Centro Federal de Educao Tecnolgica do Paran Unidade de Ponta Grossa Coordenao de Mecnica Laboratrio de Materiais e Laboratrio de Metrologia e Ensaios

1 ENTEC Encontro de Tecnologia Metalografia e Interpretao Metalogrfica: Conceitos Bsicos

Prof. Anderson Pukasiewicz, Msc.

Data: 10 a 12 de maro de 2004 Ponta Grossa-PR

Sumrio
1. O ENSAIO METALOGRFICO NO CONTROLE DE QUALIDADE...........................................1 2. ENSAIO METALOGRFICO.............................................................................................................1 3. A MACROGRAFIA E A MICROGRAFIA........................................................................................1 3.1. MACROGRAFIA...........................................................................................................................................1 3.1.1. INTERPRETAO DOS RESULTADOS.........................................................................................3 3.1.2. IDENTIFICAO...............................................................................................................................3 3.2. MICROGRAFIA...........................................................................................................................................3 3.2.1. PREPARAO DE AMOSTRAS.......................................................................................................................4 3.2.2. CORTE DA AMOSTRA................................................................................................................................5 3.2.3. EMBUTIMENTO DA AMOSTRA.......................................................................................................................7 3.2.4. LIXAMENTO OU PR-POLIMENTO..................................................................................................................8 3.2.5. POLIMENTO..............................................................................................................................................9 3.2.6. ATAQUE DA SUPERFCIE PREPARADA..........................................................................................................10 3.2.7. COMPORTAMENTO DO ATAQUE: OBSERVAES...........................................................................................13 4. INCLUSES........................................................................................................................................13 4.1. CLASSIFICAO.............................................................................................................................13 4.2. COMPOSIO QUMICA ..............................................................................................................14 4.3. PROPSITO.......................................................................................................................................14 4.4. FORMAO DE INCLUSES NO AO.......................................................................................14 4.5. INFLUNCIA.....................................................................................................................................15 4.6. CARTA PADRO..............................................................................................................................15 4.7. MTODOS DE INDENTIFICAO DE INCLUSES VIA METALOGRAFIA TICA :.....................................................16 5. MICROCONSTITUINTES................................................................................................................16 6. TEXTURAS.........................................................................................................................................17 7. METALOGRAFIA QUANTITATIVA (TAMANHO DE GRO E PROPORO DE FASES) 17 7.1. DETERMINAO DA FRAO VOLUMTRICA POR CONTAGEM MANUAL DE PONTOS SEGUNDO A NORMA ASTM E 562.........................................................................................................................................................18 7.2. DETERMINAO DO TAMANHO DE GRO MDIO SEGUNDO A NORMA ASTM E - 112.................................19 7.2.1. MTODO PLANIMTRICO OU JEFFRIES........................................................................................................19 7.2.2. MTODO DE INTERCEPTOS........................................................................................................................20 8. AVALIAO DO TEOR DE CARBONO PELA MICROGRAFIA..............................................21 8.1. POR COMPARAO:.................................................................................................................................21 8.2. MTODO GRFICO:.................................................................................................................................21 9. NORMAS UTILIZADAS EM METALOGRAFIA ..........................................................................22

10. BIBLIOGRAFIA...............................................................................................................................23 11. ANEXOS............................................................................................................................................23

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

1. O ENSAIO METALOGRFICO NO CONTROLE DE QUALIDADE

O Controle de Qualidade de um produto metalrgico pode ser: - dimensional - estrutural Dimensional, preocupa-se em controlar um determinado produto em geral acabado ou semi-acabado, quanto s suas dimenses fsicas. Este campo tambm denominado de Metrologia. O controle estrutural preocupa-se com o material que forma a pea, sua composio, propriedade, estrutura, aplicao, etc. Classifica-se em: Ensaios fsicos: destrutivos e no destrutivos Anlise qumica. Ensaio metalogrfico. Ensaios especiais.

2. ENSAIO METALOGRFICO
Para se ter uma idia aproximada da natureza de certos materiais metlicos ou de como certas peas foram fabricadas, pode-se usar os seguintes exames elementares:

Aspecto da superfcie. Aspecto da fratura. Ao da lima. Centelhas ao esmeril. Atrao pelo im, sonoridade, etc. Estes exames elementares so rpidos, econmicos e do ao analista experimentando uma srie de informaes bsicas. Entretanto, com o incremento da tecnologia, um controle mais severo tornou necessrio o exame em laboratrio, com outros meios, ou seja, com mquinas, aparelhos ou instrumentos que forneam, de preferncia, um valor numrico que servir para o confronto com normas e especificaes. Este procedimento constitui um critrio justo e seguro na avaliao das qualidades dos materiais, contribuindo para a correo dos defeitos e para melhoria da qualidade. Ambos os controles, na oficina e no laboratrio, se completam perfeitamente.

3. A MACROGRAFIA E A MICROGRAFIA
O exame metalogrfico procura relacionar a estrutura do material com s propriedades fsicas e com o processo de fabricao, sendo que este exame pode ser: - Macrogrfico - Microgrfico

3.1. Macrografia
A macrografia consiste no exame do aspecto de uma superfcie plana seccionada de uma pea ou amostra metlica, devidamente polida e atacada por um reagente adequado. Por seu intermdio tem-se uma idia de conjunto, referente homogeneidade do material, distribuio e natureza de falhas, impurezas; ao processo de fabricao. Algumas das heterogeneidades mais comuns nos metais:

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica - vazio, causado pelo resfriamento lento; - segregao, causadas pelas impurezas e outros metais; - dendritas, formao de gros de vrios tamanhos; - trincas, devido s tenses excessivas no resfriamento; - regies alteradas termicamente na soldagem; - estrutura colunar devido ao processo de soldagem e solidificao aps fuso;

Tcnica macrogrfica: o primeiro passo consiste em saber qual o fim visado e o que se deseja obter. Para isto necessita-se de um corpo de prova escolhido e preparado com critrio. A tcnica do preparo de um corpo de prova de macrografia abrage as seguintes fases: Escolha e localizao a ser estudada, a qual ficar a critrio do analista, que ser guiado na sua escolha pela forma, pelos dados que se quer obter e por outras consideraes da pea em estudo, assim como pelas normas que estipulam critrios para a observao de cada item. Um corte transversal permitir verificar: - a natureza do material (ao, ferro fundido, ou liga no ferrosa); - seo homognea ou no; - forma e intensidade de segregaes; - posio, forma e dimenses das bolhas; - forma e dimenses das dendritas; - existncia de vazios; - profundidade da tmpera, etc. - profundidade e uniformidade da carbonetao; - profundidade de descarbonetao; - incluses Um corte longitudinal ser prefervel quando se quiser verificar: - se uma pea fundida, forjada ou laminada; - se a pea foi estampada ou torneada; - solda de barras; - extenso de tratamentos trmicos superficiais, etc. Antes do corte da amostra altamente prudente proceder a um exame detido da pea sob diversos pontos de vista, como o aspecto da fratura, a existncia de marcas de pancadas, gripamentos, vestgios de soldas, azulamento por aquecimento, porosidades, rebarbas, trincas, polimentos locais, enferrujamento, corroses, desgastes, marcas punonadas, entortamentos, etc., antes de determinar cortes ou extrao de amostras ou de corpos de prova. Na apreciao dos sinais encontrados, preciso muita ateno para no confundir aqueles que possivelmente j existiam na pea, antes do evento que deu motivo ao estudo, e que podem conduzir a alguma pista para as investigaes, com os que possam ter sidos ocasionados pela aplicao de ferramentas para retirar a pea de onde estava instalada, ou ento, ocasionados por quedas, ou durante o transporte. Preparao de uma superfcie plana e polida na rea escolhida compreende trs etapas: 1 Corte: feito com serra ou com cortador de disco abrasivo adequado; quando este meio no vivel, recorre-se ao desbaste, que praticado com esmeril comum at atingir a regio que interessa. Todas estas operaes devero ser levadas a cabo com o devido cuidado, de modo a evitar encruamentos locais excessivos, bem como aquecimento a mais de 100C em peas temperadas, pois estes fenmenos seriam mais tarde postos em evidncia pelo ataque, adulterando a concluso do exame. 2 Lixamento e Polimento: iniciado com lixa, em direo normal aos riscos j existentes; passa-se sucessivamente para lixa de granulao mais fina, sempre mudando a direo de 90. Deve-se tomar cuidados especiais para no arredondar as arestas dos corpos de prova. Aps cada lixamento a superfcie deve ser cuidadosamente limpa a fim de que o novo

