Universidad Politcnica de Cartagena

Departamento de Electrnica, Tecnologa de Computadoras y Proyectos Ingeniero de Telecomunicacin

Instrumentacin Electrnica
Tema 6. Medidas de espectros y redes

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ndice (Parte I)
Tema 6. Medidas de espectros y redes. 6.1. Introduccin. 6.1.1. Seales y Sistemas. 6.1.2. Relaciones en el dominio del tiempo y de la frecuencia. 6.1.3. Funcin de transferencia del sistema. 6.1.4. Ventajas de utilizar medidas en el dominio de la frecuencia. 6.1.5. Medidas del espectro. 6.1.6. Los analizadores de espectro. 6.1.7. Medidas de redes. 6.1.8. Analizadores de redes. 6.1.9. Analizadores de espectros/redes. 6.2. Decibelios. 6.2.1. Definicin del decibelio. 6.2.2 Valores fundamentales. 6.2.3 Valores absolutos del decibelio. 6.2.4 Clculos de la ganancia y de la atenuacin. 6.2.5 Decibelios y porcentaje. 6.2.6 El error expresado en decibelios. 6.3. Teora de Fourier. 6.3.1 Periodicidad. 6.3.2 Series de Fourier. 6.3.3 Series de Fourier de una seal cuadrada. 6.3.4 Series de Fourier de otras formas de onda. 6.3.5 Transformada de Fourier 6.3.6 Transformada de Fourier de un pulso. 6.3.7 Transformada inversa de Fourier. 6.3.8 Relaciones de la transformada de Fourier. 6.3.9 Transformada discreta de Fourier. 6.3.10 Limitaciones de la DFT. 6.3.11 Transformada rpida de Fourier. 6.3.12 Relacionando la teora con las medidas.
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6.3.13 Medida en tiempo finito. 6.4. Analizadores FFT. 6.4.1 Analizador con banco de filtros. 6.4.2 Resolucin frecuencial. 6.4.3 El analizador FFT. 6.4.4 Formas de onda muestreadas. 6.4.5 Teorema del muestreo. 6.4.6 Propiedades de la FFT. 6.4.7 Controlando el span (alcance) de la frecuencia. 6.4.8 Anlisis de banda seleccionable. 6.4.9 Leakeage. 6.4.10 Ventana Hanning. 6.4.11 Ventana flat-top. 6.4.12 Ventana uniforme. 6.4.13 Ventana exponencial. 6.4.14 Seleccionando una funcin ventana. 6.4.15 Caracterizacin de osciladores. 6.4.16 Visualizacin en el dominio del tiempo. 6.4.17 Medidas de redes. 6.4.18 Fase. 6.4.19 Mapas espectrales. 6.4.20 Caracterizacin de filtros electrnicos. 6.4.21 Espectro de potencia cruzado. 6.4.22 Coherencia. 6.4.23 Medidas de correlacin. 6.4.24 Autocorrelacin. 6.4.25 Correlacin cruzada. 6.4.26 Histograma. 6.4.27 Ancho de banda en tiempo real. 6.4.28 Ancho de banda en tiempo real y promedio RMS. 6.4.29 Ancho de banda en tiempo real y transitorios. 6.4.30 Procesamiento de solapado. 6.4.31 Barrido senoidal
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6.4.32 Medidas de octavas. 6.5. Analizadores de espectros de barrido 6.5.1 El analizador de ondas. 6.5.2 Diagrama de bloques del heterodino. 6.5.3 El analizador de espectro de barrido. 6.5.4 Consideraciones prcticas. 6.5.5 Seccin de entrada. 6.5.6 Ancho de banda de resolucin. 6.5.7 Limitaciones del barrido. 6.5.8 Modos especializados de barrido. 6.5.9 Feedthrough del oscilador local. 6.5.10 Detector. 6.5.11 La seccin IF digital. 6.5.12 El generador de seguimiento. 6.5.13 FFT contra barrido. 6.5.14 El analizador hbrido.

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Bibliografa
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Otras Referencias
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6.1. Introduccin
6.1.1 Seales y Sistemas Un sistema elctrico normalmente tiene uno o ms puertos de entrada y uno o ms puertos de salida (dispositivos elctricos tales como filtros, atenuadores, y amplificadores)
Las medidas de redes caracterizan los bloques del circuito del sistema (caractersticas de la transferencia del filtro Figura 1-1. Un sistema simple que tiene una entrada x(t) y una salida y(t). pasa-baja) mientras que las medidas del espectro caracterizan sus seales (ruido de fase o las componentes frecuenciales espreas).

Un sistema ms complejo (p.e., un bucle enganchado en fase)

Figura 1-2. Un bucle enganchado en fase es un sistema complejo con mltiples bloques y seales.

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6.1.2 Relaciones en el dominio del tiempo y de la frecuencia. La manera ms obvia de describir una seal elctrica es su representacin en el dominio del tiempo (tal como se vera en un osciloscopio). Los bloques del sistema se pueden caracterizar, en el dominio de tiempo, midiendo: su respuesta, su respuesta al pulso, o la respuesta en la salida debido a varias seales de entrada. Otra manera de describir una seal es utilizando su representacin en el dominio de la frecuencia (p.e. la amplitud de la seal como funcin de la frecuencia).

Figura 1-3. (a) Una seal en funcin de tiempo, (b) la seal (a) en funcin de la frecuencia.

La serie de Fourier, de la transformada de Fourier, y de la transformada de Fourier discreta (DFT) permite la transformacin de una funcin en el dominio de tiempo x(t), en una funcin en el dominio de la frecuencia X(f).

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6.1.4 Ventajas de utilizar medidas en el dominio de la frecuencia. Las medidas de banda estrecha en el dominio de la frecuencia proporcionan mayor sensibilidad que medidas en el dominio del tiempo. Las medidas de la distorsin armnica con un osciloscopio se limitan a algunas unidades por ciento, mientras que los analizadores de espectro permiten porcentajes del 0,01% en las medidas de la distorsin. Un analizador de espectros puede ignorar la frecuencia fundamental al medir los armnicos. Una medida en el dominio de tiempo con un osciloscopio debe medir simultneamente la fundamental y los armnicos mucho ms pequeos que la seal. Algunos sistemas estn intrnsecamente orientados para el dominio de la frecuencia. Por ejemplo, los sistemas de multiplexacin por divisin de frecuencia (FDM) y los receptores de radio Los sistemas que no son del dominio de la frecuencia pueden requerir medidas en el dominio de la frecuencia (las prdidas de capacitancia y resistencia en una conexin de un circuito digital pueden limitar el ancho de banda del circuito y la velocidad de un pulso digital). Un analizador de redes puede determinar el ancho de banda del circuito midiendo su funcin de transferencia en el dominio de la frecuencia. Normalmente es ms fcil separar las seales mltiples en el dominio de la frecuencia que en el dominio de tiempo. Un analizador de espectros puede separar estas componentes de la frecuencia y medirlos con precisin.

