Programa de certificacin de Green Belts

V.D. Seis Sigma Control

P. Reyes / Octubre 2007

Fase de Control

Objetivos:

Mantener las mejoras por medio de control estadstico de procesos, Poka Yokes y trabajo estandarizado Anticipar mejoras futuras y preservar las lecciones aprendidas de este esfuerzo

Salidas:

Plan de control y mtodos de control implementados Capacitacin en los nuevos mtodos Documentacin completa y comunicacin de resultados, lecciones aprendidas y recomendaciones

F S D C NR L A E E O T O
S lu n s o cio e im le e ta a p mn d s P nd la e Cn l o tro C PE P ka Y ke o o s E na s st d re d tra a e b jo D cu e ta o mn r y C p cita aa r H rra ie ta e m n s La en

P n d ca a y M n re la e lid d o ito o

S i

ro so P ce e co tro n n l? N o T m ra o a ccio e co ctiva n s rre s y p ve tiva re n s A a rA E ctu liza M F

Metodologa Seis Sigma Fase de Control

1. Control Estadstico del Proceso 2. Implementar y validar soluciones 3. Plan de control

1. Control Estadstico del Proceso

Objetivos y beneficios

El CEP es una tcnica que permite aplicar el anlisis estadstico para medir, monitorear y controlar procesos por medio de cartas de control Se basa en que los procesos presentan variacin, aleatoria y asignable Entre los beneficios se encuentran:

Monitorear procesos estables e identificar si han ocurrido cambios debido a causas asignables para eliminar sus fuentes

Seleccin de variables

El CEP por variables implica realizar mediciones en la caracterstica de calidad de inters, tal como:

Dimensiones Pesos Tiempos de servicio, etc.

El CEP por atributos califica a los productos como buenos o como defectivos o en su caso cuantos defectos tiene, tales como:

Color, funcionalidad, apariencia, etc.

Subrupos racionales

Los subgrupos se seleccionan de tal forma que sean tan homogneos como sea posible, de tal forma que se tenga la oportunidad mxima de estimar la variacin esperada entre los subgrupos Esquemas para formar subgrupos: Productos producidos casi al mismo tiempo en secuencia. Permite una variacin mnima dentro del subgrupo y una probabilidad de variacin mxima entre subgrupos

Un subgrupo consiste de una muestra aleatoria representativa de toda la produccin durante un periodo de tiempo

Qu es una Carta de Control?

Una Carta de Control es como un historial del proceso... ... En donde ha estado. ... En donde se encuentra. ... Hacia donde se puede dirigir Las cartas de control pueden reconocer cambios buenos y malos. Qu tanto se ha mejorado? Se ha hecho algo mal? Las cartas de control detectan la variacin anormal en un proceso, denominadas causas especiales o asignables de variacin.

Variacin observada en una Carta de Control

Una Carta de control es simplemente un registro de datos en el tiempo con lmites de control superior e inferior. Una carta de control identifica los datos secuenciales en patrones normales y anormales. El patrn normal de un proceso se llama causas de variacin comunes. El patrn anormal debido a eventos especiales se llama causa especial de variacin. Tener presente que los lmites de control NO son lmites de especificacin. 10

Causas comunes o normales

q

CAUSAS COMUNES Siempre estn presentes Slo se reduce con acciones de mejora mayores Su reduccin es responsabilidad de la direccin Fuentes de variacin: Mrgenes inadecuados de diseo, materiales de baja calidad, capacidad del proceso insuficiente SEGN DEMING El 94% de las causas de la variacin son causas comunes, responsabilidad de la direccin

11

Variacin Causas comunes

Lmite inf. de especs.

Lmite sup. de especs.