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

lixamento no fique contaminado com resduos do lixamento anterior. Neste estgio, a superfcie denota por vezes algumas particularidades tais como: - restos de vazios; - trincas e incluses grandes; - porosidades e falhas em soldas. 3 Ataque da superfcie preparada: para por em evidncia outras heterogeneidades indispensvel proceder-se um ataque qumico. De acordo com o material e com a finalidade do exame, tm-se diversos reativos ( ver anexos): - reativo de iodo; - reativo de cido sulfrico; - reativo de cido clordrico; - reativo Fry (5g CuCl2, 40 ml HCl, 30 ml gua destilada, 25 ml lcool etlico), utilizado para observao de linhas de deformao ocorridos com trabalho frio. - reativo Heyn. 3.1.1. INTERPRETAO DOS RESULTADOS

- Quando a estrutura ataca mais: . Regies encruadas; . Regies temperada ou temperadas e revenidas; . Granulao grosseira; - Quando a composio qumica ataca mais: . Regies com maior teor de carbono; . Regies com maior teor de fsforo; . Regies com maior quantidade de incluses no metlicas, principalmente enxofre e fsforo; 3.1.2. IDENTIFICAO Tcnica de polimento, repolimento e ataque, serve para definir o defeito: - Regies ricas em carbono, desaparecem com um leve repolimento; - Regies ricas em impurezas, principalmente incluses de S e P, sofrem um ataque profundo escurecendo mais, permanecendo assim mesmo aps um leve polimento; - Regies com granulao grosseira, aparecem como mosaicos de lado escuro ( parte clara e parte escura); - Regies com tmpera branda ou temperadas e revenidas, ficam mais brilhantes que o resto da amostra aps um repolimento; - Regies encruadas, retira-se todo o ataque, com o polimento;

3.2. Micrografia
Consiste no estudo dos produtos metalrgicos, com o auxlio do microscpio, permitindo observar a granulao do material, a natureza, forma, quantidade e distribuio dos diversos constituintes ou de certas incluses, etc. Estas observaes so de grande utilidade prtica. Tcnica microgrfica: a tcnica do preparo de um corpo de prova de micrografia abrange as seguintes fases:

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

O sucesso na obteno de uma anlise e interpretao precisa de uma estrutura atravs do uso do microscpio tico a preparao adequada da amostra o qual deve representar fielmente a mesma na sua verso original. As amostras adequadamente preparadas devem Ter: - Superfcie extremamente lisa e plana, isenta de riscos de qualquer natureza ou dimenso; - Superfcie isenta de qualquer mancha e qualquer outro tipo de imperfeio que atrapalhe a anlise; - Superfcie intacta em termos de incluses, ou compostos intermetlicos que possam ser removidos com facilidade; - Superfcie isenta de trincas ocorridas na preparao da amostra (aquecimento, presso e queda da amostra; - Superfcie inalterada em termos estruturais devido ao aquecimento ou presso durante a preparao; - Superfcie isenta de incrustrao devido a insero de materiais estranhos (baquelite, resina) principalmente para materiais porosos; Para assegurar uma superfcie com caractersticas originais a preparao da amostra deve ser levada com muitos cuidados, alm disso um entendimento do que se deseja obter durante cada etapa da preparao algo de fundamental importncia. A localizao do corpo ou dos corpos para micrografia em peas grandes freqentemente, feita aps o exame macrogrfico, porque, se o aspecto for homogneo, a localizao do corpo de micrografia em geral indiferente; se, porm, no for e revelar anomalias ou heterogeneidades, o observador poder localizar corpos de prova em vrios pontos, caso julgue de interesse um exame mais detalhado dessas regies. Quando se trata de uma pea pequena ela diretamente seccionadas. A posio de onde tirado um corpo de prova a fim de ser usado para um estudo metalogrfico, depende do fim a que se destina o ensaio. Para atingir esse fim, os corpos de prova devem ser representativos das condies existentes. Se deve ser feito um exame geral sem o cuidado da preservao da amostra, eles podem ser tirados de qualquer parte da pea, conforme se deseje. Se a pea deve voltar ao servio, as posies disponveis para o exame so necessariamente limitadas. Se deve ser feito estudo de uma fratura, devem-se tomar sees do metal na vizinhana dessa fratura, de modo que estes corpos de prova ofeream as maiores possibilidades na determinao de sua causa. Outra seo deve ser tomada a alguma distncia da fratura, para fins de comparao. Deve ser organizado um fichrio com o mximo de informaes sobre ao ensaios realizados, incluindo ainda a localizao das amostras, um nmero capaz de identificar a seo que foi tomada, se transversal, longitudinal ou em ngulo; a direo de laminao ou forjamento, anlise qumica, tratamento trmico e qualquer outro dado necessrio a um completo histrico. O tamanho dos corpos de prova deve ser mantido dentro dos limites razoveis ( 1 a 2,5 cm para o lado do quadrado ou dimetro do crculo ). Isto geralmente governado pela construo do microscpio, representando o espao disponvel no suporte, para exame; pela rea superficial do corpo de prova, pois o tempo gasto em polir uma polegada quadrada ( 6,4 cm2 ), muito maior que o tempo necessrio para o polimento de 4 corpos de prova de polegada ( 12,7 mm ) de lado; e pela espessura que deve ser menor que qualquer outra dimenso, de modo que durante o seu polimento no exista tendncia produo de cantos arredondados ou facetas suplementares.

3.2.1.

Preparao de Amostras

A preparao de amostras para observao estrutural exige uma preparao cuidadosa e adequada. O tempo necessrio para uma boa preparao depende da composio qumica, tratamento trmico submetido, fases presentes e do material. Pode-se dizer que em alguns

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

casos a preparao da amostra requer algumas horas e em outros casos so necessrios at dias. Geralmente as amostras devem ter no mximo em torno de 1cm x 1cm para ser analisado. Assim na obteno de uma amostra partir de uma pea grande deve-se conhecer claramente o objetivo da anlise, para que se possa escolher a seo (longitudinal ou transversal) local a ser retirado (centro, superfcie). A norma ASTM E3-95 e ABNT podero contribuir para a anlise.

3.2.2.

Corte da Amostra

A Figura 3.1 sintetiza um dos problemas mais srios que podem acontecer na anlise de um material. Nota-se que dependendo da seo escolhida para observao o aspecto totalmente diferente. Na Figura 3.1 (a) mostra um corte na seo transversal de uma barra e est exemplificando como poderiam aparecer as incluses, enquanto que na Figura 3.1(b) mostra como poderia aparecer as incluses na seo longitudinal. Na Figura 3.1 (a) seria ideal um estudo da distribuio das incluses, enquanto que na Figura 3.1 (b) seria mais adequado um estudo para o tipo de incluses e tamanho.

Figura 3-1 Corte de uma barra para obteno de amostras para observao no microscpio tico. (a) seo transversal e (b) seo longitudinal.

Na Figura 3.2 ilustra o problema de homogeneidade da amostra a ser analisada. Como na maioria das anlises, a superfcie e o centro de uma barra apresentam uma estrutura diferente. Na Figura 3.2(a) exemplificado o caso de um ao onde observado gros equiaxiais com baixo teor de carbono devido a descarbonetao superficial enquanto que na regio central da barra observa-se uma estrutura de gros equiaxiais de ferrita com a presena de perlita nos contornos de gro. Na Figura 3.2(b) mostrada a estrutura de uma pea fundida mostrando a presena de gro colunares na superfcie devido a uma extrao de calor unidirecional pelas paredes do molde com uma alta taxa de resfriamento. A regio central constituda de gros equiaxiais e uniformes mostrando que a extrao de calor foi lenta. Para a amostra em estudo recomendvel o exame macrogrfico para analisar a variao estrutural da amostra bem como a espessura da camada com gros colunares.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

Figura 3-2 Anlise de homogeneidade da barra observando seo transversal da Figura 3.1. Observa no esquema da Figura 3.2(a) a variao estrutural para um ao com baixo contedo de carbono e no esquema da Figura 3.2(b) para uma pea fundida mostrando a variao na forma dos gro.

Durante a etapa de corte da seo escolhida, lixamento grosseiro e em menor escala durante o lixamento final e o polimento pode resultar numa zona do metal deformado sendo que a mesma induzida nesta etapa se as devidas precaues no forem tomadas. A Figura 3.3 mostra uma zona de deformao permanente indicando que o limite elstico foi ultrapassado e a zona de deformao bastante visvel onde os gro apresenta um alinhamento bastante visvel. Tambm mostrado esquematicamente uma regio totalmente fragmentada junto a superfcie, uma regio fortemente deformada e uma regio levemente deformada. Observa-se que a amostra aps o corte foi devidamente preparada envolvendo a etapa de lixamento, polimento e ataque qumico e mesmo assim a deformao inicialmente introduzida no foi retirada.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

Figura 3-3 Deformao superficial da amostra metlica durante a preparao (a) estrutura de ao aps um corte inadequado, (b) esquema da mesma amostra mostrando os diferentes nveis de deformao. A Figura 3.4 mostra esquematicamente o efeito do abrasivo e a superfcie da amostra onde a interface da deformao no uniformemente distribuda, dependente da ao do abrasivo.

