Boletn Tcnico

Septiembre 2010 No. 11

CONTROL ESTADISTICO DE PROCESO

Tabla 1 Resultados de clculos Concepto Nmero de mediciones Valor mximo Valor mnimo Rango Promedio Desviacin Smbolo N MAX MIN R R = MAX-MIN
X=

Frmula

X
X R

X
N

X S

ndice de capacidad del proceso

X - Rs Cp

(R ) = R / d 2 (s ) = S / C 4

(n 1) =

N X i2 ( X i ) N ( N 1)

(Cp ) = USL LSL

Caso de X-R, X-S

(Cp ) = USL LSL 6 (n 1)

Caso de X-Rs

*1, *4

ndice de capacidad del proceso ndice de capacidad de maquina

Cpk Cm

ndice de capacidad de maquina

Cmk

Z min 3 USL LSL Cm = 6 (n 1) Caso de X-R, X-S Z min Cmk = 3 Caso de X-R, X-S Cpk =
P=

Cm =

USL LSL *1, *4 8 (n 1) Caso de X-Rs

Z min 4 Caso de X-Rs Cmk =

*3

*2, *4

Fraccin defectiva Fraccin efectiva estimada 3SD

P Pe

(+ NG ) + ( NG ) x100
N

Calculada de ZUSL, ZLSL y la grfica de distribucin normal *4, *5 SD: (n-1) (SD = Desviacin estndar)

Notas: bajo la tabla 2 en la pgina 2

CONTENIDO CONTENIDO Resultados de clculos Resultados de clculos Frmulas para grficas de control Frmulas para grficas de control Constantes para grficas de control Constantes para grficas de control Entendiendo la variacin Entendiendo la variacin Control de Proceso X-R Control de Proceso X-R Capacidad del proceso Capacidad del proceso Pgina 1 Pgina 1 Pgina 2 Pgina 2 Pgina 3 Pgina 3 Pgina 5 Pgina 5 Pgina 6 Pgina 6 Pgina 8 Pgina 8 1

Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V.

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Colaboradores de este nmero Ing. Jos Ramn Zeleny Vzquez Ing. Hugo D. Labastida Jimnez Ing. Hctor Ceballos Contreras

Tabla 2. Formulas para grficas de control

Grfica (Smbolo)

Frmula
X R

X S X= X i n
S=
*1

X
R, S Rs

X Rs X k X= m
2

R=MAX(Xi)-MIN(Xi)

nX i2 (X i ) n(n 1)

Rsk = xk + 1 -Xk

X
R, S Rs X-UCL X-UCL X-LCL X-LCL R-UCL S-UCL Rs-UCL R-LCL S-LCL

X= R= Rk m

Xk m S= Sk m

-------Rsk m 1

Rs =

X UCL = X + A2 R X LCL = X A2 R

X UCL = X + A3 S X LCL = X A3 S
S UCL = B4 S

X UCL = X + 2.659 Rs X LCL = 2.659 Rs RS UCL = 3.267 Rs --------------

R UCL = D 4 R R LCL = D3 R *2

S LCL = B3 S *3

Para la Tabla 1 *1: USL: Lmite superior de la tolerancia, LSL: Lmite inferior de la tolerancia *2: Zmin: ZUSL o ZLSL cualquiera que sea el menor

ZUSL =

*3: +NG o -NG es el nmero de defectivos. *4:"**** es graficado para Cp, Cpk, Cm, Cmk y Pe cuando (R), (S), (n-1) = 0 *5: Los valores de Cpk, Cmk y Pe no son garantizados en el, caso de X>USL o X<LSL

USL X (n 1)

Z LSL =

X LSL (n 1)

Para la tabla 2 *1: n = tamao de muestra m = nmero de subgrupos j = entre 1 y n k = entre 1 y m *2: R-LCL es calculado cuando el tamao de la muestra es mayor que 7 *3: S-LCL es calculado cuando el tamao de muestra e mayor que 6

