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Fase de Control
Objetivos:
Mantener las mejoras por medio de control estadstico de procesos, Poka Yokes y trabajo estandarizado Anticipar mejoras futuras y preservar las lecciones aprendidas de este esfuerzo
Salidas:
Plan de control y mtodos de control implementados Capacitacin en los nuevos mtodos Documentacin completa y comunicacin de resultados, lecciones aprendidas y recomendaciones
F S D C NR L A E E O T O
S lu n s o cio e im le e ta a p mn d s P nd la e Cn l o tro C PE P ka Y ke o o s E na s st d re d tra a e b jo D cu e ta o mn r y C p cita aa r H rra ie ta e m n s La en
P n d ca a y M n re la e lid d o ito o
S i
Objetivos y beneficios
El CEP es una tcnica que permite aplicar el anlisis estadstico para medir, monitorear y controlar procesos por medio de cartas de control Se basa en que los procesos presentan variacin, aleatoria y asignable Entre los beneficios se encuentran:
Monitorear procesos estables e identificar si han ocurrido cambios debido a causas asignables para eliminar sus fuentes
Seleccin de variables
El CEP por variables implica realizar mediciones en la caracterstica de calidad de inters, tal como:
El CEP por atributos califica a los productos como buenos o como defectivos o en su caso cuantos defectos tiene, tales como:
Subrupos racionales
Los subgrupos se seleccionan de tal forma que sean tan homogneos como sea posible, de tal forma que se tenga la oportunidad mxima de estimar la variacin esperada entre los subgrupos Esquemas para formar subgrupos: Productos producidos casi al mismo tiempo en secuencia. Permite una variacin mnima dentro del subgrupo y una probabilidad de variacin mxima entre subgrupos
Un subgrupo consiste de una muestra aleatoria representativa de toda la produccin durante un periodo de tiempo
Una Carta de control es simplemente un registro de datos en el tiempo con lmites de control superior e inferior. Una carta de control identifica los datos secuenciales en patrones normales y anormales. El patrn normal de un proceso se llama causas de variacin comunes. El patrn anormal debido a eventos especiales se llama causa especial de variacin. Tener presente que los lmites de control NO son lmites de especificacin. 10
CAUSAS COMUNES Siempre estn presentes Slo se reduce con acciones de mejora mayores Su reduccin es responsabilidad de la direccin Fuentes de variacin: Mrgenes inadecuados de diseo, materiales de baja calidad, capacidad del proceso insuficiente SEGN DEMING El 94% de las causas de la variacin son causas comunes, responsabilidad de la direccin
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Objetivo
12
Causas Especiales
q
CAUSAS ESPECIALES
Ocurren
se reduce con acciones en el piso o lnea Su reduccin es responsabilidad del operador por medio del Control Estadstico del Proceso
q
SEGN DEMING
El
15% de las causas de la variacin son causas especiales y es responsabilidad del operador
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Objetivo
14
Cartas de control
12.5 11.5 10.5 9.5 8.5 7.5 0 10 20 30
Lnea Central Lmite Inferior de Control Lmite Superior de Control
15
LSC
LIC
El proceso ha cambiado
TIEMPO
Adhesin a la media
15 puntos consecutivos dentro de la banda de 1 sigma del centro. Otros 2 de 3 puntos fuera de los lmites a dos sigma
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Lo anterior equivale a tener el 68% de los puntos dentro del tercio medio de la carta de control.
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19
MEDIAS RANGOS (subgrupos de 5 - 9 partes cada x horas, para estabilizar procesos) MEDIANAS RANGOS (para monitorear procesos estables) MEDIAS DESVIACIONES ESTANDAR (subgrupos de 9 o ms partes cada hora o cada lote de proveedor para monitoreo de procesos o proveedores) VALORES INDIVIDUALES (partes individuales cada x horas, para monitoreo de procesos muy lentos o qumicos)
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Carta X, R (Continuacin)
Terminologa
k = nmero de subgrupos; n = nmero de muestras en cada subgrupo X = promedio para un subgrupo X = promedio de todos los promedios de los subgrupos R = rango de un subgrupo R = promedio de todos los rangos de los subgrupos
x = x =
x1 + x2 + x3 + ...+ xN n x1 + x2 + x3 + ...+ xN k
Carta X-R
Xbar-R Chart of Supp1
600.5 UCL=600.321 Sample M ean 600.0 _ _ X=599.548 599.5
UCL=2.835
Sample Range
2 _ R=1.341 1
0 1 3 5 7 9 11 Sample 13 15 17 19
LCL=0
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26
Carta X, R (Continuacin)
Terminologa
k = nmero de piezas n = 2 para calcular los rangos x = promedio de los datos R = rango de un subgrupo de dos piezas consecutivas R = promedio de los (n - 1) rangos
x =
Ejemplo: Carta I - MR
I-MR Chart of Supp2
605.0 I nd iv idua l V a l ue 602.5 600.0 597.5 595.0 1 11 21 31 41 51 O b se r v a ti o n 61 71 81 91 LC L=595.12 _ X=600.23 U C L=605.34
U C L=6.284
__ M R=1.923
LC L=0
Ejercicios de Cartas I o X, R
Hacer dos cartas X-R y concluir:
MUESTRA 1 MUESTRA 2 MUESTRA 1 MUESTRA 2
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
12 15 13 10 13 15 15 15 22 16
2.832 2.802 2.952 2.80 2.95 2.92 2.95 2.92 2.93 2.93
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
16 15 17 16 17 19 16 16 17 19
2.97 2.95 2.95 2.86 2.89 2.86 2.85 2.78 2.89 2.78 29
30
Nmero de defectos
Constante o variable en
p - CON n PROMEDIO
p - ESTANDARIZADA
OC Y ARL
c Nmero de defectos
Se cuentan los defectos que tienen cada unidad de inspeccin de tamao n constante en productos complejos TV, computadoras
UL 0 34 C = .3 2
Carta p (Cont...)
