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MINISTRIO DO DESENVOLVIMENTO, INDSTRIA E COMRCIO EXTERIOR INMETRO - INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE INDUSTRIAL EDITAL N 1 - INMETRO, DE 16 DE SETEMBRO

DE 2010 ALTERADO PELOS EDITAIS N 3, 4, 5, 6 E 7


Notcia Relacionada: INMETRO retifica o Edital do Concurso n 01/2010
CONCURSO PBLICO PARA INGRESSO NOS CARGOS DE ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE, ASSISTENTE EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE, PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE E TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE O INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE INDUSTRIAL (INMETRO), considerando a autorizao do Ministrio do Planejamento, Oramento e Gesto, nos termos da Portaria n 32, de 8 de fevereiro de 2007, publicada no Dirio Oficial da Unio de 9 de fevereiro de 2007, com base na Lei n 8.112, de 11 de dezembro de 1990, na Lei n 9.515, de 20 de novembro de 1997, na Lei n 11.355, de 19 de outubro de 2006, no Decreto n 6.275, de 28 de novembro 2007, no Decreto n 6.944, de 21 de agosto de 2009, publicado no Dirio Oficial da Unio de 24 de agosto de 2009, e na Portaria n 314, de 24 de setembro de 2009, do Ministrio do Planejamento, Oramento e Gesto, publicada no Dirio Oficial da Unio de 25 de setembro de 2009, torna pblica a realizao de concurso pblico para provimento de vagas nos cargos de nvel superior - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade e Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade - e nos cargos de nvel mdio - Assistente Executivo em Metrologia e Qualidade e Tcnico em Metrologia e Qualidade -, mediante as normas estabelecidas neste edital. 1 DAS DISPOSIES PRELIMINARES 1.1 O concurso pblico destina-se seleo de profissionais para o exerccio dos cargos de nvel superior - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade e Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade - e dos cargos de nvel mdio - Assistente Executivo em Metrologia e Qualidade e Tcnico em Metrologia e Qualidade -, do Plano de Carreiras e Cargos do INMETRO

1.2 O concurso ser regido por este edital e executado pelo Centro de Seleo e de Promoo da Universidade de Braslia (CESPE/UnB). 1.3 A seleo para os cargos de nvel superior (Analista Executivo em Metrologia e Qualidade e Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade) de que trata este edital compreender as seguintes fases: a) exame de habilidades e conhecimentos, mediante aplicao de provas objetivas e de prova discursiva, de carter eliminatrio e classificatrio; b) avaliao de ttulos e experincia profissional, de carter classificatrio. 1.4 As provas objetivas, a prova discursiva, a entrega de ttulos e experincia profissional e a percia mdica sero realizadas nas 26 capitais dos estados e no Distrito Federal. 1.4.1 Havendo indisponibilidade de locais suficientes ou adequados nas localidades de realizao das provas, essas podero ser realizadas em outras localidades. 1.5 A seleo para os cargos de nvel mdio (Assistente Executivo em Metrologia e Qualidade e Tcnico em Metrologia e Qualidade) de que trata este edital compreender provas objetivas de Conhecimentos Bsicos e de Conhecimentos Especficos e avaliao de ttulos e experincia profissional. A prova objetiva de Conhecimentos Bsicos tem carter eliminatrio e classificatrio. A prova objetiva de Conhecimentos Especficos tem carter eliminatrio e classificatrio. A prova de avaliao de ttulos e experincia profissional tem carter classificatrio. 1.6 Os candidatos aprovados no concurso sero lotados e distribudos pelo Presidente do INMETRO 1.6.1 Para as vagas destinadas ao estado do Rio Grande do Sul, de Gois e o Distrito Federal, a lotao do candidato poder se efetivar em qualquer Agncia Regional do INMETRO dessas Unidades da Federao. 1.7 Integram este edital os seguintes anexos: Anexo I - Quadro de Vagas, Anexo II Modelo de laudo para percia mdica e Anexo III - Modelo de Currculo, Anexo IVQuantitativo de provas discursivas a serem corrigidas. 2 DOS CARGOS 2.1 JORNADA DE TRABALHO: a jornada de trabalho ser de quarenta horas semanais, sendo oito horas dirias para todos os cargos/reas. 2.2 ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE (Padro I, Classe C) DESCRIO SUMRIA DAS ATRIBUIES GERAIS: desenvolver atividades voltadas para o exerccio de atividades de planejamento, treinamento e logstica relativas ao exerccio das competncias institucionais e legais a cargo do INMETRO, assim como assumir atividades de coordenao e execuo de projetos em metrologia e qualidade e outras atividades relacionadas, como a metrologia legal, cientfica e industrial, qualidade, regulamentao, acreditao, avaliao da conformidade e

informao tecnolgica. Por fora das atividades, os candidatos aprovados e empossados, devero assumir como atribuies inerentes atividade: (a) a necessidade de deslocamentos terrestres e areos em misses nacionais e internacionais no desempenho de suas funes, tantas vezes quantas forem necessrias, e de acordo com a programao de atividades aprovadas pelas Diretorias e Coordenaes, bem como pela Presidncia da Instituio; (b) a conduo de reunies e treinamentos no Brasil e no exterior, participar e ministrar cursos, palestras e aulas; (c) representar o INMETRO em eventos e em negociaes - referentes a sua rea de atuao - com outras instituies pblicas e privadas, no Brasil e no exterior, como: Ministrios, Secretarias de Governo, Agncias Governamentais, Associaes de Classe etc.; (d) ler e redigir documentao em papel e meio magntico. REMUNERAO: a remunerao inicial, para o primeiro ano de efetivo exerccio, para a Classe C, Padro I, varia conforme a titulao e est definida conforme as tabelas a seguir: Analista Executivo Ingresso na Classe C, Padro I Gratificao (R$) (primeiro ano) Vencimento Sem Especializa Mestrad Doutorad Bsico Ttulo o o o (R$)2.725,1 3.239,2 4 3.294,40 3.310,40 3.652,00 0

Retribuio por Titulao (R$) Especializa Mestrad Doutorad o o o 184,06 473,30 1.185,87

Total (R$) Sem TtuloEspecializaoMestradoDoutorado 5.964,34 6.203,60 6.508,84 7.563,01 TOTAL DE VAGAS: 40 CARGO 1: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ASSISTENTE SOCIAL REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Servio Social, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro profissional no rgo de classe competente. EXEMPLO DE ATRIBUIES: viabilizar exame/consulta social com especialistas que no atendem na rede pblica; encaminhar para tratamento fora do domiclio (TFD) para exame, consulta e internao, quando o municpio no dispuser dos recursos necessrios; viabilizar auxlio-transporte para tratamento de sade dentro e fora do municpio; fornecer parecer social para licena por motivo de doena em pessoa da famlia; realizar entrevista para conhecer os indicadores socioprofissional, econmico e cultural dos servidores em tratamento de sade; procurar identificar as causas que esto influenciando na sade dos servidores; relacionar as queixas e sintomas do servidor com as condies de trabalho visando promoo de sade; viabilizar, em conjunto com o mdico do trabalho e equipe interdisciplinar, mecanismos de interveno para prevenir e recuperar a sade dos servidores; realizar visita domiciliar, visita hospitalar, visita ao

local de trabalho para subsidiar o estudo de caso em anlise; acompanhar e analisar, em conjunto com a equipe multidisciplinar, os servidores em licena para tratamento de sade e os servidores do Programa de Reabilitao Profissional; orientar e apoiar o servidor no seu retorno ao trabalho; realizar visita ao local de trabalho com a Terapeuta Ocupacional para avaliar com a chefia a atuao do servidor; participar, em conjunto com outros profissionais, de programas de atendimento ao servidor dependente de lcool e outras drogas, de preparao para aposentadoria, ou outros; realizar vistorias, percias tcnicas, laudos periciais, informaes e pareceres sobre a matria de Servio Social; coordenar seminrios, encontros, congressos e eventos assemelhados sobre assuntos de Servio Social ou na rea de promoo sade ou vigilncia sade ou a ambientes de trabalho; executar outras atividades que lhe forem delegadas. Vaga: 1 CARGO 2: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: AVALIAO DA CONFORMIDADE REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em qualquer rea de formao, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro no respectivo conselho de classe, se for o caso. EXEMPLO DE ATRIBUIES: identificar e priorizar demandas da sociedade por programas de Avaliao da Conformidade; desenvolver e implantar os programas de Avaliao da Conformidade, com foco na proteo da sade e da segurana do cidado e do meio ambiente, que utilizam diferentes mecanismos, como: certificao, etiquetagem, ensaios, declarao da conformidade pelo fornecedor e inspeo; coordenao de aes de acompanhamento no mercado, como fiscalizao e verificao da conformidade; disseminao de conhecimento sobre avaliao da conformidade, qualidade e relaes de consumo; gesto de processos de acreditao de organismos de avaliao de conformidade; gerenciamento da carteira de empresas; desenvolvimento e implantao de mtodos e tcnicas que visam a melhoria e otimizao do processo de acreditao de organismos de avaliao de conformidade; interao com os organismos de avaliao da conformidade acreditados ou candidatos acreditao. Vagas: 10, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 3: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CINCIAS CONTBEIS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Cincias Contbeis, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro no respectivo Conselho de Classe. EXEMPLO DE ATRIBUIES: realizar atividades de execuo qualificada, sob superviso superior, de trabalhos relativos administrao financeira e patrimonial, bem como contabilidade e auditoria, compreendendo anlise, registro e percia contbeis, elaborao de balancetes, balanos e demonstraes contbeis; prestar esclarecimento sobre as operaes da instituio aos rgos fiscalizadores: Auditoria Interna, Tribunal de Contas da Unio (TCU), Controladoria Geral da Unio (CGU) e

Ministrio do Trabalho, apresentando as demonstraes contbeis e justificando as ocorrncias; comprovar para Auditoria Interna o cumprimento das normas internas e contbeis. Vagas: 8, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 4: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ESTATSTICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Estatstica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: atividades relacionadas gesto do INMETRO e planejamento organizacional; planejar e desenvolver investigaes estatsticas; coordenar os trabalhos de anlise e interpretao de dados de pesquisa de opinio; elaborar pareceres e instrumentais tcnicos, laudos e relatrios; fornecer informaes que favoream a tomada de deciso e acompanhar a execuo dos resultados institucionais, fazer anlise crtica de dados estatsticos referentes fiscalizao metrolgica; gesto e planejamento de atividades relacionadas fiscalizao metrolgica, desenvolvimento de modelos matemticos a serem aplicados na fiscalizao metrolgica, definir o plano de amostragem mais adequado de acordo com o instrumento ou produto a ser fiscalizado e demais assuntos afetos profisso relacionados s atividades desenvolvidas no mbito da instituio. Vagas: 2 CARGO 5: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: GESTO PBLICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em qualquer rea de formao, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro no respectivo conselho de classe, se for o caso. EXEMPLO DE ATRIBUIES: superviso e coordenao de atividades do INMETRO e de suas diretorias relativas a planejamento, modernizao institucional, monitoramento de resultados, prticas de gesto para a qualidade, gerenciamento de projetos, elaborao de relatrios gerenciais, implantao de ferramentas para aperfeioar o gerenciamento de projetos e processos. Vagas: 15, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 6: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MEDICINA - CARDIOLOGIA REQUISITOS: diploma devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Medicina, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao, com Residncia Mdica em Cardiologia e registro profissional nas entidades competentes.

EXEMPLO DE ATRIBUIES: prestar atendimento ambulatorial e emergencial e assistncia mdica preventiva e curativa; providenciar a remoo de pacientes para instituies hospitalares em casos de emergncia; realizar inspeo mdica e percias mdicas singulares e atuar como componente de juntas mdicas; conceder licenas para tratamento de sade; homologar atestados mdicos emitidos por profissionais externos ao quadro do INMETRO; emitir laudos mdicos, relatrios, pareceres e atestados e outros documentos de informaes tcnicas; atuar em programas de educao e preveno de doenas; colaborar na fiscalizao das condies de higiene e segurana dos locais de trabalho; implementar aes e participar de programas e eventos para promoo da sade do servidor; efetuar percias, auditorias e sindicncias mdicas; difundir conhecimentos mdicos; aliar a atuao clnica/especializada prtica da sade coletiva; fomentar e participar da criao de grupos de patologias especficas; planejar, organizar, coordenar, supervisionar e assessorar estudos e pesquisas; redigir, digitar e conferir expedientes diversos; e executar outras atividades de mesma natureza e grau de complexidade que lhe forem delegadas inerentes a sua formao. Vaga: 1 CARGO 7: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MEDICINA - ORTOPEDIA E TRAUMATOLOGIA REQUISITOS: diploma devidamente registrado, de concluso de curso de graduao de nvel superior em Medicina, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao, acrescido de Residncia Mdica em Ortopedia e Traumatologia e registro profissional nas entidades competentes. EXEMPLO DE ATRIBUIES: prestar atendimento ambulatorial e emergencial e assistncia mdica preventiva e curativa; providenciar a remoo de pacientes para instituies hospitalares em casos de emergncia; realizar inspeo mdica e percias mdicas singulares e atuar como componente de juntas mdicas; conceder licenas para tratamento de sade; homologar atestados mdicos emitidos por profissionais externos ao quadro do INMETRO; emitir laudos mdicos, relatrios, pareceres e atestados e outros documentos de informaes tcnicas; atuar em programas de educao e preveno de doenas; colaborar na fiscalizao das condies de higiene e segurana dos locais de trabalho; implementar aes e participar de programas e eventos para promoo da sade do servidor; efetuar percias, auditorias e sindicncias mdicas; difundir conhecimentos mdicos; aliar a atuao clnica/especializada prtica da sade coletiva; fomentar e participar da criao de grupos de patologias especficas; planejar, organizar, coordenar, supervisionar e assessorar estudos e pesquisas; redigir, digitar e conferir expedientes diversos; e executar outras atividades de mesma natureza e grau de complexidade que lhe forem delegadas inerentes a sua formao. Vaga: 1 CARGO 8: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MEDICINA - PSIQUIATRIA REQUISITOS: diploma devidamente registrado, de concluso de curso de graduao de nvel superior em Medicina, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo

