn de difraccin son indicativos de una fase y material
particular, proporcionando una "huella digital" para la comparacin. Una mezcla de mltiples
fases, por ejemplo, una muestra de suelo, se mostrar ms de un patrn superpuesto, lo que
permite la determinacin de las concentraciones relativas de fases en la mezcla.

Identificacin de minerales

Parmetros de la red cristalina

Caracterizacin de tomos (suele presentar inconvenientes)

Anlisis de suelos

DIFRACCIN MONOCRISTALINA

Es una tcnica mucho mas potente, ya que adems de permitirnos conocer lo mismo
que nos da la difraccin en polvo esta da la posibilidad de conocer las pociones de cada
uno de los tomos presentes en l cristal y por ende la determinacin estructural de la
muestra problema. En pases como USA y algunos europeos la difraccin de rayos x
se extiende a la industria farmacutica donde cada uno los
productos se debe caracterizar por este mtodo para la
aprobacin de calidad, en Brasil este requisito esta en
debate.

Posiciones espaciales

Longitudes de enlace

Planos y ngulos

DIFRACTMETROS
DE RAYOS X

DIFRACTMETRO DE POLICRISTAL

DIFRACTMETRO DE MONOCRISTAL

FUENTES DE RAYOS X

TUBO DE RAYOS X

RADIACIN SINCROTRN

El ILL (Institut Laue-Langevin)

DETECTORES

Las tcnicas usadas para medir los ngulos y la intensidad

de los haces de difraccin han evolucionado a lo largo del
tiempo. En el primer experimento de difraccin, Friedrich y
Knipping (1912) usaron una pelcula sensible a los rayos X,
pero incluso en el mismo ao, Bragg us una cmara de
ionizacin montada sobre un brazo rotatorio que, en general,
determinaba con ms precisin los ngulos y las intensidades
de difraccin. Sin embargo, la pelcula represent la ventaja
de poder impresionar muchos haces difractados a la vez, y
as durante los primeros aos de la Cristalografa estructural
(desde 1920 hasta 1970) se hizo uso extensivo de los
mtodos fotogrficos, y entre ellos se deben destacar los
mtodos de Laue, Weissenberg. A partir de mediados de la
dcada de 1970, los mtodos fotogrficos fueron
paulatinamente reemplazados por mtodos goniomtricos
acoplados a detectores puntuales y posteriormente stos
ltimos han sido reemplazados por detectores de

MONOCROMADOR

Un monocromador puede utilizar cualquiera de los fenmenos de refraccin, por ejemplo

utilizando un prisma; o de difraccin, utilizando una red de difraccin; para separar
espacialmente los diferentes colores de la luz. Usualmente el monocromador cuenta con
un mecanismo que permite dirigir el color seleccionado hacia una ranura de salida, por
donde el rayo de luz monocromtico puede abandonar el dispositivo.

En el caso de la difraccin de rayos x el monocromador mas usado es el de berilio el

cual absorbe los rayos x de menor energa (blandos) .

TOMA Y ANLISIS DE
DATOS

DIFRACCIN DE POLVO O POLICRISTALINA

DIFRACCIN DE MONOCRISTAL

DETERMINACION
ESTRUCTURAL POR
DIFRACCIN DE RAYOS X
DE MONOCRISTAL