Figura 3-4 Efeito do abrasivo mostrando esquematicamente a extenso da camada deformada (a) aps lixamento, (b) aps polimento grosseiro, (c) aps polimento final.

3.2.3.

Embutimento da amostra

O embutimento da amostra necessrio para facilitar as etapas subseqentes da preparao com o objetivo de obter uma superfcie plana e paralela, alm de proteger a superfcie para evitar arredondamento, deve-se selecionar uma resina de maior dureza quando deseja-se observar a superfcie da pea. O embutimento da amostra pode ser feita em material polimrico, tendo duas possibilidades: - Polmero ternmorrgido (baquelite, resina acrlica) exige presso para compactao e aquecimento para cura (Mximo de 200o.C); - Polmero termoplstico (resina polister) transparente, no requer presso e a temperatura de cura bem menor que comparada com o baquelite. A necessidade do embutimento de amostras metalogrficas de grande importncia em micrografia, pois alm de facilitar o manuseio de peas pequenas, evita que corpos de prova com arestas rasguem a lixa e o pano de polimento, bem como evita o abaulamento dos corpos de prova durante o polimento, o que influencia bastante na observao microscopia (facilita a observao dos bordos, que ficam planos). O embutimento com resinas sintticas apresenta ainda as seguintes vantagens: - So neutras em relao as solues de ataque; - Impedem a infiltrao das solues em poros e fendas; - A dureza pode ser adaptada dureza do material a ser embutido, atravs de aditivos especficos. O embutimento pode ser:

- a frio quando se usa resinas sintticas de polimerizao rpida;

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

-a

quente quando a amostra embutida em materiais termoplsticos por meio de prensas. Lixamento ou pr-polimento

3.2.4.

A finalidade do lixamento remover a deformao plstica produzida durante o corte da amostra e obter uma superfcie plana e paralela. Nesta etapa utiliza-se lixas abrasivas com granulometrias decrescentes sendo que as mais usuais so: #240, #320, #400, #600 e #1200. recomendada a utilizao de gua para remoo do material extrado da superfcie de lixamento e principalmente para manter a temperatura prxima da ambiente para no alterar as caractersticas estruturais da amostra. Esta ltima recomendao se aplica principalmente nos casos de lixamento mecnico. A passagem de uma lixa de granulometria menor deve ser feita quando houver um desaparecimento total dos riscos da anterior. imperativo que a mudana de uma lixa para outra a amostra e as mos do operador sejam bem lavadas para evitar contaminao com material da lixa anterior. Para obter bons resultados deve-se girar a amostra em 90o para facilitar a observao dos riscos da lixa anterior. O parmetro fundamental nesta etapa a presso aplicada sobre a amostra pois a mesma controla a profundidade do risco e tambm a deformao sobre a superfcie da amostra. Alm da presso externa aplicada contra a amostra h a presso exercida pelo meio lubrificante devido a presso superficial. O lixamento essencialmente o processo de preparao de uma superfcie lisa e plana da amostra metalogrfica para o subseqente polimento. Para isto, comea-se por lixar a amostra em lixas de granulao cada vez menor, modando de direo (90) em cada mudana de lixa at desaparecerem os traos da lixa anterior. De acordo com a dureza da amostra, da presso do trabalho e da velocidade de lixamento surgem deformaes plsticas de toda a superfcie por amassamento e um aumento de temperatura. Estes fatores devem ser evitados ao mximo, pois podem dar origem a uma imagem falseada. Incluses duras se desgastam menos; aps um certo tempo so arrancadas da superfcie e a depresso resultante preenchida com p ou ento exageradamente ampliada. Por isso o requerimento primordial da tcnica microgrfica de lixamento : a) Escolha adequada do material de lixamento em relao amostra e ao tipo de exame final; b) A superfcie deve estar sempre rigorosamente limpa isenta de lquidos e graxas que possam provocar reaes qumicas na superfcie. c) Na mudana de lixas deve-se limpar perfeitamente a superfcie da amostra. d) Riscos profundos que surgiram durante o lixamento, de preferncia devem ser eliminados por novo lixamento, pois um polimento demorado em geral no resolva. e) Metais diferentes no devem ser lixados sobre a mesma lixa. O lixamento pode ser: a) seco: a amostra lixada diretamente sobre a superfcie da lixa; b) mido: este processo facilita o lixamento, evitando aquecimento e a formao de poeira no ar; c) manual: quando a amostra trabalhada pelo analista diretamente sobre a lixadeira; d) automtico: o trabalho montono de lixamento substitudo por este processo. Diversas amostras so presas em suportes e lixadas sobre a ao de cargas variveis. Podese assim comparar diversas amostras sobre as mesmas condies. As lixas normalmente so de carbeto de silcio, com granulao classificada em grupos. O tamanho dos gros diminui com o aumento deste nmero. Aconselha-se sempre usar lixas do mesmo fabricante, pois uma numerao idntica no uma garantia suficiente para se obter os mesmos resultados. O

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

tratamento diferente da matria-prima e, principalmente, variao do teor de xido de ferro, so as causas destas diferenas.

3.2.5.

Polimento

Esta etapa pose ser considerada uma das mais importantes no processo de preparao de amostras para observao no microscpio tico. Utiliza-se uma politriz cujo princpio um prato giratrio com um pano adequado qual impregnado com uma suspenso de abrasivo. O abrasivo deve Ter um tamanho de partcula uniforme e o abrasivo de diamante um dos que preenche este requisito, alm de apresentar alta dureza, ser inerte e baixo coeficiente de atrito. Outra caracterstica que essas partcula mantm a sua forma e tamanho durante o processo de abraso e produz uma alta taxa e uniforme de remoo do material causando uma mnima deformao. Outros abrasivos comumente usados so: xido de alumnio, xido de crio, xido de cromo. O xido de alumnio amplamente utilizado e so disponveis em duas verses: levitado e o outro o p sinttico de alta pureza, sendo que estes materiais sintticos so os mais utilizados na forma de p ou suspenso na faixa de mcrons at sub-mcrons. O procedimento para o polimento tal que, devemos girar levemente a amostra no sentido oposto ao movimento do prato da polittriz. Como uma etapa final de preparao, um extremo cuidado deve ser tomado em relao a contaminao dos panos de polimento por partculas de abrasivo grosseiro. Para isso recomenda-se que aps o lixamento a amostra e as mos sejam devidamente lavadas. Para se obter uma superfcie perfeitamente polida, os seguintes cuidados devem ser observados: a) Escolha adequada do material de polimento em relao em relao amostra e ao tipo de exame final. b) A superfcie deve estar sempre rigorosamente limpa, isenta de poeira de vestgio do polimento anterior, a fim de no provocar riscos. c) Na mudana dos panos ou feltros de polimento, deve-se limpar perfeitamente a superfcie da amostra. O polimento pode ser: a) mecnico quando se usa uma politriz fixa ou motorizada, apresentando esta lyima geralmente velocidade varivel. O polimento mecnico pede ser ainda manual, quando a amostra trabalhada manualmente no disco de polimento; e automtico quando a amostra so fixadas em dispositivos especiais e polidas sobre a ao de cargas variveis. Como o material de polimento tem-se xido de alumina ou alumina ( natural ou sinttica), xido de cromo, pasta de diamante os quais so aplicados sobre panos especiais ou feltros. No caso da pasta de diamante, esta fixa-se no pano e o mesmo pode ser regenerado de tempos em tempos eliminando-se o material retirado das amostras. b) eletroltico neste processo, descoberto por Jacquet em 1935, as irregularidades de superfcie so alisadas quando a amostra funciona como nodo dentro de um banho eletroltico. Sendo a distancia no local de protuberncias, entre nodo e ctodo, inferior quele existente no local de depresses, a passagem da corrente faz-se com maior facilidade, gastando-se mais estes pontos; obtm-se assim uma superfcie plana. As vantagens do processo so economia de tempo e de trabalho e a no formao de camadas superficiais deformadas (principalmente para metais moles, ao inoxidvel austenticos). Apesar de ter sido recebido com desconfiana em relao aos materiais heterogneos, o processo desenvolveuse tambm para estes, pois o ataque desigual da superfcie geralmente no tem grande importncia.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

c) Mecnico eletroltico este pode ser alternado, passando da pasta de diamante ao processo eletroltico, ou combinado. Neste caso tem-se o disco giratrio (ctodo) mergulhado no eletrlito; a amostra funciona como nodo. Sobre o disco tem-se ainda a pasta especial para o polimento. A escolha do tipo de polimento Os materiais podem ser divididos em trs grupos principais de acordo com o mtodo de polimento mais indicado: Polimentos mais utilizados para algumas classes de materiais: a) Materiais homogneos comuns (ao, cobre, etc.) Para estes tipos de materiais usa-se o polimento eletroltico, podendo ainda ser usado o polimento mecnico (pasta de diamante). b) Materiais heterogneos (ferro fundido, alumnio e ligas) Este grupo de materiais pode normalmente ser melhor polido por meio do polimento mecnico (mtodo do diamente). Porm, deve-se dar um tratamento especial durante o polimento mecnico do alumnio e suas ligas. c) Metais especiais ( metais preciosos, tungstnio, ligas de cobre, etc.) Para este grupo de materiais, o polimento mais indicado o polimento eletro-mecnico. 3.2.6. Ataque da superfcie preparada