Objetivo

12

Causas Especiales
q

CAUSAS ESPECIALES
Ocurren

espordicamente Son ocasionadas por variaciones anormales (6Ms)

Medio ambiente, Mano de obra, Mtodo, Maquinaria, Materiales
Slo
Medicin,

se reduce con acciones en el piso o lnea Su reduccin es responsabilidad del operador por medio del Control Estadstico del Proceso
q

SEGN DEMING
El

15% de las causas de la variacin son causas especiales y es responsabilidad del operador

13

Variacin Causas especiales

Lmite inf. de especs.

Lmite sup. de especs.

Objetivo

14

Cartas de control
12.5 11.5 10.5 9.5 8.5 7.5 0 10 20 30
Lnea Central Lmite Inferior de Control Lmite Superior de Control

15

Patrones de anormalidad en la carta de control

Escuche la Voz del Proceso
M E D I D A S C A L I D A D

Regin de control, captura la variacin natural del proceso original

LSC

Tendencia del proceso Causa Especial

identifcada

LIC

El proceso ha cambiado
TIEMPO

Patrones Fuera de Control

Corridas 7 puntos consecutivos de un lado de X-media. Puntos fuera de control 1 punto fuera de los lmites de control a 3 sigmas en cualquier direccin (arriba o abajo). Tendencia ascendente o descendente 7 puntos consecutivos aumentando o disminuyendo.

Adhesin a la media

15 puntos consecutivos dentro de la banda de 1 sigma del centro. Otros 2 de 3 puntos fuera de los lmites a dos sigma

17

Patrn de Carta en Control Estadstico

Proceso en Control estadstico Sucede cuando no se tienen situaciones anormales y aproximadamente el 68% (dos tercios) de los puntos de la carta se encuentran dentro del 1 de las medias en la carta de control.

Lo anterior equivale a tener el 68% de los puntos dentro del tercio medio de la carta de control.

18

Cartas de Control para variables

19

Tipos de Cartas de control

Las cartas de control se dividen en dos categoras, diferenciadas por el tipo de datos bajo estudiovariables y atributos . Las Cartas de Control para datos variables son utilizadas para caractersticas que tienen una magnitud variable. Ejemplo: - Longitud, Ancho, Profundidad - Peso, Tiempo de ciclo, Viscosidad 20

Cartas de Control por Variables

MEDIAS RANGOS (subgrupos de 5 - 9 partes cada x horas, para estabilizar procesos) MEDIANAS RANGOS (para monitorear procesos estables) MEDIAS DESVIACIONES ESTANDAR (subgrupos de 9 o ms partes cada hora o cada lote de proveedor para monitoreo de procesos o proveedores) VALORES INDIVIDUALES (partes individuales cada x horas, para monitoreo de procesos muy lentos o qumicos)

21

Implantacin de cartas de control por variables

1. Identificar la caracterstica a controlar en base a un AMEF (anlisis del modo y efecto de falla) 2. Disear los parmetros de la carta (lmites de control, subgrupo 3-5 partes, frecuencia de muestreo) 3. Validar la habilidad del sistema de medicin por medio de un estudio Repetibilidad & Reproducibilidad 4.Centrar el proceso, correrlo y medir al menos 25 subgrupos de 5 partes cada uno, correspondiente a la produccin del mismo turno o da

Cartas de Control por Variables Metodologa de implantacin

5. Calcular los lmites de control preliminares a 3 Sigma 6. Identificar causas asignables o especiales y tomar accin para prevenir recurrencia 7. Recalcular los lmites de control de ser necesario repetir paso 6. Establecer lmites preliminares para corridas futuras 8. Continuar el monitoreo y Anlisis, tomar acciones en causas especiales y recalcular lmites de control cada 25 subgrupos 9. REDUCIR CAUSAS COMUNES DE VARIACIN