Ministrio da Educao, acrescido de Residncia Mdica em Psiquiatria e registro profissional nas entidades competentes. EXEMPLO DE ATRIBUIES: prestar atendimento ambulatorial e emergencial e assistncia mdica preventiva e curativa; providenciar a remoo de pacientes para instituies hospitalares em casos de emergncia; realizar inspeo mdica e percias mdicas singulares e atuar como componente de juntas mdicas; conceder licenas para tratamento de sade; homologar atestados mdicos emitidos por profissionais externos ao quadro do INMETRO; emitir laudos mdicos, relatrios, pareceres e atestados e outros documentos de informaes tcnicas; atuar em programas de educao e preveno de doenas; colaborar na fiscalizao das condies de higiene e segurana dos locais de trabalho; implementar aes e participar de programas e eventos para promoo da sade do servidor; efetuar percias, auditorias e sindicncias mdicas; difundir conhecimentos mdicos; aliar a atuao clnica/especializada prtica da sade coletiva; fomentar e participar da criao de grupos de patologias especficas; planejar, organizar, coordenar, supervisionar e assessorar estudos e pesquisas; redigir, digitar e conferir expedientes diversos e executar outras atividades de mesma natureza e grau de complexidade que lhe forem delegadas inerentes a sua formao. Vaga: 1 CARGO 9: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MEDICINA DO TRABALHO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Medicina, com Residncia em Medicina do Trabalho, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro profissional no rgo de classe competente na rea de Medicina do Trabalho. EXEMPLO DE ATRIBUIES: realizar exames mdicos ocupacionais; conceder licenas para tratamento de sade; compor junta de percia mdica; realizar percias mdicas internas, domiciliares ou hospitalares relativas aplicao da Lei n 8.112/1990; realizar atividades relacionadas educao sanitria permanente; desenvolver trabalhos no mbito da preveno e minimizao de doenas ocupacionais, controle e avaliao do ambiente de trabalho, campanhas e treinamentos; realizar em conjunto com a Engenharia do Trabalho avaliaes ambientais, alm de elaborar laudos relativos a adicionais ocupacionais (insalubridade, periculosidade e de irradiao ionizante); desenvolver atividades de pesquisa e ensino; analisar, caracterizar, registrar e encaminhar servidores a tratamentos de doenas ocupacionais/acidentes de trabalho; cumprir a legislao em vigor relacionada Medicina do Trabalho; realizar atividades de conscientizao; realizar estudos sobre absentesmo e elaborao de estatsticas sobre temas relacionados a sua rea de atuao, incluindo os dados epidemiolgicos, visando dotar o INMETRO de meios para a eliminao ou reduo dos riscos no ambiente de trabalho, e, consequentemente, de acidentes de trabalho e doenas ocupacionais; redigir, digitar e conferir expedientes diversos e executar outras atividades de mesma natureza e grau de complexidade. Vaga: 1

2.3 PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE (Padro I, Classe C) DESCRIO SUMRIA DAS ATRIBUIES GERAIS: desenvolver atividades especializadas de planejamento, coordenao, fiscalizao, assistncia tcnica e execuo de projetos em metrologia e qualidade e outras atividades relacionadas com a metrologia legal, cientfica e industrial, qualidade, regulamentao, acreditao, superao de barreiras tcnicas e informao tecnolgica relativas ao exerccio das competncias institucionais e legais atribudas ao INMETRO Por fora das atividades, os candidatos aprovados e empossados, devero assumir como atribuies inerentes atividade: (a) a necessidade de deslocamentos terrestres e areos em misses nacionais e internacionais no desempenho de suas funes, tantas vezes quantas forem necessrias, e de acordo com a programao de atividades aprovadas pelas Diretorias e Coordenaes, bem como pela Presidncia da Instituio; (b) a conduo de reunies e treinamentos no Brasil e no exterior, ministrar e participar de cursos, palestras e aulas; (c) representar o INMETRO em eventos e em negociaes referentes a sua rea de atuao - com outras instituies pblicas e privadas, no Brasil e no exterior, como: Ministrios, Secretarias de Governo, Agncias Governamentais, Associaes de Classe etc.; (d) ler e redigir extensa documentao em papel e meio magntico. REMUNERAO: a remunerao inicial, para o primeiro ano de efetivo exerccio, para a Classe C, Padro I, varia conforme a titulao e est definida conforme as tabelas a seguir: Pesquisador-Tecnologista Ingresso na Classe C, Padro I Gratificao (R$) (primeiro ano) Venciment Sem Especializa Mestrad Doutorad o Bsico Ttulo o o o (R$) 3.239,2 2.725,14 3.294,40 3.310,40 3.652,00 0

Retribuio por Titulao (R$) Especializa Mestrad Doutorad o o o 184,06 473,30 1.185,87

Total (R$) Sem TtuloEspecializaoMestradoDoutorado 5.964,34 6.203,60 6.508,84 7.563,01 TOTAL DE VAGAS: 124 CARGO 10: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ACREDITAO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em qualquer rea de formao, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro no respectivo conselho de classe, se for o caso. EXEMPLO DE ATRIBUIES: acompanhar, participar e executar atividades relacionadas elaborao e coordenao de projetos, propor rotinas e padronizaes das atividades relacionadas acreditao; gerir processos de acreditao de organismos de avaliao da conformidade; participar no desenvolvimento de mtodos e tcnicas que

visem a melhoria e otimizao do processo de acreditao de organismos de avaliao da conformidade; disseminar conhecimentos e atividades de acreditao; participar na elaborao de documentos relacionados atividade de acreditao; interagir com os organismos de avaliao da conformidade acreditados; interagir com rgos regulamentadores e entidades de classe; participar do trabalho de comisses tcnicas e grupos de trabalho; participar do desenvolvimento de esquemas de acreditao; e participar de aes de divulgao, promoo e capacitao da atividade de acreditao. Vagas: 17, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 11: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ANLISE DE REQUISITOS E QUALIDADE DE SOFTWARE REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Cincia da Computao, Engenharia da Computao, Anlise e Desenvolvimento de Sistemas, Engenharia de Produo, Engenharia de Sistemas, Informtica ou reas afins, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: anlise, avaliao e racionalizao de processos. Levantamento de requisitos e especificao de sistemas. Estimativa de esforo para desenvolvimento de sistemas utilizando as mtricas de Pontos por Funo (regras do IFPUG) e Pontos de Caso de Uso. Elaborao de plano, estratgias e casos de testes a partir dos casos de uso; monitoramento da execuo de testes e da criao de testes automatizados; padronizao de processos de testes. Vagas: 2 CARGO 12: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ARQUITETURA DE SOLUES DE SOFTWARES REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Cincia da Computao, Engenharia da Computao, Anlise e Desenvolvimento de Sistemas, Engenharia de Produo, Engenharia de Sistemas, Informtica ou reas afins, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: planejamento, organizao, superviso, assessoramento, estudo e pesquisa para definio, implantao, operao e melhoria contnua da arquitetura de sistemas de informao. Definio do ambiente de desenvolvimento, dos padres tecnolgicos a serem utilizados, elaborao da arquitetura de referncia, desenvolvimento de componentes reutilizveis, de acordo com as melhores prticas de engenharia e qualidade do produto de software, usabilidade, segurana e conectividade. Treinamento das equipes de desenvolvimento na utilizao e manuteno da arquitetura de referncia. Anlise comparativa de solues corporativas, tanto de tecnologias quanto de aplicaes. Vagas: 2

CARGO 13: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ARTICULAO INTERNACIONAL REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Administrao, Cincias Sociais, Cincias Polticas, Direito, Economia, Engenharia de Produo, Geografia, Relaes Internacionais e Sociologia, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: coordenar, planejar e articular as atividades voltadas para o relacionamento internacional do INMETRO; ter condies de acompanhar as negociaes para a celebrao de convnios, acordos e contratos, com entidades estrangeiras e internacionais; supervisionar e controlar a realizao de programas de cooperao tcnica e de intercmbio com organizaes internacionais e estrangeiras, nas reas de metrologia, da avaliao da conformidade e de regulamentao tcnica, inclusive para o desenvolvimento de recursos humanos; coordenar a harmonizao de regulamentos tcnicos no mbito de blocos econmicos, bem como apoiar tecnicamente as reunies negociais na rea de comrcio internacional, em nvel regional e plurilateral; coordenar, planejar e articular, as negociaes internacionais de carter tcnico, cientfico e comercial, que envolvam as reas de metrologia, regulamentao tcnica e avaliao da conformidade; ter disponibilidade para deslocamentos terrestres e areos para execuo de atividades em misses nacionais e internacionais, com acentuada frequncia. Vagas: 3 CARGO 14: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CINCIA DA COMPUTAO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Cincia da Computao, Engenharia da Computao, Engenharia Eletrnica, Informtica ou reas afins, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: desenvolver atividades especializadas de pesquisa e desenvolvimento em aspectos ligados metrologia da Informtica (qualidade, segurana da informao, comunicao); e em sistemas, ferramentas, modelos, e metodologias computacionais para suporte s aplicaes metrolgicas das demais grandezas. Representao institucional em fruns, congressos e comits afins, nacionais e internacionais. Vagas: 2 CARGO 15: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CINCIAS ECONMICAS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Cincias Econmicas fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao.

EXEMPLO DE ATRIBUIES: desenvolver atividades especializadas de pesquisa, planejamento, assistncia tcnica, execuo de projetos de estudos econmicos estratgicos e demais assuntos afetos s atividades desenvolvidas no mbito da Instituio. Elaborar estudos de impacto econmico e sustentabilidade de projetos e da regulamentao tcnica emitida pelo INMETRO Vagas: 5, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 16: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: DESENVOLVIMENTO DE SISTEMAS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Cincia da Computao, Engenharia da Computao, Engenharia de Controle e Automao, Engenharia de Sistemas, Engenharia Eletrnica, Informtica ou reas afins, reconhecido pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: analisar e diagnosticar as necessidades de informao dos clientes e propor alternativas de soluo tcnica e estratgia de desenvolvimento; elencar requisitos e criar modelos de uso e de testes de sistemas; elaborar projeto lgico e fsico de dados e de sistemas; definir a arquitetura de softwares e de sistemas; homologar o sistema junto ao cliente; implantar sistemas; elaborar documentao relativa s etapas de desenvolvimento de sistemas; elaborar e ministrar treinamentos relativos a sistemas de informao, ferramentas de acesso e manipulao de dados; selecionar, implementar e internalizar novas tecnologias de desenvolvimento; prestar assessoramento tcnico no que se refere a prazos, recursos e alternativas de desenvolvimento de sistemas; especificar a manuteno de softwares e de sistemas; acompanhar e avaliar o desempenho dos sistemas implantados e definir medidas corretivas; planejar e administrar componentes reusveis e repositrios; certificar e inspecionar modelos e cdigos de sistemas; e elaborar e gerenciar projetos de sistemas e software. Vagas: 2 CARGO 17: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: EDUCAO A DISTNCIA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em qualquer rea de formao fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: atividades de nvel superior compreendendo gesto estratgica da informao e do conhecimento, da qualidade, sistemas de avaliao; gerenciamento de projetos, mapeamento e gesto por competncias; assessoramento, orientao e superviso de auxiliares, abrangendo estudo, pesquisa, anlise com vistas utilizao estratgica dos recursos da tecnologia da informao em processos educacionais; planejamento e gerenciamento de aes educacionais. Vagas: 4

CARGO 18: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA CIVIL REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Engenharia Civil fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao e registro no respectivo conselho de classe. EXEMPLO DE ATRIBUIES: atender s necessidades do INMETRO quanto manuteno dos prdios que ocupa; monitorar (acompanhamento, avaliao e controle) a execuo de obras objetivando o cumprimento das normas tcnicas, dos projetos, detalhes, especificaes tcnicas e cronograma fsico-financeiro contidos nos projetos executivos; acompanhamento tcnico e fiscalizao de obras em geral; superviso de obras; verificar e aprovar as medies mensais de obras elaboradas pelos contratados e executar outras atividades correlatas funo. Vagas: 3 CARGO 19: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA ELTRICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Engenharia Eltrica e reas correlatas fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao e registro no respectivo conselho de classe. EXEMPLO DE ATRIBUIES: supervisionar as atividades tcnicas realizadas pelo INMETRO nas reas de medidores de energia eltrica, medidores de gua (hidrmetros) e medidores de gs, garantindo que sejam seguidos os regulamentos tcnicos metrolgicos e as normas INMETRO especficas relativas ao assunto, incluindo a calibrao de mesas de ensaio de medidores de energia eltrica e a inspeo de bancadas de ensaios para verificao de hidrmetros e de bancadas de ensaios para verificao de medidores de gs; emitir laudos, relatrios de ensaio e relatrios de verificao pelo INMETRO; interagir com os fabricantes de medidores de eletricidade, de hidrmetros e de medidores de gs e com as empresas concessionrias de servios de energia eltrica, gua e gs; colaborar na elaborao e na reviso de regulamentos, normas e outros documentos utilizados no controle metrolgico legal e executar outras atividades correlatas funo, tais como acompanhamento tcnico e fiscalizao de obras em geral; superviso de obras; verificar e aprovar as medies mensais de obras elaboradas pelos contratados. Vagas: 4 CARGO 20: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA ELETRNICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Engenharia Eletrnica e reas correlatas fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao e registro no respectivo conselho de classe.

EXEMPLO DE ATRIBUIES: atividades de elaborao e implementao de projetos, planejamento, assistncia tcnica, manuteno, superviso e operao de equipamentos e sistemas no domnio da metrologia (medidores de energia eltrica, eletromecnicos, eletrnicos, SMC (Sistema de Medio Centralizada) e outras atividades correlatas. Vagas: 3 CARGO 21: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA MECNICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Engenharia Mecnica e Engenharia Mecatrnica (ou reas anlogas) fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao e registro no respectivo conselho de classe. EXEMPLO DE ATRIBUIES: supervisionar as atividades tcnicas realizadas pela Instituio nas reas de arqueao de tanques, calibrao de massa, calibrao de volume, medidores de velocidade, taxmetros e cronotacgrafos; desenvolver mtodos de calibrao; disseminar a aplicao da estatstica e do clculo da incerteza da medio s atividades sob sua responsabilidade; emitir laudos, relatrios de ensaio e relatrios de verificao emitidos pelo INMETRO; colaborar na elaborao e na reviso de regulamentos, normas e outros documentos utilizados no controle metrolgico legal e executar outras atividades correlatas funo. Vagas: 6, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 22: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA DE PRODUO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Engenharia de Produo, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao e registro no respectivo conselho de classe. EXEMPLO DE ATRIBUIES: acompanhar, participar e executar atividades relacionadas elaborao e coordenao de projetos, propor rotinas e padronizaes das atividades nas quais est envolvido, participar no desenvolvimento de mtodos e tcnicas que visem melhoria e otimizao de processos, gesto de custos e investimentos, gesto de qualidade, sistemas de informao de gesto, planejamento estratgico, marketing, gesto ambiental e demais assuntos relacionados rea. Vagas: 2 CARGO 23: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA DE SEGURANA DO TRABALHO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao em Engenharia, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida

pelo Ministrio da Educao, acrescido de certificado de concluso de curso de especializao, em nvel de ps-graduao, com carga horria mnima de 360 horas, em Engenharia de Segurana do Trabalho, reconhecido pelo Ministrio da Educao, e registro no CREA. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar atividades relacionadas ao cumprimento de normas de segurana no trabalho; realizar inspeo das reas e equipamentos do Instituto quanto preveno de acidentes no trabalho e de riscos; inspecionar o cumprimento de normas de segurana no trabalho, incluindo o sistema de combate contra incndio; analisar e investigar causas de acidentes de trabalho; propor aquisio, controlar e distribuir equipamentos de proteo individual e de outros itens relativos segurana de trabalho; realizar percias e fiscalizaes; prestar primeiros socorros; participar de estratgias de preveno, controle e gerenciamento de riscos, higiene, ergonomia, acidentes de trabalho e doenas ocupacionais, incluindo a realizao de aes conjuntas com outros integrantes da equipe de vigilncia; organizar palestras ou eventos/atividades relativas segurana do trabalho; participar de programas de treinamento e disseminar o conhecimento; emitir laudos e relatrios dos ambientes e processos de trabalho, bem como produzir documentos circunstanciados sobre os agravos sade do servidor com vistas ao estabelecimento de nexo dos acidentes e doenas relacionadas ao trabalho; propor aes voltadas promoo da sade e humanizao do trabalho, em especial a melhoria das condies de trabalho, preveno de acidentes, de agravos sade e de doenas relacionadas ao trabalho; efetuar a avaliao da exposio a riscos e emisso dos laudos tcnicos e pareceres relativos a adicionais ocupacionais (de insalubridade, de periculosidade ou de irradiao ionizante) e executar outras atividades definidas pelo INMETRO relativas a segurana do trabalho. Vaga: 1 CARGO 24: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: GESTO DA INFORMAO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Cincia da Computao, Engenharia da Computao, Anlise e Desenvolvimento de Sistemas, Engenharia de Produo, Engenharia de Sistemas, Informtica ou reas afins, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: coordenar equipes na gesto de ambientes computacionais de desenvolvimento, teste, homologao e produo de sistemas informatizados; coordenar equipes em projeto, anlise e desenvolvimento de sistemas informatizados; monitorar equipes na gesto de stios WEB - Internet e Intranet; coordenar equipes na operao, manuteno e produo de sistemas informatizados e infraestrutura de ambientes computacionais; coordenar e supervisionar atividades do escritrio de projetos. Vagas: 2 CARGO 25: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: GOVERNANA DE TECNOLOGIA DA INFORMAO

REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em reas das Cincias Exatas, Cincia da Computao, Engenharia da Computao, Engenharia de Controle, Automao, Engenharia de Sistemas, Engenharia Eletrnica, Informtica ou reas afins, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: promover o alinhamento da Tecnologia da Informao - TI com a estratgia corporativa; subsidiar o Comit Gestor de TI nas tomadas de deciso sobre investimentos e priorizao dos projetos de TI; elaborar, acompanhar e revisar o Plano Diretor de TI; avaliar, implementar e aperfeioar os controles e mecanismos de governana de TI; planejar, especificar e acompanhar a Comisso de Licitao nas contrataes de TI; coordenar equipes na gesto de ambientes computacionais de desenvolvimento, teste, homologao e produo de sistemas informatizados; monitorar equipes na gesto de stios WEB - Internet e Intranet; coordenar e supervisionar atividades do escritrio de projetos. Vagas: 2 CARGO 26: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INFRAESTRUTURA E REDES DE TECNOLOGIA DA INFORMAO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em reas das Cincias Exatas, Cincia da Computao, Engenharia da Computao, Engenharia de Controle, Automao, Engenharia de Sistemas, Engenharia Eletrnica, Informtica ou reas afins, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: desenvolver as atividades relativas manuteno da infraestrutura tecnolgica e de comunicaes, bem como s atividades de implantao e suporte aos sistemas em produo. Proposio de projetos e avaliao da implementao de Poltica de Segurana, Avaliao e monitoramento de ambientes computacionais; diagnstico e superviso da implementao de solues de segurana de dados e de sistemas; anlise e investigao de ameaas, vulnerabilidades e incidentes. Vagas: 2 CARGO 27: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INFORMTICA APLICADA METROLOGIA LEGAL REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em reas das Cincias Exatas, Cincia da Computao, Engenharia da Computao, Engenharia de Controle, Automao, Engenharia de Sistemas, Engenharia Eletrnica, Informtica ou reas afins, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: atividades relacionadas aos aspectos ligados metrologia da Informtica (qualidade, segurana da informao, comunicao) e em sistemas, ferramentas, modelos e metodologias computacionais para suporte s aplicaes metrolgicas das demais grandezas. Representao institucional em fruns, congressos e comits afins, nacionais e internacionais.

Vagas: 3 CARGO 28: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INSTRUMENTAO EM DINMICA DOS FLUIDOS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior na rea de Engenharia Eltrica, Engenharia Eletrnica ou Engenharia Mecatrnica (ou reas anlogas), fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: participar de projetos de pesquisa, desenvolvimento e inovao relacionados ao provimento de padronizao, rastreabilidade, medies e estudos envolvendo escoamentos de fluidos, atravs de atuao no planejamento, coordenao, elaborao e execuo destes projetos; participar de trabalhos interdisciplinares que envolvam a rea especfica; divulgar e disseminar o conhecimento; realizar calibraes; dar suporte em sua rea de atuao; contribuir nas atividades de coordenao/gerenciamento, entre outras. Vaga: 1 CARGO 29: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA ACSTICA E VIBRAES REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em reas das Engenharias ou Fsica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: prestao de servios de calibrao e ensaio em acstica, ultrassom ou vibraes, atuao em projetos de pesquisa e desenvolvimento, treinamento tcnico, elaborao procedimentos tcnicos relacionados s atividades afins, manuteno do sistema da qualidade, programao e automao computacional, anlise estatstica de dados de medio. Vagas: 3 CARGO 30: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA BIOQUMICA E BIOLOGIA MOLECULAR REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Agronomia, Cincias Biolgicas, Biologia, Biomedicina, Biofsica, Microbiologia, Farmcia, Fsica, Medicina, Medicina Veterinria, Qumica ou Zootecnia, expedido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: Atuao prtica nos laboratrios em reas tais como: preparo de solues e meios de cultura; eletroforese uni e bidimensional para caracterizao de protenas; espectrometria de massa para anlise de protena; deteco de protenas com anticorpos marcados; anlise qumica, estrutura, purificao,

caracterizao, quantificao, sequenciamento, cromatografia e eletrorese de protenas; isolamento de DNA; triagem de bibliotecas genmicas; anlise de carboidratos. Vaga: 1 CARGO 31: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA AO CULTIVO DE CLULAS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Agronomia, Cincias Biolgicas, Biologia, Biomedicina, Biofsica, Microbiologia, Farmcia, Fsica, Medicina, Medicina Veterinria, Qumica ou Zootecnia, expedido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: receber as linhagens celulares humanas e animais; verificar a viabilidade, qualidade, origem, capacidade de proliferao e ausncia de contaminao; identificar e registrar a origem de clulas (espcie, tecido, idade, nmero de passagens para linhagens primrias); definir as condies de cultivo e de conservao da cultura; expandir as clulas e preparar o estoque apropriado para o acervo; congelar as clulas, verificar a qualidade e viabilidade depois do congelamento; organizar o registro completo do acervo; manter o controle do estoque, renovando-o quando necessrio; atender a demanda qualificada do fornecimento de clulas; preparar clulas para a transferncia aos terceiros; manter o registro e o controle permanente da demanda e da distribuio das clulas; preparar os laboratrios do CBMB para certificao mantendo permanentemente o controle de qualidade; elaborar e manter atualizados os Procedimentos Operacionais Padro. Prestar apoio aos grupo de pesquisa e desenvolvimento tecnolgico na rea de cultivo de clulas humanas e animais. Vaga: 1 CARGO 32: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA AO CULTIVO DE CLULAS ANIMAIS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Agronomia, Cincias Biolgicas, Biologia, Biomedicina, Biofsica, Microbiologia, Farmcia, Fsica, Medicina, Medicina Veterinria, Qumica ou Zootecnia, expedido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: desenvolvimento de um sistema nacional de avaliao da conformidade do material biolgico, estabelecimento de referncias metrolgicas na rea da biotecnologia de uso de clulas humanas e animais, visando segurana da produo de bens industriais, comrcio e proteo do consumidor final. Vaga: 1 CARGO 33: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA MICROSCOPIA DE MACROMOLCULAS

REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Agronomia, Cincias Biolgicas, Biologia, Biomedicina, Biofsica, Microbiologia, Farmcia, Fsica, Medicina, Medicina Veterinria, Qumica ou Zootecnia, expedido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: planejamento de projetos de pesquisa na rea da organizao estrutural de macromolculas biolgicas, com nfase em cidos nucleicos e protenas, (b) atividades de pesquisa bsica e aplicada, empregando tcnicas de microscopia eletrnica e de fora atmica, voltadas para a melhor compreenso de estruturas biolgicas e produo de materiais de referncia; (c) organizao de ensaios interlaboratoriais; desenvolvimento de atividades referentes a estudos, planejamento, coordenao e anlise relativa a projetos em metrologia aplicada a estruturas biolgicas; (d) outras atividades com o mesmo nvel de complexidade relativas ao exerccio das competncias institucionais e legais a cargo do INMETRO Vaga: 1 CARGO 34: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA MICROSCOPIA PTICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Agronomia, Cincias Biolgicas, Biologia, Biomedicina, Biofsica, Microbiologia, Farmcia, Fsica, Medicina, Medicina Veterinria, Qumica ou Zootecnia, expedido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: preparo de amostras biolgicas para observaes microscpicas; observaes de amostras biolgicas por microscopia de contraste de fase e interferencial; observaes de amostras biolgicas por microscopia de fluorescncia convencional; observaes de amostras biolgicas por microscopia confocal. Vaga: 1 CARGO 35: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA DA DINMICA DOS FLUIDOS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior nas reas das Engenharias, Qumica, Fsica, ou Matemtica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: participar de projetos de pesquisa, desenvolvimento e inovao, visando ao provimento de rastreabilidade e minimizao de incertezas das medies em escoamentos de fluidos. A atuao abarca desde atividades que envolvem as investigaes dos complexos fenmenos da fluidodinmica para buscar solues de aplicaes prticas que so interesse da sociedade em geral, como aquelas voltadas para promover melhorias em processos, investigando interaes de equipamentos com os fluidos ou participando do desenvolvimento de novas tecnologias de medies aplicados aos escoamentos. Tambm atribuio do pesquisador divulgar e disseminar

o conhecimento, realizar calibraes, dar suporte em sua rea de atuao, contribuir nas atividades de coordenao/gerenciamento, entre outras. Vagas: 3 CARGO 36: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA DAS GRANDEZAS ELETROMAGNTICAS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Engenharia Eltrica, Engenharia Eletrnica, Fsica ou Matemtica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: prestao de servios de calibraes e ensaios em: corrente contnua e alternada em baixa frequncia; potncia e energia; alta tenso. Atuao em projetos de pesquisa e desenvolvimento e inovao, treinamentos tcnicos, anlise e elaborao de normas e procedimentos relacionados s atividades; manuteno do sistema da qualidade nas reas, programao e automao; anlise estatstica de dados. Vagas: 4 CARGO 37: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA LEGAL REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em qualquer rea de formao, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: realizar atividades de pesquisa e desenvolvimento relativas aos instrumentos de medio, s medidas materializadas e aos produtos prmedidos; identificar e priorizar demandas da sociedade por programas de garantia metrolgica; desenvolver e implantar programas de garantia metrolgica, com foco na proteo da sade e da segurana do usurio e do meio ambiente e nas transaes comerciais utilizando para sua implantao e implementao a elaborao da regulamentao metrolgica, a realizao de aes de coordenao e de acompanhamento no mercado dos produtos regulamentados e de controle metrolgico legal; disseminar o conhecimento sobre a metrologia legal, ministrando treinamentos, cursos, palestras e aulas, no Brasil e no exterior; prestar esclarecimentos s questes oriundas da sociedade; representar a instituio em fruns, congressos e comits afins, nacionais e internacionais. Vagas: 10, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 38: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM GRANDEZAS PTICAS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Engenharia Eltrica, Engenharia Eletrnica, Fsica

ou Matemtica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: prestao de servios de calibraes e ensaios em grandezas pticas; atuao em projetos de pesquisa e desenvolvimento e inovao, treinamentos tcnicos, anlise e elaborao de normas e procedimentos relacionados s atividades; manuteno do sistema da qualidade na rea de grandezas pticas, programao e automao; anlise estatstica de dados. Vagas: 3 CARGO 39: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM GRANDEZAS TRMICAS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior na rea de Engenharia Mecnica, Engenharia Mecatrnica, (ou reas anlogas) Engenharia Metalrgica, Engenharia Eletroeletrnica, Engenharia Eltrica, Fsica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: realizar atividades tcnicas nas reas de termometria, higrometria, pirometria e calorimetria; participar de projetos de desenvolvimento cientfico; desenvolver mtodos de medio aplicados rea; realizar calibrao e ensaios; colaborar na elaborao e na reviso de normas tcnicas aplicadas rea; atuar na realizao, manuteno e disseminao das grandezas trmicas. Vagas: 2 CARGO 40: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM MECNICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior Engenharia Mecnica, Engenharia Mecatrnica, Engenharia de Materiais, Engenharia Metalrgica, Engenharia Eletrnica, Engenharia Qumica, Fsica, Matemtica, Estatstica, Cincia da Computao; Engenharia de Automao e Qumica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: atividades relacionadas calibrao de padres/instrumentos de medio e pesquisa metrolgica nas reas de metrologia em mecnica como: rugosidade, forma, medio por coordenadas, roscas, interferometria a laser, ngulo plano e comprimento; fora, torque, dureza e impacto; massa; e presso e vcuo. Vagas: 4 CARGO 41: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA DE MATERIAIS - OPO 1

REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Engenharias, Fsica, Qumica ou Matemtica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: planejamento de projetos de pesquisa nas reas de microscopia eletrnica, difrao de raios X e espectroscopia ptica. Atividades de pesquisa voltadas para a nanometrologia e nanofabricao, caracterizao de propriedades fsicas de materiais nanoestruturados. Uso de tcnicas como: feixe focalizado de ons, microscopia eletrnica de varredura de alta resoluo, microscopia eletrnica de transmisso de alta resoluo, tcnicas de preparao de amostras, difrao de raios X, espectroscopias Raman, UV-Visvel e de infravermelho, fotoluminescncia e fluorescncia de raios X. Atuao em projetos de pesquisa e desenvolvimento e inovao, treinamentos tcnicos, anlise e elaborao de normas e procedimentos. Vagas: 2 CARGO 42: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA DE MATERIAIS - OPO 2 REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Engenharias, Fsica, Qumica ou Matemtica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: planejamento de projetos de pesquisa nas reas de superfcies e filmes finos e dispositivos opto-eletrnicos. Atividades de pesquisa voltadas para a nanometrologia, estudo de diodos orgnicos emissores de luz (OLEDs, fotodetetores, clulas solares e sensores). Uso de tcnicas como: microscopia de varredura de tunelamento, microscopia de fora atmica, anlise de superfcie por espectroscopia de fotoeltrons e sistema de produo de filmes finos. Atuao em projetos de pesquisa e desenvolvimento e inovao, treinamentos tcnicos, anlise e elaborao de normas e procedimentos. Vagas: 2 CARGO 43: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM QUMICA - OPO 1 REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Engenharia Qumica, Qumica Industrial ou Qumica, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro no respectivo conselho de classe. EXEMPLO DE ATRIBUIES: supervisionar as atividades tcnicas realizadas pelo INMETRO relacionadas a etilmetros, medidores de gases de emisso veicular, opacmetros, termmetros clnicos, esfigmomanmetros, densmetros, sistemas de medio de vazo, e calibrao de vidraria de laboratrio; desenvolver sistema de Boas Prticas Laboratoriais para as atividades realizadas nas instalaes do INMETRO; aperfeioar e desenvolver mtodos de calibrao; disseminar a aplicao da estatstica e do clculo da incerteza da medio s atividades sob sua responsabilidade; elaborar laudos, relatrios de ensaio e relatrios de verificao emitidos pelo INMETRO;