Uma amostra bem preparada antes do ataque qumico pode revelar incluses, porosidade, trincas, corroso intergranular, condies superficiais ,etc. O ataque qumico definido como um processo para revelar a estrutura atravs do ataque preferencial sobre a superfcie da amostra metlica previamente preparada conforme descrito nos itens anteriores, usando soluo qumica cida ou bsica. A Figura 3.5 mostra o princpio do ataque qumico pelos reagentes. Na Figura 3.5(a) temos uma amostra bem preparada aps o polimento e esta superfcie age como um espelho para o feixe incidente de luz e nenhuma estrutura pode ser observada. J na Figura 3.5(b) observa-se que o reagente atacou preferencialmente os gros e a estrutura pode ser no microscpio tico.

Figura 3-5 Princpio esquemtico do ataque qumico sobre a superfcie metlica. (a) antes do ataque qumici, (b) aps ataque qumico.

Deve-se tomar cuidados especiais aps o polimento final das amostras, durante a etapa de ataque qumico os riscos pode reaparecer, o que significa que a superfcie deformada no foi completamente removida, ainda que, ates do ataque qumico no seja possvel detectar nenhuma anomalia na superfcie preparada conforme ilustrado na Figura 3.6(a). Na Figura 3.6(b) mostra a mesma superfcie aps o ataque qumico mostrando esquematicamente a razo do reaparecimento dos riscos.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

Figura 3-6 Superfcie metlica preparada para observao no microscpio tico. (a) aps o polimento final o qual apresenta uma superfcie lisa e isenta de riscos. (b) aps o ataque qumico observa-se um ataque preferencial na regio deformada causando o aparecimento de riscos.

Para a remoo do defeito mostrado na Figura 3.6(b) aconselha-se voltar para a etapa inicial do lixamento e tornar as devidas precaues quanto deformao da amostra. A tcnica para o ataque qumico consiste na imerso da superfcie a ser analisada em contato com a soluo qumica. O tempo de ataque varia de alguns segundos at alguns minutos. Se o tempo de ataque foi excessivo poder queimar a amostra e neste caso deve-se retornar a lixa #600 ou #1200 retirando assim a camada oxidada. A durao do ataque para ferro fundido e aos comuns de 5 a 15 segundos. Aps o ataque lava-se imediatamente a superfcie atacada com lcool e em seguida efetua-se a secagem, passando-se primeiramente um pequeno chumao de algodo umedecido com lcool e depois um jato de ar quente superfcie. Reativos comumente usados: - Soluo de cido ntrico a 1% em lcool etlico Nital. - Soluo de cido pcrico a 4% em lcool etlico Picral. - Soluo de picrato de sdio. - Vilella 5 ml HCl, 1 grama de cido pcrico e 100 ml de alcohol etlico. O exame posterior de uma superfcie bem polida, em geral, no revela traos de suas caractersticas estruturais, quer em exame visual (macro), quer em exame ptico (micro). Para obter-se uma viso conveniente dentro da estrutura, a superfcie polida deve ser tratada de modo a tornar visvel as partes qumica e fisicamente distintas e aumentar ou diminuir os contrastes pticos entre os vrios componentes estruturais. O mtodo comum para o desenvolvimento da estrutura cristalina para exame microscpico o do emprego de um reagente qumico. Se uma amostra convenientemente preparada for examinada ao microscpio antes de atacada pelo reagente, ela apresentar poucos detalhes aparentes da estrutura. Tal exame, contudo, pode ser de valor, uma vez que os defeitos superficiais, como as partculas no metlicas que no foram polidas durante o polimento, podem ser estudados. Acredita-se que a ausncia de estrutura cristalina devida a uma pelcula metlica extremamente delgada, opaca e amorfa, que cobre a superfcie polida. Esta pelcula, aparentemente, o resultado do severo esforo mecnico e do trabalho a frio durante o polimento, que rompe a estrutura cristalina da camada mais alta, convertendo-a em uma camada dura constituda de maior ou menor quantidade de metal amorfo. Este efeito particularmente importante naqueles aos que possuem uma alta taxa de temperabilidade pelo trabalho, como os aos inoxidveis. Em subseqente ataque com reagente qumico, a primeira ao deve ser a remoo completa da camada amorfa. Depois de sua remoo, a soluo de ataque pode ento agir vagarosamente e provocar o desenvolvimento da verdadeira estrutura do metal. A ao dessa soluo depende da natureza qumica e estrutural do corpo de prova, a natureza qumica do reagente, o tempo de ataque, as temperaturas do reagente, e a agitao do reagente durante o processo.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

Os reagentes, em todos os tipos de ataque metalogrfico, atuam do mesmo modo, isto , atacam e dissolvem lentamente metal. A maneira pela qual o reagente ataca depende do propsito do material, isto , se ele consiste em um constituinte nico no qual todas as partes do metal so exatamente da mesma composio qumica, ou se ele de natureza complexa, quando existem diversos constituintes diferentes, cada um diferindo dos outros nessa composio qumica. No caso em que um metal puro est sendo atacado metalograficamente, o ataque qumico do reagente no se faz uniformemente em todos os gros da superfcie exposta, mas verifica-se que ele se processa sobre cada gro de um modo seletivo ao longo determinados planos cristalogrficos. Resulta disto que a velocidade de ataque varia de acordo com a orientao dos gros na superfcie, sendo evidente um contraste de gros. Este contraste devido ao fato de que os planos, que so paralelos no mesmo gro, no so necessariamente paralelos aos planos nos gros vizinhos. Nos casos em que uma liga composta de dois ou mais constituintes estruturais estiver sendo atacada, o reagente escolhido de modo a ser seletivo em seu ataque. O resultado usualmente um ataque parcial e o desgaste de um constituinte, enquanto que o outro permanece sem ser afetado. Isto permite que certos constituintes fiquem em relevo e produzam, quando observados pelo microscpio, o que se pode ser chamado um efeito de sombra. As partes no afetadas aparecero em cores brilhantes, enquanto que outras, em planos inferiores, aparecero escuras. O modo de se proceder para se realizar o ataque metalogrfico, exige certa habilidade, fcil de se desenvolver. Certos fatores devem ser considerados para que os melhores resultados sejam atingidos. Estes fatores so o modo de aplicar o reagente sobre a superfcie, o tempo aproximado do contato entre o reagente e a superfcie, e a temperatura do reagente. Em geral, a aplicao do reagente para o ataque feita ou por imerso ou por esfrega. Quando se usa por imerso na soluo, o corpo de prova mantido na soluo por meio de pinas pelo tempo necessrio. recomendvel que se o movimente constantemente, de modo que as bolhas de ar aderentes superfcie possam ser eliminadas, e que uma camada de reagente fresco esteja todo tempo em contato com a superfcie atacada. Se o corpo de prova for atacado por esfrega da soluo, a superfcie polida friccionada rapidamente, pelo tempo necessrio, com um tufo de algodo que foi saturado com reagente. Depois de decorrido o necessrio tempo de ataque, o corpo de prova deve ser completamente lavado sob um jato dgua, de modo que seja removidos o reagente e o ataque seja interrompido. Tal prtica absolutamente essencial, no somente porque ela interrompe a ao, mas tambm porque previne a formao de sais cidos que desfigurariam a superfcie. Uma limpeza completa sob um jato dgua quente com sua remoo e evaporao por violentas sacudidelas, ou enxugamento cuidadoso com um tecido macio, ser suficiente. Quando se tornam necessrios cuidados especiais, o corpo de prova deve ser lavado em lcool absoluto para remoo de gua, e o lcool deve ento ser evaporado na corrente de ar de um ventilador. Se o tempo de ataque foi insuficiente, o melhor caminho a seguir polir novamente a pea, at que todos os vestgios do ataque tenham sidos removidos, e ento proceder a um novo ataque. A superfcie quando atacada e seca convenientemente, permanecer em condies de trabalho por muitos dias, ou mesmo semanas se ela for guardada em um secador munido de um conveniente agente contra umidade (cloreto de clcio ). O primeiro fator importante para o ataque correto a um corpo de prova a seleo do reagente que melhor se adapte composio qumica e condio fsica do metal, e o segundo o controle conveniente do tempo de ataque para que se produza um grau de contraste apropriado entre os diferentes componentes da estrutura. O tempo de ataque depende da estrutura em questo e da ampliao que se deseja na fotografia. Conforme o reagente escolhido, o tempo de ataque variar de poucos segundos at alguns minutos, ou mesmo tempos maiores. difcil dar instrues precisas abrangendo todos os casos, e assim fazemos apenas as seguintes recomendaes:

- No atacar mais que o necessrio para fazer aparecer o detalhe significativo;

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

- Um

grau de contraste satisfatrio para uma micrografia com pequeno aumento geralmente excessivo para uma melhor definio da estruturas em ampliaes muito maiores; - Desejando-se um alto contraste, prefervel obt-lo por meios fotogrficos a recorrer a um ataque profundo, pois este ocultar os detalhes mais finos da estrutura; - Se um corpo de prova for insuficientemente atacado (pouco contraste), prefervel polilo novamente no disco acabador e atac-lo novamente com cido superpor, a um ataque j levado a efeito, outro posterior; - No tocar com coisa alguma numa superfcie j atacada e fotograf-la logo aps o ataque. 3.2.7. Comportamento do Ataque: Observaes

O contorno do gro importante devido a descontinuidade estrutural no reticulado cristalino. O efeito do ataque se faz sentir, mais acentuadamente, por causa das impurezas depositadas na interface. A superfcie dos gros reflete a luz incidente em ngulos diferentes em funo dos produtos da reao ou da superfcie atacada. A pelcula de xido que se origina durante o ataque retrai-se quando submetida secagem, formando-se estrias orientadas sobre a superfcie dos gros. As regies eutticas tornam-se visveis, especialmente quando contm segregaes. Aparecimento de cristais primrios e de segregaes. Os reagentes Picral e Nital podem ser utilizados um aps o outro na revelao de contorno dos gros de ferrita em aos de baixo teor de carbono (nital) e na revelao detalhada de: perlita, martensita, martensita revenida e bainita. Na obteno de contraste mximo entre perlita, cementita e ferrita em contrno de gro. Na distino entre Bainita e Perlita fina. Na revelao dos contornos de gros dos aos ao silcio contendo 4% Si. Na deteco de carbonetos no dissolvidos na Martensita. No ataque de aos de baixa liga e aos ao cromo resistentes ao do picral. Na diferenciao pela colorao entre ferrita, martensita e carboneto livre. Na revelao de limite de gro de ferrita nas estruturas de martensita com presena de ferrita. Na revelao de partculas de carbonetos no contorno dos gros de ao de baixo teor de carbono.

4. INCLUSES
So pequenas partculas dispersas na matriz metlica. As incluses interrompem a matriz metlica e acarretam alta concentrao de tenses, por extinguir a distribuio uniforme da tenso.

4.1. CLASSIFICAO
As incluses podem ser classificadas sob vrios aspectos, como por exemplo, quanto origem, composio qumica e propsito. ORIGEM So classificadas em exgenas e endgenas. a) Exgenas De origem externa, resultante da entrada de escria juntamente com o metal, da eroso mecnica do refratrio do forno ou do material do molde e de reaes qumicas entre o refratrio do forno e o metal e ou a escria. b) Endgenas De origem interna e resultantes de reaes qumicas, transformaes e precipitaes que ocorrem dentro de um metal. Como exemplos podem-se citar transformaes de xidos, sulfetos, fosfetos, nitretos e carbonetos, precipitao de cobre e de chumbo.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

4.2. COMPOSIO QUMICA

So classificadas em no metlicas e metlicas. a) No metlicas Quando esto sob forma combinada como por exemplo: xido, sulfeto, fosfeto, nitreto e carboneto. b) Metlicas Quando esto sob forma de elemento puro, como no caso do chumbo e do cobre, inclusive a grafita nos aos grafticos e ferros fundidos.

4.3. PROPSITO
So classificadas em desejveis e indesejveis. a) Desejveis Quando so produzidas, propositalmente, com fim especfico, como no caso do chumbo e do sulfeto de mangans, para proporcionar melhoria da usinabilidade ou, como no caso do xido de alumnio, para evitar crescimento dos gros austenticos dos aos. Portanto, as incluses nem sempre so malficas. As incluses, s vezes, so criadas com o fim de impedir que certo tipo de incluso seja gerada, como o caso da adio do mangans ao ao, cujo enxofre nunca totalmente eliminado na sua elaborao, para formar o sulfeto de mangans e impossibilitar a formao do sulfeto de ferro, o qual provoca fragilidade a quente ou de impedir a formao de bolhas, que ocorrero no ao, caso no seja adicionado ao lquido um desoxidante, como por exemplo, o alumnio, a fim de fixar o oxignio do xido de ferro, formar a alumina e evitar que se uma ao carbono, cujo gs resultante poder ficar retido durante a solidificao. b) Indesejveis Quando surgem no intencionalmente.

4.4. FORMAO DE INCLUSES NO AO

Sero abordadas, resumidamente, como algumas das incluses se formam no ao. Os xido surgem devido reao do oxignio, dissolvido no metal lquido, com o silcio, mangans e alumnio existentes ou por serem adicionados como desoxidantes, resultando os xidos de silcio, mangans e de alumnio, e evitando-se a reao do carbono com o oxignio dissolvido no ferro e consequentemente desprendimento de gases e possibilidade de formao de bolhas e ou porosidades. Os sulfetos so formados, porque o enxofre remanescente, por ser impureza difcil de total eliminao, reage com o ferro e mangans, resultando os sulfetos de ferro e mangans. Os fosfetos s ocorrem quando o teor de fsforo elevado, como 0,4%, com a formao do euttico fosforoso de partculas de fosfeto de ferro, Fe3P, sobre a matriz ferrtica saturada de fosfeto. A impureza fsforo de difcil eliminao e, normalmente, existe nos aos, porm em teores mximos permitidos e fica em soluo na ferrita. Os nitretos resultam da reao entre o nitrognio e o ferro, alumnio ou outro elemento, originando-se os nitretos de ferro, alumnio, etc..., que s ocorrem, quando o teor de nitrognio ultrapassa 0,001%, que o mximo da sua solubilidade na ferrita temperatura ambiente. Os carbonetos se formam pela unio do carbono com o elemento carbonetante, desde que ambos no fiquem em soluo, como no caso da cementita dos aos comuns, do carboneto de mangans no ao ao mangans e do carboneto de cromo no ao inoxidvel. A incluso de cobre s ocorre, porque ela no se combina com os elementos do ao, todavia necessrio que a sua solubilidade na ferrita exceda o limite mximo, que cerca de 1,3% a 850C e mais ou menos 0,35% desde 400C at temperatura ambiente, precipitando-se na matriz de ao. A incluso de chumbo existe no ao, porque ele no solvel no ferro lquido e slido, permanecendo disseminado na matriz de ao.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