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6.1.5. Medidas del espectro. Una seal se puede caracterizar utilizando un analizador de espectros conectando el analizador con la fuente de la seal. Sin embargo, puede ser necesario considerar los efectos de la carga y otras fuentes de error en la medida.

Figura 1-5. Una medida del espectro se realiza aplicando la seal a analizar en la entrada de un analizador de espectro.

Figura 1-6. Una medida del analizador de espectros que muestra el contenido armnico de una salida del generador de seal

El analizador de espectros puede medir la amplitud y la frecuencia de una lnea espectral de la seal (incluidas mltiples respuestas tales como armnicos, bandas laterales de modulacin y respuestas espreas). Tambin puede medir el nivel de ruido (si el ruido medido es mayor que el ruido del analizador), y se puede mostrar en funcin de la frecuencia.

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6.1.6. Los analizadores de espectro. La frecuencia es el parmetro ms obvio para clasificar analizadores de espectro En las frecuencias bajas, los analizadores que usan la transformada de Fourier rpida (FFT) proporcionan buen funcionamiento desde la CC hasta algunos cientos de kHz. El grupo siguiente de analizadores alcanza la regin de alta frecuencia (HF), extendiendo desde un extremo inferior de 10 Hz hasta un lmite de alta frecuencia sobre los 100 MHz. Los analizadores de microondas de radiofrecuencia completan el extremo superior, con un lmite de baja frecuencia de 100 kHz y un lmite de alta frecuencia entre 1 GHz y 100 GHz.

Figura 1-7. Un analizador de espectro de altas prestaciones.

Figura 1-8. Un analizador de espectros de altas prestaciones, apto para la medida de microondas.

Adems del rango de frecuencia, otros factores tales como coste, el rango dinmica, la sensibilidad, la precisin, y el conjunto de caractersticas varan de analizador a analizador.

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6.1.7. Medidas de redes. Una red se caracteriza, en el dominio de la frecuencia, conectando el generador del analizador de redes a la entrada de la red y el receptor del analizador con la salida de la red (Figura 1-9). As, el analizador de redes proporciona su propio estmulo para el dispositivo bajo prueba (DUT).

DUT

Figura 1-9. Un analizador de red proporciona una fuente de la seal al dispositivo bajo la prueba (DUT) y medidas la respuesta en la salida del dispositivo.

Figura 1-10. Una medida tpica muestra las caractersticas de transferencia de un filtro pasa-baja.

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El analizador de redes mide importantes parmetros de diseo: la ganancia o la prdida de un atenuador, de un filtro, de un amplificador, o de otro circuito. Tambin pueden visualizarse otras funciones: la fase, el retardo de grupo, la parte real o la parte imaginaria de la funcin de transferencia. Las medidas de la reflexin caracterizan el comportamiento de la entrada y/o de la salida del dispositivo bajo prueba. Esto incluye parmetros tales como la prdida por retorno, el coeficiente de reflexin, la impedancia y la razn de onda estacionaria (SWR).
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6.1.8. Analizadores de redes. Los analizadores de redes estn disponibles en dos variantes: escalares y vectoriales. Los analizadores escalares proporcionan solamente la informacin de la magnitud. Los analizadores escalares funcionan generalmente en la regin de las microondas, puesto que aqu es donde son ms rentables. Los analizadores vectoriales estn disponibles en todas las gamas de frecuencia, puesto que la informacin de la fase se requiere para muchas aplicaciones de medida.

Figura 1-11. Dos analizadores de redes de alto rendimiento.

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6.1.9. Analizadores de espectros/redes. Esta propuesta hbrida es debida a las necesidades que tiene el usuario de realizar medidas de espectros y de redes. Adems, los diagramas de bloque y las tecnologas utilizadas en los dos tipos de instrumentos son bastante similares por lo que se puede alcanzar una cierta economa. Los analizadores combinados de espectros/redes tienen generalmente la capacidad de los analizadores vectoriales. Por qu un analizador de redes intrnsecamente no tiene la capacidad tambin de hacer medidas del espectro?. El diseo del analizador de redes se aprovecha del hecho de que la frecuencia de la seal del estmulo es conocida (puesto que es proporcionada por el analizador de red). Esto permite la utilizacin de un receptor ms simple que otro que deba rechazar componentes de las frecuencias portadoras. Esto es distinto en el caso del analizador de espectros, en el cual la frecuencia de la seal medida puede ser totalmente arbitraria. As, un analizador de redes puede tener un diagrama de bloques ms simple y menos costoso.

Figura 1-12. Un analizador combinado de espectros y redes.

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6.2. Decibelios.
6.2.1 Definicin del decibelio. La definicin del decibelio (dB) est en trminos de una relacin entre potencias. Dos potencias, P1 y P2, se pueden relacionar en dB por la ecuacin siguiente: A(dB)= 10 log (P2/P1) (2-1) Si las potencias P1 y P2 se obtuvieron a partir de un par de tensiones en sendas resistencias V22 / R2 A( dB ) = 10 log 2 (2-2) V1 / R1

A( dB ) = 10 log(V2 / V1 ) + 10 log(R1 / R2 ) (2-3)

2

A( dB ) = 20 log (V2 / V1 ) + 10 log (R1 / R2 ) (2-4)

Si las dos resistencias son iguales, esta ecuacin puede simplificarse.

A( dB ) = 20 log(V2 / V1 ) (2-5)

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6.2.3 Valores absolutos del decibelio. La definicin original del decibelio permite solamente representar relaciones de dos valores en forma del decibelio. Proporcionando un valor de referencia (una tensin o una potenia), los decibelios se pueden utilizar para referir a valores absolutos de tensin o de potencia. P(dB) = 10 log (P / PREF) (2-8) V(dB) = 20 log (V / VREF) (2-9) dBm La referencia ms comn de la energa para las medidas de espectros y de redes es la de 1 milivatio, dando el resultado en dBm. P(dBm) = 10 log (P/0,001) (2-10) Es conveniente desarrollar la forma de la tensin de la ecuacin, puesto que muchas de las medidas de la energa son realmente medidas calibradas de la tensin. Para hacerlo, es necesario especificar el nivel de la impedancia implicado puesto que relaciona los niveles de la tensin y de la potencia. Por lo tanto, estas ecuaciones son vlidas solamente para las impedancias especificadas.

