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11
Confiabilidade de Processos
de Medio na Indstria
Fundamentos da Metrologia
Cientfica e Industrial
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 2/64)
Motivao
PRODUTO COM
BOA QUALIDADE
PROCESSO DE PRODUO
Mquina Mo de Obra
Mtodo Material
Meio
Ambiente
PROCESSO DE MEDIO
Sistema de
Medio
Mo de Obra
Mtodo
Mensurando
Meio
Ambiente
MEDIES COM
BOA QUALIDADE
1752,124
0,0125
124,12

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 3/64)
Medies na Indstria
Ocorrem em condies bem menos controladas
que na calibrao.
Devem fornecer resultados confiveis.
Atravs de ferramentas estatsticas possvel
verificar a confiabilidade das medies nas
condies de produo.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 4/64)
Medies na Indstria
Os resultados obtidos nessas anlises so teis:
Como critrio de aceitao de novos SM.
Para comparar diferentes SM nas condies de
uso.
Para investigar um SM sob suspeita de mau
funcionamento.
Para comparar o desempenho do mesmo SM
antes e aps uma ajustagem ou regulagem.
Para avaliar os potenciais riscos de erros de
classificao no CQ usando um SM.
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11.1
Recomendaes de Normas de
Garantia da Qualidade
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 6/64)
Normas de Garantia da Qualidade
ISO 9001: IM deve ser conhecida e
compatvel com exigncias.
ISO 10012: necessria anlise ampla de
incertezas.
ISO 14253-1: IM deve ser considerada para
verificao de conformidade.
QS 9000: define os requisitos de
confiabilidade metrolgica atravs de anlises
de capacidade estatstica do processo de
medio.
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11.2
Variabilidade de Processos de
Produo e de Medio
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 8/64)
Variabilidade do Processo
Produtivo
Projetado Executado
META
Processo
Mquina Mo de Obra
Material
Meio
Ambiente
Mtodo
TENDNCIA E
VARINCIA

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 9/64)
Processo sob
Controle Estatstico
Um processo est sob controle
estatstico quando suas variaes
naturais so estveis e se situam dentro
de limites previsveis.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 10/64)
Capacidade de um Processo
Um processo dito capaz quando est
sob controle estatstico e produz dentro
das tolerncias de projeto.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 11/64)
Tolerncia Tolerncia
Tolerncia
Semana 1
Semana 2
Semana 3
Semana ...
Semana 1
Semana 2
Semana 3
Semana ...
Semana 1
Semana 2
Semana 3
Semana ...
Tolerncia
Semana 1
Semana 2
Semana 3
Semana ...
Capaz
No
Capaz
Sob controle Fora de controle

Capacidade e
Controle Estatstico
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 12/64)
CEP
Grficos da Mdia e Amplitude
Mdia
Amplitude (mx mn)
n Peas
medidas
Variao comum
Variao especial
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 13/64)
Influncia da incerteza de medio na
capacidade do processo
FABRICAO
X X
Como os produtos
realmente so:
MEDIES
Incerteza das
Medi es
X X
Como a medi o
os enxerga
Sistema de Medio Operador Mensurando
Procedimento Ambiente
G0
G1
X70 Y90 Z40
X80 Y90 Z40
X80 Y78 Z47