Tabla 3 Constantes para grficas de control

Tamao de muestra n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 X-R A2 1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.419 0.373 0.337 0.308 0.285 0.266 0.249 0.235 0.223 0.212 0.203 0.194 0.187 0.180 0.173 0.167 0.162 0.157 0.153 d2 1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 2.704 3.847 2.970 3.078 3.173 3.258 3.336 3.407 3.472 3.532 3.588 3.640 3.689 3.735 3.778 3.819 3.858 3.895 3.931 D3 0.076 0.136 0.184 0.223 0.256 0.283 0.307 0.328 0.347 0.363 0.378 0.391 0.403 0.415 0.425 0.435 0.443 0.451 0.459 D4 3.267 2.574 2.282 2.114 2.004 1.924 1.864 1.816 1.777 1.744 1.717 1.693 1.672 1.653 1.637 1.622 1.608 1.597 1.585 1.575 1.566 1.557 1.548 1.541 A3 2.659 1.954 1.628 1.427 1.287 1.182 1.099 1.032 0.975 0.927 0.886 0.850 0.817 0.789 0.763 0.739 0.718 0.698 0.680 0.663 0.647 0.633 0.619 0.606 C4 0.7979 0.8862 0.9213 0.9400 0.9515 0.9594 0.9650 0.9693 0.9727 0.9754 0.9776 0.9794 0.9810 0.9823 0.9835 0.9845 0.9854 0.9862 0.9869 0.9876 0.9882 0.9887 0.9892 0.9896 X-s B3 . 0.030 0.118 0.185 0.239 0.284 0.321 0.354 0.382 0.406 0.428 0.448 0.466 0.482 0.497 0.510 0.523 0.534 0.545 0.555 0.565 B4 3.267 2.568 2.266 2.089 1.970 1.882 1.815 1.761 1.716 1.679 1.646 1.618 1.594 1.572 1.552 1.534 1.518 1.503 1.490 1.477 1.466 1.495 1.445 1.435

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Porcentajes de la distribucin normal

ENTENDIENDO LA VARIACIN Los histogramas muestran rapidamente si la variacin en los resultados esta formando un patrn definido.

Frecuencia TAMAO Curva de frecuencia suavizada

Si dibujamos una curva suave a traves de lo alto de cada barra del histograma, obtenemos un patrn en forma de campana.

Calibracin de anillos patrn de 6 a 120 mm con mquina que incorpora una holo escala lser con resolucin de 0,1 m y repetibilidad de 0,2 m SERVICIOS ACREDITADOS

Los patrones de variacin que siguen los principios de la distribucin normal pueden ser descritos por su LOCALIZACIN y DISPERSIN como sigue: En la figura 1 el patrn de variacin en las dos curvas con forma de campana A y B son idnticas. Sin embargo, el valor central del tamao ocurriendo ms frecuentemente en cada curva es diferente.
C A B D

calibracion@mitutoyo.com.mx
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5

TAMAO

TAMAO

Figura 1

Figura 2

En la figura 2 el valor central de las dos curvas con forma de campana C y D es el mismo pero la dispersin de la variacin de la curva D es mayor que la curva C

CONTROL DE PROCESO X y R
Registre 25 conjuntos de 5 lecturas consecutivas a intervalos regulares, calcular X y R para cada conjunto de lecturas. Para interpretar grafica de rangos para control Grafique los 25 puntos de los rangos (R) sobre la grafica de rangos Calcular R =
0.4 0.3 0.2 0.1 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

Suma de los 25 Rangos (R) 25

Rangos

UCLR R

1 X R

10

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

.70 .77 .76 .60 .75 .73 .73 .72 .78 .87 .75 .76 .72 .71 .72 .76 .76 .67 .70 .62 .66 .68 .70 .64 .66 .20 .20 .10 .15 .20 .20 .15 .20 .20 .20 .40 .20 .05 .25 .15 .15 .15 .10 .20 00 00 .20 .16 .10 .10

Rangos R= 4.45 25 = .178

Calcular los lmites de control para rangos UCLR = D4 x R Tamao de muestra D4 D3 LCLR = D3 x R 2 3.27 0 3 2.57 0 4 2.28 0 5 2.11 0 6 2.00 0 7 1.92 0.08 8 1.86 0.14 9 1.82 0.18 10 1.78 0.22