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La tensin de referencia produce 1 milivatio de potencia en una resistencia con un valor de impedancia especificado. Para R = 50

VREF = PREF R = 0,00150 = 0,2236 V (2-11)

P( dBm ) = 20 log(VRMS / 0,2236) (2-12)
Para un valor de la resistencia de R = 75

P( dBm ) = 20 log(VRMS / 0,2739) (2-13)

Obsrvese que tensin de referencia (VREF) y la tensin que se convertir dBm (VRMS) estn ambas en valores RMS, y que se utiliza el smbolo P(dBm) aun cuando es la ecuacin del decibelio en trminos de la tensin, con el fin de enfatizar que el dBm est definido en trminos de potencia. La forma de la tensin, en dBm es vlida solamente para una impedancia particular mientras que la forma en dBm de la potencia es independiente de la impedancia. Un valor determinado de dBm indicar siempre el mismo nivel de la potencia, pero corresponder a valores de tensin diferentes para diversas impedancias.

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dBV La tensin de referencia ms comn es 1 voltio (RMS), resultando en dBV. V(dBV) = 20 log (VRMS /1) = 20 log (VRMS ) (2-14) Las medidas en dBV se basan en tensin solamente. Un valor particular del dBV tendr siempre un valor correspondiente de la tensin, independiente del valor que tenga la impedancia. Esto significa que un valor constante de dBV proveer cantidades diferentes de potencia en diferentes impedancias. Esto es justamente opuesto a la asercin anterior de que el decibelio est definido estrictamente en trminos de potencia.

Figura 2-1. Valores de dBm y dBV como funcin de la tensin RMS.

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Conversiones dBm/dBV Para convertir entre el dBm y el dBV, es necesario especificar la impedancia. El dBm y el dBV se pueden calcular usando la forma de la tensin de la ecuacin del decibelio, pero con diferentes referencias de tensin.

P( dBm ) = 20 log(VRMS / PREF R ) = 20 log VRMS + 20 log 1 / PREF R

P(dBm) = V(dBV) + 10 log [1 / (0,001 R)] (2-15) Para R = 50 y R = 75 , respectivamente

P(dBm) = V(dBV) + 10 log [1 / (0,001 50)] = V(dBV) + 13,01 (2-16) P(dBm) = V(dBV) + 10 log [1 / (0,001 75)] = V(dBV) + 11,25 (2-17) Estas ecuaciones muestran una potencia en el lado izquierdo y una tensin en el derecho, pudiendo parecer inconsistentes. Sin embargo, son el equivalente logartmico de la expresin P = V2/R y sirven para enfatizar la diferente naturaleza dBm (que se basa en la potencia) y el dBV (que se basa en la tensin).

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6.4. Analizadores FFT

6.4.1 Analizador con banco de filtros La tcnica del banco de filtros no es comn en la instrumentacin electrnica general sino que se ha utilizado en algunas aplicaciones, tales como audimetros de baja frecuencia (analizadores de espectro de 1/3 de octava). Esta tcnica se incluye en este apartado para proporcionar una base terica para entender los diagramas de bloques prcticos de los analizadores de espectros.

Figura 4-1. El analizador de espectro con banco de filtros utiliza un sistema de filtros para determinar el contenido de la frecuencia de una seal.

Figura 4-2. Los filtros son adyacentes en el dominio de la frecuencia, alineado para el traslapo mnimo.

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6.4.2 Resolucin frecuencial Cada combinacin de filtro/detector/medidor muestra la energa sobre el rango total de frecuencias. Si dos frecuencias estn presentes dentro del mismo filtro, las dos afectarn la lectura de medidor. El analizador no puede resolver dos seales en el mismo filtro; as el ancho de banda del filtro, BWRES, determina la resolucin de la frecuencia del analizador. BWRES se denomina ancho de banda de resolucin.

Figura 4-3. La respuesta del analizador con banco de filtros se muestra aqu con algunas lneas espectrales representativas.

Si se asume que los filtros tiene una pendiente elevada y estn posicionados precisamente de tal manera que coinciden los sus pasa-bandas, el ancho de banda de resolucin de un analizador con banco de filtros est dado por: Donde fmax = frecuencia mxima del analizador M = nmero de filtros BWRES = fmax / M (4-1)

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6.4.3 El analizador FFT

Figura 4-4. El diagrama de bloque simplificado del analizador FFT.

El analizador FFT realiza la misma funcin que el analizador con banco de filtros, pero sin la necesidad de muchos filtros pasa-banda. En lugar, el analizador FFT utiliza el procesamiento digital de la seal para implementar el equivalente de muchos filtros individuales. As, cuando consideremos la operacin del analizador FFT, es apropiado pensar en trminos de banco de filtros paralelos, cada uno de ellos filtra una porcin del espectro de la frecuencia.

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Figura 4-5. Un analizador de espectros FFT.

6.4.4 Formas de onda muestreadas En un sistema muestreado, la forma de onda en el dominio de tiempo se multiplica por la funcin de muestreo para producir la forma de onda muestreada. La funcin del muestreo se parece a una serie de funciones impulso, espaciadas en T = l / fs, donde fs de la frecuencia de muestreo (sample rate).

Figura 4-6. (a) Una forma de onda en el dominio del tiempo, (b) La funcin de muestreo, (c) La forma de onda muestreada.

La forma de onda analgica muestreada se convierte en una secuencia de nmeros digitales al utilizar un convertidor de analgico a digital (ADC). La salida del ADC es una coleccin de nmeros que representan la forma de onda muestreada. La versin muestreada y la versin digital de la forma de onda, conservan informacin sobre la forma y el contenido de la forma de onda analgica, si la frecuencia de muestreo es suficientemente alta.

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6.4.5 Teorema del muestreo El teorema del muestreo indica que una seal de banda base se debe muestrear con una frecuencia de muestreo mayor que dos veces la frecuencia ms alta presente en la seal. Se denomina frecuencia de Nyquist a la frecuencia de muestreo mnima donde fS = tasa de muestreo fmax = la frecuencia ms elevada presente en la seal fS > 2fmax (4-5)

Figura 4-7. (a) El espectro de la forma de onda sin muestrear, (b) El espectro de la funcin de muestreo, (c) El espectro de la forma de onda muestreada.

Este tipo de espectro siempre lo encontraremos en los sistemas muestreados (la seal en banda base se repite en los mltiplos enteros de la frecuencia de muestreo). El espectro entre 0 y fs es simtrico alrededor de fs/2 ff se denomina frecuencia de plegado, (folding frequency). La seal original se puede recuperar aplicando un filtro pasa-baja con una frecuencia de de corte igual a ff, mientras que el contenido frecuencial centrado alrededor de fs no ocupe la seal de la banda base. Entonces se debe cumplir la condicin siguiente:

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fs - fmax > ff (4-6) la cul es una reafirmacin del teorema del muestreo, puesto que fs - fmax > fs / 2 (4-7) fs / 2 > fmax (4-8) fs > 2 fmax (4-8) Cuando no se cumple el teorema del muestreo, aparecen componentes no deseadas de la frecuencia con valores por debajo de ff. Este fenmeno se conoce como aliasing, puesto que estos componentes indeseados de la frecuencia aparecen como alias de otra frecuencia (de la banda base).