X80 Y90 Z40
X80 Y78 Z47
G0
G1
X70 Y90 Z40
X80 Y90 Z40
X80 Y78 Z47

X80 Y90 Z40
X80 Y78 Z47
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 14/64)
Caractersticas de Processo de
Medio Adequado
Deve ser capaz de identificar pequenas variaes
nas caractersticas medidas nos produtos;
A variabilidade do processo de medio (erros
aleatrios) deve ser pequena quando comparada
com a variabilidade do processo produtivo e com
os limites de especificao das tolerncias do
produto;
O processo de medio deve estar sob controle
estatstico, o que significa que as variaes do
processo de medio so devidas somente s
causas comuns e no s especiais.
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11.3
Parmetros Utilizados na Anlise
Estatstica dos Processos de
Medio
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 16/64)
1. Tendncia
Diferena entre a mdia das indicaes
obtidas de um processo de medio e um
valor de referncia.
Valor de Valor de
Referncia Referncia
Tendncia Tendncia
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 17/64)
2. Repetitividade
Faixa dentro da qual as indicaes do
processo de medio so esperadas para um
mesmo operador em condies operacionais
idnticas.
Repetitividade Repetitividade
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 18/64)
3. Reprodutibilidade
Faixa dentro da qual as indicaes do
processo de medio so esperadas quando
so envolvidos diferentes operadores nas
condies operacionais naturais do processo
de medio.
Reprodutibilidade Reprodutibilidade
Operador 1 Operador 1
Operador 2 Operador 2
Operador 3 Operador 3
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 19/64)
4. Estabilidade
Capacidade do sistema de medio em
manter suas caractersticas estatsticas ao
longo do tempo. Corresponde faixa de
variao da tendncia ao longo do tempo.

Estabilidade Estabilidade
Momento 1 Momento 1
Momento 2 Momento 2
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 20/64)
5. Desvio Linear da Tendncia
Est associado forma como varia a
tendncia em funo do valor da
indicao. Corresponde inclinao da
reta da figura. Ser nulo se o valor da
tendncia no varia significativamente ao
longo da faixa de medio.

Faixa de Faixa de
Medio Medio
Tendncia Tendncia
Variao da Variao da
tendncia tendncia
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11.4
Avaliao Experimental de
Processos de Medio
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 22/64)
Condies para Avaliao
O melhor local para avaliar o
desempenho de um processo de
medio destinado a controlar um dado
processo produtivo no prprio processo
produtivo.
Por meio de mtodos estatsticos
possvel inferir vrias caractersticas que
espelham o desempenho do processo de
medio.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 23/64)
Ensaios de Avaliao
1. Avaliao da Capacidade de Processos
de Medio.
2. Ensaio de estabilidade de longo prazo.
3. Ensaio de estabilidade de curto prazo.
4. Ensaio de Desvio Linear da Tendncia.
5. Ensaio de Repetitividade.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 24/64)
Ensaios de Avaliao
6. Ensaio de Reprodutibilidade.
7. Anlise da variao pea a pea.
8. Anlise da variao total do processo.
9. Anlise do parmetro R&R.
10. Anlise de varincia.
11. Anlises com Recursos Grficos.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 25/64)
Preparao dos Ensaios
a) Planejamento dos ensaios:
- Delimitar parmetros e abrangncia.
b) Seleo das amostras:
- Representativas do processo.
- Devem ser numeradas.
c) Medio e registro:
- Procedimentos usuais da produo
adaptados para o tipo de teste.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 26/64)
1. Avaliao da Capacidade do
Processo de Medio
Diferentes nveis de capacidade de um
processo produtivo:
Tolerncia Tolerncia
Processo Processo
incapaz incapaz
Tolerncia Tolerncia Tolerncia Tolerncia
Processo Processo
capaz capaz
Processo Processo
muito capaz muito capaz
Disperso Disperso
do processo do processo

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 27/64)
ndices de Capacidade dos
Processos Produtivos:
Bilateral:
s
IT
C
p
. 6
=
Para processos no centrados:
|
.
|

\
|

=
s
x LST
s
LIT x
Min C
pk
. 3
,
. 3
C
p
e C
pk
> 1,33 => processo capaz
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 28/64)
Diferentes nveis de capacidade de um
processo de medio:
Incerteza admiss Incerteza admiss vel vel
Sistema de Sistema de
medi medi o incapaz o incapaz
Incerteza admiss Incerteza admiss vel vel Incerteza admiss Incerteza admiss vel vel
Sistema de Sistema de
medi medi o capaz o capaz
Sistema de medi Sistema de medi o o
muito capaz muito capaz
Medio de uma Pea de
Referncia
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 29/64)
ndices de Capacidade dos
Processos de Medio:
Bilateral:
Para processos no centrados:
C
g
e C
gk
> 1,33 => processo capaz
s
IM
C
adm
g
. 6
=
s
Td IM
C
adm
gk
. 3