23

Carta X, R (Continuacin)
Terminologa
k = nmero de subgrupos; n = nmero de muestras en cada subgrupo X = promedio para un subgrupo X = promedio de todos los promedios de los subgrupos R = rango de un subgrupo R = promedio de todos los rangos de los subgrupos

x = x =

x1 + x2 + x3 + ...+ xN n x1 + x2 + x3 + ...+ xN k

LSCX = x + A2 R LICX = x - A2 R LSCR = D4 R LICR = D3 R

NOTA: Los factores a considerar para n = 5 Son A2 = 0.577 D3 = 0 D4 = 2.114

Carta X-R
Xbar-R Chart of Supp1
600.5 UCL=600.321 Sample M ean 600.0 _ _ X=599.548 599.5

599.0 LCL=598.775 1 3 5 7 9 11 Sample 13 15 17 19

UCL=2.835

Sample Range

2 _ R=1.341 1

0 1 3 5 7 9 11 Sample 13 15 17 19

LCL=0

Cul grfica se analiza primero? Cul es su conclusin acerca del proceso ?

25

Carta de Individuales (Datos variables)

A menudo esta carta se llama I o Xi - MR. Esta Carta monitorea la tendencia de un proceso con datos variables que no pueden ser muestrados en lotes o grupos. Este es el caso cuando la capacidad de corto plazo se basa en subgrupos racionales de una unidad o pieza La lnea central se basa en el promedio de los datos, y los lmites de control se basan en la desviacin estndar poblacional (+/- 3 sigmas)

26

Carta X, R (Continuacin)
Terminologa
k = nmero de piezas n = 2 para calcular los rangos x = promedio de los datos R = rango de un subgrupo de dos piezas consecutivas R = promedio de los (n - 1) rangos

x =

x1 + x2 + x3 + ...+ xN n n D4 D3 E2 2 3.27 0 2.66

LSCX = x + E2 R LICX = x - E2 R LSCR = D4 R LICR = D3 R

(usar estos factores para calcular Lmites de Control n = 2)

Ejemplo: Carta I - MR
I-MR Chart of Supp2
605.0 I nd iv idua l V a l ue 602.5 600.0 597.5 595.0 1 11 21 31 41 51 O b se r v a ti o n 61 71 81 91 LC L=595.12 _ X=600.23 U C L=605.34

6.0 M o v ing R a nge 4.5 3.0 1.5 0.0 1 11 21 31 41 51 O b se r v a ti o n 61 71 81 91

U C L=6.284

__ M R=1.923

LC L=0

Observar la situacin fuera de control 28

Ejercicios de Cartas I o X, R
Hacer dos cartas X-R y concluir:
MUESTRA 1 MUESTRA 2 MUESTRA 1 MUESTRA 2

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

12 15 13 10 13 15 15 15 22 16

2.832 2.802 2.952 2.80 2.95 2.92 2.95 2.92 2.93 2.93

11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

16 15 17 16 17 19 16 16 17 19

2.97 2.95 2.95 2.86 2.89 2.86 2.85 2.78 2.89 2.78 29

Cartas de Control para atributos

30

Cartas de control por atributos

Las cartas para atributos son las que tienen caractersticas como aprobado/reprobado, bueno/malo o pasa/no pasa. Algunos ejemplos incluyen: - Nmero de productos defectuosos - Fraccin de productos defectuosos - Numero de defectos por unidad de producto - Nmero de llamadas para servicio - Nmero de partes daadas - Pagos atrasados por mes

Cartas de control para atributos

Datos de Atributos Tipo p Medicin Fraccin de partes defectuosas, defectivas o no conformes np Nmero de partes defectuosas Constante > 30 Tamao de Muestra ? Constante o variable > 30

Nmero de defectos

Constante = 1 Unidad de inspeccin

Nmero de defectos por unidad

Constante o variable en

Cartas de Control tipo p

p - CON LMITES DE CONTROL VARIABLES

p - CON n PROMEDIO

p - ESTANDARIZADA

CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN

OC Y ARL

2... Cartas de Control por Atributos

c Nmero de defectos
Se cuentan los defectos que tienen cada unidad de inspeccin de tamao n constante en productos complejos TV, computadoras

u Defectos por unidad

Se cuentan los defectos que tienen diferentes unidades de inspeccin de tamao n variable en productos complejos y se determinan los defectos por unidad TV, computadoras