Figura 4-8. El Aliasing ocurre cuando la frecuencia de muestreo no es suficientemente elevada.

Para prevenir el aliasing en un analizador de FFT, se deben cumplir dos condiciones:

1. La seal de entrada debe ser de banda limitada. Es decir, debe existir una fmax por encima de la cual no hay presentes componentes frecuenciales (En la prctica, se permiten las componentes de frecuencia superiores a fmax, pero deben ser atenuados suficientemente de modo que no afecten la medida). Esto se logra, normalmente, insertando un filtro de antialiasing en el recorrido de la seal. 2. La seal de entrada se debe muestrear a una frecuencia que satisfaga el teorema del muestreo.

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La frecuencia de muestreo requerida por el teorema del muestreo es el valor terico mnimo que puede reconstruir la seal correctamente. En la prctica, es necesario utilizar una frecuencia de muestreo algo superior a este valor. Es preciso disear el sistema de modo que la frecuencia de plegado (y la frecuencia de muestreo) sean bastante grandes para que la respuesta del antialiasing haya decado lo suficiente. Para el diseo prctico del filtro, el valor de fs es 2,5 veces fmax.

Figura 4-9. La respuesta del filtro antialiasing requiere que la frecuencia de muestreo sea algo mayor que la indicada por el teorema del muestreo.

El aliasing se puede explicar en el dominio de la frecuencia, pero es tambin til considerarlo en el dominio de tiempo. A menos que un filtro antialiasing elimine la frecuencia indeseada, los dos seales muestreadas sern indistinguibles cuando sean procesados digitalmente.

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Figura 4-10. Aliasing en el dominio del tiempo.

6.4.6 Propiedades de la FFT La FFT es un algoritmo orientado a registro. La entrada es un registro temporal de N muestras de tamao, y la salida es el espectro de frecuencia de N muestras de tamao. Para simplificar el clculo de la FFT, N est normalmente restringida a un valor igual a una potencia de 2. El espectro de la frecuencia producido por la FFT es simtrico respecto de la frecuencia de plegado. As, la primera mitad de la salida es redundante con la segunda mitad y solamente se conservan los puntos de la muestra enumerados del 0 al N/2. Esto implica que la longitud til de la salida sea (N/2) + 1. stos son puntos complejos (real + j imaginario) que contienen informacin de la magnitud y de la fase. Dicho de otra manera, la salida de la FFT es de (N/2) + 1 puntos, extendindose a partir de 0 Hz hasta ff Hz. Los N/2 puntos en el dominio de la frecuencia se denominan bins (intervalos). Estos bins son equivalentes a las salidas individuales del filtro/detector en el analizador con banco de filtros. El bin 0 contiene el nivel de la CC presente en la seal de entrada y tambin se refiere como el bin de la CC. Los bins se espacian equidistantes en frecuencia, con paso de la frecuencia de valor igual a fstep que es el inverso de la longitud temporal de registro de entrada. fstep = 1 / longitud temporal del registro de entrada (4-10)

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La longitud temporal del registro de entrada se puede determinar a partir de la frecuencia de muestreo y del nmero de puntos muestreados contenidos en dicho registro. fstep = fs / N (4-11) La frecuencia asociada a cada bin est dada por: fn = n fs / N (4-12) siendo n el nmero del bin. La frecuencia del ltimo bin, conteniendo la frecuencia mxima de la FFT, es fs/2. Por lo tanto, el rango de frecuencia de una FFT es desde 0 Hz hasta fs/2.
Si un ciclo de una onda senoidal se ajuste exactamente en el registro temporal. Esta onda senoidal mostrar un valor en el bin 1 de la salida de la FFT. Si se dobla la frecuencia de la onda senoidal, entonces cabrn dos ondas completas en un registro temporal y su energa aparecer en el bin 2. Triplicar la frecuencia original de la onda senoidal causar una respuesta del dominio de la frecuencia en el bin 3, y as sucesivamente Figura 4-11. (a) Una onda senoidal que llena exactamente una vez el registro temporal, (b) la lnea espectral se muestra solamente en el bin 1 de la salida de la FFT.

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6.4.7 Controlando el span (alcance) de la frecuencia La FFT es intrnsecamente una transformacin en banda base. Es decir el rango de frecuencias de la FFT empieza en 0 Hz y extiende siempre a una frecuencia mxima igual a fs/2. Esto puede ser una limitacin significativa en las situaciones de medida en las que necesitemos analizar una banda de frecuencia pequea (que no empieza en la CC). Por ejemplo, suponga que un analizador de FFT tiene una frecuencia de muestreo, fs = 256 kHz. El rango de frecuencia de la FFT sera desde 0 Hz a 128 kHz (fs/2). Si N = 1024, la resolucin de la frecuencia fs/N = 250 hertzios. Las lneas espectrales ms cercanas a 250 Hz no podrn resolverse. Una forma para aumentar la resolucin de la frecuencia es aumentar N, el nmero de muestras en el registro temporal, que tambin aumenta el nmero de bins en la salida de la FFT. Desafortunadamente, esto aumenta el tamao de los datos y el consiguiente tiempo del clculo. La reduccin de la fs tambin mejorar la resolucin de la frecuencia pero a expensas de reducir el lmite de la frecuencia superior de la FFT y en ltima instancia el ancho de banda del instrumento.
Mientras se baja la frecuencia de muestreo, la frecuencia de corte del filtro antialiasing tambin debe ser bajada, si no ocurrir el aliasing. Es ms econmico implementar filtros digitales. Un filtro digital de decimacin disminuye simultneamente el ancho de banda de la seal y disminuye la frecuencia de muestreo. La frecuencia de muestreo del filtro digital es fs, mientras que la frecuencia de muestreo a la salida del filtro es fs/n, donde n es el factor de decimacin, que es un nmero entero. Similarmente, el ancho de banda en la entrada del filtro es BW y el ancho de banda en la salida del filtro es BW/n.
Figura 4-12. Los filtros digitales de decimacin son de uso frecuente para reducir la frecuencia de muestreo en la FFT.