=
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 30/64)
Avaliao da Capacidade do
Processo de Medio
Necessrio um mensurando com valor
de referncia bem conhecido:
Um padro com valor de referncia bem
conhecido ou
Um exemplar do produto cujo valor de
referncia tenha sido determinado por um
processo de medio melhor.
Medies repetidas so usadas para
avaliar a tendncia e disperso.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 31/64)
Padro medido
n vezes
Clculo da mdia e
desvio padro
Clculo do ndice
de capacidade C
gk
C
gk
> 1,33
Processo de medio
no capaz
no
Processo de medio
capaz
sim
tolerncia
Preparao e
documentao
- Descrio da amostra
- Descrio do SM
- Descrio do padro
- Descrio do procedimento
- Preparao do experimento
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 32/64)
Quando o processo de medio
incapaz, o que fazer?
Melhorar o procedimento de medio.
Calibrar e ajustar o sistema de medio.
Melhorar condies ambientais.
Treinar os operadores.
Selecionar SM similar, mas com incerteza melhor.
Mudar o mtodo de medio.
Utilizar um SM mais robusto.
Selecionar um SM que opere de forma
automatizada, sem interferncia do operador.
Selecionar SM com outro princpio de medio.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 33/64)
2. Avaliao da Estabilidade de
Longo Prazo
Pea
calibrada
Tendncia
Amplitude (mx mn)
Medida n vezes e
calculada a tendncia e
amplitude
PERIODICAMENTE:
Tempo

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 34/64)

Identificao de Causas
Especiais de Variao
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 35/64)
Interpretaes das cartas:
Valores elevados na carta de amplitudes
indicam que a incerteza do processo de
medio no boa. H fortes efeitos de
influncias aleatrias.
Instabilidades na carta das mdias indicam
que o processo de medio sofreu
mudanas que alteraram sua tendncia. H
fortes efeitos de influncias sistemticas.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 36/64)
3. Avaliao da Estabilidade de
Curto Prazo
Nem sempre h condies para realizar
ensaios de estabilidade de longo prazo.
A estabilidade de curto prazo pode ser
avaliada com base na amplitude dos
resultados de vrios operadores medindo
amostras da produo (no calibradas).
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 37/64)
Exemplo de avaliao da
estabilidade de curto prazo
Um experimento foi realizado com o objetivo de analisar
a estabilidade de curto prazo de um processo de medio.
Foram coletadas dez peas do processo produtivo, e dois
operadores foram envolvidos, cada um medindo cada
pea repetidamente por trs vezes. As peas possuem uma
tolerncia dimensional de 0,08 mm.
1 2 3 ...
Joo
Manoel
10
Processo
Peas
Dados

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 38/64)
Peas
Operadores
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Joo
Medio 1
20,010 20,003 20,018 20,011 20,012 20,016 20,008 20,013 20,012 20,005
Medio 2
20,012 20,004 20,016 20,012 20,013 20,014 20,007 20,011 20,014 20,006
Medio 3
20,011 20,006 20,017 20,010 20,010 20,014 20,008 20,010 20,012 20,007
Mdia
20,011 20,004 20,017 20,011 20,012 20,015 20,008 20,011 20,013 20,006
Amplitude
0,002 0,003 0,002 0,002 0,003 0,002 0,001 0,003 0,002 0,002
Manuel
Medio 1
20,011 20,003 20,015 20,013 20,014 20,014 20,004 20,010 20,014 20,004
Medio 2
20,011 20,003 20,015 20,011 20,015 20,013 20,005 20,014 20,013 20,003
Medio 3
20,010 20,005 20,017 20,011 20,012 20,015 20,007 20,011 20,011 20,006
Mdia
20,011 20,004 20,016 20,012 20,014 20,014 20,005 20,012 20,013 20,004
Amplitude
0,001 0,002 0,002 0,002 0,003 0,002 0,003 0,004 0,003 0,003
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 39/64)
Cartas da amplitude
Joo
0.006
0.000
0.002
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
LSC
R
LIC
Peas

Manoel
0.006
0.000
0.002
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
LSC
R
LIC
Peas