Cartas de control para Atributos Situaciones fuera de control

Un punto fuera de los lmites de control. Siete puntos consecutivos en un mismo lado de de la lnea central. Siete puntos consecutivos, todos aumentando o disminuyendo. Catorce puntos consecutivos, alternando hacia arriba y hacia abajo.
P Chart of Rejects
0 5 .3 0 0 .3 0 5 .2 Proportion 0 0 .2 0 5 .1 0 0 .1 0 5 .0 0 0 .0 1 3 5 7 9 1 1 Sam ple 1 3 1 5 1 7 1 9 LL 0 07 C = .0 4 _ P 0 65 = .1 8
1

UL 0 34 C = .3 2

T ests p rfo e w u e u sam le size e rm d ith n q al p s

Carta p (Cont...)
Ejemplo: Algunos componentes no pasaron la inspeccin final. Los datos de falla se registraron semanalmente tal como se muestra a continuacin.
d e c m o e te o pnn s in p c io a s e c nd o s

n
C m o e te o pnn s d fe tu s s e c oo

np

p
F c i d ra c n e c m o e te o pnn s d fe tu s s e c oo

K = 13 semanas

7 7 1 5 1 4 4 8 2 2 1 8 7 1 4 9 1 4 1 2 8

0 0 2 2 6 0 6 0 1 0 2 2 1

0 0 .0 0 0 0 .0 0 0 3 .1 3 0 4 .1 3 0 2 .1 5 0 0 .0 0 0 3 .3 3 0 0 .0 0 0 7 .0 1 0 0 .0 0 0 4 .1 3 0 6 .1 7 0 2 .1 5

Carta p (Cont..)
Ejemplo:
0.5 3.0SL= 0.4484 0.4 0.3 0.2 0.1 0.0 0 5 10 P= 0.1128

Grfica P para Fraccin Defectiva

LSC

Proporci n

p LIC

- 3.0SL= 0.000

Nmero de muestra

Observe como el LSC vara conforme el tamao (n) de cada muestra vara. Por qu el LIC es siempre cero? Qu pas en la muestra 7? (33.3% defectos) Qu oportunidades para mejorar existen?, Podemos aprender algo de las muestras 1, 2, 6, 8, y 10? Podra este proceso ser un buen proyecto de mejora?

Carta np (Atributos)
Se usa cuando se califica al producto como bueno/malo, pasa/no pasa. Monitorea el nmero de productos defectuosos de una muestra El tamao de muestra (n) es constante y mayor a 30. Terminologa (igual a grfica p, aunque n es constante) n = k = tamao de cada muestra (Ejemplo: produccin semanal) nmero de muestras np = nmero de unidades defectuosas en cada muestra

Carta np (Cont..)
Ejemplo 1: en un proceso se inspeccionan K = 15 lotes tomando n = 4000 partes de cada lote, se rechazan algunas partes por tener defectos, como sigue:

# d pre ea s t
df c oa e t ss eu

np

K=15 lotes

# d pre i sec nds e a snpci aa t o 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00 40 00

2 3 3 2 4 2 3 3 6 8 3 4 4 7 6

4... Carta np (Cont...)