colaborar na elaborao e na reviso de regulamentos, normas e outros documentos utilizados no controle metrolgico legal e outras atividades correlatas funo. Vaga: 1 CARGO 44: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM QUMICA - OPO 2 REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em, Engenharia Qumica, Qumica Industrial, Qumica, Engenharia de Alimentos, Engenharia Metalrgica e Farmcia. EXEMPLO DE ATRIBUIES: atuao no desenvolvimento e produo de materiais de referncia certificados de compostos qumicos, desenvolvimento e validao de metodologias analticas nas reas de qumica, atuao em projetos de pesquisa e desenvolvimento e inovao, treinamentos tcnicos, anlise e elaborao de normas e procedimentos relacionados s atividades, manuteno do sistema da qualidade na rea de Qumica. Vagas: 4 CARGO 45: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MICROSCOPIA ELETRNICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Agronomia, Cincias Biolgicas, Biologia, Biomedicina, Biofsica, Microbiologia, Farmcia, Fsica, Medicina, Medicina Veterinria, Qumica ou Zootecnia, expedido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: processamento de amostras biolgicas para microscopia de varredura; processamento de amostras biolgicas para microscopia de transmisso; ultramicrotomia e criomicrotomia; criofixao; criofratura; revestimento metlico de amostras biolgicas. Vagas: 3 CARGO 46: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MICROSCOPIA FORENSE REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em uma das seguintes reas: Agronomia, Cincias Biolgicas, Biologia, Biomedicina, Biofsica, Microbiologia, Farmcia, Fsica, Medicina, Medicina Veterinria, Qumica ou Zootecnia, expedido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: planejamento de projetos de pesquisa na rea de metrologia forense, atividades de pesquisa bsica e aplicada empregando tcnicas de microscopia analtica voltadas para reas estratgicas de validao de anlise de microvestgios e produo de materiais de referncia; realizao de ensaios de avaliao

e medio de microvestgios envolvendo tcnicas de (a) microscopia eletrnica de varredura, (b) microscopia eletrnica de transmisso, (c) espectroscopia por disperso de energia e (d) microscopia ptica de microcomparao; organizao de ensaios interlaboratoriais; desenvolvimento de atividades referentes a estudos, planejamento, coordenao e anlise relativa a projetos em metrologia forense alm de outras atividades com o mesmo nvel de complexidade relativas ao exerccio das competncias institucionais e legais a cargo do INMETRO Vaga: 1 CARGO 47: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: PSICOLOGIA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Psicologia, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro profissional no rgo de classe competente. EXEMPLO DE ATRIBUIES: realizar atividades relacionadas s reas de Psicologia Organizacional e Clnica; realizar atendimentos, diagnsticos e inspees de sade; prescrever tratamentos; realizar visitas domiciliares ou em dependncias hospitalares; emitir laudos e pareceres; atuar em programas de educao e preveno de doenas; atuar em processos de seleo, acompanhamento, anlise ocupacional, avaliao de desempenho e desligamento de pessoal; efetuar o exame psquico com instrumentos padronizados quando solicitado e encaminhar o parecer ao mdico perito; encaminhar o cliente para atendimento por outras especialidades; ministrar palestras; participar de reunies para o estudo de caso clnico, principalmente nos casos de readaptao profissional; realizar orientao psicolgica; realizar orientao psicolgica a familiares, desde que absolutamente necessrio para evoluo e resoluo do quadro do servidor; participar de cursos e programas promovidos pela equipe; atender pacientes encaminhados pela percia mdica que apresentam queixas recorrentes sem achado clnico em vrias especialidades para parecer; participar, em conjunto com outros profissionais, de programas de atendimento ao servidor dependente de lcool e de outras drogas, de preparao para aposentadoria, e outros; redigir, digitar e conferir expedientes diversos; e executar outras atividades de mesma natureza e grau de complexidade que lhe forem delegadas. Vaga: 1 CARGO 48: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: RECURSOS HUMANOS REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em Administrao, Direito, Engenharia de Produo, Psicologia, ou Pedagogia, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro no respectivo conselho de classe, se for o caso. EXEMPLO DE ATRIBUIES: acompanhar, participar e executar programas e projetos relacionados a pessoas nas diversas reas da Instituio; realizar atividades voltadas aos aspectos de desenvolvimento do servidor, bem como dar suporte e

assessoria em aes e processos institucionais relativos gesto de desempenho e de competncias, visando maior produtividade, realizao pessoal e qualidade de vida no trabalho; vincular as decises da gesto de recursos humanos a modelos de competncias validados conceitualmente e na prtica de empresas pblicas e privadas; exercer atividades relacionadas a mudanas organizacionais, treinamento e aperfeioamento de recursos humanos; participar na definio de objetivos, estratgias, mtodos e conjuntos de projetos para que os servidores contribuam efetivamente para o cumprimento da misso, viso e polticas institucionais do INMETRO; planejar, instrumentar e avaliar a eficcia dos processos tcnicos de gesto de recursos humanos, como: concursos pblicos, seleo, reteno, movimentao, promoes, exonerao etc., assim como executar programas voltados sade ocupacional e segurana do trabalho. Vagas: 7, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 49: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: TECNOLOGIA E INOVAO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de graduao de nvel superior em qualquer rea de formao, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro no respectivo conselho de classe, se for o caso. EXEMPLO DE ATRIBUIES: atividades de Planejamento Estratgico, Gesto de Tecnologia e Inovao, Gesto de Projetos Tecnolgicos, Polticas e Gesto de Cincia e Tecnologia; implantao de polos industriais; metodologias de gesto de tecnologia e inovao no ambiente pblico e privado; participao junto a diferentes instncias administrativas do INMETRO; representao institucional em fruns, congressos e comits afins, nacionais e internacionais. Vagas: 3 2.4 ASSISTENTE EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE (Padro I, Classe C) DESCRIO SUMRIA DAS ATRIBUIES GERAIS: atribuies voltadas para o exerccio de atividades administrativas e logsticas de nvel auxiliar relativas ao exerccio das competncias institucionais e legais a cargo do INMETRO Assistente Executivo em Metrologia e Qualidade Gratificao R$ (primeiro Total ano) Vencimento s/Gratificao s/Gratificao c/Gratificao Bsico por por por Qualificao Qualificao Qualificao R$ 1.678,28 R$ 826,40 R$ 1.054,40 R$ 2.504,68 TOTAL DE VAGAS: 10 CARGO 50: ASSISTENTE EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE REA: ADMINISTRAO Total Gratificao c/Gratificao por por Qualificao Qualificao R$ 167,83 R$ 2.900,51

REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de nvel mdio completo (antigo segundo grau), fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: desenvolver atividades de planejamento, organizao, superviso, avaliao e execuo relativas ao apoio tcnico e administrativo em rea tcnica ou operacional, visando ao suporte necessrio ao funcionamento do INMETRO Vagas: 10, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. 2.5 TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE (Padro I, Classe C) DESCRIO SUMRIA DAS ATRIBUIES GERAIS: atribuies voltadas ao suporte e ao apoio tcnico especializado s atividades de metrologia legal, cientfica e industrial, qualidade, regulamentao, acreditao, superao de barreiras tcnicas, avaliao da conformidade e informao tecnolgica. Tcnico em Metrologia e Qualidade Gratificao R$ (primeiro ano) Vencimento s/Gratificao c/Gratificao Bsico por por Qualificao Qualificao R$ 1.678,28 R$ 826,40 R$ 1.054,40 TOTAL DE VAGAS: 79 CARGO 51: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: BIOTECNOLOGIA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) em Biotecnologia, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao. EXEMPLO DE ATRIBUIES: Desinfeco e esterilizao de materiais; Preparo de solues e meios de cultura; Cultivo de micro-organismos, clulas animais e vegetais; Utilizao de tcnicas bsicas de microscopia, bioqumica e biologia molecular; Utilizao de equipamentos laboratoriais; Armazenamento de materiais de consumo e controle de estoques; Descarte de resduos qumicos e material biolgico; Preparo e atualizao de normas tcnicas ou procedimentos operacionais de equipamentos; Atendimento s normas do sistema de qualidade em laboratrios de calibrao e ensaio (NBR ISO/IEC 17025)10-Aplicao de procedimentos de Biossegurana e Boas prticas de Laboratrio na execuo das atividades. Vagas: 4 CARGO 52: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CONTABILIDADE Total Total Gratificao s/Gratificao c/Gratificao por por por Qualificao Qualificao Qualificao R$ 2.504,68 R$ 167,83 R$ 2.900,51

REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) em Contabilidade, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao, e registro no Conselho Regional de Contabilidade (CRC), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar e participar da elaborao de relatrios financeiros e contbeis; pesquisar e coletar dados e informaes, elaborar planilhas e tabelas diversas; apoiar os processos tcnicos/administrativos da rea de atuao; acompanhar as alteraes na legislao inerentes aos processos financeiros e contbeis; apoiar a elaborao de pareceres, notas tcnicas e prestao de contas. Vagas: 2 CARGO 53: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ELTRICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) nas reas de Eletrotcnica, Eletrnica ou Metrologia, com diploma ou declarao de concluso do curso expedido por instituio de ensino devidamente reconhecida pelo Ministrio da Educao,com registro no Conselho Regional de Engenharia, Arquitetura e Agronomia (CREA), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar ensaios e calibraes constantes no catlogo de servios do INMETRO; Implantar novas metodologias de calibrao e instrumentao do laboratrio; colaborar na elaborao e manuteno do sistema da qualidade; realizar servios de montagem e instalao de equipamentos e bancadas experimentais; colaborar na elaborao de planilha de clculos de incertezas de medio. Vagas: 5, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 54: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ELETRNICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) em Eletrnica (qualquer nfase), Instrumentao Industrial, Mecatrnica (ou reas anlogas), Eletroeletrnica ou Automao Industrial, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao,com registro no Conselho Regional de Engenharia, Arquitetura e Agronomia (CREA), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar servios de calibrao e ensaios em instrumentos de medio, sistemas de medio e medidas materializadas; colaborar no desenvolvimento de sistemas para automao de procedimentos de ensaios e calibraes; colaborar com atividades de pesquisa e desenvolvimento no mbito da garantia metrolgica. Vagas: 4

CARGO 55: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: EDIFICAES REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) em Edificaes ou Construo Civil fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao,com registro no Conselho Regional de Engenharia, Arquitetura e Agronomia (CREA), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: suporte s atividades voltadas para a manuteno predial, bem como s atividades de infraestrutura em geral; executar e participar da execuo de projetos e obras de engenharia (instalaes novas e antigas, manuteno) tais como edificaes, construo civil, canteiro de obras etc., cumprindo as normas de qualidade, segurana, meio ambiente e sade; executar e participar da fiscalizao tcnica e administrativa de contratos de projetos de engenharia, atestando o andamento fsico-financeiro e realizando medies dos servios executados. Vaga: 1 CARGO 56: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INSTRUMENTAO REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) em Eletrnica (qualquer nfase), Eletrotcnica, Eletroeletrnica, Eletromecnica, Mecnica, Mecatrnica (ou reas anlogas) ou Metrologia, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao,com registro no Conselho Regional de Engenharia, Arquitetura e Agronomia (CREA), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar ensaios e calibraes constantes no catlogo de servios do INMETRO no laboratrio, e em campo; implantar novas metodologias de calibrao e instrumentao do laboratrio; colaborar na elaborao e manuteno do sistema da qualidade; participar das atividades de desenvolvimento de sistemas de automao das medies realizadas no laboratrio, e em campo; colaborar na elaborao de planilha de clculos de incertezas de medio. Vagas: 5, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 57: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MECNICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante), fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao, em Mecnica, Metrologia, Mecatrnica (ou reas anlogas), Automao Industrial, Eletromecnica, Eletroeletrnica, Eletrotcnica, Eletrnica, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao,com registro no Conselho Regional de Engenharia, Arquitetura e Agronomia (CREA), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar e participar das tarefas de manuteno corretiva, preventiva e preditiva nas instalaes e equipamentos, empregando

conhecimentos tcnicos e operacionais especficos e complementares, de acordo com as instrues tcnicas, desenhos, normas e legislao pertinentes; executar a fiscalizao tcnica dos contratos de servios; colaborar e dar apoio tcnico s atividades de pesquisa e desenvolvimento no mbito da Mecnica e Metrologia. Vagas: 5, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 58: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) em Metrologia, Mecnica, Mecatrnica (ou reas anlogas), Automao Industrial, Eletromecnica, Eletroeletrnica, Eletrotcnica, Eletrnica (em qualquer nfase), Eltrica (qualquer nfase) ou Qumica, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao, com registro no Conselho Regional de Engenharia, Arquitetura e Agronomia (CREA) ou Conselho Regional de Qumica (CRQ), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar servios de calibrao e ensaios em instrumentos de medio, sistemas de medio e medidas materializadas; auxiliar nas atividades de manuteno e conservao da instrumentao metrolgica; participar do desenvolvimento de projetos cientficos e tecnolgicos em Metrologia Legal; participar de atividades relativas implantao e manuteno de sistema da qualidade baseado nos requisitos gerais para a competncia de laboratrios de calibrao e ensaios; inspecionar as atividades tcnicas, atravs do acompanhamento das equipes de verificao e fiscalizao, no que se refere a procedimentos tcnicos, controle de materiais utilizados, padres de trabalho, equipamentos utilizados (coletores, laptops, etc.); analisar os trabalhos realizados pelas equipes. Vagas: 39, sendo 2 vagas reservadas aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 59: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA CIENTFICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) em Metrologia, Mecnica, Mecatrnica (ou reas anlogas), Automao Industrial, Eletromecnica, Eletroeletrnica, Eletrotcnica, Eletrnica (em qualquer nfase), Eltrica (qualquer nfase) ou Qumica, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao, com registro no Conselho Regional de Engenharia, Arquitetura e Agronomia (CREA) ou registro no Conselho Regional de Qumica (CRQ), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar servios de calibrao e ensaios em instrumentos de medio, sistemas de medio e medidas materializadas; auxiliar nas atividades de manuteno e conservao da instrumentao metrolgica; colaborar e dar apoio tcnico s atividades de pesquisa e desenvolvimento no mbito da Metrologia Cientfica.

