Integrantes: Carolina Bolados Gonzalo Gavio Asignatura: Anlisis instrumental Profesora: Carmen Marn Fecha: 18/06/09

Los rayos X fueron descubiertos de forma accidental en 1895 por el fsico alemn Wilhelm Conrad Roentgen mientras estudiaba los rayos catdicos en un tubo de descarga gaseosa de alto voltaje. Roentgen vio que una pantalla de platinocianuro de bario, que casualmente estaba cerca, emita luz fluorescente siempre que funcionaba el tubo.

Tras realizar experimentos adicionales, determin que la fluorescencia se deba a una radiacin invisible ms penetrante que la radiacin ultravioleta. Roentgen llam a los rayos invisibles "rayos X" por su naturaleza desconocida. Posteriormente, los rayos X fueron tambin denominados rayos Roentgen en su honor

Los equipos que utilizan esta tcnica se basa en el fenmeno de absorcin, emisin, fluorescencia, difraccin y dispersin de la radiacin electromagntica. La cual en rayos x es de 0.1-25 amstrong

Existen distintas formas de obtener una fuente de radiacin de rayos x : 1) Por bombardeo de un blanco metlico ( nodo ) con un haz de electrones de elevada energa(cintica) este sistema consiste en un ctodo que emite electrones al aplicarle un elevado potencial, el nodo o blanco metlico emitiendo rayos x

2) Por una fuente secundaria que consiste en la exposicin de una sustancia a un haz primario de rayos x de manera que la sustancia genere un haz secundario de fluorescencia de rayos x, de esta manera se evita el espectro continuo de la fuente primaria y se trabaja solo con los espectros lineales de la fuente secundaria. 3) Utilizando una fuente radioactiva(generalmente istopos) cuya desintegracin genera una emisin de rayos x. La radiacin de fuentes primarias de rayos x es continua.

La muestra problema no tiene un recipiente determinado ya que la radiacin x afecta a los electrones de las capas mas internas del tomo del analito por lo tanto no afecta los enlaces, adems la radiacin x atraviesa totalmente a la muestra por esta razn no importa si el tomo del analito esta atmico o como una molcula, liquido , slido o gaseoso, los nicos limites los impone el instrumento y la tcnica que se este usando, ya sea absorcin o difraccin.

Las interferencias pueden afectar a la seal del analito, ya sea disminuyndola o reforzndola. Si la seal disminuye se esta hablando de que existe una interferencia de absorcin - Por parte de la partcula interferente- de la intensidad emitida por el analito. Si existe un aumento en la seal del analito se esta hablando de que la interferencia hace que el haz que pasa por ella rebote hacia la partcula del analito reforzando as su seal.

En rayos x al igual que en espectroscopia normal, existe la espectroscopia de rayos x como tal, en donde el selector de longitud es un filtro, existe tambin la espectrofotometria de rayos x en donde el selector de longitud de onda es un sistema monocromador, pero existe una tercera manera de seleccionar la longitud de onda y es atravs de la discriminacin de su energa( a mayor menor energa ). En el caso de los monocromadores, estos no son por prisma o redes, estos son por un cristal que dispersa la longitud de onda variando el ngulo de incidencia del haz de rayos x si el ngulo es menor a 10 no sirve debido a que el detector recibe demasiada energa y tampoco puede superar los 110 debido a que recibe muy poca, la seleccin de la longitud de onda esta dada por sen(x)=n/(2d) n orden de reflexin, d= distancia entre los planos del cristal x= ngulo de incidencia.

Los primeros detectores transformaban la seal en una imagen fotogrfica (mtodo que se usa aun pero en refraccin de rayos x ), ahora se usan detectores que transforman la seal en un impulso elctrico, estos son muy similares a las tcnicas de espectroscopia anteriores.

De recuento de fotones Detector de gas Contador de centelleo Detector de semiconductor

Consisten en detectores fotoelctricos que transforman cada fotn proveniente de la radiacin x (haz atenuado por el analito en el caso de absorcin o radiacin fluorescente en el caso de emisin por parte del analito) lo transforma en un impulso elctrico, todos los impulsos son contados por el aparato, estos detectores son usados para radiaciones x de poca frecuencia, generalmente en sistemas dispersvos de energa (los que no usan monocromador ). (Aqu se puede seleccionar la longitud de onda por discriminacin de la energa)

La radiacin x pasa atravs de un gas inerte el cual se ioniza por el paso de esta radiacin de alta energa, los electrones producidos producto de la ionizacin del gas viajan a un nodo y los catines a un ctodo, los cuales tienen una diferencia de potencial aplicada, esto genera una corriente que es detectada y medida.

Consiste en un cristal que es de yoduro de sodio o de talio en donde cuando incide el haz de rayos x, este cristal genera fotones producto de que presentan el fenmeno de fluorescencia, los cuales van a un tubo fotomultiplicador( el que tiene varios nodos .