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6.4.8 Anlisis de banda seleccionable Variando la frecuencia de muestreo, el alcance de la frecuencia del analizador puede controlarse pero la frecuencia del comienzo del alcance est siempre en el nivel de la CC. La resolucin de la frecuencia de la medida se puede mejorar pero a expensas de una frecuencia mxima menor. El anlisis de banda seleccionable (tambin conocido como operacin de zoom) permite que el usuario reduzca el alcance de la frecuencia mientras que mantiene una frecuencia central constante. El anlisis de banda seleccionable se logra mediante un cambio en el diagrama de bloques del instrumento. La salida del ADC es multiplicada por una sinusoide digital, realizando mezcla en frecuencia.

Figura 4-13. Un mezclador digital proporciona anlisis de banda seleccionable en un analizador de FFT.

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sta es una versin digital de las tcnicas del heterodino de uso frecuente en los receptores de radio y en los analizadores de espectros de barrido. El alcance de la frecuencia de inters se mezcla con una sinusoide compleja a la frecuencia central, lo que provoca que alcance de la frecuencia que se mezcle con la banda base. El filtro digital se configura para el alcance correcto utilizando el factor de decimacin apropiado. Se aplica la FFT a la salida del filtro digital para obtener el espectro de la frecuencia. El ancho de banda del filtro digital se puede reducir para producir alcances de la frecuencia de 1 Hz.

Figura 4-14. (a) El espectro de la seal medida, (b) el espectro del oscilador digital, (c) la versin trasladada en frecuencia del espectro original.

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6.4.9 Leakeage La FFT funciona sobre un registro temporal de longitud finita en un intento por aproximar la transformada de Fourier, que integra sobre todo el tiempo. La FFT se calcula sobre el registro temporal de longitud finita, pero tienen el efecto de replicar registro temporal de longitud finita sobre todo el tiempo. La FFT tiene el efecto de replicar el registro temporal.

Figura 4-15. (a) Una forma de onda que cabe exactamente en el registro, (b) cuando est replicada, no se introduce ningn transitorio.

Figura 4-16. (a) Una forma de onda que no cabe exactamente de una vez en el registro, (b) cuando est replicada, se introducen los transitorios, causando derrame (leakage) en el dominio de la frecuencia.

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En el caso de que se introduzca un transitorio cuando la forma de onda se replique todo el tiempo, el espectro de la FFT no es una buena aproximacin para la forma integral de la transformada de Fourier. Puesto que el usuario del instrumento no suele tener control sobre como se ajusta la forma de onda en el registro tempo, se debe asumir que una discontinuidad puede existir. Este efecto, conocido como leakage, es muy evidente en el dominio de la frecuencia. En vez de una lnea espectral fina y delgada, se extiende un rango amplio de frecuencias.

Figura 4-17. (a) Una medida con una lnea espectral, sin leakage, (b) una medida con una lnea espectral con leakage.

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6.4.10 Ventana Hanning La ventana de Hanning proporciona una transicin suave a cero en ambos extremos del registro temporal. Por lo tanto, este enventanado del registro temporal no producir un transitorio cuando sea replicado por el algoritmo de FFT. Debemos aclarar que se ha modificado el registro temporal original y por consiguiente se debe considerar el efecto introducido en el dominio de la frecuencia. La forma de la ventana de Hanning en el dominio de la frecuencia es la transformada de Fourier de la funcin de ventana.

Figura 4-18. (a) El registro temporal original, (b) la ventana Hanning, (c) enventanado del registro temporal.

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La respuesta en el dominio de la frecuencia de la funcin de ventana determina la forma pasa-banda de los filtros individuales que la FFT produce matemticamente. La Figura 4-19a muestra la respuesta solapada de varios bins de frecuencia usando una ventana de Hanning. Observe que la forma del filtro es redondeada y que la respuesta neta del analizador cae entre los bins. Por lo tanto, una lnea espectral que cae en medio de dos filtros ser medida con un error determinado por la forma del filtro. La ventana de Hanning introduce un error mximo de la amplitud de 1,5 dB (el 16%), que puede ser un error significativo en algunas aplicaciones. La forma de una ventana es siempre un compromiso entre la exactitud de la amplitud (que depende de lo plano que sea el filtro pasa-banda) y de la resolucin de la frecuencia (que depende del ancho del filtro). La ventana de Hanning, comparada con otras ventanas, proporciona la buena resolucin de la frecuencia a expensas de ser algo menos exacta en la amplitud. La Figura 4-20a muestra el espectro de una onda senoidal medida utilizando la ventana de Hanning.

Figura 4-19. (a) La ventana de Hanning introduce un error mximo en la medida de la amplitud de 1,5 dB (b) La ventana flat-top introduce un error mximo de la amplitud de 0,1 dB.

Figura 4-20. (a) Espectro de una onda senoidal usando la ventana de Hanning, (b) espectro de la misma onda usando la ventana flat-top.

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6.4.11 Ventana flat-top Una ventana con una banda de paso ms plana que reduzca el tamao de la amplitud entre los bins minimiza el error en la medida de la amplitud. Una lnea espectral que cae a medio camino entre los centros de dos bins ser atenuada por una cantidad mucho ms pequea. La ventana flat-top tiene tal caracterstica y se muestra en la Figura 4-19b. Puesto que la respuesta de cada bin se solapa considerablemente ms que con la ventana de Hanning, la desventaja de la ventana flattop es una resolucin reducida de la frecuencia. La lnea espectral aparecer ms amplia en la visualizacin del analizador de espectros, limitando la capacidad de resolver dos lneas espectrales espaciadas de cerca. La ventana flat-top se considera como una ventana de alta exactitud en la medida de la amplitud, teniendo un error mximo de 0,1 dB (el 1%). La Figura 4-20b muestra el espectro de una onda senoidal medida utilizando la ventana flattop. 6.4.12 Ventana uniforme En la ventana uniforme todas las muestras se dejan sin cambios. Aunque la ventana uniforme tiene potencial para los problemas severos de leakage, en algunos casos la forma de onda en el registro temporal tiene el mismo valor en ambos extremos del registro, de tal modo que se elimina el transitorio introducido por la FFT. Tales formas de onda se denominan auto-enventanadas. Son formas de onda tales como el ruido pseudoaleatorio (Pseudo-Random-Noise, PRN), las rfagas senoidales, los impulsos, y las senoidaless atenuadas. El ruido pseudoaleatorio es un ruido que no es realmente aleatorio, sino que por el contrario se repite cada cierto intervalo. La ventana uniforme es apropiada para hacer medidas de redes cuando se utilice la fuente de ruido interna del analizador. La fuente de ruido puede ser un generador de PRN que produce una forma de onda de ruido que sea peridica dentro del registro temporal del instrumento. Entonces, si se sincronizan la fuente de ruido y el registro temporal, no ocurre ningn transitorio en los extremos del registro temporal y se evita el leakage en el dominio de la frecuencia.
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6.4.13 Ventana exponencial Una de las ventajas de un analizador de FFT es que puede utilizarse para medir el contenido frecuencial de un transitorio rpido. Si la respuesta transitoria es auto-enventanada entonces se hace nula dentro de la longitud del registro temporal, reduciendo el problema de leakage. Si la forma de onda no se anula dentro del registro temporal, entonces debe utilizarse una determinada funcin de ventana. Si aplicamos a esa forma de onda una ventana tal como la ventana de Hanning, la porcin que comienza del registro temporal sera forzada a cero. Aqu es donde est la mayor parte de la energa del transitorio, as que tal ventana sera inadecuada. Una ventana con una respuesta exponencial descendente es til en tal situacin. La porcin que comienza de la forma de onda no se perturba, pero el extremo del registro temporal se fuerza a cero.
Figura 4-21. (a) Una respuesta transitoria que es auto-enventanada, (b) una respuesta transitoria que requiere enventanado, (c) la ventana exponencial, (d) la respuesta transitoria enventanada por c.

