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ANTECEDENTES
1632- 1723 ANTON VAN LEEUWENHOCK Construy primeros
Microscopios pticos.
1924 LUIS DE BROGLIE Estableci el comportamiento dual de la materia
como onda-partcula ( = h/mv )
A principios de los aos 1930 se haba alcanzado el lmite terico para los
microscopios pticos, no consiguiendo stos aumentos superiores a 500X
o 1000X.
El microscopio electrnico de transmisin (TEM) fue el primer tipo de
microscopio electrnico desarrollado. Utiliza un haz de electrones en
lugar de luz para enfocar la muestra consiguiendo aumentos de 100,000X.
Fue desarrollado por Max Knoll y Ernst Ruska en Alemania en 1931.
Posteriormente, en 1942 se desarrolla el microscopio electrnico de barrido
(SEM).
1929-1942 M. KNOLL
electrnico.
microscopio
TIPOS DE MICROSCOPIOS
Microscopio
ptico Simple
Microscopio
ptico
Tipos de
microscopio
s
Microscopio
electrnico
Microscopio
ptico
Compuesto
Lupa
M.O. Normal
Campo oscuro
Contraste de fases
Fluorescencia
Transmisin
Barrido
Digital
Efecto tnel o cuntico
PODER DE OBSERVACIN
DEL MICROSCOPIO
minerales
PRIMER MICROSCOPIO
ELECTRONICO
Utiliz un haz de
electrones en
lugar de luz para
enfocar la
muestra.
Posteriormente, en
1942 se desarrolla
el microscopio
electrnico de
barrido (SEM).
Condensadores
Apertura
Detector
de energia
dispersiva
(SiLi)
Microscopio
ptico
Detector de
electrones
Muestra
Bomba
de vacio
Cristal
analizador
Detector
Microscopio
electrnico de
barrido
MICROSCOPIO
ELECTRNICO CON
MICROSONDA
Radiacin luminosa
SISTEMA OPTICO
Electrones secundarios
(imagen de la superficie de la muestra
con gran resolucin)
DETECTOR DE ELECTRONES
Radiacin Auger
Radiacinprimaria
deelectrones
(20 KeV)
Colisiones y transiciones
electrnicas
Choque elstico de electrones
incidentes con electrones de los
elementos constituyentes de la
muestra.
Los electrones incidentes son
retrodispersados. Los electrones
desplazados de la muestra
(secundarios) originan vacancia en su
nivel de energa.
La vacancia es ocupada por un
electrn de un nivel de mayor
energa. El salto origina una radiacin
X de energa y longitud de onda
caractersticas para ese salto y para
ese elemento.
Electrn
r etr o
dispersado
Electrn
incidente
Electrn
secundario
Rayos X
MICROSCOPIA ELECTRNICA
EN LA EVALUACIN DE LA EFICIENCIA DE
RETENCIN DE PARTCULAS ATRAPADAS EN
FILTRO MASSEG P-1201 DE 74 mm DE
DIAMETRO EN PISO DE CARGA DE PLOMO
DE FUNDICIN DE MINERALES DOE RUN
PER-LA OROYA
Calc
Alb
Qz
Mont
Diat
Calcite,
CaCO3
Albite, calcian,
(Na,Ca)Al(Si,Al)3O8
Quartz,
SiO2
SiO2.nH2O
SiO2 81.31%
Al2O3 2.09%
Fe2O3 1.20%
CaO 2.46%
MgO 1.75%
Na2O 0.67%
K2O 0.80%
Prdida por ignicin
9.51%
80 m
Microfotografa N 3 - Microscopio de polarizacin
Se observa una valva circular completa perteneciente al Orden de
"Biddulphiales (Centrales)" y al Gnero "Coscinodiscus". La valva tiene la
superficie con ornamentacin caracterizada por poros distribuidas por
sectores y con un anillo de procesos labiales.
35 m
100 m
250
Pd
Pt
Rh Ir
Au
Espectro de metales preciosos en platino nativo
Lab. Espectrometra - FIGMM- UNI
Pt
Pt,Fe
Pt
Zr
Element Wt %,
At %
FeK
9.11
PtL
90.89
Total, 100
25.93
74.07
100
Element
SK
PdL
PtL
Total
Wt %
14.66
4.33
81.02
100
At %
50.06
4.45
45.48
100
Element
OK
SiK
ZrL
Total
Wt %
21.53
19.06
59.41
100
At %
50.29
25.36
24.34
100