Vagas: 8, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. CARGO 60: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA QUMICA REQUISITOS: diploma, devidamente registrado, ou certificado de concluso de curso de educao profissional tcnica de nvel mdio (antigo segundo grau profissionalizante) em Qumica (em qualquer nfase) ou Metrologia, fornecido por instituio de ensino reconhecida pelo Ministrio da Educao, com registro no Conselho Regional de Qumica (CRQ), como tcnico. EXEMPLO DE ATRIBUIES: executar servios de calibrao e ensaios em instrumentos e sistemas de medio relacionados fsico-qumica; colaborar com atividades de pesquisa e desenvolvimento no mbito da Metrologia Qumica. Vagas: 6, sendo 1 vaga reservada aos candidatos portadores de deficincia. 3 DAS VAGAS DESTINADAS AOS CANDIDATOS PORTADORES DE DEFICINCIA 3.1 Das vagas previstas neste edital e daquelas que surgirem durante o prazo de validade do concurso para cada cargo/rea, 5% sero reservadas s pessoas portadoras de deficincia, de acordo com o previsto no artigo 37, inciso VIII, da Constituio Federal, no artigo 5, 2, da Lei n 8.112, de 11 de dezembro de 1990, e nos artigos 4, 37 e seguintes, do Decreto n 3.298, de 20 de dezembro de 1999, e suas alteraes. 3.1.1 Caso a aplicao do percentual de que trata o subitem 3.1 resulte em nmero fracionado, esse dever ser elevado at o primeiro nmero inteiro subsequente, desde que no ultrapasse a 20% das vagas oferecidas, nos termos do 2 do artigo 5 da Lei n 8.112/90. 3.1.2 Somente haver reserva de vagas para provimento imediato para os candidatos portadores de deficincia nos cargos/reas com nmero de vagas igual ou superior a 5. 3.1.3 O candidato que se declarar portador de deficincia concorrer a todas as vagas, independentemente da reserva fixada, em igualdade de condies com os demais candidatos, garantindo-se ao candidato com necessidades especiais as condies de acessibilidade aos locais de realizao das provas. 3.2 Para concorrer a uma dessas vagas, o candidato dever: a) no ato da inscrio, declarar-se portador de deficincia; b) encaminhar cpia simples do CPF e laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio), emitido nos ltimos doze meses, atestando a espcie e o grau ou nvel da deficincia, com expressa referncia ao cdigo correspondente da Classificao Internacional de Doenas (CID-10), bem como provvel causa da deficincia, na forma do subitem 3.2.1 deste edital;

c) o candidato com deficincia visual, alm do envio da documentao indicada na letra "b" deste subitem, dever solicitar, no ato da inscrio, prova em braile, auxlio na leitura da prova (ledor), prova ampliada (fonte entre 14 e 16) ou prova super ampliada (fonte 28); d) o candidato com deficincia que necessitar de tempo adicional de, no mximo, uma hora para realizao das provas, dever indicar na solicitao de inscrio e, alm de enviar a documentao indicada na letra "b" deste subitem, dever encaminhar solicitao, por escrito, no prazo previsto no subitem 5.4.9, com justificativa acompanhada de laudo e parecer emitido por especialista da rea de sua deficincia que ateste a necessidade de tempo adicional, conforme prev o pargrafo 2 do artigo 40 do Decreto n 3.298, de 20 de dezembro de 1999, e suas alteraes. 3.2.1 O candidato dever encaminhar o laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio) e a cpia simples do CPF a que se refere a alnea "b" do subitem 3.2, via SEDEX ou carta registrada com aviso de recebimento, postados impreterivelmente at o dia 11 de novembro de 2010, para a Central de Atendimento do CESPE/UnB Concurso INMETRO (laudo mdico), Campus Universitrio Darcy Ribeiro, Sede do CESPE/UnB - Asa Norte, Braslia/DF, Caixa Postal 4488, CEP 70904-970. 3.2.1.1 O candidato portador de deficincia poder, ainda, entregar, at o dia 11 de novembro de 2010, das 8 horas s 19 horas (exceto sbado, domingo e feriado), pessoalmente ou por terceiro, o laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio) e a cpia simples do CPF a que se refere a alnea "b" do subitem 3.2, na Central de Atendimento do CESPE/UnB, localizada no endereo citado no subitem 3.2.1 deste edital. 3.2.2 O fornecimento da cpia simples do CPF e do laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio), por qualquer via, de responsabilidade exclusiva do candidato. O CESPE/UnB no se responsabiliza por qualquer tipo de extravio que impea a chegada da cpia simples do CPF e do laudo mdico a seu destino. 3.3 O candidato portador de deficincia poder requerer, na forma do subitem 5.4.9 deste edital, atendimento especial, no ato da inscrio, para o dia de realizao das provas, indicando as condies de que necessita para a realizao destas, conforme previsto no artigo 40, pargrafos 1 e 2, do Decreto n 3.298/99 e suas alteraes. 3.3.1 A equipe multiprofissional opinar pelo deferimento ou no das condies especiais solicitadas pelo candidato para realizao das provas, sendo os candidatos informados sobre tais decises, na forma do subitem 5.4.9.4 deste edital. 3.4 A cpia simples do CPF e o laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio) valero somente para este concurso, no sero devolvidos nem sero fornecidas cpias desses documentos. 3.4.1 A relao dos candidatos que tiveram a inscrio deferida para concorrer na condio de portadores de deficincia ser divulgada na Internet, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, e publicada no Dirio Oficial da Unio na ocasio da divulgao do edital de locais e horrio de realizao das provas.

3.4.1.1 O candidato dispor de um dia a partir da divulgao da relao citada no subitem anterior para contestar o indeferimento, pessoalmente ou por meio de fax, email ou via SEDEX, citados no subitem 16.4 deste edital. Aps esse perodo, no sero aceitos pedidos de reviso. 3.5 A inobservncia do disposto no subitem 3.2 acarretar a perda do direito ao pleito das vagas reservadas aos candidatos em tal condio e o no atendimento s condies especiais necessrias. 3.6 Os candidatos que se declararem portadores de deficincia, se no eliminados no concurso, sero convocados para se submeter percia mdica promovida por equipe multiprofissional sob responsabilidade do CESPE/UnB, no mesmo local onde optou por realizar as provas, formada por seis profissionais, que verificar sobre a sua qualificao como deficiente ou no, bem como, no estgio probatrio, sobre a incompatibilidade entre as atribuies do cargo/rea e a deficincia apresentada, nos termos do artigo 43 do Decreto n 3.298/99 e suas alteraes. 3.7 Os candidatos devero comparecer percia mdica, munidos de laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio), conforme modelo constante do endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, que ateste a espcie e o grau ou nvel de deficincia, com expressa referncia ao cdigo correspondente da Classificao Internacional de Doenas (CID-10), conforme especificado no Decreto n 3.298/99 e suas alteraes, bem como provvel causa da deficincia. 3.8 A no observncia do disposto no subitem 3.7, a reprovao na percia mdica ou o no comparecimento percia acarretar a perda do direito s vagas reservadas aos candidatos em tais condies. 3.9 O candidato portador de deficincia reprovado na percia mdica por no ter sido considerado deficiente, caso seja aprovado no concurso, figurar na lista de classificao geral por cargo/rea. 3.9.1 Caber recurso, no prazo de dois dias, a contar do dia subsequente da divulgao do respectivo resultado provisrio, sobre a qualificao do candidato como portador de deficincia ou no pela percia mdica. 3.10 O candidato portador de deficincia reprovado na percia mdica no decorrer do estgio probatrio em virtude de incompatibilidade da deficincia com as atribuies do cargo ser considerado inapto e, consequentemente, exonerado do cargo. 3.11 Os candidatos que, no ato da inscrio, se declararem portadores de deficincia, se no eliminados no concurso e considerados portadores de deficincia, tero seus nomes publicados em lista parte e figuraro tambm na lista de classificao geral por cargo/rea. 3.12 As vagas definidas no subitem 3.1 que no forem providas por falta de candidatos portadores de deficincia aprovados sero preenchidas pelos demais candidatos, observada a ordem geral de classificao por cargo/rea.

3.13 O critrio de nomeao de todos os candidatos dar-se- de forma alternada e proporcional, entre os candidatos da listagem geral por cargo/rea e os candidatos da lista especial. 3.14 Caso o concurso, numa primeira convocao seja destinado a apenas uma vaga, esta ser preenchida pelo candidato que consta em primeiro lugar na lista geral por cargo/rea, mas a prxima convocao ser destinada a candidato da lista especial. 3.15 Caso algum candidato com deficincia aprovado, mas cuja classificao permita que seja chamado na primeira convocao, mesmo sem a reserva, esse no ser computado para a reserva a ser cumprido no cargo/rea, passando-se ao prximo candidato da lista especial. 4 DOS REQUISITOS BSICOS PARA A INVESTIDURA NO CARGO 4.1 A validade de participao no concurso pblico do candidato estar condicionada ao atendimento, cumulativamente, no ato da assinatura do termo de posse, aos seguintes requisitos: a) ter sido aprovado no presente concurso pblico; b) ter nacionalidade brasileira ou portuguesa ou ser naturalizado ou estrangeiro e, no caso de nacionalidade portuguesa, estar amparado pelo estatuto de igualdade entre brasileiros e portugueses, com reconhecimento do gozo dos direitos polticos, nos termos do 1 do artigo 12 da Constituio da Repblica Federativa do Brasil; b.1) se estrangeiro, ter visto de permanncia em territrio nacional, que permita o exerccio de atividade laborativa no Brasil; c) estar em dia com as obrigaes eleitorais, no caso de nacionalidade brasileira; d) estar em dia com as obrigaes do servio militar, no caso de candidatos de nacionalidade brasileira e do sexo masculino; e) no estar incompatibilizado para nova investidura em cargo pblico nos termos do disposto no artigo 137, pargrafo nico, da Lei n 8.112/90; f) ter idade mnima de 18 anos completos na data da posse; g) ter aptido fsica e mental para o exerccio das atribuies do cargo, comprovadas por Junta Mdica constituda sob a responsabilidade do INMETRO; h) apresentar documentao original que comprove os requisitos exigidos para o exerccio do cargo, conforme item 2 deste edital; i) estar registrado no respectivo conselho de classe, bem como estar inteiramente quite com as demais exigncias legais do rgo fiscalizador do exerccio profissional, quando for o caso; j) apresentar os documentos que se fizerem necessrios por ocasio da posse;

k) estar em pleno gozo de seus direitos polticos, no caso de nacionalidade brasileira; l) cumprir as determinaes deste edital. 4.2 No ato da posse, todos os requisitos especificados no subitem 4.1 deste edital e aqueles que vierem a ser estabelecidos em funo da alnea "j" do mesmo subitem devero ser comprovados mediante a apresentao de seu original juntamente com cpia, sendo eliminado do concurso pblico aquele que no os apresentar. 5 DAS INSCRIES NO CONCURSO PBLICO 5.1 A inscrio dever ser efetuada somente via Internet, conforme procedimentos especificados a seguir. 5.1.1 TAXAS DE INSCRIO: a) Cargos de nvel superior: R$ 120,00 (Analista Executivo em Metrologia e Qualidade e de Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade); b) Cargos de nvel mdio: R$ 60,00 (Assistente Executivo em Metrologia e Qualidade e de Tcnico em Metrologia e Qualidade). 5.1.2 Ser admitida a inscrio exclusivamente via Internet, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, solicitada no perodo das 10 horas do dia 1 de outubro de 2010 s 23 horas e 59 minutos do dia 21 de outubro de 2010, observado o horrio oficial de Braslia/DF. 5.1.3 O CESPE/UnB no se responsabilizar por solicitao de inscrio no recebida por motivos de ordem tcnica dos computadores, falhas de comunicao, congestionamento das linhas de comunicao, bem como outros fatores que impossibilitem a transferncia de dados. 5.1.4 O candidato dever efetuar o pagamento da taxa de inscrio por meio da Guia de Recolhimento da Unio (GRU Cobrana). 5.1.4.1 O candidato poder reimprimir a GRU Cobrana pela pgina de acompanhamento do concurso. 5.1.4.2 A Guia de Recolhimento da Unio (GRU Cobrana) estar disponvel no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010 e dever ser impressa para o pagamento da taxa de inscrio imediatamente aps a concluso do preenchimento da ficha de solicitao de inscrio online. 5.1.4.3 A GRU Cobrana pode ser paga em qualquer banco, bem como nas casas lotricas e nos Correios, obedecendo aos critrios estabelecidos nesses correspondentes bancrios. 5.1.4.4 O pagamento da taxa de inscrio dever ser efetuado at o dia 11 de novembro de 2010.

5.1.4.5 As inscries efetuadas somente sero acatadas aps a comprovao de pagamento da taxa de inscrio ou o deferimento da solicitao de iseno da taxa de inscrio. 5.2 O comprovante de inscrio do candidato estar disponvel no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, por meio da pgina de acompanhamento, aps a comprovao do pagamento da inscrio, sendo de responsabilidade exclusiva do candidato a obteno desse documento. 5.3 Para os candidatos que no dispuserem de acesso Internet, o CESPE/UnB disponibilizar locais com acesso Internet, a serem divulgados oportunamente. 5.4 DAS DISPOSIES GERAIS SOBRE A INSCRIO NO CONCURSO PBLICO 5.4.1 Antes de efetuar a inscrio, o candidato dever conhecer o edital e certificar-se de que preenche todos os requisitos exigidos para o cargo/rea. No momento da inscrio, o candidato dever optar por um cargo/rea/local de prova/localidade de vaga; uma vez efetivada a inscrio, no ser permitida a sua alterao e, em nenhuma hiptese, sero aceitos pedidos de alterao. 5.4.2 vedada a inscrio condicional, a extempornea, a via postal, a via fax ou a via correio eletrnico. 5.4.3 vedada a transferncia do valor pago a ttulo de taxa para terceiros ou para outros concursos ou para outros cargos/reas/local de prova. 5.4.4 Para efetuar a inscrio, imprescindvel o nmero de Cadastro de Pessoa Fsica (CPF) do candidato. 5.4.5 As informaes prestadas na solicitao de inscrio sero de inteira responsabilidade do candidato, dispondo o CESPE/UnB do direito de excluir do concurso pblico aquele que no preencher o formulrio de forma completa e correta. 5.4.6 O valor referente ao pagamento da taxa de inscrio no ser devolvido em hiptese alguma, salvo em caso de cancelamento do certame por convenincia da Administrao Pblica. 5.4.7 No haver iseno total ou parcial do valor da taxa de inscrio, exceto para os candidatos que se enquadrem no disposto no Decreto n 6.593, de 2 de outubro de 2008, publicado no Dirio Oficial da Unio de 3 de outubro de 2008. 5.4.7.1 Estar isento do pagamento da taxa de inscrio o candidato que: a) estiver inscrito no Cadastro nico para Programas Sociais do Governo Federal (Cadnico), de que trata o Decreto n 6.135, de 26 de junho de 2007; e b) for membro de famlia de baixa renda, nos termos do Decreto n 6.135, de 2007.