4.5. INFLUNCIA
As incluses exercem influencia sobre o metal, porque interrompem a matriz metlica, acarretam alta concentrao de tenses e so barreiras ao movimento atmico. A descontinuidade metlica favorece a fragilidade e a usinabilidade, as tenses localizadas acarretam aumento da energia interna e acelera a cintica das reaes, as barreiras inibem o crescimento dos gros, por dificultarem, mecanicamente, o movimento atmico intercristalino e tornam o metal mais resistente e menos dctil, por impedirem o deslocamento das discordncias. Por outro lado, as incluses, finamente dispersas no lquido, propiciam granulao fina, por agirem como stios nucleantes, acarretando velocidade de nucleao superior de crescimento. O efeito das incluses depende da sua composio, tamanho, forma, quantidade e distribuio. As propriedades das incluses esto ligadas sua composio, podendo ser muito duras e frgeis, quando por exemplo, sob a forma de carbonetos e nitretos, ou de baixssimas durezas, como no caso do chumbo e da grafita. A influncia das incluses menos prejudicial s propriedades mecnicas do metal quando em menor quantidade, menor tamanho, mais homogeneamente distribudas e de forma esfrica, caso em que favorece a tenacidade, a resistncia ao ,impacto, a usinabilidade, etc., e a pea fica com menos tendncia fratura por fadiga. Quando segregadas, afetam mais propriedades do metal e a propenso ruptura por fadiga, devido sua natural no plasticidade e alta concentrao de tenses. Quando alongadas, por efeito de trabalho mecnico, acarretam propriedades anisotrpicas, reduzindo sensivelmente a ductilidade e a resistncia ao impacto transversal. O efeito malfico das incluses mais acentuado nos materiais duros do que nos moles, porque nestes poder ocorrer reduo da concentrao de tenses resultante de deformaes plsticas localizadas. Na elaborao do ao, as impurezas enxofre e fsforo so controladas, para evitar seus efeitos perniciosos. O sulfeto de ferro forma com o ferro um euttico de baixo ponto de fuso, 988C, que se localiza entre os gros. Quando o ao aquecido para ser deformado, esse sulfeto fica lquido, a coeso entre os gros austenticos afetada e ocorre a ruptura fcil do ao. a conhecida fragilidade quente. Afortunadamente, como o enxofre tem maior afinidade pelo mangans do que pelo ferro, evita-se a formao do sulfeto de ferro com adio de mangans ao ao, pela formao preferencial do sulfeto de mangans. Este sulfeto funde a cerca de 1600C e fica disseminado no ao, deformando-se e alongando-se, pela ao de trabalho mecnico a quente, quando adquire plasticidade. O fsforo fica em soluo na ferrita, endurecendo-a. acima de 0,1% identificado, por tornar a ferrita sombreada e o ao com granulao grosseira persistentes ao tratamentos trmicos para refin-lo, acarretando-lhe fragilidade temperatura ambiente, conhecida como fragilidade a frio. Teores mais elevados como 0,4%, podem propiciar a formao do euttico fosforoso, que se solidifica, aproximadamente, a 1050C e fica intergranular, causando ao ao maior fragilidade a frio, por ser duro, ou esboroamento quando deformado a essa temperatura ou a superiores, por estar lquido.

4.6. CARTA PADRO

So cartas que, por meio desenhos representativos de microtexturas, indicam os tipos, formas, tamanhos, quantidades e distribuio das incluses. Vrios so as cartas, porm a mais representativa das incluses mais comuns dos aos a JK, elaborada pela Jernkontoret Associao dos Siderrgicos Suecos e adotada pela ASTM E 45 46 T, e que divide as incluses nos tipos A, B, C, e D, desdobradas nas sries fina e grossa, com cinco esboos diferentes e numerados de 1 a 5, para cada srie. Os nmeros indicam quantidade de incluses por unidade de rea a 100x, sendo o 1 designativo de baixa e o 5 de alta porcentagem de incluses.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

O uso da carta, por no existir carta representativa para todos os tipos e formas de incluses, limitado aos tipos mais comuns de incluses nos aos, e, geralmente, no traduz o estado mdio do material. Os tipos de incluses so identificados por meio de ensaio microscpio em corpo de prova polido e sem ataque. O sulfeto de mangans, sob forma poligonal globular, dendrtica, etc., ou alongamento por ao de deformao plstica a quente, tem colorao cinzentaescura; o sulfeto de ferro amarelado e a superfcie, comumente, cncava; os xidos de alumnio so escuros e apresentam-se esparados ou, normalmente, grupados ou sob a forma de pequenas partculas esfricas; os silicatos so negros e ficam concentrados ou alongados e partidos pelo trabalho mecnica a quente.

4.7. Mtodos de indentificao de incluses via metalografia tica :

- Quadro comparativo ( aumento de 100X ) - Dissoluo por determinados reagentes - Avaliao da colorao

5. MICROCONSTITUINTES
Propriedades dos constituintes dos aos Os constituintes bsicos dos aos so : A austenita (do nome do metalurgista ingls Robert Austen), nos aos comuns, s estvel acima de 727C; consta de uma soluo slida de carbono no ferro gama e apresenta uma estrutura de gros poligonais irregulares; possui boa resistncia mecnica e aprecivel tenacidade; no magntica. A ferrita (do latim ferrum) ferro no estado alotrpico alfa, contendo em soluo traos de carbono; apresenta tambm uma estrutura de gros poligonais irregulares; possui baixa dureza e baixa resistncia trao, cerca de 28 Kgf/mm2 (270 MPa), mas excelente resistncia ao choque e elevado alongamento. A cementita (do latim caementum) o carboneto de ferro Fe3C contendo 6,67% de carbono; muito dura (na escala Mohs ocuparia aproximadamente o lugar do feldspato), quebradia responsvel pela elevada dureza e resistncia dos aos de alto carbono, assim como pela sua menor ductilidade. Possui estrutura cristalina ortormbica. A perlita (nome devido nuance de cores de madreprola que esse constituinte freqentemente apresenta ao microscpio) a mistura mecnica de 88,5% de ferrita e 11,5% de cementita, na forma de lminas finas (de espessura raramente superior a um milsimo de milmetro) dispostas alternadamente. As propriedades mecnicas da perlita so, portanto, intermedirias entre as da ferrita e da cementita, dependendo, entretanto, do tamanho das partculas de cementita. Sua resistncia trao , em mdia, 75 Kgf/ mm2 (740 MPa). A proporo de perlita num ao cresce de 0% para ferro at 100% para ao eutetide (o,77% de carbono), de modo que um ao com 0,5% de carbono, por exemplo, apresentar cerca de 65% de perlita. A martensita apresenta um reticulado tetragonal e sua dureza muito elevada, podendo atingir 65 a 67 Rockwell C. Sua resistividade trmica consideravelmente mais alta que a dos conglomerados ferrita-cementita, qualquer que seja o seu grau de disperso. Sua elevada dureza devido a diversos fatores como: - precipitao de particulas submicroscpicas de carboneto de ferro da soluo slida gama e reteno dessas partculas na forma de uma soluo slida supersaturada no reticulado do ferro alfa (formado no esfriamento) onde atuam como espcies de chavetas, impedindo o escorregamento; - distoro do reticulado; - tenses internas; - tamanho de gro muito pequeno; - soluo supersaturada de carbono.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

A bainita, que formada na temperatura entre 550 e 200C, varia de aspecto, que vai desde um agregado de ferrita em forma de pena e carboneto de ferro muito fino, em torno de 450C, at um constituinte em forma de agulhas com colorao escura (em torno de 200C) e sua dureza varia de 40 a 60 Rockwell C. Na parte mais baixa do diagrama TTT, a bainita caracteriza-se pela excelente ductilidade e resistncia ao choque, com durezas elevadas, acima mesmo de 50 Rockwell C. A ledeburita um equilbrio de duas fases: austenita de um lado e cementita (Fe 3C) do outro. Esse euttico cristalizado constitudo de um fundo de cementita com aproximadamente 6,7% de carbono e cristais dendrticos de austenita, contendo 2% de carbono. Nos ferros fundidos brancos, um constituinte formado de pequenos glbulos de perlita, sobre um fundo de cementita; por isso apresenta elevada dureza.

6. TEXTURAS
Os materiais metlicos, apresentam os seguintes tipos de texturas : - reticular - granular - alinhada - acicular ou widmanstatten - encruada - descarbonetada - queimada - martenstica - esferoidizada - bruta de fuso

7. METALOGRAFIA QUANTITATIVA (TAMANHO DE GRO E PROPORO DE FASES)

A metalografia quantitativa vem se firmando cada vez mais como uma tcnica experimental de grande utilidade tanto no estudo de fenmenos metalrgicos como na caracterizao das microestruturas e sua correlao com as propriedades mecnicas. A metalografia quantitativa uma ferramenta extremamente til no estudo de fenmenos metalrgicos, gerando informaes que eventualmente podem embaar o correto dimensionamento de processos industriais. A seguir, alguns exemplos da aplicao desta tcnica no estudo de fenmenos metalrgicos. - recristalizao e crescimento de gro: determinao do tamanho e da superfcie especfica dos gros cristalizados, bem como medida da frao recristalizada, aps laminao a quente ou tratamento trmico; - precipitao: determinao de frao volumtrica, tamanho e grau de disperso dos precipitados; - transformao de fases: determinao de frao volumtrica e dureza de fases como auxlio na determinao de diagramas TRC ou aps a laminao a quente de aos bifsicos; - solidificao: determinao da morfologia da grafita e da microestrutura dos ferros fundidos em termos gerais. Quanto caracterizao da microestrutura e sua correlao com as propriedades mecnicas, h mais de uma dcada esto sendo feitos estudos sistemticos, particularmente no aso dos aos. Tais trabalhos so de fundamental importncia, pois no s a dureza e as fraes das fases presentes na microestrutura definem a resistncia mecnica e a dutilidade do material: a morfologia ou formato das fases, bem como a natureza e a densidade dos contornos presentes podem atuar de maneira fundamental. Dentro desta linha de pesquisa h estudos voltados para diversos tipos de aos: - microligados: relao entre resistncia mecnica, dutilidade e propriedades de impacto em funo do tamanho de gro ferrtico e frao volumtrica de perlita; - bifsico dual phase: caracterizao topolgica da microestrutura dual; relaes estatsticas entre as propriedades mecnicas e o tamanho de gro e frao volumtrica das