Ejemplo: Algunos componentes no pasaron la inspeccin final. Los datos de falla se registraron semanalmente tal como se muestra a continuacin.
d e c m o e te o pnn s in p c io a s e c nd o s
n
C m o e te o pnn s d fe tu s s e c oo
np
p
F c i d ra c n e c m o e te o pnn s d fe tu s s e c oo
K = 13 semanas
7 7 1 5 1 4 4 8 2 2 1 8 7 1 4 9 1 4 1 2 8
0 0 2 2 6 0 6 0 1 0 2 2 1
0 0 .0 0 0 0 .0 0 0 3 .1 3 0 4 .1 3 0 2 .1 5 0 0 .0 0 0 3 .3 3 0 0 .0 0 0 7 .0 1 0 0 .0 0 0 4 .1 3 0 6 .1 7 0 2 .1 5
Carta p (Cont..)
Ejemplo:
0.5 3.0SL= 0.4484 0.4 0.3 0.2 0.1 0.0 0 5 10 P= 0.1128
LSC
Proporci n
p LIC
- 3.0SL= 0.000
Nmero de muestra
Observe como el LSC vara conforme el tamao (n) de cada muestra vara. Por qu el LIC es siempre cero? Qu pas en la muestra 7? (33.3% defectos) Qu oportunidades para mejorar existen?, Podemos aprender algo de las muestras 1, 2, 6, 8, y 10? Podra este proceso ser un buen proyecto de mejora?
Carta np (Atributos)
Se usa cuando se califica al producto como bueno/malo, pasa/no pasa. Monitorea el nmero de productos defectuosos de una muestra El tamao de muestra (n) es constante y mayor a 30. Terminologa (igual a grfica p, aunque n es constante) n = k = tamao de cada muestra (Ejemplo: produccin semanal) nmero de muestras np = nmero de unidades defectuosas en cada muestra
Carta np (Cont..)
Ejemplo 1: en un proceso se inspeccionan K = 15 lotes tomando n = 4000 partes de cada lote, se rechazan algunas partes por tener defectos, como sigue:
# d pre ea s t
df c oa e t ss eu
np
K=15 lotes
2 3 3 2 4 2 3 3 6 8 3 4 4 7 6
No. De fecetivos
LSC=10.03
Np =4.018
- 3.0S 0
np LIC
LIC=0.0
Nmero de muestras
10
15
El tamao de la muestra (n) es constante Los lmites de control LSC y LIC son constantes Esta carta facilita el control por el operador ya que el evita hacer clculos
Terminologa c = Nmero de defectos encontrados en cada unidad o unidades constantes de inspeccin k = nmero de muestras
Carta c (cont..)
Ejemplo: Nmero de defectos encontrados en una unidad de inspeccin que
consta de 50 partes de cada lote de 75 piezas durante 25 semanas (K = 11).
1 6 2 4 3 4 4 2 5 4 6 3 7 4 8 4 9 5 10 5 11 5
NOTA: Utilizar Excel para Construir la carta c
Ejemplo:
Carta c (cont..)
Carta C
1 3.0 SC 12.76 L =
Nmero de defectos
15
LSC C
10 C = 5.640
0 0 5
Nmero de Muestras
10
15
20
25
Observe el valor de la ltima muestra; est fuera del lmite superior de control (LSC) Qu informacin, anterior a la ltima muestra, debi haber obviado el hecho de que el proceso iba a salir de control?
Carta u (Atributos)
Monitorea el nmero de defectos en una muestra de n unidades de inspeccin. El tamao de la muestra (n) puede variar Los defectos por unidad se determinan dividiendo el nmero de defectos encontrados en la muestra entre el nmero de unidades de inspeccin incluidas en la muestra (DPU o nmero de defectos por unidad) . Ejemplos: Se toma una muestra de tamao constante de tableros PCB por semana, identificando defectos visuales por tablero.