La ventana exponencial es inadecuada para medir cualquier forma de onda excepto las formas de onda transitorias.
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6.4.15 Caracterizacin de osciladores Una especificacin importante de un oscilador es su distorsin armnica. Se debe utilizar el enventanado para reducir leakage. La ventana flat-top se debe utilizar para proporcionar las medidas ms exactas de la amplitud. Es tambin importante cerciorarse de que el analizador no est underloaded. Si la seal que entra el ADC es demasiado pequea, mucha de la informacin til del espectro puede estar debajo del nivel de ruido del analizador. Por lo tanto, fijar la sensibilidad de la entrada al rango ms sensible que no causa una sobrecarga da los mejores resultados.

Figura 4-22. Distorsin armnica de un oscilador de audio, (a) escala logartmica de la amplitud, (b) escala linear de la amplitud.

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Otra medida importante medida de las prestaciones de un oscilador es el nivel de sus bandas laterales. El anlisis de banda seleccionable se utiliza para enfocar sobre la seal de modo que sea fcil resolver y medir las bandas laterales que son solamente 60 Hz y quedan lejos nuestra seal de 1 kHz. Con algunos analizadores, es posible medir seales separadas del fundamental un orden de magnitud de mHz.

Figura 4-23. Bandas laterales de un oscilador de audio.

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6.4.17 Medidas de redes Las medidas de redes se realizan suministrando una seal senoidal al dispositivo bajo prueba (DUT) y midiendo su salida, repitiendo esto en cada frecuencia de inters. Un analizador de espectros FFT se puede utilizar para hacer medidas de redes utilizando su fuente interna.

Figura 4-24. Un analizador de FFT puede realizar una medida de redes utilizando una fuente de ruido.

La senoide chirp es un barrido de rfagas senoidales diseada para llenar el registro temporal del analizador FFT. Esto proporciona energa a la banda de frecuencia de inters. La principal ventaja de la senoide chirp es que su relativamente alta energa media (mucho ms que el ruido aleatorio para el mismo voltaje mximo). Esto produce una mejor relacin seal-ruido en la medida, cuando comparamos con la utilizacin del ruido aleatorio para excitar la red. El ruido aleatorio de banda ancha tiene igual energa en todos los bins de la FFT y proporciona un estmulo al DUT tal que la respuesta de frecuencia de la salida ser la respuesta de frecuencia de la red. Una seal de PRN (pseudo-randomnoise) es de uso frecuente porque se sincroniza con el registro temporal del analizador de modo que no produzca leakage. De manera que se utiliza la ventana constante al hacer medidas de la red con una fuente de PRN.
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6.4.18 Fase Hasta ahora, hemos discutido slo la medida de la magnitud de seales en el dominio de la frecuencia. Sin embargo, el verdadero anlisis de redes requiere que se midan ambas, la magnitud y la fase. Al principio del captulo, mencionamos que la salida de la FFT era una matriz de puntos complejos que contenan la informacin de la magnitud y de la fase. Este hecho permite que un analizador de FFT realice medidas verdaderas de redes. En una medida de redes, la informacin de la fase es la respuesta de fase del dispositivo bajo prueba. Ms exactamente, es la diferencia de fase (en funcin de frecuencia) entre el estmulo de la entrada y la respuesta medida. Muchos analizadores de FFT tienen dos canales de entrada los cuales se pueda utilizar para medir simultneamente la entrada y la salida del DUT. En este caso, la respuesta de fase del DUT es la diferencia de fase entre los dos canales. 6.4.19 Mapas espectrales Una caracterstica que ha sido nica al analizador de FFT pero ahora se est encontrando en otros analizadores: es el mapa espectral (tambin conocido como waterfall). Esta caracterstica visualiza mltiples espectros en funcin del tiempo, dando un aspecto casi tridimensional. Para un evento transitorio, este espectro de frecuencia en funcin del tiempo caracteriza la seal en funcin de tiempo. (El anlisis de espectro tradicional siempre asume una seal inmvil). Esta caracterstica es particularmente apropiada para un analizador de FFT, puesto que tiene la capacidad de producir espectros sucesivos sin prdida de los datos. Los analizadores de barrido pueden perder fcilmente porciones de la forma de onda durante el barrido.

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6.4.20 Caracterizacin de filtros electrnicos Puesto que el filtro es linear, es posible utilizar como estmulo ruido pseudoaleatorio y conseguir tiempos muy rpidos en la realizacin de la prueba. Se utiliza la ventana constante porque el ruido pseudoaleatorio es peridico en el registro temporal. No es necesario hacer un promediado puesto que la seal es peridica y razonablemente grande. Es preciso, como ya se ha comentado, el fijar la sensibilidad de entrada para ambos canales a la posicin ms sensible que no sobrecargue a los ADC.
Figura 4-26. Disposicin de prueba para medir la respuesta de frecuencia del filtro.

La principal ventaja sobre las tcnicas de barrido es velocidad. Esta medida se puede hacer en 1/8 segundo con un analizador FFT, pero consumira unos 30 segundos con un analizador de redes de barrido.

Figura 4-27. Respuesta frecuencial de un filtro electrnico usando PRN y ventana constante.

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6.5 Analizadores de espectros de barrido 6.5.1 El analizador de ondas. Una aproximacin es utilizar un filtro sintonizable sobre el rango de frecuencia de inters. Esta tcnica permite solamente la medida de una frecuencia a la vez, por lo que no es un verdadero analizador de espectro, por ello se le denomina analizador de ondas o medidor de ondas.

Figura 5-1. Un diagrama de bloque conceptual del analizador de ondas.