Consiste en un cristal de silicio que aumenta su conductividad con el paso de radiacin x

A diferencia de espectroscopia atmica, en la espectroscopia de rayos x se ven afectados los electrones de niveles mas internos( en atmica se excitaban los mas externos, el electrn acelerado en la fuente primaria (ej.: por bombardeo de electrones) choca con los electrones de las capas ms internas de los tomos del nodo (blanco) o de la fuente secundaria(la especie que genera una radiacin fluorescente), al chocar saca un electrn de estas capas producindose una vacancia, la cual es tapada por los electrones de las capas ms externas, esta transicin de la capa mas externa a una mas interna genera radiacin x.

ahora si la transicin se produce de las capas no tan externas a la interna se llama radiacin de tipo K la cual tiene sus subdivisiones de acuerdo a los subnivles de energa, estas subdivisiones so K, K, K,

si la transicin ocurre de las capas mas externas a la capa interna, se llama transicin L la cual tiene las mismas subdivisiones de K. Aunque el numero de radiaciones caractersticas posibles para cada elemento es muy grande, muchas de ellas son muy pequeas ( hay muy poca probabilidad que se produzca la transicin electrnica que las origina) el numero de radiaciones que se registran es aun mas pequea debido a su mnima diferencia de energa.

los tomos deben tener los electrones suficientes para producir todas las capas necesarias de electrones. A un mayor numero atmico de la sustancia que se usa como fuente, mayor ser el voltaje que se debe aplicar a la fuente de radiacin, para producir un electrn con la energa necesaria para arrancar un electrn de este tomo y as producir la radiacin x que se utilizara.

No, solo un 1 % es utilizada en producir rayos x, el resto se disipa en forma de calor por esto se usa un sistema refrigerante en estas fuentes el cual generalmente es agua.

La longitud de onda mnima que se logre( la longitud mas energtica) depende del potencial que se aplique a la fuente primaria, en otra palabras, depende de la energa cintica que alcance el electrn que arranca el tomo a la sustancia que genera la radiacin x.

No , la difraccin de rayos x(desvo del ngulo del haz incidente producto de la geometra del analito) solo sirve para determinar estructuras tanto atmica como de sus cristales o granos del analito.

Dependen en gran parte del nmero de fotones captados por los detectores, y de esto depende las mediciones cuantitativas por estos mtodos.

La Difraccin de Rayos-X permite obtener informacin acerca de la estructura interna de un compuesto o material determinado. Con variadas aplicaciones, una de de las principales es la determinacin de la composicin mineralgica en forma cualitativa y cuantitativa sobre una muestra slida, metlica, en polvo, lquida o en cualquier otra forma.

Si podemos identificar la longitud de onda o energa de cada una de estas radiaciones caractersticas, podemos conocer los elementos que componen la muestra, y si podemos medir sus intensidades, podremos conocer sus respectivas concentraciones. La tcnica que se encargue de esta tarea recibe el nombre de espectrometra de fluorescencia de rayos X o, tambin, espectrometra de rayos X; los equipos instrumentales que se utilizan para este fin son los espectrmetros de fluorescencia de rayos X.

En la siguientes figura , se muestra el esquema de un espectrmetro de fluorescencia de rayos X clsico o espectrmetro de rayos X de dispersin de longitudes de onda, llamando as porque el espectro de fluorescencia policromtico emitido por la muestra al ser excitada por un haz de radiacin producido por un tubo de rayos X, es descompuesto en sus componentes monocromticas en funcin de sus longitudes de onda, al difractarse en un monocristal de espaciado conocido. El haz difractado para cada posicin angular del monocristal incide sobre un detector, generalmente un detector de gas proporcional de flujo o de centelleo, que convierte los fotones en impulsos elctricos

Del anlisis de estas longitudes de onda se puede conocer la composicin cualitativa de la muestra, mientras que la medida de su intensidad nos da la composicin cuantitativa.

Por medio de la Fluorescencia de Rayos-X es posible realizar el anlisis qumico elemental cualitativo, semicuantitativo y cuantitativo, desde el rango de ppm hasta 100% concentracin, en cualquier tipo de muestra slida, en polvo o lquida, incluyendo soluciones y muestras metlicas. Las ventajas de esta tcnica analtica son muchas, desde la facilidad en la preparacin de la muestra, alta precisin, reproducibilidad, y rapidez en el anlisis el cual permite obtener los resultados en cuestin de minutos.

Los rayos X son radiaciones electromagnticas cuya longitud de onda va desde unos 10 nm hasta 0,001 nm , devido a esta propiedad su utilizacion en el campo de investigacion a sido primordial permitiendo confirmar experimentalmente algunas teorias como la cristalograficas

. Utilizando mtodos de difraccin de rayos X es posible identificar las sustancias cristalinas y determinar su estructura. Casi todos los conocimientos actuales en este campo se han obtenido o verificado mediante anlisis con rayos X.

Los mtodos de difraccin de rayos X tambin pueden aplicarse a sustancias pulverizadas que, sin ser cristalinas, presentan alguna regularidad en su estructura molecular. Mediante estos mtodos es posible identificar sustancias qumicas y determinar el tamao de partculas ultramicroscpicas.

Los elementos qumicos y sus istopos pueden identificarse mediante espectroscopia de rayos X, que determina las longitudes de onda de sus espectros de lneas caractersticos. Varios elementos fueron descubiertos mediante el anlisis de espectros de rayos X

Muchas de las ventajas de esta tcnica se derivan de la relativa simplicidad del espectro de emisin de rayos X. En general, cada elemento tiene unas pocas lneas (serie K: 2-3, L: 8-12, M: 2-6), muchas de las cuales son de intensidad muy baja, y adems cada serie aparece en zonas de longitud de onda muy diferentes y localizadas

Bibliografa: http://www.textoscientificos.com/quimica/es pectroscopia/rayos-x http://www.sax.cl/