Ejemplo 1:
Carta np de nmero de defectivos o defectuosos
10 3.0

No. De fecetivos

LSC=10.03

Np =4.018
- 3.0S 0

np LIC

LIC=0.0

Nmero de muestras

10

15

El tamao de la muestra (n) es constante Los lmites de control LSC y LIC son constantes Esta carta facilita el control por el operador ya que el evita hacer clculos

4... Carta c (Atributos)

Monitorea el nmero de defectos por cada unidad de inspeccin (1000 metros de tela, 200 m2 de material, un TV) El tamao de la muestra (n unidades de inspeccin) debe ser constante Ejemplos: - Nmero de defectos en cada pieza - Nmero de cantidades ordenadas incorrectas en rdenes de compra

Terminologa c = Nmero de defectos encontrados en cada unidad o unidades constantes de inspeccin k = nmero de muestras

Carta c (cont..)
Ejemplo: Nmero de defectos encontrados en una unidad de inspeccin que
consta de 50 partes de cada lote de 75 piezas durante 25 semanas (K = 11).

#Lote / Defectos encontrados

1 6 2 4 3 4 4 2 5 4 6 3 7 4 8 4 9 5 10 5 11 5
NOTA: Utilizar Excel para Construir la carta c

Ejemplo:

Carta c (cont..)
Carta C
1 3.0 SC 12.76 L =

Nmero de defectos

15

LSC C

10 C = 5.640

0 0 5

- 3.0 IC= 0.000 L

Nmero de Muestras

10

15

20

25

Observe el valor de la ltima muestra; est fuera del lmite superior de control (LSC) Qu informacin, anterior a la ltima muestra, debi haber obviado el hecho de que el proceso iba a salir de control?

Carta u (Atributos)
Monitorea el nmero de defectos en una muestra de n unidades de inspeccin. El tamao de la muestra (n) puede variar Los defectos por unidad se determinan dividiendo el nmero de defectos encontrados en la muestra entre el nmero de unidades de inspeccin incluidas en la muestra (DPU o nmero de defectos por unidad) . Ejemplos: Se toma una muestra de tamao constante de tableros PCB por semana, identificando defectos visuales por tablero.

Ejemplo 2: Defectos encontrado al inspeccionar varios lotes de productos registrados por semana Lote n c = Defectos u = DPU
Le o t Uas n d i e d D cs e t f o e D P U

Carta u (cont...)
1 0 1 2 7 1 4 1 2 1 2 1 3 1 0 9 1 4 1 3 1 3 1 2 1 0 1 1 1 3 1 1 1 5 1 5 1 4 6 0 7 5 4 2 7 7 6 9 7 2 7 6 5 5 5 1 7 8 7 2 7 7 7 4 5 7 6 2 4 1 3 0 4 5 4 2 4 0

1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 1 6 1 7 1 8 1 9 2 0

6 6 . 3 6 5 . 5 5 . 8 6 5 . 8 5 . 5 5 . 7 5 . 6 5 . 5 5 . 9 6 . 2 5 . 7 5 . 6 3 . 2 2 . 7 3 2 . 8 2 . 9

k=20 semanas

Carta u (cont..)
Ejemplo 2:
Nmero de efectos
Grfica U para Defectos
8 7 6 5 4 3 2 0 10 20 - 3. 0 IC= 3. 190 L U=4. 979 3. 0 SC 6. 768 L =

LSC u LIC

Nmero de Muestras

Observe que ambos lmites de control varan cuando el tamao de muestra (n) cambia. En que momentos estuvo el proceso fuera de control?

Capacidad de proceso por atributos

Para cartas de control p y np en base a la fraccin promedio de productos defectivos o no conformes es:

Cp >=1 es equivalente a p <= 0.27% NOTA: Equivale a que el porcentaje de partes buenas sea cuando menos del 99.73%

Para cartas de control c y u dependen de la especificacin proporcionada por el cliente

Carta EWMA

48

Carta de Promedios Mviles Ponderados Exponencialmente (EWMA)

Es ms sensible que la grfica X al movimiento de los pequeos cambios sostenidos en la media del proceso. Es ms sensible que la grfica X al movimiento de separacin gradual de la media del proceso. Es menos sensible que la grfica X a desplazamientos grandes de la media del proceso. Se puede aplicar a las Xs o a las Xs individuales. 49