Se sintoniza el analizador de ondas a la frecuencia de inters y lee el nivel de la seal presente a esa frecuencia. El ancho de banda del filtro sintonizado determina el ancho de banda de resolucin, BWRES del analizador de ondas. El filtro debe ser los ms plano que sea posible.

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6.5.2 Diagrama de bloques del heterodino. El analizador de ondas raramente se implementa utilizando un filtro sintonizado real. En lugar de mover el filtro en frecuencia, la seal de entrada se traslada en frecuencia y se mantiene la frecuencia del filtro. La frecuencia central del filtro pasa-banda se denomina frecuencia intermedia (IF) y el filtro se llama filtro IF.

Figura 5-2. Un diagrama de bloque ms prctico del analizador de la onda.

Idealmente, el mezclador funciona como un multiplicador. Supngase que la entrada es un coseno:

vRF (t ) = A cos(2f RF t ) (5-1)

y

vLO (t ) = cos( 2f LO t ) (5-2)

La salida del mezclador es:
vIF (t ) = A cos(2f RF t )cos(2f LO t ) (5-3)
vIF (t ) = A [cos(2f RF t + 2f LOt ) + cos(2f RF t 2f LOt )] (5-4) 2

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El filtro IF sigue siempre sintonizado a la misma frecuencia central, y mezclador se utiliza para desplazar la seal de entrada en frecuencia de modo que caiga en el centro del filtro IF.

Por ejemplo, supongamos que se necesita un analizador de ondas para medir seales a partir de 0 hasta los 10 MHz. La frecuencia IF elegida es de 20 MHZ y el oscilador local funciona entre 20 MHz y 30 MHz. Si la frecuencia de entrada es de 5 MHz, y el oscilador local se sintoniza a 25 MHz, se producen las frecuencias suma y diferencia de 30 MHz y de 20 MHz, respectivamente. Si la frecuencia de la entrada es de 1 MHz, el oscilador local tendra que sintonizarse a 21 MHz, produciendo frecuencias suma y diferencia de 22 megaciclos y de 20 MHz, respectivamente. El filtro pasa-baja en la entrada del diagrama de bloques se conoce como el filtro de la imagen. Si este filtro no se incluye, frecuencias indeseables podran entrar en el mezclador y trasladarse en frecuencia IF, perturbando la medida. Por ejemplo, con el mismo analizador anterior sintonizado a 5 MHz. Si una seal de 45 MHz llega al mezclador, se mezclara con la frecuencia del oscilador local (25 MHz) y producira frecuencias suma y diferencia de 70 MHz y de 20 MHz, respectivamente. La seal de 20 MHz caera directamente en el filtro IF y sera incluida en la medida. Sin un filtro de la imagen el analizador de ondas no poda distinguir entre la seal deseada de 5 MHz y la frecuencia imagen de 45 MHz. fIMAGE = fRF +2 fIF (5-8)

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6.5.3 El analizador de espectro de barrido. Una mejora obvia es hacer que el analizador automticamente barra sobre el rango de frecuencia de inters. En un analizador de espectros esto se lograda barriendo el oscilador local.

Figura 5-3. Un diagrama de bloque simplificado de un analizador de espectros de barrido.

Figura 5-4. Un diagrama de bloque simplificado de un analizador de espectros utilizando control por microprocesador.

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6.5.4 Consideraciones prcticas.

El analizador que utiliza una nica etapa mezclador/IF se denomina receptor de nica conversin: se puede utilizar para implementar un analizador de espectro, pero su funcionamiento es limitado. Algunas veces se necesita una elevada frecuencia IF, mientras que en otras ocasiones se requiere una baja frecuencia IF. Una frecuencia IF elevada hace que el rechazo de frecuencias imagen sea ms fcil, pero son ms difciles de implementar los estrechos filtros IF y los detectores a alta frecuencia. Inversamente, en las frecuencias bajas son ms fciles de construir los filtros de banda estrecha y los detectores correspondientes, pero el problema del rechazo de la imagen se hace ms difcil. Una solucin es la utilizacin de varias etapas de conversin conectadas en cascada. Cada seccin de conversin contiene un mezclador, un oscilador local y un filtro de frecuencia intermedio.

Muchos de los circuitos en el diagrama de bloques del analizador de espectros son sistemas complejos en si mismos. Por ejemplo, un oscilador local se puede componer de varios osciladores y/o bucles sintetizadores de frecuencia. Cada bucle sintetizador de frecuencia puede contener unos o ms mezcladores, un filtro pasa-baja y el oscilador. Se pueden configurar estos bloques de tal manera que el diagrama de bloques del analizador cambia significativamente dependiendo del rango de frecuencia que se est midiendo.

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6.5.5 Seccin de entrada. La entrada al diagrama de bloques del analizador de espectros tiene un atenuador variable, seguido por un amplificador. El propsito de esta seccin de entrada es controlar el nivel de la seal aplicada al resto del instrumento. Si el nivel de la seal es demasiado grande, los circuitos del analizador distorsionarn la seal, provocando que los productos de la distorsin aparezcan junto con la seal deseada. Si el nivel de la seal es demasiado pequeo, la seal se puede enmascarar por el ruido presente en el analizador. Cualquier problema se encamina en la direccin de reducir el rango dinmica de la medida.

Algunos instrumentos proporcionan una caracterstica de autorrango que selecciona automticamente una atenuacin apropiada para la entrada. Otros instrumentos requieren al usuario seleccionar la atenuacin apropiada. El circuito de la entrada de un analizador tpico es muy sensible y no soportar muchas exigencias. Cuidadosa atencin se debe prestar al nivel permisible de la seal en la entrada, particularmente en los analizadores de microondas. Algunos instrumentos toleran voltajes de CC en sus entradas, pero otros requieren que no se aplique ninguna CC, o que se restrinjan a valores pequeos.

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6.5.6 Ancho de banda de resolucin. El ancho de banda del ltimo filtro IF determina el ancho de banda de resolucin del instrumento, BWRES. Si se utilizan varios filtros IF, la respuesta compuesta de la cadena de IFs determina el ancho de banda de resolucin. Generalmente, uno de los filtros IF ser significativamente ms estrecho que los otros y l determinar el ancho de banda de resolucin. Se proporcionan mltiples anchos de banda de resolucin simplemente conmutando en los diferentes filtros. Los filtros con amplio ancho de banda respondern ms rpidamente, proporcionando medidas ms rpidas. Los filtros con estrecho ancho de banda son ms lentos pero producen una resolucin mejor de la frecuencia y una mejor relacin seal/ruido.