Ejemplo 2: Defectos encontrado al inspeccionar varios lotes de productos registrados por semana Lote n c = Defectos u = DPU
Le o t Uas n d i e d D cs e t f o e D P U
Carta u (cont...)
1 0 1 2 7 1 4 1 2 1 2 1 3 1 0 9 1 4 1 3 1 3 1 2 1 0 1 1 1 3 1 1 1 5 1 5 1 4 6 0 7 5 4 2 7 7 6 9 7 2 7 6 5 5 5 1 7 8 7 2 7 7 7 4 5 7 6 2 4 1 3 0 4 5 4 2 4 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 1 6 1 7 1 8 1 9 2 0
6 6 . 3 6 5 . 5 5 . 8 6 5 . 8 5 . 5 5 . 7 5 . 6 5 . 5 5 . 9 6 . 2 5 . 7 5 . 6 3 . 2 2 . 7 3 2 . 8 2 . 9
k=20 semanas
Carta u (cont..)
Ejemplo 2:
Nmero de efectos
Grfica U para Defectos
8 7 6 5 4 3 2 0 10 20 - 3. 0 IC= 3. 190 L U=4. 979 3. 0 SC 6. 768 L =
LSC u LIC
Nmero de Muestras
Observe que ambos lmites de control varan cuando el tamao de muestra (n) cambia. En que momentos estuvo el proceso fuera de control?
Para cartas de control p y np en base a la fraccin promedio de productos defectivos o no conformes es:
Cp >=1 es equivalente a p <= 0.27% NOTA: Equivale a que el porcentaje de partes buenas sea cuando menos del 99.73%
Carta EWMA
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Es ms sensible que la grfica X al movimiento de los pequeos cambios sostenidos en la media del proceso. Es ms sensible que la grfica X al movimiento de separacin gradual de la media del proceso. Es menos sensible que la grfica X a desplazamientos grandes de la media del proceso. Se puede aplicar a las Xs o a las Xs individuales. 49
EW M A
50 49 48
Mean=50
LCL=47.41 47 0 10 20
Sample Number
50
Z0 = + (1- ) Los puntos a graficar son los siguientes : Z1 = Z2 = + (1- ) Z3 = 3 + (1- ) Z4 = X4 + (1- ) Con Z = EWMA
Carta EWMA
= X _ _ X1 _ X2 _ X
Z0 Z1 Z2 Z3
Observa que Z es un promedio ponderado de X i y de todas las Xs anteriores. La tpica forma de una grfica EWMA se muestra a continuacin.
UCL
LCL subgrupo
Los clculos, especialmente de los lmites de control, son tan complejos que normalmente este tipo de grfica se realiza por medio de un paquete de computo.
XII
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Estandarizacin
1. Controles para la mejora. 2. Formas para eliminar causas. 3. Datos de control de resultados. 4. Aplicacin de soluciones en otros procesos. 5. Uso de mtodos de estandarizacin. . 52
Prevencin de la reincidencia
Realizar actividades para asegurar la no reincidencia del problema. Se debe de tener un control de las mejoras y de los nuevos estndares, estas deben de ser acciones que realmente eliminen las causas de los problemas. Herramientas a utilizar: hojas de verificacin, cartas de control, histogramas, mtodos de documentacin de archivos, ISO- TS 9000, 5W +1H, etc. 54
Prevencin de la reincidencia
C ON T RO L E S A U TO M A T I C OS
A Y U DA S VISUA L E S P OK A - Y O K E
P R OC E D I M I E N T OS DE OP E RA C I N E ST A N D AR
E SP E CI F I C AC I ON E
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CONTROL PLAN
Page Prototype Control Plan Number Part Num ber/Latest Change Level Core Team Customer Engineering Approval/Date (if Req'd.) Pre-launch Production Key Contac/Phone Date (Orig.) Date (Rev.) of
Plan de control
Reaction Plan
Supplier/Plant Approval/Date
Supplier/Plant
Supplier Code
Characteristics
Special Char.
Methods
Product
Process
Class.
Sample Freq.
Control Method
Hoja de Instruccin
No de Producto Nombre del producto Caracteristica Descripcin Especificacin & Tolerancia Dibujo No. Nivel Criterio Operacin No. Instrumento Maquna Elabor Tamao Frecuenc. Mtodo de dmuestra Registro
calidad
Aprob Plan de Reaccin
Distribucin
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Este paso es de los ms importantes ya que sin un reconocimiento adecuado a los resultados alcanzados, se enva el mensaje de ganar perder para el personal y se elimina la motivacin para trabajar en nuevos proyectos de mejora. Los reconocimientos son muy variados y dependen de la empresa y los resultados alcanzados en particular.
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