Documenti di Didattica
Documenti di Professioni
Documenti di Cultura
Algunas de las figuras de esta presentacin fueron tomadas de las pginas de internet de los autores del texto: A.R. Hambley, Electronics: A Top-Down Approach to Computer-Aided Circuit Design. Englewood Cliffs, NJ: Prentice Hall, 2000. Dr. J.E. Rayas Snchez
1
electrones de valencia +
Ge
Si
+
ncleo
Bandas de Energa
Energa
banda de conducin espacio prohibido banda de valencia 2a. banda 1a. banda
Energa (eV)
Conduccin en Metales
E Campo Elctrico (V/m) J Densidad de Corriente Elctrica (A/m2)
Conductividad (1/m)
J = E = nq n Concentracin de electrones libres (m3)
Ejemplo
l
I
a)
r = 300 m, l = 5 mm, calcular V para una I = 10 A, si el material es Aluminio ( = 3.816107 1/m) Silicio (ni = 1.5 1010 /cm3, n = 1,300 cm2/Vs, p = 500 cm2/Vs)
b)
V +
11
Ejemplo (cont.)
l
I
a)
r = 300 m, l = 5 mm, calcular V para una I = 10 A, si el material es Aluminio ( = 3.816107 1/m) Silicio (ni = 1.5 1010 /cm3, n = 1,300 cm2/Vs, p = 500 cm2/Vs)
b)
V +
3.54mA/cm2 E= = qni ( n + p ) (1.6 10-19 C)(1.5 1010 /cm 3 )(1800cm 2 / Vs) E = 819.4V / cm V = El = (819.4V/cm)(5mm) = 409.7V
12
Contaminacin (Doping)
! ! !
Es el proceso de agregar impurezas a un semiconductor intrnseco Semiconductor contaminado = semiconductor extrnseco Impurezas donadoras tomos pentavalentes (Sb, P, As) semiconductor tipo n
13
14
15
Semiconductor intrnseco n = p = ni Semic. tipo n (ND: concentracin de tomos donadores) ni2 como N D >> p, n N D , p ND Semic. tipo p (NA: concentracin de tomos aceptores)
p = n + NA n = p + ND
Corriente de Difusin
l
n
dn 0 dx
l x
dn dx
DIF
gradiente de concentracin
Dn
dp 0 dx
l x
dp dx
DIF
Dp
COND
DIF
dn J n = n E + qDn dx Jp = Jp
COND
+ Jp
DIF
J p = p E qD p J = Jn + J p
dp dx
19
Relacin de Einstein
Relaciona dos fenmenos termodinmicos y estadsticos Dn D p = = VT n p kT T VT = q 11,594 VT k T Voltaje equivalente de temperatura (V) Constante de Boltzman = 1.3811023 J/K Temperatura en Kelvins (K)
20
Potencial Interno
dn 0 dx
semiconductor graduado
dp 0 dx
Jn , J p
DIF
DIF
Como J n = J p = 0 Jn
COND
, Jp
COND
tal que
dn qn n E = qDn dx E interno
dp qp p E = qD p dx
V interno (V = Edx )
21
Dn dn VT dn E= = n n dx n dx dV Como E = dx
V2
dn dV = VT n n V
1 1
n2
n2 V2 V1 = VT ln n1
Dr. J.E. Rayas Snchez
p anlogamente V2 V1 = VT ln 1 p2
22
p1 V2 V1 = VT ln p2 p2 = p1e
V V 2 1 VT
n2 p2 = n1 p1
NA
ND
p1 V2 V1 = VT ln p2 NA V2 V1 VT ln 2 ni / N D
NA NAND 0 = VT ln 2 = VT ln 2 ni / N D ni (diferencia de potencial de contacto) (potencial interno de una unin p-n abrupta)
Dr. J.E. Rayas Snchez
24
Problema
Para un trozo de silicio graduado en escaln, calcular su potencial interno a temperatura ambiente si NA = 1015/cm3 = ND N AND 0 = VT ln 2 ni (T = 300K ) = 1.5 1010 cm 3 ni kT T 300 VT = = = 25.87 mV q 11,594 11,594 10151015 0 = (25.87mV) ln 2 = 0.57 V 20 1.5 10
Dr. J.E. Rayas Snchez
25
a)
Problema (cont.)
Para un trozo de silicio graduado en escaln, calcular su potencial interno si NA = 1017/cm3 y ND = 1015/cm3 10171015 0 = (25.87mV) ln 2 = 0.69V 20 1.5 10
b)
26
Ecuacin de Continuidad
n>>p ND
En equilibrio, n = no , p = po
po luz se enciende
p
po luz se apaga t
27
g=
pm
po p
dp dt = po p 0 p
p = po + ( pm po )e
t p
28
p
po luz se apaga t
p (t ) = po + ( pm po )e t0
Dr. J.E. Rayas Snchez
t p
Experimento de Shockley-Haynes
30
31
32
dIp Disminucin del nmero de Coulombs por segundo en el volumen dV debido a la corriente Ip dIp /q Disminucin de huecos por segundo en el volumen dV debido a la corriente Ip
33
dIp /q Disminucin de huecos por segundo en el volumen dV debido a la corriente Ip 1 dI p 1 dJ p = qA dx q dx Luego Disminucin de p por segundo en el volumen dV debido a la corriente Ip Ecuacin de Continuidad
34
p po p 1 J p = p t q x
Como
p po p 1 J p = p q x t
En estado estable...
x
1 J p po p = q x p Y como Jp
DIF
p'(0)
dp = qD p dx
35
d 2 p p po = 2 dx L2p p ( x) = K1e
x / Lp
+ K 2e
x / Lp
+ p0
K2 = 0 K1 = p ' ( 0)
p ( x) = p ' (0)e
L p D p p
x / Lp
+ p0
p'(0)