RAYOS X:

Los Rayos X se descubrieron en 1895 por el fsico alemn

Rntgen y recibieron ese nombre porque se desconoca su
naturaleza en ese momento. A diferencia de la luz ordinaria,
esa radiacin era invisible pero viajaba en lnea recta y
ennegreca las pelculas fotogrficas de manera similar a
como lo haca la luz. Sin embargo, esa radiacin era mucho
ms penetrante que la luz y poda atravesar el cuerpo
humano, la madera, piezas delgadas de metal, etc.

Qu es la difraccin de Rayos X?

La difraccin es un fenmeno caracterstico

de las ondas, que consiste en la dispersin
de las ondas cuando se interaccionan con
un objeto ordenado. Ocurre en todo tipo de
ondas, desde las sonoras, hasta las ondas
electromagnticas como la luz, y tambin
los rayos X.

William Henry Bragg (1862-1942) y su hijo William Lawrence

Bragg (1890-1971) descubrieron que los rayos difractados en una
muestra empezaron a dar resultados con respecto a la resolucin
de las estructuras de los cristales. La porcin del espectro
electromagntico que est entre la luz ultravioleta y la radiacin
es llamada la regin de Rayos X.

Ley de Bragg

Laley de Braggpermite estudiar las direcciones en las que la

difraccinderayos Xsobre la superficie de uncristalproduce
interferencias constructivas, dado que permite predecir los
ngulos en los que los rayos X son difractados por un material
con estructura atmica peridica (materiales cristalinos).

La difraccin (de los rayos X) es el fenmeno fsico a travs del cual se

manifiesta la interaccin fundamental de los rayos X con los cristales
(materia ordenada).

La intensidad del haz difractado depende de:

a)La intensidad y la longitud de onda del haz incidente.

b)La estructura del cristal, es decir, del arreglo de los tomos en la celda
unitaria;
arreglo caracterizado que se conoce como factor de estructura.

c)El volumen de los cristales que difractan.

d)El ngulo de difraccin.

e)La absorcin de rayos X por el cristal.

f)El arreglo experimental utilizado

Factores de Dispersin:

Dispersin por efecto de los electrones.

Dispersin por el tomo.

Dispersin por la celda.

Factor de multiplicidad.

Factor de Lorentz y de Polarizacin.

Factor Temperatura

Mtodos de difraccin de Rayos X

En general, existen tresgrandes mtodos de difraccin de rayos X
utilizados, como lo son:

Mtodo de Laue.

Mtodo de movimiento o Rotacin total o parcial del cristal.

Mtodo del Polvo.

Difraccin de rayos-X con incidencia rasante:

Para la caracterizacin de pelculas delgadas es conveniente

utilizar la tcnica de difraccin de rayos X con ngulo rasante
(GIXRD)

Esta tcnica se caracteriza por ser no destructiva y con

sensibilidad superficial

DIFRACCIN DE RAYOS X:
rayos X de polvos:

Este mtodo tienen como

principal caracterstica que la
muestra del material a analizar
es pulverizada antes de ser
analizada

identificacin de las diferentes

fases cristalinas presentes en
una muestra

Capas orientadas:

consiste en dispersar de la
muestra en un solvente (agua o
acetona) y esparcirla en un
portaobjetos, la cual produce
una capa delgada al evaporarse
el solvente.

Aplicaciones:
Algunas de las aplicaciones ms
comunes:

Determinacin de la estructura de los materiales.

Determinacin de las composiciones y de los elementos

presentes en una estructura que se somete a estudio.

Determinacin de los cambios de fases en las estructuras.

Determinacin de esfuerzos residuales.