A anlise dessas cartas de controle no revela sinais de
instabilidade como pontos fora dos limites de controle ou
tendncias. Dessa forma, o processo de medio pode ser
considerado sob controle e com boa estabilidade de curto
prazo.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 40/64)
4. Ensaio de Desvio Linear da
Tendncia
Determina a componente linear da variao
da tendncia associada ao processo de
medio ao longo da faixa de medio.
formado por um conjunto de ensaios de
tendncia, realizados com padres de
diferentes dimenses.
O desvio linear de tendncia bem
determinado na calibrao. Com o uso,
tende a se modificar, diminuindo a eficcia
da correo.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 41/64)
Exemplo de Ensaio de Desvio
Linear da Tendncia

Peas calibradas cobrindo a faixa de
medio do sistema de medio
Valor de
referncia
Indicao
mdia
Tendncia
5,000 5,002 +0,002
10,500 10,508 +0,008
15,000 15,012 +0,012
20,500 20,521 +0,021
25,000 25,020 +0,020
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 42/64)
Exemplo de Ensaio de Desvio
Linear da Tendncia
Desvio Linear da Tendncia
y = 0,00092x - 0,00113
0
0,005
0,01
0,015
0,02
0,025
0 5 10 15 20 25 30
Valor de Referncia
T
e
n
d

n
c
i
a
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 43/64)
5. Ensaio de Repetitividade
Avalia a variabilidade natural do processo de
medio realizadas em condies
semelhantes.
Envolve medies repetidas da mesma
amostra, realizadas pelo mesmo operador, e
em um perodo de tempo curto.
comum que a amostra seja retirada e
reposicionada no sistema de medio entre
as medies repetidas.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 44/64)
5. Ensaio de Repetitividade
A repetitividade pode ser estimada a partir
do desvio padro das medies repetidas.
Alternativamente, podem ser estimada a
partir das amplitudes de medies repetidas
por:

2
Re
d
R
s =
R a amplitude mdia
d
2
uma constante (tabela 11.2)
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 45/64)
m
2 3 4 5 6 7 8 9 10












g
1 1,41 1,91 2,24 2,48 2,67 2,83 2,96 3,08 3,18
2 1,28 1,81 2,15 2,40 2,60 2,77 2,91 3,02 3,13
3 1,23 1,77 2,12 2,38 2,58 2,75 2,89 3,01 3,11
4 1,21 1,75 2,11 2,37 2,57 2,74 2,88 3,00 3,10
5 1,19 1,74 2,10 2,36 2,56 2,73 2,87 2,99 3,10
6 1,17 1,73 2,09 2,35 2,56 2,73 2,87 2,99 3,10
7 1,17 1,73 2,09 2,35 2,55 2,72 2,87 2,99 3,10
8 1,16 1,72 2,08 2,35 2,55 2,72 2,87 2,98 3,09
9 1,16 1,72 2,08 2,34 2,55 2,72 2,86 2,98 3,09
10 1,16 1,72 2,08 2,34 2,55 2,72 2,86 2,98 3,09
11 1,15 1,71 2,08 2,34 2,55 2,72 2,86 2,98 3,09
12 1,15 1,71 2,07 2,34 2,55 2,72 2,85 2,98 3,09
13 1,15 1,71 2,07 2,34 2,55 2,71 2,85 2,98 3,09
14 1,15 1,71 2,07 2,34 2,54 2,71 2,85 2,98 3,08
15 1,15 1,71 2,07 2,34 2,54 2,71 2,85 2,98 3,08
>15 1,128 1,693 2,059 2,326 2,534 2,704 2,847 2,970 3,078
m = nmero de ciclos g = nmero de amostras x nmero de operadores
d
2
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 46/64)
Exemplo de Ensaio de
Repetitividade
Foram realizadas trs medies por cada pea.
Dois operadores foram envolvidos e
Dez amostras (peas) foram medidas.
m = 3
g = 10 x 2 = 20.
Da tabela 11.2, d2 = 1,693.
A amplitude mdia 0,00235 mm.
00139 , 0
693 , 1
00235 , 0
d
R
s
2
Re
= = =
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 47/64)
Peas
Operadores
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Joo
Medio 1
20,010 20,003 20,018 20,011 20,012 20,016 20,008 20,013 20,012 20,005
Medio 2
20,012 20,004 20,016 20,012 20,013 20,014 20,007 20,011 20,014 20,006
Medio 3
20,011 20,006 20,017 20,010 20,010 20,014 20,008 20,010 20,012 20,007
Mdia
20,011 20,004 20,017 20,011 20,012 20,015 20,008 20,011 20,013 20,006
Amplitude
0,002 0,003 0,002 0,002 0,003 0,002 0,001 0,003 0,002 0,002
Manuel
Medio 1
20,011 20,003 20,015 20,013 20,014 20,014 20,004 20,010 20,014 20,004
Medio 2
20,011 20,003 20,015 20,011 20,015 20,013 20,005 20,014 20,013 20,003
Medio 3
20,010 20,005 20,017 20,011 20,012 20,015 20,007 20,011 20,011 20,006
Mdia
20,011 20,004 20,016 20,012 20,014 20,014 20,005 20,012 20,013 20,004
Amplitude
0,001 0,002 0,002 0,002 0,003 0,002 0,003 0,004 0,003 0,003
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 48/64)
Exemplo de Ensaio de
Repetitividade
Para este tipo de ensaio comum exprimir a
repetitividade para 99% de nvel de
confiana. Logo:
Re Re
s 5,152 s 2,576 * 2 Repe = =
mm 0,0072 0,00139 * 5,152 Repe = =
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 49/64)
6. Ensaio de Reprodutibilidade
Avalia a variabilidade natural do processo de
medio quando realizada em condies variadas
que espelham a realidade do processo de medio.
Envolve medies com distintos operadores e pode
envolver perodos de tempo mais longos e variaes
ambientais tpicas do processo de medio.
Se existe influncia significativa do operador, as
mdias globais das medies feitas por cada
operador sero significativamente diferentes.
A carta de controle das mdias usada.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 50/64)
6. Ensaio de Reprodutibilidade
A reprodutibilidade pode ser estimada a partir do
desvio padro da mistura das medies repetidas de
todos os operadores.
Alternativamente, podem ser estimada a partir da
diferena entre as mdias globais para cada
operador por:

2
OP
OP
d
R
s =
Mdia Menor - Mdia Maior R
OP
=
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 51/64)
6. Ensaio de Reprodutibilidade
De forma similar, comum exprimir a
reprodutividade com 99% de nvel de
confiana:
OP C
s 5,152 Repro =
A expresso acima est contaminada pela
repetitividade. Descontaminando, fica:
(

=
r n
) s (5,152
d
R
5,152 Repro
2
Re
2
2
OP
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 52/64)
Peas
Operadores
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Joo
Medio 1
20,010 20,003 20,018 20,011 20,012 20,016 20,008 20,013 20,012 20,005
Medio 2
20,012 20,004 20,016 20,012 20,013 20,014 20,007 20,011 20,014 20,006
Medio 3
20,011 20,006 20,017 20,010 20,010 20,014 20,008 20,010 20,012 20,007
Mdia
20,011 20,004 20,017 20,011 20,012 20,015 20,008 20,011 20,013 20,006
Amplitude
0,002 0,003 0,002 0,002 0,003 0,002 0,001 0,003 0,002 0,002
Manuel
Medio 1
20,011 20,003 20,015 20,013 20,014 20,014 20,004 20,010 20,014 20,004
Medio 2
20,011 20,003 20,015 20,011 20,015 20,013 20,005 20,014 20,013 20,003
Medio 3
20,010 20,005 20,017 20,011 20,012 20,015 20,007 20,011 20,011 20,006
Mdia
20,011 20,004 20,016 20,012 20,014 20,014 20,005 20,012 20,013 20,004
Amplitude
0,001 0,002 0,002 0,002 0,003 0,002 0,003 0,004 0,003 0,003
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 53/64)
Exemplo de Ensaio de
Reprodutibilidade
Mdias dos dois operadores em cada pea
20.013
20.008
20.010
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
LSC
LIC
X
Peas