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

fases; modelamento matemtico da microestrutura e propriedades mecnicas; relaes estatsticas entre o espaamento da segunda fase e sua frao em volume como o coeficiente de encruamento do material; - incluses no metlicas: determinao do grau de limpeza do ao, caracterizando a frao em volume e a morfologia das incluses no metlicas xidos, sulfetos, nitretos que ele possas conter. As amostras podem ser analisadas em termos de: - frao volumtrica de fase - tamanho de gro da microestrutura Normalmente a microestrutura varia estatisticamente de um ponto a outro da amostra que est sendo analisada. Logo, para que o valor final do parmetro em estudo tenha significado estatstico, necessrio que ele seja calculado a partir da mdia de um nmero mnimo de observaes ou campos metalogrficos - , o qual funo grau de flutuao estatstica das medidas na microestrutura e da preciso desejada. Frao Volumtrica A determinao da frao volumtrica de uma fase particular presente na microestrutura feita atravs da aplicao de uma rede sobre a imagem da microestrutura, e contando-se o nmero de pontos coincidentes entre a rede e a fase em estudo. Essa contagem pode ser feita em fotos ou diretamente no microscpio. A frao volumtrica da fase calculada a partir da mdia do quociente do nmero de pontos total da rede a partir das diversas medidas efetuadas. Tamanho de gro da microestrutura A determinao do tamanho feita atravs da sobreposio de uma linha-teste sobre a imagem da microestrutura em estudo e contando-se o nmero de intersees dos contornos de gro da microestrutura com ela. Essa linha-teste pode ser um segmento de reta ou um crculo, com comprimento conhecido. Recomenda-se o uso de crculos quando se quer evitar o efeito da orientao preferencial dos gros, minimizando-se desta forma o erro estatstico produzido.

7.1. Determinao da Frao Volumtrica por Contagem Manual de Pontos segundo a Norma ASTM E 562
OBJETIVO : Quantificar as partes presentes , devido as propriedades estarem ligadas a microestrutura . Pode-se avaliar a anisotropia analisando a seo normal, transversal e longitudinal . PRINCPIO : Coloca-se uma rede de pontos (grade) sobre a imagem de uma campo de uma amostra metalogrfica que est sendo projetada na tela de uma microscpio tico. PROCEDIMENTO : A - Estime visualmente o percentual do constitunte ou fase que ser contada. B - Selecione a grade adequada de acordo com a frao estimada da fase avaliada. * 1) Na prtica, observamos o tamanho (pequena ou grande), a distribuo (muito ou pouco) e a concentrao (aberta ou fechada) da fase, colocamos o melhor aumento para visualizar a fase, onde a mesma no pode tocar dois pontos da grade. 2) Tendo a grade j determinada colocamos um aumento que proporcione boa visualizao. 3) Ideal ter uma grade de 25 e outra de 49 pontos no mnimo. C - Coloque a grade escolhida na tela do microscpio e selecione o aumento a ser utilizado de forma que dois pontos no toque uma mesma fase. Com o aumento adequado, o tamanho do constitunte deve ser aproximadamente a metade da distncia entre os pontos da grade. D - Selecione o nmero de medidas para um intervalo de confiabilidade de 95% O mnimo de campos contados deve ser de 30 (Pode-se na prtica executar-se 10) E - Conte e anote o nmero de pontos da grade que estiverem sobre o constituinte como 1 e os que carem na interface como 0,5 (meio) . Em caso de dvida considere sempre como meio . F - Divida o nmero encontrado no item anterior pelo nmero total de pontos da grade. Obtendo a frao volumtrica parcial.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

G - Some os resultados, e tire a mdia aritmtica x 100 , obtendo o resultado final em (%).

7.2. Determinao do Tamanho de Gro Mdio segundo a Norma ASTM E - 112

OBJETIVO : Utilizando o mtodo das intersees, executamos uma anlise linear de nmero de objetos por tamanho da linha teste . 7.2.1. Mtodo Planimtrico ou Jeffries

Consiste de inscrever um crculo de rea conhecida, 5000mm2 (um crculo de 79,8mm de dimetro) em uma micrografia ou fotografia de uma metalografia. Seleciona-se um aumento que determine a contagem de pelo menos 50 gros no interior do crculo, visando assim minimizar os erros. Com a imagem devidamente focada conta-se o nmero de gros no seu interior incluindo os gros interceptados na circunferncia, atravs da seguinte relao. N int erceptados N A = f ( N int ernos + ) Equao1 2 sendo:

NA o nmero de gros com um aumento de 1X por mm2 f o fator de Jeffries Ninternos o nmero de gros no interior do crculo Ninterceptados o nmero de gros interceptados pela circunferncia

A Tabela 7.1 abaixo relaciona o aumento utilizado e o fator de Jeffries.

Tabela 7-1 Relao entre o aumento utilizado e o Coeficiente Jeffries, f, para uma rea de 5000 mm2 (a Circle of 79.8-mm de dimetro (f = 0.0002 m2) Aumento usado (M) Coeficiente Jeffries, f, para obter Gros/mm2 0.0002 10 25 50 75 100 150 200 250 300 500 750 1000 0.02 0.125 0.5 1.125 2.0 4.5 8.0 12.5 18.0 50.0 112.5 200.0

Para obter uma maior preciso da contagem dos gros a contagem no deve exceder 100 gros pois torna-se tediosa.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

Deve se tomar pelo menos 3 campos para visualizao, obtendo assim a mdia dos trs toma-se o valor de N A determinado pela seguinte relao, N A =
N Ai

e consulta-se a

Tabela 2. A Tabela 2 determina o tamanho de gro em relao aos dados obtidos pelo mtodos de determinao de tamanho de gro

Tabela 7-2 Relaes de tamanho de gro para gros equiaxiais uniformes, orientados de forma aleatria
Tamanho de gro No. Gros/unidade de rea

NA

rea mdia do gro mdia

Dimetro mdio

distncia entre interceptos

NL
G 00 0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 5.5 6.0 6.5 7.0 7.5 8.0 8.5 9.0 9.5 10.0 10.5 11.0 11.5 12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 No.in2 at 100X No./mm2 at 1X 0.25 3.88 0.50 7.75 0.71 10.96 1.00 15.50 1.41 21.92 2.00 31.00 2.83 43.84 4.00 62.00 5.66 87.68 8.00 124.00 11.31 175.36 16.00 248.00 22.63 350.73 32.00 496.00 45.25 701.45 64.00 992.00 90.51 1402.9 128.00 1984.0 181.02 2805.8 256.00 3968.0 362.04 5611.6 512.00 7936.0 724.08 11223.2 1024.00 15872.0 1448.15 22446.4 2048.00 31744.1 2896.31 44892.9 4096.00 63488.1 5792.62 89785.8 8192.00 126976.3 mm2 m2 0.2581 258064 0.1290 129032 0.0912 91239 0.645 64516 0.0456 45620 0.0323 32258 0.0228 22810 0.0161 16129 0.0114 11405 0.00806 8065 0.00570 5703 0.00403 4032 0.00285 2851 0.00202 2016 0.00143 1426 0.00101 1008 0.00071 713 0.00050 504 0.00036 356 0.00025 252 0.00018 178 0.00013 126 0.000089 89.1 0.000063 63.0 0.000045 44.6 0.000032 31.5 0.000022 22,3 0.000016 15.8 0.000011 11.1 0.000008 7.9 mm 0.5080 0.3592 0.3021 0.2540 0.2136 0.1796 0.1510 0.1270 0.1068 0.0898 0.0755 0.0635 0.0534 0.0449 0.0378 0.0318 0.0267 0.0225 0.0189 0.0159 0.0133 0.0112 0.0094 0.0079 0.0067 0.0056 0.0047 0.0040 0.0033 0.0028 m 508.0 359.2 302.1 254.0 213.6 179.6 151.0 127.0 106.8 89.8 75.5 63.5 53.4 44.9 37.8 31.8 26.7 22.5 18.9 15.9 13.3 11.2 9.4 7.9 6.7 5.6 4.7 4.0 3.3 2.8 mm 0.4525 0.3200 0.2691 0.2263 0.1903 0.1600 0.1345 0.1131 0.0951 0.0800 0.0673 0.0566 0.0476 0.0400 0.0336 0.0283 0.0238 0.0200 0.0168 0.0141 0.0119 0.0100 0.0084 0.0071 0.0060 0.0050 0.0042 0.0035 0.0030 0.0025 m 452.5 320.0 269.1 226.3 190.3 160.0 134.5 113.1 95.1 80.0 67.3 56.6 47.6 40.0 33.6 28.3 23.8 20.0 16.8 14.1 11.9 10.0 8.4 7.1 5.9 5.0 4.2 3.5 3.0 2.5 No./mm 2.21 3.12 3.72 4.42 5.26 6.25 7.43 8.84 10.51 12.50 14.87 17.68 21.02 25.00 29.73 35.36 42.04 50.00 59.46 70.71 84.09 100.0 118.9 141.4 168.2 200.0 237.8 282.8 336.4 400.0

