Controle Estatstico da Qualidade

Jacinto Ponte Jnior

Jacinto Ponte Jnior

Engenheiro civil UFC

Mestre em Engenharia UFRGS
Doutor em engenharia UFRGS
Quality Engineer ASQ-USA
Reliability Engineer ASQ USA
Lead Assessor- P-E-Batalas -UK

Programa

Conceitos Bsicos de Probabilidade e Estatstica

Distribuio de Probabilidades
Causas de Variao
Grficos de Controle
Estabilidade de Processos
Capacidade e Capabilidade de Processo
Exerccios

Conceitos de Probabilidade e Estatstica

Populao:
a totalidade dos elementos de um universo sobre o qual
desejamos conhecer e estabelecer concluses para a
tomada de ao
Amostra:
um subconjunto de elementos extrados de uma
populao

Trabalho de Inferncia Estatstica

Populao

Tomada de
deciso

Concluses sobre a populao

Amostra
Caracterizao da amostra

Anlise

Caracterizao da amostra
Medidas de Tendncia Central
Mdia
Moda
Mediana

Medidas de Variao
Amplitude
Desvio Padro
Varincia

Medidas de Tendncia Central

Mdia aritmtica da amostra: X = Xi / n
n : Tamanho da amostra
Xi : valores individuais de cada item da amostra
Mdia populacional ( ) : = Xi / N
N: Tamanho da populao
Xi : Valores individuais dos elementos da populao

Medidas de Tendncia Central

Mediana : X = X

( n+1 ) / 2

n: o tamanho da amostra
Moda : Mo = Valor mais freqente

Medidas de Variao
Amplitude ( R ): R = Xmax - Xmin
Xmax : Valor mximo dentre os itens
da amostra
Xmin : Valor mnimo dentre os itens
da amostra
Desvio Padro da amostra ( S ) :
S= [ ( Xi - X )2 / ( n-1 ) ]1/2
Varincia da amostra ( S2 ):
S2 = ( Xi - X )2 / ( n-1 )

Medidas de Variao
Desvio Padro da populao
():

= [ ( Xi - )2 / ( N ) ]1/2
Varincia da populao (

= ( Xi - )2 / ( N )

):

Grfico seqencial
Grfico seqencial

P re sso

800,0
600,0
400,0
200,0
0,0
0

10

20

30

40

Tempo/ periodo

50

60

Fontes de Variao
As variaes esto sempre presentes nos
processos
As variaes so provenientes de diversas fontes
como por exemplo os 6 M
mquinas , mtodo, materiais,meio ambiente,
medies, mo de obra

As variaes so inimigas da qualidade

A melhoria de um processo est ligada
reduo da variao

Causas especiais e causas

comuns de variao
Causas comuns : So causas inerentes aos processos,
esto sempre presentes nos processos. Em geral tem
origem nos diversos operadores, diversas mquinas
diversos mtodos etc; existentes nos processos.
Causas especiais : So causas eventuais e aparecem de
forma espordica nos processos. Em geral tem origem
em fatores isolados e algumas vezes so chamadas de
causas assinalveis.

Eliminao x Reduo
Os gerentes tem a responsabilidade de entender,
quantificar e reduzir as variaes devidas s
causas comuns
Melhorias

Os operadores tem a responsabilidade de

detectar e eliminar as variaes devidas s
causas especiais
Controle

Construo do Histograma
Determine o tamanho da amostra (n)
Estabelea o maior e o menor valor Xmax e Xmin.
Estabelea o nmero de classes(k)
K = n ou k = 1+3.3 log n, ou tabela.
Calcule o tamanho de classe (t) : t = ( Xmax - Xmin ) / k
Faa ajustes
Estabelea os intervalos de classes
Estabelea a freqncia de cada classe
Construa barras proporcionais s freqncias encontradas

Histograma
Freqncias

Valores

Histograma
Freqncias
LIE

LSE

Valores
Limite inferior de especificao

Limite superior de especificao

Distribuio Normal

A curva no tem incio nem fim

governada por dois parmetros (mdia e desvio padro)
simtrica em relao mdia
A rea sob a curva a probabilidade
: mdia
: desvio padro
x-
x: valor
z = -------z: varivel padro

z : mede o nmero de desvios padro do valor de interesse x at a

mdia

freqncia

Distribuio Normal
0,045
0,04
0,035
0,03
0,025
0,02
0,015
0,01
0,005
0
0

20

40

60

Valores x

80

100

Grficos de Controle
uma ferramenta estatstica que utilizada para
monitorar e controlar o processo.
Consiste em um grfico de linha ou seqencial que contem:

Uma linha central ( LC )

Um limite superior de controle ( LSC)

Um limite inferior de controle ( LIC ).

