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CARATTERIZZAZIONE E

MODELLIZZAZIONE ELETTRICA
DI CELLE FOTOVOLTAICHE
ORGANICHE
Laurea Triennale in Ingegneria dellInformazione

curriculum elettronica

MARCO DELISE
ANTONIO BOSCOLO
Laureando:

Relatore:

Anno Accademico 2010-2011

IL FOTOVOLTAICO
CELLE FOTOVOLTAICHE IN SILICIO:
- Grandi efficienze
- Grandi spese produzione => Grande costo
sul mercato
=> DIFFICOLTA A COMPETERE CON CARBONFOSSILI

2 STRADE POSSIBILI:
incrementare efficienza => - superficie
=> - costi
nuovi materiali fotogenerativi +
economici

FOTOVOLTAICO
ORGANICO
Costi di produzione bassissimi:
materiale organico in soluzione liquida => come industria
inchiostro

Sottili => supporti flessibili => variet applicazione


Bassa efficienza (6-8%)
Problemi durabilit ed instabilit a contatto con
ossigeno
RICERCA PER COMPRENDERE MEGLIO IL
FUNZIONAMENTO
E MIGLIORARE PRESTAZIONI

FUNZIONAMENTO
FISICO/CHIMICO
GIUNZIONE TRA 2 MATERIALI NELLA CELLA:

ACCETTORE

DO

1. ASSORBIMENTO FOTONE
2. GENERAZIONE ECCITONE
(coppia elettrone-lacuna)
3. DIFFUSIONE ECCITONE E
SEPARAZIONE CARICHE
ALLINTERFACCIA 2
MATERIALI
4. RACCOGLIMENTO CARICHE
AGLI ELETTRODI

CELLE SOLARI AD
ETEROGIUNZIONE
DISPERSA
Per aumentare superficie interfaccia donatore-accettore:
MISCELA DI 2 MATERIALI ORGANICI (D-A)
estesa

=> superficie frattale

STRUTTURA TIPICA:
ANODO(ITO)
PEDOT:PS
MATERIALE ATTIVO (BLEND
POLIMERICA)
CATODO (Al)

GRANDEZZE
CARATTERISTICHE:

CURVA I/V

- Tensione di circuito aperto


Voc
- Corrente di cortocircuito Isc
- Densit di corrente di
cortocircuito Jsc =
Isc/A
- Fill Factor (Fattore di merito)
FF%
-

Efficienza (PCE)

CIRCUITO
EQUIVALENTE

CIRCUITO EQUIVALENTE

DIAGRAMMA NYQUIST

PROGRAMMA
DELLA TESI
COSTRUZIONE CELLE ORGANICHE P3HT-PCBM (le
pi studiate)

con

DIVERSI SPESSORI 150250nm

CARATTERIZZAZIONE/MODELLIZZAZIONE:
- CURVE I/V
- DIAGRAMMI DI NYQUIST => CIRCUITO
EQUIVALENTE
CONFRONTO VALORI
RICERCA RELAZIONI PRESTAZIONI/SPESSORE

COSTRUZIONE
DELLE CELLE

DEPOSITAZIONE
BLEND

Preparazione supporto vetro-ITO:

etching, ritaglio, numerazione e pulitura


Preparazione della blend:
P3HT:PCBM (1:1) 40mg/ml in ODCB
Depositazione blend:
taratura per diversi
spessori)

SPIN-COATING ( -> retta di

ELETTRODI E
SIGILLATURA
Trattamento termico (ANNEALING)
Rimozione strisce blend per elettrodi
Elettrodi Al:
- posizionamento mascherina
- EVAPORAZIONE alluminio (PVD)
SIGILLATURA

CELLE RISULTANTI

37 CELLE CREATE

CARATTERIZZAZIO
NE E
MODELLIZZAZION
E

PROBLEMA
CONTATTI

Necessit CONTATTATURA STANDARD:


rovinabili

elettrodi di alluminio sottili =>

saldatura contatti (non possibile)

supporto con graffette (non saldo)

prime

22 celle

contatti a coccodrillo (rischio Al)


carbontape (troppo resistivo)
pin fissati + vernice conduttiva

CURVE I/V
Keithley 2400 Sourcemeter (+ LabView):
INTERVALLO: [-1;1] V
BUIO: scatola oscuratrice
50.5cm