5.4.7.2 A iseno dever ser solicitada mediante requerimento do candidato, disponvel por meio do aplicativo para a solicitao de inscrio, das 10 horas do dia 1 de outubro de 2010 s 23 horas e 59 minutos do dia 21 de outubro de 2010, observado o horrio oficial de Braslia/DF, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, contendo: a) indicao do Nmero de Identificao Social (NIS), atribudo pelo Cadnico; e b) declarao de que atende condio estabelecida no subitem 5.4.7.1. 5.4.7.2.1 Os candidatos que no dispuserem de acesso Internet podero utilizar-se dos postos relacionados no subitem 5.3 deste edital para efetuar a solicitao de inscrio com iseno de taxa. 5.4.7.3 O CESPE/UnB consultar o rgo gestor do Cadnico para verificar a veracidade das informaes prestadas pelo candidato. 5.4.7.4 As informaes prestadas no requerimento de iseno sero de inteira responsabilidade do candidato, podendo responder este, a qualquer momento, por crime contra a f pblica, o que acarreta sua eliminao do concurso, aplicando-se, ainda, o disposto no pargrafo nico do artigo 10 do Decreto n 83.936, de 6 de setembro de 1979. 5.4.7.5 No ser concedida iseno de pagamento de taxa de inscrio ao candidato que: a) omitir informaes e/ou torn-las inverdicas; b) fraudar e/ou falsificar documentao; c) no observar a forma, o prazo e os horrios estabelecidos no subitem 5.4.7.2 deste edital. 5.4.7.6 No ser aceita solicitao de iseno de pagamento de valor de inscrio via postal, via fax ou via correio eletrnico. 5.4.7.7 Cada pedido de iseno ser analisado e julgado pelo CESPE/UnB. 5.4.7.8 A relao dos pedidos de iseno deferidos ser divulgada at a data provvel de 28 de outubro de 2010, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010. 5.4.7.8.1 O candidato dispor de um dia a partir da data de divulgao da relao citada no subitem anterior para contestar o indeferimento, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010. Aps esse perodo, no sero aceitos pedidos de reviso. 5.4.7.9 Os candidatos que tiverem seus pedidos de iseno indeferidos devero, para efetivar a sua inscrio no concurso, acessar o endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010 e imprimir a GRU Cobrana, por meio da pgina de acompanhamento, para pagamento at o dia 11 de novembro de 2010,

conforme procedimentos descritos neste edital, sob pena de ter a sua solicitao de inscrio cancelada. 5.4.7.10 O interessado que no tiver seu pedido de iseno deferido e que no efetuar o pagamento da taxa de inscrio na forma e no prazo estabelecidos no subitem anterior estar automaticamente excludo do concurso pblico. 5.4.8 O comprovante de inscrio ou o comprovante de pagamento da taxa de inscrio dever ser mantido em poder do candidato e apresentado no local de realizao das provas. 5.4.9 O candidato, portador de deficincia ou no, que necessitar de atendimento especial para a realizao das provas dever indicar, na solicitao de inscrio, os recursos especiais necessrios e, ainda, enviar, at o dia 11 de novembro de 2010, impreterivelmente, via SEDEX ou carta registrada com aviso de recebimento, para a Central de Atendimento do CESPE/UnB - Concurso INMETRO (laudo mdico), Campus Universitrio Darcy Ribeiro, Sede do CESPE/UnB - Asa Norte, Braslia/DF, Caixa Postal 4488, CEP 70904-970, cpia simples do CPF e laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio) que justifique o atendimento especial solicitado. Aps esse perodo, a solicitao ser indeferida, salvo nos casos de fora maior e nos que forem de interesse da Administrao Pblica. A solicitao de condies especiais ser atendida segundo os critrios de viabilidade e de razoabilidade. 5.4.9.1 O laudo mdico e a cpia simples do CPF referidos no subitem 5.4.9 deste edital podero, ainda, ser entregues, at o dia 11 de novembro de 2010, das 8 horas s 18 horas (exceto sbado, domingo e feriado), pessoalmente ou por terceiro, na Central de Atendimento do CESPE/UnB, localizada no endereo citado no subitem anterior. 5.4.9.1.1 O fornecimento da cpia simples do CPF e do laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio), por qualquer via, de responsabilidade exclusiva do candidato. O CESPE/UnB no se responsabiliza por qualquer tipo de extravio que impea a chegada da cpia simples do CPF e do laudo mdico a seu destino. 5.4.9.2 A candidata que tiver necessidade de amamentar durante a realizao das provas, alm de solicitar atendimento especial para tal fim, dever encaminhar cpia da certido de nascimento da criana at o dia 11 de novembro de 2010, e dever levar um acompanhante, que ficar em sala reservada para essa finalidade e que ser responsvel pela guarda da criana. A candidata que no levar acompanhante no realizar as provas. 5.4.9.2.1 O CESPE/UnB no disponibilizar acompanhante para guarda de criana. 5.4.9.3 A cpia simples do CPF e o laudo mdico (original ou cpia autenticada em cartrio) valero somente para este concurso, no sero devolvidos e no sero fornecidas cpias desses documentos. 5.4.9.4 A relao dos candidatos que tiveram o seu atendimento especial deferido ser divulgada na Internet, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, e publicada no Dirio Oficial da Unio, por ocasio da publicao do edital de locais e horrio de realizao das provas.

5.4.9.4.1 O candidato dispor de um dia a partir da divulgao da relao citada no subitem anterior para contestar o indeferimento pessoalmente ou por meio de fax, email ou via SEDEX, citados no subitem 16.4 deste edital. Aps esse perodo, no sero aceitos pedidos de reviso. 5.4.10 O candidato dever declarar, no formulrio de inscrio ou na solicitao de inscrio via Internet, que tem cincia e aceita que, caso aprovado, dever entregar os documentos comprobatrios dos requisitos exigidos para o cargo/rea por ocasio da posse. 6 DAS FASES DO CONCURSO PBLICO 6.1 Sero aplicadas provas objetivas e prova discursiva apenas para os cargos de nvel superior e somente provas objetivas para os cargos de nvel mdio, abrangendo os objetos de avaliao (habilidades e conhecimentos) constantes do item 17 deste edital, bem como ser realizada avaliao de ttulos e experincia profissional para todos os cargos de nvel superior e de nvel mdio, conforme os quadros a seguir. QUADRO DE PROVAS/NVEL SUPERIOR REA DE NMERO DE PROVA/TIPO CONHECIMENTO QUESTES (P1) Objetiva Conhecimentos Cargos de nvel 30 Bsicos superior (P2) Objetiva Conhecimentos Cargos de nvel 40 Especficos superior 2 questes acerca dos (P3) Discursiva Conhecimentos conhecimentos Cargos de nvel Especficos especficos da respectiva superior rea (P4) Avaliao de ttulos e experincia profissional CARTER Eliminatrio e Classificatrio Eliminatrio e Classificatrio Eliminatrio e Classificatrio Classificatrio

QUADRO DE PROVAS/NVEL MDIO REA DE PROVA/TIPO CONHECIMENTO (R1) Objetiva - Cargos de Conhecimentos nvel mdio Bsicos (R2) Objetiva - Cargos de Conhecimentos nvel mdio Especficos (R3) Avaliao de ttulos, e experincia profissional

NMERO DE QUESTES 30 30 -

CARTER Eliminatrio e Classificatrio Eliminatrio e Classificatrio Classificatrio

6.2 As provas objetivas, para os cargos de nvel superior, tero a durao total de 4 horas e a prova discursiva, para os cargos de nvel superior ter a durao total de 3 horas e sero aplicadas na data provvel de 12 de dezembro de 2010, nos turnos da manh e tarde, respectivamente.

6.3 As provas objetivas, para os cargos de nvel mdio, tero a durao total de 3 horas e sero aplicadas na data provvel de 12 de dezembro de 2010, no turno da tarde. 6.4 O edital de locais e horrio de realizao das provas objetivas e da prova discursiva para os cargos de nvel superior e das provas objetivas para os cargos de nvel mdio ser publicado no Dirio Oficial da Unio e divulgado na Internet, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, na data provvel de 1 de dezembro de 2010. So de responsabilidade exclusiva do candidato a identificao correta de seu local de provas e o comparecimento no horrio determinado. 6.5 O CESPE/UnB poder enviar, como complemento s informaes citadas no subitem anterior, comunicao pessoal dirigida ao candidato, por e-mail ou pelos Correios, sendo de sua exclusiva responsabilidade a manuteno/atualizao de seu correio eletrnico e a informao de seu endereo completo e correto prestada na solicitao de inscrio, o que no o desobriga do dever de observar o edital a ser publicado, consoante o que dispe o subitem 6.3 deste edital. 6.6 O resultado final nas provas objetivas e o resultado provisrio na prova discursiva sero publicados no Dirio Oficial da Unio e divulgados na Internet, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, na data provvel de 5 de janeiro de 2010. 7 DAS PROVAS OBJETIVAS 7.1 As provas objetivas para os cargos de nvel superior valero 70 pontos e sero compostas de questes do tipo mltipla escolha, com cinco opes (A, B, C, D e E) e uma nica resposta correta, de acordo com o comando da questo. Haver, na folha de respostas, para cada questo, cinco campos de marcao: um campo para cada uma das cinco opes A, B, C, D e E, sendo que o candidato dever preencher apenas aquele correspondente resposta julgada correta, de acordo com o comando da questo. 7.2 As provas objetivas para os cargos de nvel mdio valero 60 pontos e sero compostas de questes do tipo mltipla escolha, com cinco opes (A, B, C, D e E) e uma nica resposta correta, de acordo com o comando da questo. Haver, na folha de respostas, para cada questo, cinco campos de marcao: um campo para cada uma das cinco opes A, B, C, D e E, sendo que o candidato dever preencher apenas aquele correspondente resposta julgada correta, de acordo com o comando da questo. 7.3 O candidato dever, obrigatoriamente, marcar, para cada questo, um, e somente um, dos cinco campos da folha de respostas, sob pena de arcar com os prejuzos decorrentes de marcaes indevidas. 7.4 O candidato dever transcrever as respostas das provas objetivas para a folha de respostas, que ser o nico documento vlido para a correo das provas. O preenchimento da folha de respostas ser de inteira responsabilidade do candidato, que dever proceder em conformidade com as instrues especficas contidas neste edital e na folha de respostas. Em hiptese alguma haver substituio da folha de respostas por erro do candidato.

7.5 Sero de inteira responsabilidade do candidato os prejuzos advindos do preenchimento indevido da folha de respostas. Sero consideradas marcaes indevidas as que estiverem em desacordo com este edital ou com a folha de respostas, tais como marcao rasurada ou emendada ou campo de marcao no preenchido integralmente. 7.6 O candidato no dever amassar, molhar, dobrar, rasgar, manchar ou, de qualquer modo, danificar a sua folha de respostas, sob pena de arcar com os prejuzos advindos da impossibilidade de realizao da leitura ptica. 7.7 O candidato responsvel pela conferncia de seus dados pessoais, em especial seu nome, seu nmero de inscrio e o nmero de seu documento de identidade. 7.8 No ser permitido que as marcaes na folha de respostas sejam feitas por outras pessoas, salvo em caso de candidato que tenha solicitado atendimento especial para esse fim. Nesse caso, se necessrio, o candidato ser acompanhado por fiscal do CESPE/UnB devidamente treinado. 7.9 O CESPE/UnB divulgar a imagem da folha de respostas dos candidatos que realizaram as provas objetivas, exceo dos candidatos eliminados na forma do subitem 16.22 deste edital, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, aps a data de divulgao do resultado final nas provas objetivas. A referida imagem ficar disponvel at quinze dias corridos da data de publicao do resultado final do concurso pblico. 7.9.1 Aps o prazo determinado no subitem anterior, no sero aceitos pedidos de disponibilizao da imagem da folha de respostas. 8 DA PROVA DISCURSIVA 8.1 A prova discursiva para os cargos de nvel superior, de carter eliminatrio e classificatrio, consistir de duas questes, de at 30 linhas, acerca dos conhecimentos especficos, constantes do item 16 deste edital. Cada questo valer 15 pontos, totalizando 30 pontos. 8.2 A prova discursiva ser avaliada quanto ao domnio do contedo do(s) tema(s) abordado(s), bem como quanto ao domnio da modalidade escrita da Lngua Portuguesa. 8.3 A prova discursiva dever ser feita pelo prprio candidato, mo, em letra legvel, com caneta esferogrfica de tinta preta, fabricada em material transparente, no sendo permitida a interferncia e/ou participao de outras pessoas, salvo em caso de candidato portador de deficincia, se a deficincia impossibilitar a redao pelo prprio candidato e de candidato a quem tenha sido deferido o atendimento especial. Nesse caso, o candidato ser acompanhado por um fiscal do CESPE/UnB devidamente treinado, para o qual dever ditar o texto, especificando oralmente a grafia das palavras e os sinais grficos de pontuao. 8.4 O caderno de texto definitivo da prova discursiva no poder ser assinado, rubricado nem conter, em outro local que no o apropriado, qualquer palavra ou marca que o identifique, sob pena de anulao. Assim, a deteco de qualquer marca identificadora no espao destinado transcrio de texto definitivo acarretar a anulao do texto.

8.5 O caderno de texto definitivo o nico documento vlido para a avaliao da prova discursiva. As folhas para rascunho no caderno de provas so de preenchimento facultativo e no valero para tal finalidade. 8.6 No haver substituio da folha de texto definitivo por erro do candidato. 9 DA AVALIAO DE TTULOS E EXPERINCIA PROFISSIONAL 9.1 A avaliao de ttulos e experincia profissional, de carter classificatrio, valer, para os cargos de nvel superior, no mximo, 20 pontos, ainda que a soma dos valores dos ttulos apresentados seja superior a esse valor. 9.2 A avaliao de ttulos e experincia profissional, de carter classificatrio, valer, para os cargos de nvel mdio, no mximo, 18 pontos, ainda que a soma dos valores dos ttulos apresentados seja superior a esse valor. 9.2.1 A pontuao referente aos ttulos e experincia profissional a soma dos pontos obtidos, conforme o quadro de pontuao a seguir: QUADRO 1 ATRIBUIO DE PONTOS PARA A AVALIAO DE TTULOS E EXPERINCIA PROFISSIONAL Nvel Superior ALNEAESPECIFICAO VALOR DE CADA TTULO VALOR MXIMO DE PONTOS

Exerccio de atividade profissional de nvel 1,00 superior na administrao pblica ou privada, em (a cada 182 empregos ou cargos ou de gesto na rea dias, sem 10,00 especfica a que concorre ou na rea de sua sobreposio de graduao. tempo) Exerccio de cargo de Direo, Coordenao, Assessoria, ou Chefia de departamentos, divises, 1,00 setores, etc., de nvel superior, na administrao (a cada182 dias, pblica ou privada, em empregos/cargos, na rea sem 4,00 especfica a que concorre ou na rea de sua sobreposio de graduao, exceto o ttulo j pontuado na alnea tempo) A. Diploma, devidamente registrado, de concluso de curso de doutorado (ttulo de Doutor) na rea especfica a que concorre ou na rea de sua 6,00 6,00 graduao. Tambm ser aceito certificado/declarao de concluso de doutorado desde que acompanhado do histrico do curso. Doutorando que concluiu todos os crditos do doutorado com comprovao dos crditos e de que j tenha sido aprovado no exame de 3,00 3,00 qualificao, acompanhado do histrico escolar, fornecido por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao.