Carta EWMA del ejemplo

Xewma 1- 52.0 2- 47.0 3- 53.0 4- 49.3 5- 50.1 6- 47.0 7- 51.0 8- 50.1 9- 51.2 10- 50.5 11- 49.6 12- 47.6 13- 49.9 14- 51.3 15- 47.8
53 UCL=52.59 52 51

EWMA Chart for X

EW M A

50 49 48

Mean=50

LCL=47.41 47 0 10 20

Sample Number

50

Z0 = + (1- ) Los puntos a graficar son los siguientes : Z1 = Z2 = + (1- ) Z3 = 3 + (1- ) Z4 = X4 + (1- ) Con Z = EWMA

Carta EWMA

= X _ _ X1 _ X2 _ X

Z0 Z1 Z2 Z3

Observa que Z es un promedio ponderado de X i y de todas las Xs anteriores. La tpica forma de una grfica EWMA se muestra a continuacin.
UCL

LCL subgrupo

Los clculos, especialmente de los lmites de control, son tan complejos que normalmente este tipo de grfica se realiza por medio de un paquete de computo.

XII

51

Estandarizacin
1. Controles para la mejora. 2. Formas para eliminar causas. 3. Datos de control de resultados. 4. Aplicacin de soluciones en otros procesos. 5. Uso de mtodos de estandarizacin. . 52

Prevencin de la reincidencia Estandarizacin

DISPOSITIVOS A PRUEBA DE ERROR ( Poka - Yokes ). 53

22
GUOQCSTORY.PPT

Prevencin de la reincidencia

Realizar actividades para asegurar la no reincidencia del problema. Se debe de tener un control de las mejoras y de los nuevos estndares, estas deben de ser acciones que realmente eliminen las causas de los problemas. Herramientas a utilizar: hojas de verificacin, cartas de control, histogramas, mtodos de documentacin de archivos, ISO- TS 9000, 5W +1H, etc. 54

Prevencin de la reincidencia

C ON T RO L E S A U TO M A T I C OS

A Y U DA S VISUA L E S P OK A - Y O K E

P R OC E D I M I E N T OS DE OP E RA C I N E ST A N D AR

E SP E CI F I C AC I ON E

55

CONTROL PLAN
Page Prototype Control Plan Number Part Num ber/Latest Change Level Core Team Customer Engineering Approval/Date (if Req'd.) Pre-launch Production Key Contac/Phone Date (Orig.) Date (Rev.) of

Plan de control
Reaction Plan

Part Nam e/Description

Supplier/Plant Approval/Date

Customer Quality Approval/Date (if Req'd.)

Supplier/Plant

Supplier Code

Other Approval/Date (if Req'd.)

Other Approval/Date (if Req'd.)

P art / Process Number

Process Name / Operation Description

Machine, Device, J ig, Tools For Mfg. No.

Characteristics

Special Char.

Methods

Product

Process

Class.

Product/P rocess Specification/ Tolerance

Evaluation/ Measurement Technique Size

Sample Freq.

Control Method

Todos los procesos - Todas las Operaciones - Todas las actividades

-

Hoja de Instruccin
No de Producto Nombre del producto Caracteristica Descripcin Especificacin & Tolerancia Dibujo No. Nivel Criterio Operacin No. Instrumento Maquna Elabor Tamao Frecuenc. Mtodo de dmuestra Registro

calidad
Aprob Plan de Reaccin

Un proceso - Una actividad - Operaciones Limitadas

-

Ayuda Visual Operador Instrucciones:

Distribucin

56

One Way to Standardize a Process

57

Reconocimiento al equipo Seis Sigma

Este paso es de los ms importantes ya que sin un reconocimiento adecuado a los resultados alcanzados, se enva el mensaje de ganar perder para el personal y se elimina la motivacin para trabajar en nuevos proyectos de mejora. Los reconocimientos son muy variados y dependen de la empresa y los resultados alcanzados en particular.

58