NOTA: Para tamaos de muestra de 2 a 6 el LCLR = 0 UCLR = 2.11 x .178 = .376 Grafique R, UCLR y LCLR sobre la grfica Interpretar la grfica de control aplicando las siguientes pruebas 1) 2) 3) 4) Nmero de puntos fuera de los lmites de control 2/3 de puntos en el centro 1/3 de puntos cerca de los lmites de control No hay una corrida de 7 puntos consecutivos todos arriba o debajo de la lnea de R No hay una corrida de 8 puntos consecutivos hacia arriba o hacia abajo

Si alguno de las 4 pruebas anteriores falla, el proceso esta fuera de control para rangos. Investigar para causas especiales y corregir Si se pasan todas las 4 pruebas, interpretar la grfica X 6

Para interpretar las grficas de control de promedios (X)

Grafique los 25 puntos de los promedios (X) sobre la grfica de promedios Calcular X = Suma de los 25 Promedios (X) 25

0.9 0.85 0.8 0.75 0.7 0.65 0.6 0.55 0.5

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

Promedios
UCLX X LCLX
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

1 X R

10

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

.70 .77 .76 .60 .75 .73 .73 .72 .78 .87 .75 .76 .72 .71 .72 .76 .76 .67 .70 .62 .66 .68 .70 .64 .66 .20 .20 .10 .15 .20 .20 .15 .20 .20 .20 .40 .20 .05 .25 .15 .15 .15 .10 .20 00 00 .20 .16 .10 .10

X=

17.90 = .716 25 Calcular los lmites de control para promedios 2 1.88 3 1.02 4 0.73 5 0.58 6 0.48 7 0.42 8 0.37 9 0.34 10 0.31

Tamao de muestra A2 UCLX = X + (A2 x R)

LCLX = X (A2 x R)

UCLX = .716 + (0.58 x .178) = .819 LCLX = .716 + (0.58 x .178) = .613 Graficar X, UCL y LCL en la grfica Interpretar la grfica para control aplicando las siguientes pruebas 1) Ningn punto fuera de los lmites de control 2) 2/3 de puntos en el centro 1/3 de puntos cerca de los lmites de control 3) No hay una corrida de 7 puntos consecutivos todos arriba o debajo de la lnea de X 4) No hay una corrida de 8 puntos consecutivos hacia arriba o hacia abajo Si alguno de las 4 pruebas anteriores falla, el proceso esta fuera de control para promedios. Investigar para causas especiales y corregir Si se pasan todas las 4 pruebas, el proceso esta en control para promedios y rangos. 7

Capacidad de proceso Considerando que el proceso esta en control tanto para X y R X y S la desviacin del proceso s puede ser calculada por cualquiera de las siguientes formas:

Grficas de control por variables Media de subgrupo

X=

Rango de subgrupo R = Xmayor - Xmenor Desviacin estndar de subgrupo s =

X1 + X2 +.....Xn n
n i=1

(Xi X)2
n 1

R .178 = = 0.0769 d 2 2.33 Para X-S = S c4 USL X Cp Capacidad de proceso = 6

Para X-R = Cp ndice de capacidad = mnimo de

(X es el valor medido, n es el nmero de valores)

X Media del proceso X = X1 + X2 +.... m m

Media de rangos

R=

R1 + R2 + ...... Rm m s1 + s2 + ......sm m

Desviacin estndar de la media s = (m es el nmero de subgrupos) UCLX, LCLX = X (A2)R UCLR = (D4)(R) LCLR = (D3)R (si n>6) UCLs = (B4)s LCLs = (B3)s (si n>5)

USL X y 6

X USL 3

Un proceso con Cpk de 1= Proceso ^ capaz a 3 Un proceso con Cpk de 1.33 = Proceso ^ capaz a 4

PROXIMOS CURSOS Metrologa Dimensional 1 (MD1) Metrologa Dimensional 2 (MD2) Calibracin de Instrumentos (CIVGP) Control Estadstico del Proceso (CEP) Tolerancias Geomtricas Norma ASME Y14.5-2009 Especificacin y Verificacin Geomtrica de Producto Incertidumbre en Metrologa Dimensional

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