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 54/64)
Exemplo de Ensaio de
Reprodutibilidade
Operador Mdia global
Joo 20,0107
Manuel 20,0103
mm 0,0004
20,0103 - 20,0107 R
OP
=
=
mm 0,00024
1,693
0,0004
s
OP
= =
000001 , 0
2 10
0,00139) (5,152
1,693
0,0004
5,152 Repro
2
2
=
(

=
mm 00000 , 0 Repro =
(a influncia do operador no
significativa sobre o processo de medio)
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 55/64)
7. Ensaio de Variao
Pea a Pea (VP)
A variao pea a pea pode ser estimada a partir
do desvio padro das mdias das diferentes peas.
Alternativamente, podem ser estimada a partir da
amplitude entre peas (diferena entre a maior das
mdias e a menor das mdias) por:
2
P
P
d
R
s =
P
s P 152 , 5 V =
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 56/64)
Exemplo de Ensaio de Variao
Pea a Pea (VP)
Operadores
Peas
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Joo Mdia
20,011 20,004 20,017 20,011 20,012 20,015 20,008 20,011 20,013 20,006
Manuel Mdia
20,011 20,004 20,016 20,012 20,014 20,014 20,005 20,012 20,013 20,004
Mdia da pea
20,011
20,004 20,016 20,011 20,013 20,014 20,006 20,011 20,013 20,005
R
P
= 20,016 20,004 = 0,012 mm
mm 0,0071
1,693
0,012
s
P
= =
mm 0,036 0,0071 5,152 s 5,152 VP
P
= = =
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 57/64)
7. Ensaio de Variao
Pea a Pea (VP)
Avalia a variabilidade natural do processo de
fabricao pea a pea.
Analisa as variaes das mdias de medies
de distintas peas naturalmente extradas do
processo produtivo.
A carta de controle das mdias usada.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 58/64)
8. Anlise da Variao Total do
Processo
Avalia as variaes totais do processo.
Engloba as variaes do sistema de medio,
entre operadores e do processo de
fabricao.
calculado a partir das estimativas dos
desvios padro associados repetitividade
(s
Re
), reprodutibilidade (s
OP
) e do processo
de fabricao (s
P
).
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 59/64)
7. Ensaio de Variao
Pea a Pea (VP)
2
P
2
OP
2
Re T
s s s s + + =
T
s 5,152 VT =
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 60/64)
8. Avaliao do Parmetro R&R
Muito usada na indstria para verificar a
adequabilidade do processo de medio.
Resulta da combinao da repetitividade
com a reprodutibilidade.
Freqentemente considerada com a
variabilidade total da medio, excluindo a
variao devido prpria pea e a tendncia
do processo de medio.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 61/64)
8. Avaliao do Parmetro R&R
De forma absoluta, R&R calculado por:
2 2
Repro Repe R & R + =
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 62/64)
8. Avaliao do Parmetro R&R
mais comum exprimir o ndice R&R de forma
relativa como:
um percentual do intervalo de tolerncia do produto:
Um percentual da faixa de variao total do processo:
IT
R & R
100 R & %R
TOL
=
VT
R & R
100 R & %R
VT
=
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 63/64)
Interpretao do Parmetro R&R
%R&R Concluso
%R&R < 10% Processo de medio aceitvel
10% %R&R 30% Processo de medio pode ser aceitvel,
dependendo da importncia da aplicao,
custo do sistema de medio e dos custos
para obter melhorias.
%R&R > 30% Processo de medio no aceitvel e
precisa ser melhorado. Devem ser feitos
esforos para identificar os problemas e
minimiz-los.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 11 - (slide 64/64)
Exemplo de Avaliao do
Parmetro R&R
No exemplo do Manuel e Joo:

mm 0072 , 0 0 ) 0072 , 0 ( Repro Repe R & R
2 2 2 2
= + = + =
mm 0072 , 0 0 ) 0072 , 0 ( Repro Repe R & R
2 2 2 2
= + = + =
% 5 , 4
16 , 0
0072 , 0
100
IT
R & R
100 R & %R
TOL
= = =

% 9 , 18
038 , 0
0072 , 0
100
VT
R & R
100 R & %R
VT
= = =
Portanto, sob esses dois aspectos, o processo de
medio aceitvel para a tarefa de medio.

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