Diploma, devidamente registrado, de concluso de curso de mestrado (ttulo de Mestre) na rea especfica a que concorre ou na rea de sua E 3,00 graduao. Tambm ser aceito certificado/declarao de concluso de mestrado, desde que acompanhado do histrico do curso. Certificado, devidamente registrado, de concluso de curso de ps-graduao, em nvel de especializao na rea especfica a que concorre ou na rea de sua graduao, com carga horria F 1,00 mnima de 360 horas. Tambm ser aceita declarao de concluso de curso de especializao, desde que acompanhada do histrico do curso. TOTAL MXIMO DE PONTOS QUADRO 2 ATRIBUIO DE PONTOS PARA A AVALIAO DE TTULOS E EXPERINCIA PROFISSIONAL Nvel Mdio ALNEAESPECIFICAO VALOR DE CADA TTULO

3,00

1,00

20,00

VALOR MXIMO DE PONTOS

A B

Curso concludo, com carga mnima de 180 horas, conforme a rea de atuao para a qual 3,0 6,0 concorre. Curso concludo com carga horria mnima de 40 horas e mxima de 180 horas, relacionado rea 1,0 2,0 de atuao para a qual concorre. Exerccio profissional na administrao pblica 1,0 a cada 182 ou privada, em emprego ou cargo especializado dias, sem 10,0 ou de gesto, conforme a rea de atuao para a sobreposio de qual concorre. tempo. TOTAL MXIMO DE 18,0 PONTOS

9.3 Na avaliao de ttulos e experincia profissional ser considerado apenas o ttulo mais elevado para fins de contagem de pontos, no que se refere s alneas C, E e F do Quadro 1 do subitem 9.2.1. 9.3.1 O ttulo mais elevado a que se refere o subitem 9.2.1 deste edital obedece seguinte ordem decrescente: doutorado, mestrado e especializao. 9.3.1.1 Somente ser computado em D do Quadro 1, subitem 9.2.1, os crditos de doutorado concludos, fornecidos por instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao, com comprovao de aprovao de exame de qualificao, no

caso de o candidato no possuir diploma ou certificado/declarao de concluso de doutorado, conforme ttulo relacionado na alnea C do referido quadro. 9.4 Receber nota zero o candidato que no entregar os ttulos e experincia profissional, na forma, no prazo e no local estipulados no respectivo edital de convocao. 9.4.1 No momento da entrega dos ttulos e experincia profissional o candidato ao cargo de nvel superior dever entregar o seu currculo, conforme modelo disponvel no Anexo III deste edital. 9.5 No sero aceitos ttulos, experincia profissional e currculo encaminhados via postal, via fax ou via correio eletrnico. 9.6 No ato de entrega de ttulos e experincia profissional, o candidato dever preencher e assinar relao, na qual indicar a quantidade de ttulos apresentados. Juntamente com essa relao dever ser apresentada uma cpia, autenticada em cartrio, de cada ttulo declarado. As cpias apresentadas no sero devolvidas em hiptese alguma. 9.6.1 No sero recebidos os documentos originais. 9.6.2 No sero aceitos documentos ilegveis, como tambm, os emitidos via fax, pginas eletrnicas ou outras formas que no aquelas exigidas neste edital. 9.7 No sero consideradas, para efeito de pontuao, as cpias no autenticadas em cartrio, bem como documentos gerados por via eletrnica que no estejam acompanhados com o respectivo mecanismo de autenticao. 9.8 Na impossibilidade de comparecimento do candidato sero aceitos cpias de documentos de ttulos e experincia profissional entregues por terceiros, mediante apresentao de documento de identidade original do procurador e de procurao simples do interessado, acompanhada de cpia legvel do documento de identidade do candidato. 9.9 Sero de inteira responsabilidade do candidato as informaes prestadas por seu procurador no ato de entrega dos ttulos, bem como a entrega dos ttulos na data prevista no edital de convocao para essa fase, arcando o candidato com as consequncias de eventuais erros de seu representante. 9.10 DOS DOCUMENTOS NECESSRIOS COMPROVAO DO TTULO E EXPERINCIA PROFISSIONAL 9.10.1 Para receber a pontuao relativa aos ttulos e experincia profissional relacionado nas alneas A e B do Quadro 1 e alnea C do Quadro 2, do subitem 9.2.1, o candidato dever atender a uma das seguintes opes: a) para exerccio de atividade em empresa/instituio privada: ser necessria a entrega de 3 (trs) documentos: 1 diploma do curso de graduao (para atender o disposto no subitem 9.10.1.4), para os cargos de nvel superior e/ou diploma de nvel mdio, para os cargos de nvel mdio; 2 cpia da carteira de trabalho e previdncia Social (CTPS) contendo as pginas: identificao do trabalhador; registro do empregador que informe o perodo (com incio

e fim, se for o caso) e qualquer outra pgina que ajude na avaliao, por exemplo, quando h mudana na razo social da empresa; 3 - declarao do empregador com a espcie do servio realizado e a descrio das atividades desenvolvidas para o cargo/emprego; b) para exerccio de atividade/instituio pblica: ser necessria a entrega de 2 (dois) documentos: 1 - diploma do curso de graduao (para atender o disposto no subitem 9.10.1.4), para os cargos de nvel superior e/ou diploma de nvel mdio, para os cargos de nvel mdio; 2 - declarao/certido de tempo de servio, emitida pelo setor de recursos humanos da instituio, que informe o perodo (com incio e fim, se for o caso), a espcie do servio realizado e a descrio das atividades desenvolvidas; c) para exerccio de atividade/servio prestado por meio de contrato de trabalho: ser necessria a entrega de 3 documentos: 1 - diploma do curso de graduao (para atender o disposto no subitem 9.10.1.4), para os cargos de nvel superior e/ou diploma de nvel mdio, para os cargos de nvel mdio; 2 - contrato de prestao de servio/atividade entre as partes, ou seja, o candidato e o contratante e 3 - declarao do contratante que informe o perodo (com incio e fim, se for o caso), a espcie do servio realizado e a descrio das atividades. d) para exerccio de atividade/servio prestado como autnomo: ser necessria a entrega de 3 documentos: 1 - diploma do curso de graduao, para os cargos de nvel superior (para atender o disposto no subitem 9.10.1.4), e/ou diploma de nvel mdio, para os cargos de nvel mdio; 2 - recibo de pagamento autnomo, sendo pelo menos o primeiro e o ltimo recibos do perodo trabalhado como autnomo e 3 - declarao do beneficiado, ou seja, de quem recebeu o servio que informe o perodo (com incio e fim, se for o caso), a espcie do servio realizado e a descrio das atividades. 9.10.1.1 A declarao/certido mencionada na letra "b" do subitem anterior dever ser emitida por rgo de pessoal ou de recursos humanos. No havendo rgo de pessoal ou de recursos humanos, a autoridade responsvel pela emisso do documento dever declarar/certificar tambm essa inexistncia. 9.10.1.1.1 Quando o rgo de pessoal possuir outro nome correspondente, por exemplo, Controle de Diviso de Pessoas (CPD), a declarao dever conter o nome do rgo por extenso, no sero aceitas abreviaturas. 9.10.1.2 Para efeito de pontuao das alneas A e B do Quadro 1 e C do Quadro 2, subitem 9.2.1, no ser considerada frao de semestre nem sobreposio de tempo. 9.10.1.3 No ser computado, como experincia profissional, o tempo de estgio, de monitoria, de bolsa de iniciao cientifica, de bolsa de estudo, incluindo mestrado e doutorado, pesquisa, produtividade, de ps-doutorado e recm-doutor, ou de trabalho voluntrio. 9.10.1.4 Para efeito de pontuao das alneas A e B do Quadro 1, subitem 9.2.1, somente ser considerada a experincia aps a concluso do curso de nvel superior. 9.10.1.5 Para efeito de pontuao da alnea C do Quadro 2, subitem 9.2.1, somente ser considerada a experincia aps a concluso do curso de nvel mdio. 9.10.1.6 Todo documento apresentado para fins de comprovao de exerccio profissional dever ser emitido pelo rgo de pessoal ou de recursos humanos

competente e conter o perodo de incio e trmino do trabalho realizado, bem como a jornada de trabalho. 9.10.2 Para receber pontuao referente s alneas C ou E, ser aceito diploma, devidamente registrado, expedido por instituio reconhecido pelo MEC. Tambm ser aceito certificado/declarao de concluso de curso, expedido por instituio reconhecida pelo MEC, desde que acompanhado do histrico escolar do candidato, no qual conste o nmero de crditos obtidos com os nomes e as menes das disciplinas cursadas, o resultado dos exames e do julgamento da tese ou da dissertao. Caso o histrico ateste a existncia de alguma pendncia ou falta, o certificado/declarao no ser aceito. 9.10.2.1 Para curso de doutorado ou de mestrado concludo no exterior, ser aceito apenas o diploma, desde que revalidado por instituio de ensino superior no Brasil e atendido ao disposto no subitem 9.11 do presente edital. 9.10.2.2 Outros comprovantes de concluso de curso ou disciplina no sero aceitos como os ttulos relacionados nas alneas C e E do Quadro 1 de ttulos do subitem 9.2.1 deste edital. 9.10.2.3 Para receber a pontuao referente alnea D, ser aceita declarao atestando que o candidato concluiu todos os crditos do doutorado e que j foi aprovado no exame de qualificao, acompanhada do histrico escolar, fornecido pela Secretaria da psgraduao, assinada pelo responsvel pelas informaes da instituio de ensino superior reconhecida pelo Ministrio da Educao. 9.10.3 Para receber a pontuao relativa ao ttulo relacionado na alnea F do Quadro 1 de ttulos do subitem 9.2.1, o candidato dever comprovar, por meio de certificado que o curso de ps-graduao em nvel de especializao teve carga horria mnima de 360 horas e foi realizado de acordo com a Lei n 9394/96 - Lei de Diretrizes e Bases - ou de acordo com as normas do CNE ou do Extinto CFE. Tambm ser aceita declarao de concluso de curso acompanhada de histrico escolar em que constem as disciplinas cursadas, a carga horria e a meno obtida. 9.10.3.1 Caso o certificado no comprove que o curso de especializao foi realizado de acordo com o solicitado no subitem anterior, dever ser anexada declarao da instituio, atestando que o curso atende s normas da Lei n 9394/96 - Lei de Diretrizes e Bases da Educao, ou s normas do CNE ou est de acordo com as normas do extinto CFE. 9.10.3.2 Para receber a pontuao relativa ao ttulo relacionado na alnea F do Quadro 1 e das alneas A e B do Quadro 2 de ttulos, subitem 9.2.1, sero aceitos somente certificados/declaraes em que conste a carga horria. 9.11 Todo diploma, certificado ou declarao expedido em lngua estrangeira somente ser considerado se traduzido para a Lngua Portuguesa por tradutor juramentado. 9.12 Cada ttulo ser considerado uma nica vez.

9.13 Os pontos que excederem o valor mximo em cada alnea dos Quadros de Atribuies de Pontos para a Avaliao de Ttulos e Experincia Profissional, bem como os que excederem o limite mximo de pontos estipulados sero desconsiderados. 10 DOS CRITRIOS DE AVALIAO E DE CLASSIFICAO 10.1 Todos os candidatos tero suas provas objetivas corrigidas por meio de processamento eletrnico. 10.1.1 A nota em cada questo das provas objetivas para os cargos de nvel superior, feita com base nas marcaes da folha de respostas, obedecer seguinte valorao: Cada questo vale 1,0 ponto, caso a resposta do candidato esteja em concordncia com o gabarito oficial definitivo das provas; 0,20 ponto negativo, caso a resposta do candidato esteja em discordncia com o gabarito oficial definitivo das provas; e 0,00 ponto caso no haja marcao ou caso haja mais de uma marcao. 10.1.2 O clculo da nota nas provas objetivas, comum s provas de todos os candidatos para os cargos de nvel superior, ser igual soma das notas obtidas em todas as questes que as compem. 10.1.3 Ser reprovado nas provas objetivas e eliminado do concurso pblico o candidato que se enquadrar em pelo menos um dos itens a seguir: a) obtiver nota inferior a 6,0 pontos na prova objetiva de Conhecimentos Bsicos (P1); b) obtiver nota inferior a 12,0 pontos na prova objetiva de Conhecimentos Especficos (P2); c) obtiver nota inferior a 21,0 pontos na soma aritmtica das notas obtidas nas provas objetivas P1 e P2. 10.1.4 A nota em cada questo das provas objetivas para os cargos de nvel mdio, feita com base nas marcaes da folha de respostas, obedecer seguinte valorao: Cada questo vale 1,0 ponto, caso a resposta do candidato esteja em concordncia com o gabarito oficial definitivo das provas; 0,20 ponto negativo, caso a resposta do candidato esteja em discordncia com o gabarito oficial definitivo das provas; e 0,00 ponto caso no haja marcao ou caso haja mais de uma marcao. 10.1.5 O clculo da nota nas provas objetivas, comum s provas de todos os candidatos para os cargos de nvel mdio, ser igual soma das notas obtidas em todas as questes que as compem. 10.1.6 Ser reprovado nas provas objetivas e eliminado do concurso pblico o candidato que se enquadrar em pelo menos um dos itens a seguir: a) obtiver nota inferior a 6,0 pontos na prova objetiva de Conhecimento Bsico (R1); b) obtiver nota inferior a 9,0 pontos na prova objetiva de Conhecimentos Especficos (R2);

c) obtiver nota inferior a 18,0 pontos na soma aritmtica das notas obtidas nas provas objetivas R1 e R2. 10.1.7 O candidato a um cargo de nvel superior ou nvel mdio, eliminado na forma dos subitens 10.1.3 e 10.1.6, respectivamente, deste edital no ter classificao alguma no concurso pblico. 10.1.8 Os candidatos excludos do disposto no subitem 10.1.6 sero ordenados por cargo/rea de acordo com os valores decrescentes da nota final nas provas objetivas que ser a soma algbrica das notas obtidas nas provas objetivas P1 e P2, respectivamente R1 e R2. 10.1.9 Com base na lista organizada na forma do subitem 10.1.8, respeitados os empates na ltima posio e a reserva de vagas aos candidatos portadores de deficincia, sero corrigidas as provas discursivas dos candidatos aos cargos de nvel superior aprovados nas provas objetivas e classificados at as posies especificadas no Anexo IV. 10.1.10 O candidato que no tiver a sua prova discursiva corrigida na forma do subitem 10.1.6 ser automaticamente eliminado e no ter classificao alguma no concurso. 10.2 Cada questo da prova discursiva ser corrigida conforme critrios a seguir, ressaltando-se que em atendimento ao que est estabelecido no Decreto n 6.583, de 29 de setembro de 2008, sero aceitas como corretas, at 31 de dezembro de 2012, ambas as ortografias, isto , a forma de grafar e de acentuar as palavras vigentes at 31 de dezembro de 2008 e a que entrou em vigor em 1 de janeiro de 2009: a) em casos de fuga ao tema, de no haver texto ou de identificao em local indevido, o candidato receber nota ZERO na prova discursiva; b) a apresentao e a estrutura textuais e o desenvolvimento do tema totalizaro a nota relativa ao domnio do contedo (NCi), cuja pontuao mxima ser limitada ao valor de 15 pontos para cada questo, onde i = 1, 2; c) a avaliao do domnio da modalidade escrita totalizar o nmero de erros (NEi) do candidato, considerando-se aspectos tais como: pontuao, morfossintaxe e propriedade vocabular; d) ser computado o nmero total de linhas (TLi) efetivamente escritas pelo candidato; e) ser desconsiderado, para efeito de avaliao, qualquer fragmento de texto que for escrito fora do local apropriado e(ou) que ultrapassar a extenso mxima de linhas estabelecida no caderno de prova; f) ser calculada, ento, para cada questo, a nota no texto (NQi) pela frmula: NQi = NCi - NEi / TLi em que TLi corresponde ao nmero de linhas efetivamente escritas pelo candidato na resposta questo proposta;

g) ser atribuda nota ZERO ao texto que obtiver NQi < 0,00. h) A nota na prova discursiva (NPD) ser dada segundo a frmula: NPD = NQ1 + NQ2 10.2.1 Ser eliminado do concurso pblico o candidato que obtiver NPD < 15 pontos. 10.2.2 Os candidatos aos cargos de nvel superior que no tiverem as provas discursivas avaliadas estaro automaticamente eliminados e no tero classificao alguma no concurso pblico. 10.3 Sero convocados os candidatos para a avaliao de ttulos e experincia profissional os candidatos aos cargos de nvel superior no eliminados na prova discursiva. 10.3.1 Os candidatos aos cargos de nvel superior e de nvel mdio no convocados para a avaliao de ttulos e experincia profissional estaro eliminados e no tero classificao alguma no concurso. 10.4 Sero convocados os candidatos aos cargos de nvel mdio para a avaliao de ttulos e experincia profissional os candidatos no eliminados nas provas objetivas de conhecimentos bsicos e conhecimentos especficos. 10.5 Todos os clculos citados neste edital sero considerados at a segunda casa decimal, arredondando-se o nmero para cima, se o algarismo da terceira casa decimal for igual ou superior a cinco. 11 DA NOTA FINAL NO CONCURSO 11.1 Para os candidatos aos cargos de nvel superior, a nota final no concurso ser igual soma algbrica da nota final obtida nas provas objetivas, da nota final obtida na prova discursiva e da pontuao final obtida na avaliao de ttulos e experincia profissional. 11.2 Para os candidatos aos cargos de nvel mdio, a nota final no concurso ser igual soma algbrica da nota final obtida nas provas objetivas e da pontuao final obtida na avaliao de ttulos e experincia profissional. 11.3 Os candidatos sero ordenados por cargo/rea de acordo com os valores decrescentes de notas finais no concurso pblico. 11.4 Os candidatos que, no ato da inscrio, se declararem portadores de deficincia, se no eliminados no concurso e considerados portadores de deficincia, tero seus nomes publicados em lista parte e figuraro tambm na lista de classificao geral por cargo/rea. 11.5 O edital de resultado final do concurso pblico contemplar a relao dos candidatos aprovados, ordenados por classificao, dentro dos quantitativos previstos na tabela do subitem 14.1, de acordo com o Anexo II do Decreto n 6.944, de 21 de agosto de 2009, publicado no Dirio Oficial da Unio de 24 de agosto de 2009, e respeitada a reserva de vagas para os candidatos portadores de deficincia.