STEP: 100mV
LUCE: lampadina 60W, rete, distanza

USCITA: V
ENTRATA: I
elettrodo

MEDIA DI 3 MISURE ogni

FIGURE DI MERITO:
(=> Jsc)

Voc

Isc

FF

ANALISI
IMPEDENZA

Impedance Analyzer 4192A (+ LabView):

INTERVALLO: [7-100K]Hz scala logaritmica (5 pti/dec)


0V
BUIO: scatola oscuratrice
50.5cm
RILEVATE LUCE
RILEVATE BUIO
ogni elettrodo

BIAS:

LUCE: lampadina 60W, rete, distanza


MEDIA DI 3 MISURE
MEDIA DI 3 MISURE
..

MODELLIZZAZION
E

IMPEDANCE ANALYZER: CIRCUITO-SERIE

MODELLIZZAZION
E: Rp

MODELLIZZAZION
E: Cp

ALTRE MISURE
Misura Area Attiva :

ogni elettrodo

Scanner -> conto pixels (Gimp 2)

(in base a parametro noto)

Misura Spessore :

ogni cella

taglio -> Profilometro Alfa Tencor


MEDIA DI3 MISURE RILEVATE

VALORE DERIVATO
DA Cp: r

VALORE DERIVATO
DA Rp:

CONFRONTO
VALORI

IPOTESI
NECCESSARIE
- Misura spessore valida per tutta la cella
- Condizioni ambientali/Procedure mantenute costanti
=> blend uguale per concentrazione, purezza e trattamento
ricevuto

- Intensit luminosa costante durante misurazioni


- Riscaldamento indotto nella cella costante
- Contattatura simile
POSSO FARE MEDIE: tra i 2 elettrodi (=> valori validi x
cella)
POSSO FARE CONFRONTO TRA LE CELLE RISPETTO
SPESSORE

CONFRONTO
LUCE/BUIO:

DIAGRAMMA DI NYQUIST

BLU: buio
ROSSO: luce

CONFRONTO
LUCE/BUIO: Rp e Cp
BLU: buio

Rp

Cp

ROSSO: luce

Luce: molta + corrente

Luce: + cariche che si

accumulano allinte

CONFRONTO TRA
CELLE:

necessit di normalizzare
Dipendenza Rp e Cp dalla sezione dello strato attivo
(variabile da elettrodo ad elettrodo)

ALLAREA

NORMALIZZAZIONE RISPETTO
PER ATTUARE IL CONFRONTO

SPESSORE

RISPETTO AL SOLO

Rp*A

Cp/A

CONFRONTO TRA
CELLE:
diagrammi di Nyquist
normalizzati

CONFRONTO TRA
CELLE:
Rp*A

CONFRONTO TRA
CELLE:
Cp/A

OSSERVAZIONI
Rp*A:

PIU GRANDI PER SPESSORI GRANDI (in teoria)

costante!
Cp/A:

costante!

NON AVVIENE!

=> non

PIU PICCOLA PER SPESSORI GRANDI (in teoria)

NON AVVIENE!

=> non

BLEND NON OMOGENEE NELLE CELLE

CONFRONTO
CELLE:
conduttivit

CONFRONTO
CELLE:

costante dielettrica relativa


r

RICERCA DI
RELAZIONI

TABELLE
RIASSUNTIVE:

caratt. geometriche e
dimpedenza

TABELLE
RIASSUNTIVE:
figure di merito

(* Energia luminosa incidente alla cella non misurabile => il valore rispetto a
=> numero interessa solo per il confronto, non in assoluto

FIGURE DI
MERITO
vs SPESSORE

- Voc pressoch indifferente a variazioni di spessore


- Jsc cresce in modulo con spessori pi grandi, plateau

FIGURE DI
MERITO
vs SPESSORE

- FF indifferente a variazioni di spessore


- Efficienza disposta in modo abbastanza casuale

ALTRE RELAZIONI
Voc cresce al crescere di Rp*A

Efficienza cresce al crescere di Rp*A

OSSERVAZIONI E
CONCLUSIONI

- Ipotesi forti per effettuare confronto (e => ricerca


relazioni)
- Pochi dati disponibili (5 celle finali considerate)
- Grande dispersione dei valori rilevati

=>

necessit:

creazione celle

- standardizzazione procedura di
- numero elevato di campioni