7.2.2.

Mtodo de Interceptos

O mtodo de Abrams consiste de trs crculos concntricos com um total de 500mm de comprimento linear, exemplo trs crculos de respectivamente 79, 6mm, 53mm e 26,5mm. Deve ser utilizado pelo 5 campos separados. Deve ser examinado uma amplitude que determine em torno de 100 interceptos. A Figura 1 relaciona o nmero de interceptos com o nmero de tamanho de gro. Alm da Figura 1 pode-se relacionar o nmero de tamanho de gro com as relaes abaixo e a Tabela 2.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

NL =
l =

Ni L/M
1 NL

Equao 2 Equao3

sendo: N L a mdia aritmtica de Ni que o nmero de interceptos, l a mdia aritmtica da distncia entre interceptos, - M o aumento utilizado, - L o comprimento dos crculos, 500mm,

Figura 7-7 Relao do nmero de interceptos com o tamanho de gro ASTM.

8. AVALIAO DO TEOR DE CARBONO PELA MICROGRAFIA

Mtodos: 1 - Por comparao 2 - Grfico 3 - Matemtico

8.1. Por Comparao:

Confeccionar um quadro comparativo : a) Analisar as asmostras previamente para verificao % C b) Preparar as amostras recozidas , e atacar com nital 3% c) Fotografar com aumento real de 100X Comparar as amostras recozidas ou normalizadas em aumento de 100 X

8.2. Mtodo Grfico:

Avaliar por estimativa ou por grade de pontos as quantidades de perlita e ferrita. Executar a leitura no grfico.

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

Mtodo Matemtico : Avaliar por estimativa, comparao ou por metalografia quantitativa as porcentagens de ferrita, perlita ou cementita. Entrar com os valores nas frmulas correspondentes : Para estruturas com ferrita + perlita % C = X * 0,02 + Y * 0,77 Para estruturas com perlita + cementita % C = X * 0,77 + Y * 6,67

9. NORMAS UTILIZADAS EM METALOGRAFIA

E 1181 87 Characterizing Duplex Grain Sizes E 1077 91 Descarburization of Steel Specimens, Estimating the Depth of E 930 92 Grain Observed, Largest, in a Metallographic Section (ALA Grain Size), Estimating E 1382 91 Grain Size, Average, Using Semiautomatic and Automatic Image Analysis A 24767 (1990) Graphite in Iron Castings, Evaluating the Microstructure of E 1245 89 Inclusion Content of Steel and Other Metals by Automatic Image Analysis, Determining E 1122 92 Obtaining JK Inclusion ratings Using Automatic Image Analysis E 768 80 (1985) Specimens for Automatic Inclusion Assessment os Steel, Preparing and Evaluating E 175 Termilogy of Microscopy E 456 Termilogy Relating to Quality and Statistics ASTM E 44 Definitions of Terms Relating to Heat Treatment of Metals ASTM E 1268 88 Microstructures, Assessing the Degree of Banding or orientation of ASTM E 340 87 Macroetching and Alloys ASTM E 407 70 Microetching Metal and Alloys ASTM E 384 89 Microhardness of Materials ASTM E 3 80 Preparation of Metallographic Specimens ASTM E 112 88 Grain Size, Avarage, Determining ASTM E 45 87 Inclusion Content of Steel, Determining ASTM E 562 89 Volume Fraction by Systematic Manual Point Count, Determining ASTM E 7 92b Metallography ASTM E 883 86 Metallographyc Photomicrography DIN 17.014 Heat Treatment of Ferrous Metals ABNT 8108 Ataque com Reativos Metalogrficos em Ligas No Ferrosas ABNT 9208 Determinao dos Nveis de Microincluses ABNT 7555 Revelao do Gro Austentico ABNT 11568 Determinao de Tamanho de Gro de Materiais metlicos ABNT 6339 Determinao da Temperabilidade Jominy em Ao ABNT 8653 Metalografia e Tratamentos Trmicos e Termoqumicos das Ligas Ferro carbono ABNT MB03218 Ao Anlise por Macroataque ABNT MB00747 Ao - Determinao de Macroincluses pelo Mtodo de Fratura Azul ABNT MB01101 II Ao Fundido e Ferro Fundido Amostragem e Preparao de amostras ABNT MB01101 I Ao fundido e ferro Fundido Coleta de Amostras ABNT PB00578 Ao Inoxidvel Tratamento Trmico ABNT MB03189 Aos Determinao da Profundidade de Descarbonetao

ENTEC 2004 Curso de Metalografia e Interpretao Metalogrfica

ABNT MB00573 II Amostragem e Preparao de Amostras de Ferro Gusa ABNT NB 1227 Amostragem e Preparao de Amostras de Aos Forjados ABNT MB00573 I Coleta de Amostras de Ferro Gusa ABNT MB00463 I Coleta de Amostras de Ferroligas e outras Adies Metlicas ABNT MB03544 Coque Determinao Quantitativa da Textura por Microscopia ptica ABNT TB00406 Coque Termos Relativos Anlise de Textura por Microscopia ptica Terminologia ABNT NB01232 Ensaio Visual em Soldas, Fundidos, Forjados e Laminados ABNT MB01342 Ferro Fundido Avaliao da Tendncia ao Coquilhamento ABNT MB01511 Ferro Fundido Determinao do Nmero e Tamanho das Clulas Eutticas ABNT MB01512 Ferro Fundido Nodular e Ferro Fundido Malevel Contagem de Ndulos de Grafita ABNT NB00309 Guia para Inspeo por Amostragem no Controle e Certificao de Qualidade ABNT MB01510 Inoculante para Ferro Fundido Avaliao da Perda de Eficincia ABNT NB01295 Lavagem, Preparo e Esterilizao de Materiais em Laboratrio ABNT EB01151 Morfologia de Grafita em Ferro Fundido ABNT NB00671 Planos de Amostragem e Procedimentos para Qualificao de Componentes, baseados na Taxa de Falhas ABNT TB00245 Qualidade ABNT PB00671 Tabelas de Valores da Dureza Vickers (HV) para Materiais Metlicos ABNT PB00672 Tabelas de Valores de Dureza Brinell (HB) para Materiais Metlicos NBR 13790 Terminologia Princpios e Mtodos Harmonizao de Conceitos e Termos NBR 13187 Tratamentos Trmico e Termoqumico de Ferro Fundido NBR 13789 Terminologia Princpios e Metdos Elaborao e Apresentao de Normas e Terminologia NBR NMISO 03713 Ferroligas Amostragem e Preparao de Amostras Regras Gerais NBR 13286 Ao para Cementao Avaliao Microscpica de Estrutura Bandeada

10. BIBLIOGRAFIA
Baptista, Andr; Soares, ngelo; Nascimento, Ivaldo; O Ensaio Metalogrfico no Controle de Qualidade; Spectru, ltda. Ishigawa, Tomaz; Chinaglia, Clever; Curso Metalogrfico e Interpretao Metalogrfica; UFSCar, So Carlos, 05 e 06 de agosto de 1999. Rostoker, William; Dvorak, James; Interpretation of Metallographic Structures; 2nd edition, Academic Press, New York, 1977. Vander Voort, George, F.; Applied Metallography; Van Nostrand Reinhold Company, New York, 1986.

11. ANEXOS