Grfico de Controle
LSC
LC
LIC

O Trabalho
Nvel operacional
- Conhecer o processo
- Atuar nas causas especiais
- Manter o processo estvel
Nvel gerencial
- Entender as variaes
- Reduzir as variaes (melhoramento)
- Buscar o valor alvo(centro,mximo,mnimo)
- Mudana de patamar

Processo Estvel
Processo estvel ou sob controle um processo
livre de causas especiais de variao
Num processo estvel s as causas comuns esto
presentes
A estabilidade condio necessria para se determinar
a capacidade e capabilidade do processo

Razes para estabilizar processos

Manter o desempenho
Evitar aumento de variaes
Fazer estimativas fidedignas sobre os
parmetros mdia e desvio padro
Conhecer a forma da distribuio
Ter consistncia nas tomadas de decises

Deteco da Instabilidade
necessrio averiguar a presena de causas especiais de
variao quando:
Pontos fora dos limites de controle
Seqncias de pontos consecutivos acima ou abaixo do valor
central
Seqncia de pontos consecutivos crescentes ou decrescentes
Ausncia de pontos no tero mdio
Pontos consecutivos prximos a linha central
Tendncias ou no aleatoriedade

Razes para a capacitao

Maior produtividade
Reduzir desperdcio
Reduzir custos
Atender as especificaes
Maior competitividade

Grficos de atributos
np - nmero de itens no conformes
p - frao defeituosa
c - nmero de no conformidades
u - no conformidades / unidade
No conformidade uma caracterstica de um item que
no atende aos requisitos especificados .
No conforme aquele item que tem uma ou mais no
conformidades

Grfico np
UTILIZAO: quando desejado controlar o nmero de itens
no conformes . necessrio tamanho da amostra constante.
Limites de Controle:
LSC= np + 3 np (1- p)
LC= np
LIC= np - 3 np ( 1 - p )
A capacidade do processo avaliada pelo valor mdio de np

Grfico p
UTILIZAO: quando necessrio controlar a
frao de itens no conformes. No exigido tamanho
da amostra constante.
Os grficos p e np se aplicam s mesmas situaes s
que o np necessita de tamanho de amostra constante . O
grfico p pode ser construdo com tamanho de amostra
constante ou no.

Grfico p
Limites de Controle:

np = n . p

LSC = p + 3 p( 1 -p ) / n
LC = p

p = np / n

LIC = p - 3 P( 1 -p ) / n
n = np / p
p = ( np1 + np2 + ......+npk) / ( n1 + n2 + n3 +.....nk )

Grfico c
Utilizao: quando necessrio controlar o nmero de no
conformidades.
exigido tamanho da amostra constante
Limites de controle:
LSC = c + 3 c
LC = c
LIC = c - 3 c

Grfico u
UTILIZAO: quando o tamanho da amostra no constante
e deseja-se controlar o numero de no conformidades por
unidade

Limites de controle:
LSC = u + 3 u / n
LC = u
LIC = u - 3 u / n

u=c/n
c=u.n
n=c/u

Grfico de variveis

OS PRINCIPAIS GRFICOS DE VARAVEIS SO:

Mdia e amplitude ( X - R )
Mdia e desvio padro ( X - S )
Mediana e amplitude ( X - R )
Valor individual e amplitude ( X - R )
Os grficos de variveis so construdos sempre aos
pares, um com medida de tendncia central e outro com
medida de disperso.

Grfico X- R
Limites de controle:
Grfico de mdias:
LSC = X + A2 R

LC = X
LIC = X - A2 R
Grfico de amplitude
LSC = D4 R

LC = R
LIC = D3 R

Tabela de fatores para uso de grficos por

variveis
n
A2
A6
D3
D4
d2
2
1,880 1,88 ---3,267 1,128
3
1,023 1,19 ---2,574 1,693
4
0,729 0,80 ---2,282 2,059
5
0,577 0,69 ---2,114 2,326
6
0,483 0,55 ---2,004 2,534
7
0,419 0,51 0,076 1,924 2,704
8
0,373 0,43 0,136 1,864 2,847

Estimativas de e

Quando os grficos mostram um processo sob controle

possvel estimar a mdia do processo e o desvio padro.

=X
= R / d2

Grfico dos valores individuais

Limites de controle:
Grfico de individuais
LSC = X + 3 R / d2

LC = X
LSC = X - 3 R / d2
Grfico de amplitudes
LSC = D4 R
LC = R
LIC = D3 R

Estimativas de e

Quando os grficos mostram um processo sob controle

possvel estimar a mdia do processo e o desvio padro.

=X
= R / d2

Grfico X- R
Limites de controle:
Grfico de mdias:
LSC = X + A6 R

LC = X
LIC = X - A6 R
Grfico de amplitude
LSC = D4 R

LC = R
LIC = D3 R

Estimativas de e

Quando os grficos mostram um processo sob controle

possvel estimar a mdia do processo e o desvio padro.

=X
= R / d2

Grfico X- S
Limites de controle:
Grfico de mdias:
LSC = X + A3 S

LC = X
LIC = X A3 S
Grfico de amplitude
LSC = B4 S

LC = S
LIC = B3 S

Estimativas de e

Quando os grficos mostram um processo sob controle

possvel estimar a mdia do processo e o desvio padro.

=X
= S / c2

Capacidade e Capabilidade
Capacidade medida pelo ndice de capacidade
CPk = mnimo { [( LSE - )/ ( 3 ) ] e [ ( - LIE) / (3 ) ] }

capabilidade medida pelo ndice de capabilidade

CP= ( LSE- LIE) / ( 6 )
Geralmente adota-se o seguinte valores de
referncia:

CPk 1,0
CP 1,0

Relao do Cpk e o ndice de defeituosos

Cpk
Faixa de sigmas
% ou ppm
0,33

+/- 1

31,74 %

0,67

+/- 2

4,56 %

1,00

+/- 3

0,27 %

1,33

+/- 4

60,00 ppm

1,67

+/- 5

0,57 ppm

2,00

+/- 6

0,002 ppm