6.5.7 Limitaciones del barrido. El analizador de espectros de barrido proporciona un aumento significativo en la velocidad de la medida respecto al analizador de ondas, pero esto no significa que el analizador de espectros puede hacer un barrido arbitrariamente rpido.
Figura 5-5. Una onda senoidal atraviesa el filtro IF de un analizador de espectros.

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Si el barrido de la seal es bastante lento, la forma del filtro IF se traza en la visualizacin del analizador de espectro. (Normalmente, el ancho de banda del filtro IF es pequeo comparado con el alcance de la frecuencia que es barrido, de manera que la forma del filtro IF aparece como lnea espectral en el visualizador).

Si el barrido de la seal es demasiado rpido, el filtro no tiene tiempo para responder y se producen dos tipos de errores de la visualizacin: La amplitud de la lnea espectral es ms pequea que en el caso de barrido lento y la lnea espectral cambiarn levemente de puesto a la derecha, causando un error de frecuencia. Adicionalmente, puede haber oscilaciones amortiguadas ringing en la pendiente de decaimiento del filtro.

Figura 5-6. Estas dos medidas muestran los efectos de un barrido demasiado rpido. La lnea espectral de la izquierda corresponde a un barrido correcto. Un barrido demasiado rpido provoca que la lnea espectral sea ms pequea en amplitud y desplazada a la derecha.

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En la prctica, el filtro se puede barrer a cierta tasa finita mientras pueda tolerase un cierto error pequeo. Un lmite tpico del error, debido a los errores inducidos por el barrido, es de 0,1 dB. La tasa mxima del barrido (con tal lmite del error) es proporcional al cuadrado de ancho de banda de resolucin. tasa de barrido mxima = BWRES2 / k (5-9) donde k es un factor dependiente de las caractersticas del filtro, es decir, del ancho de banda de resolucin. Un valor tpico para k es 2 (para los filtros Gauss). Si se utiliza un filtro de pendientes abruptas, el tiempo de reaccin del filtro aumenta, provocando mayores valores de k. En un analizador de ondas, la forma del filtro IF se disea para que tenga pendientes abruptas y respuesta plana. Sin embargo este diseo no es el adecuado para un analizador de barrido, debido al incremento de tiempo que se necesita para realizar el barrido. Para reducir este tiempo en los analizadores de barrido, el filtro (como el Gaussiano) debe ser de respuesta ms suave y redondeada.

Figura 5-7. La forma de respuesta IF (ancho de banda de resolucin) de un analizador de espectro es redondeada y menos selectiva que un analizador de onda.

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6.5.8 Modos especializados de barrido. El modo de barrido denominado barrido manual, hace funcionar al analizador como un ondmetro, midiendo el espectro en solamente una frecuencia. Se ajusta la frecuencia y se puede barrer manualmente todo el alcance de la frecuencia. El barrido manual es especialmente til si se requiere un ancho de banda de resolucin es muy estrecho. No es necesario tener que esperar a un barrido largo al obligar que el analizador mida solamente en la frecuencia de inters. El modo del barrido, llamado barrido discreto o el barrido programa, que deja a usuario especificar una lista de frecuencias de prueba. El analizador salta automticamente de frecuencia en frecuencia, midiendo el contenido espectral en cada una. 6.5.9 Feedthrough del oscilador local. El mezclador ideal solamente produce las frecuencias de la suma y de la diferencia en puerto IF. En un mezclador real, las seales del oscilador local y de RF (con amplitud reducida) tambin aparecen en este puerto. En la mayora de los casos, la frecuencia del oscilador local est suficientemente lejos del centro del IF de manera que el feedthrough del oscilador local no aparece en la medida. Sin embargo, cuando la frecuencia del oscilador local es igual que (o muy cercana) a la frecuencia IF, la seal del oscilador local se atraviesa el filtro IF y aparece en la medida. Esta frecuencia del oscilador local se corresponde con una frecuencia de la entrada igual a 0 Hz (CC). El feedthrough del oscilador local tambin se conoce como la respuesta de CC.
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Si el filtro IF fuera infinitamente estrecho, el feedthrough del oscilador local solamente aparecera a 0 Hz exactamente. Con un filtro IF de ancho finito, el feedthrough del oscilador local se extiende desde 0 Hz hasta aproximadamente BWRES/2, tomando la forma del filtro IF. Puede ser necesario reducir el ancho de banda de resolucin para evitar que el feedthrough del oscilador local interfiera con la medida.

Figura 5-8. El feedthrough del oscilador local aparece una como respuesta en CC cuyo ancho depende del ancho de banda de resolucin.

6.5.10 Detector. La salida del filtro IF est conectado con el detector. El detector produce un nivel de CC proporcional al nivel de la CA de la seal en la seccin IF. El detector podra ser de diferentes tipos, pero el detector mximo es el ms utilizado. El detector tiene previamente un amplificador logartmico, que comprime el nivel de la seal segn una funcin logartmica. Esto reduce la variacin en el nivel de la seal vista por el detector y provee simultneamente una escala vertical logartmica que est calibrada para leer en decibelios. Cuando la salida del detector se muestrea y se convierte a la forma digital, es importante que la salida est suficientemente muestreada para que no se pierdan componentes espectrales.

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6.5.11 La seccin IF digital. En los instrumentos actuales, los filtros y detectores se implementan utilizando procesamiento digital de seales. Para proporcionar el ancho de banda de resolucin se utiliza la funcin de un algoritmo de filtro digital y la seal filtrada se detecta digitalmente. Tambin se puede implementar un filtro de video digital. Esta tcnica proporciona anchos de banda de resolucin estrechos y muy estables (1 Hz o an ms estrecho), puesto que los filtros digitales no presentan ninguna deriva. Se eliminan los errores asociados al amplificador logartmico y al detector, puesto que ambas funciones se realizan digitalmente.

Figura 5-9. La seccin IF / detector de un analizador de espectro de barrido se puede implementar utilizando tcnicas de procesado digital de la seal.

Puesto que la respuesta del filtro es muy estable y determinada los errores relacionados con el barrido son tambin determinados. El microprocesador del analizador puede eliminar estos errores proporcionando una medida ms exacta. Ms importante, el analizador puede hacer un sobre-barrido overswept para aumentar velocidad de la medida.

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Actividades Actividad 1. Realizar una lectura rpida del Tema, marcando todos los conceptos y definiciones. Hacer un resumen propio. Apuntar en una hoja aqullos conceptos que no hayan quedado claros. Actividad 2. Leer los ejemplos desarrollados en el Tema. Apuntar en una hoja aqullos conceptos que no hayan quedado todava claros para consultarlos en la tutora.

Actividad 3. Preparar el examen: Estudiar el Tema. Apuntar en una hoja aqullos problemas que no se hayan podido resolver para consultarlos en la tutora.

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