11.5.1 Caso no haja candidato portador de deficincia aprovado at a classificao estipulada na tabela do subitem 14.1, sero convocados os candidatos da listagem geral em nmero correspondente, observada rigorosamente a ordem de classificao e o limite de candidatos definido pelo Decreto n 6.944/2009. 11.6 Os candidatos no classificados no nmero mximo de aprovados de que tratam o subitem 14.1 deste edital e o Anexo II do Decreto n 6.944/2009, ainda que tenham atingido nota mnima, estaro automaticamente reprovados no concurso pblico. 11.7 Nenhum dos candidatos empatados na ltima classificao de aprovados ser considerado reprovado nos termos do disposto no artigo 16, 3, do Decreto n 6.944/2009. 12 DOS CRITRIOS DE DESEMPATE 12.1 Em caso de empate na nota final no concurso ter preferncia o candidato que, na seguinte ordem: a) tiver idade igual ou superior a sessenta anos, at o ltimo dia de inscrio neste concurso, conforme artigo 27, pargrafo nico, da Lei n 10.741, de 1 de outubro de 2003 (Estatuto do Idoso); b) obtiver a maior nota na prova objetiva de Conhecimentos Especficos (P2) para os cargos de nvel superior e (R2) para os cargos de nvel mdio; c) obtiver o maior nmero de acertos na prova objetiva de Conhecimentos Especficos (P2) para os cargos de nvel superior e (R2) para os cargos de nvel mdio; d) obtiver o maior nmero de acertos na prova objetiva de Conhecimentos Bsicos (P1) para os cargos de nvel superior e (R1) para os cargos de nvel mdio. 12.1.1 Persistindo o empate, ter preferncia o candidato mais idoso. 13 DOS RECURSOS 13.1 Os gabaritos oficiais preliminares das provas objetivas sero divulgados na Internet, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, a partir das 19 horas (horrio oficial de Braslia/DF), da data provvel de 14 de dezembro de 2010. 13.2 O candidato que desejar interpor recursos contra os gabaritos oficiais preliminares das provas objetivas dispor de dois dias para faz-lo, a contar do dia subsequente ao da divulgao desses gabaritos no horrio das 9 horas do primeiro dia s 18 horas do ltimo dia, ininterruptamente, observado o horrio oficial de Braslia/DF. 13.3 Para recorrer contra os gabaritos oficiais preliminares das provas objetivas, o candidato dever utilizar o Sistema Eletrnico de Interposio de Recurso, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, e seguir as instrues ali contidas.

13.4 O candidato dever ser claro, consistente e objetivo em seu pleito. Recurso inconsistente ou intempestivo ser preliminarmente indeferido. 13.5 O recurso no poder conter, em outro local que no o apropriado, qualquer palavra ou marca que o identifique, sob pena de ser preliminarmente indeferido. 13.6 Se do exame de recursos resultar anulao de item integrante das provas objetivas, a pontuao correspondente a esse item ser atribuda a todos os candidatos, independentemente de terem recorrido. 13.7 Se houver alterao, por fora de impugnaes, de gabarito oficial preliminar de item integrante de prova, essa alterao valer para todos os candidatos, independentemente de terem recorrido. 13.8 Todos os recursos sero analisados e as justificativas das alteraes de gabarito sero divulgadas no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010 quando da divulgao do gabarito definitivo. No sero encaminhadas respostas individuais aos candidatos. 13.9 No ser aceito recurso via postal, via fax, via correio eletrnico ou, ainda, fora do prazo. 13.10 Em nenhuma hiptese sero aceitos pedidos de reviso de recursos ou recurso de gabarito oficial definitivo, bem como contra os resultados finais nas demais fases. 13.11 Recursos cujo teor desrespeite a banca sero preliminarmente indeferidos. 13.12 A forma e o prazo para a interposio de recursos contra o resultado provisrio nas demais fases sero disciplinados nos respectivos editais de resultado provisrio. 14 DA HOMOLOGAO E NOMEAO/POSSE 14.1 O INMETRO homologar e publicar no Dirio Oficial da Unio a relao dos candidatos aprovados no certame, classificados at o limite mximo das posies especificadas na tabela a seguir, consoante o que dispe o Anexo II do Decreto n 6.944/2009, por ordem de classificao, respeitados os empates na ltima posio. Nvel Superior Cargo/rea CARGO 1: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ASSISTENTE SOCIAL CARGO 2: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: AVALIAO DA CONFORMIDADE CARGO 3: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CINCIAS CONTBEIS Aprovados at Aprovados at a a (listagem (portadores de Total geral) deficincia) 4. 36. 30. 1. 2. 2. 5. 38. 32.

CARGO 4: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 8. ESTATSTICA CARGO 5: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 45. GESTO PBLICA CARGO 6: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 4. MEDICINA - CARDIOLOGIA CARGO 7: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 4. MEDICINA - ORTOPEDIA E TRAUMATOLOGIA CARGO 8: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 4. MEDICINA - PSIQUIATRIA CARGO 9: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 4. MEDICINA DO TRABALHO CARGO 10: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 49. ACREDITAO CARGO 11: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 8. ANLISE DE REQUISITOS E QUALIDADE DE SOFTWARE CARGO 12: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 8. ARQUITETURA DE SOLUES DE SOFTWARES CARGO 13: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 13. ARTICULAO INTERNACIONAL CARGO 14: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 8. CINCIA DA COMPUTAO CARGO 15: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 20. CINCIAS ECONMICAS CARGO 16: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 8. DESENVOLVIMENTO DE SISTEMAS CARGO 17: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 17. EDUCAO A DISTNCIA CARGO 18: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 13. ENGENHARIA CIVIL CARGO 19: PESQUISADOR TECNOLOGISTA 17. EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA:

1 3. 1

9. 48. 5.

1.

5.

1 1 3.

5. 5. 52.

1.

9.

1.

9.

1. 1. 2. 1. 1. 1. 1.

14. 9. 22. 9. 18. 14. 18.

ENGENHARIA ELTRICA CARGO 20: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA ELETRNICA CARGO 21: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA MECNICA CARGO 22: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA DE PRODUO CARGO 23: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA DE SEGURANA DO TRABALHO CARGO 24: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: GESTO DA INFORMAO CARGO 25: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: GOVERNANA DE TECNOLOGIA DA INFORMAO CARGO 26: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INFRAESTRUTURA E REDES DE TECNOLOGIA DA INFORMAO CARGO 27: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INFORMTICA APLICADA METROLOGIA LEGAL CARGO 28: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INSTRUMENTAO EM DINMICA DOS FLUIDOS CARGO 29: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA ACSTICA E VIBRAES CARGO 30: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA BIOQUMICA E BIOLOGIA MOLECULAR CARGO 31: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA AO CULTIVO DE CLULAS CARGO 32: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA AO CULTIVO DE CLULAS ANIMAIS CARGO 33: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA:

13. 23. 8.

1. 2. 1.

14. 25. 9.

4.

1.

5.

8.

1.

9.

8.

1.

9.

8.

1.

9.

13.

1.

14.

4.

1.

5.

13.

1.

14.

4.

1.

5.

4.

1.

5.

4. 4.

1. 1.

5. 5.

METROLOGIA APLICADA MICROSCOPIA DE MACROMOLCULAS CARGO 34: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 4. METROLOGIA APLICADA MICROSCOPIA PTICA CARGO 35: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 13. METROLOGIA DA DINMICA DOS FLUIDOS CARGO 36: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 17. METROLOGIA DAS GRANDEZAS ELETROMAGNTICAS CARGO 37: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 36. METROLOGIA LEGAL CARGO 38: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 13. METROLOGIA EM GRANDEZAS PTICAS CARGO 39: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 8. METROLOGIA EM GRANDEZAS TRMICAS CARGO 40: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 17. METROLOGIA EM MECNICA CARGO 41: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 8. METROLOGIA DE MATERIAIS - OPO 1 CARGO 42: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 8. METROLOGIA DE MATERIAIS - OPO 2 CARGO 43: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 4. METROLOGIA EM QUMICA - OPO 1 CARGO 44: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 17. METROLOGIA EM QUMICA - OPO 2 CARGO 45: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 13. MICROSCOPIA ELETRNICA CARGO 46: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 4. MICROSCOPIA FORENSE CARGO 47: PESQUISADOR TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 4. PSICOLOGIA CARGO 48: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: 27. RECURSOS HUMANOS CARGO 49: PESQUISADOR TECNOLOGISTA 13.

1.

5.

1.

14.

1.

18.

2. 1. 1. 1. 1. 1. 1. 1. 1. 1. 1. 2. 1.

38. 14. 9. 18. 9. 9. 5. 18. 14. 5. 5. 29. 14.

EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: TECNOLOGIA E INOVAO CARGO 50: ASSISTENTE EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ADMINISTRAO CARGO 51: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: BIOTECNOLOGIA CARGO 52: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CONTABILIDADE CARGO 53: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ELTRICA CARGO 54: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ELETRNICA CARGO 55: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: EDIFICAES CARGO 56: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INSTRUMENTAO CARGO 57: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MECNICA CARGO 58: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA CARGO 59: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA CIENTFICA CARGO 60: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA QUMICA

36. 17. 8. 17. 17. 4. 20. 20. 74. 30. 23.

2. 1. 1. 1. 1. 1. 2. 2. 4. 2. 2.

38. 18. 9. 18. 18. 5. 22. 22. 78. 32. 25.

14.1.1 Os candidatos no classificados no nmero mximo de aprovados de que trata o Anexo II do Decreto n 6.944/2009, ainda que tenham atingido nota mnima, estaro automaticamente reprovados no concurso pblico. 14.2 O candidato classificado para as vagas existentes de acordo com este edital, obedecendo estrita ordem de classificao, ser convocado para nomeao por correspondncia direta, por meio de carta com Aviso de Recebimento (AR) ou telegrama, a ser enviado pelo INMETRO 14.3 Em se tratando de candidato portador de deficincia aprovado e classificado, devero ainda ser atendidas as demais disposies legais pertinentes aos critrios da investidura, conforme legislao especfica. 14.4 A nomeao de candidato portador de deficincia fica condicionada aprovao na percia mdica promovida por Junta Mdica Oficial, bem como aptido fsica e mental para o exerccio das atribuies especficas para o cargo. 14.5 Os candidatos que vierem a ser nomeados estaro sujeitos ao Regime Jurdico dos Servidores Pblicos Civis da Unio, institudo pela Lei n 8.112, de 11 de dezembro de 1990, e demais alteraes subsequentes, e pelas normas em vigor no INMETRO

14.6 Os candidatos que vierem a ser nomeados sero submetidos a estgio probatrio conforme disposto na Lei n 8.112/90. 14.7 O candidato classificado no ser empossado se: a) for considerado inapto na percia mdica; b) deixar de atender as exigncias, os prazos e as datas estabelecidas neste edital; c) no apresentar os documentos comprobatrios dos requisitos estabelecidos para a investidura no cargo no item 4 deste edital. 14.8 Caso um ou mais dos habilitados no sejam considerados aptos fsica e mentalmente, ou renunciem, formal e expressamente, nomeao, ou, se nomeados, no se apresentem no prazo legal para tomar posse ou, ainda, se empossados no entrem em exerccio no prazo legal, sero convocados novos candidatos, que se seguirem aos j classificados e habilitados, para nomeao, por ato do Presidente do INMETRO, visando ao preenchimento das vagas objeto do certame. 14.9 A posse no cargo estar condicionada apresentao da documentao comprobatria dos requisitos para investidura e ao atendimento das demais condies constitucionais, legais, regulamentares e deste edital. 14.10 A falta de comprovao de requisito para investidura at a data da posse acarretar a eliminao do candidato no concurso e anulao de todos os atos a ele referentes, ainda que j tenha sido homologado o resultado final do concurso, sem prejuzo da sano legal cabvel. 14.11 O prazo de validade do concurso esgotar-se- aps um ano e seis meses, contado a partir da data de publicao da homologao do resultado final, podendo ser prorrogado, a critrio do INMETRO, uma nica vez, por igual perodo. 15 DAS DISPOSIES FINAIS 15.1 A inscrio do candidato implicar a aceitao das normas para o concurso pblico contidas nos comunicados, neste edital e em outros a serem publicados. 15.2 de inteira responsabilidade do candidato acompanhar as publicaes de todos os atos, editais e comunicados referentes a este concurso pblico que venham a ser feitas no Dirio Oficial da Unio e/ou divulgados na Internet, nos endereos eletrnicos do CESPE/UnB e/ou do INMETRO 15.3 O candidato poder obter informaes referentes ao concurso pblico na Central de Atendimento do CESPE/UnB, localizada no Campus Universitrio Darcy Ribeiro, Sede do CESPE/UnB, Braslia/DF, por meio do telefone (61) 3448 0100 begin_of_the_skype_highlighting (61) 3448 0100 end_of_the_skype_highlighting, ou via Internet, no endereo eletrnico www.cespe.unb.br/concursos/inmetro2010, ressalvado o disposto no subitem 15.5 deste edital.

15.4 O candidato que desejar relatar ao CESPE/UnB fatos ocorridos durante a realizao do concurso dever faz-lo Central de Atendimento do CESPE/UnB, postar correspondncia para a Caixa Postal 4488, CEP 70904-970; encaminhar mensagem pelo fax de nmero (61) 3448 0110 begin_of_the_skype_highlighting (61) 3448 0110 end_of_the_skype_highlighting; ou envi-la para o endereo eletrnico sac@cespe.unb.br. 15.5 No sero dadas, por telefone, informaes a respeito de datas, locais e horrios de realizao das provas. O candidato dever observar rigorosamente os editais e os comunicados a serem divulgados na forma do subitem 15.2. 15.6 O candidato poder protocolar requerimento relativo ao concurso. O requerimento poder ser feito pessoalmente mediante preenchimento de formulrio prprio, disposio do candidato na Central de Atendimento do CESPE/UnB, no horrio das 8 horas s 19 horas, exceto sbados, domingos e feriados. 15.6.1 O candidato poder ainda enviar requerimento por meio de correspondncia, fax ou e-mail, observado o subitem 15.4. 15.7 O candidato dever comparecer ao local designado para a realizao das provas com antecedncia mnima de uma hora do horrio fixado para o seu incio, munido de caneta esferogrfica de tinta preta, fabricada em material transparente, do comprovante de inscrio e do documento de identidade original. No ser permitido o uso de lpis, lapiseira/grafite e/ou borracha durante a realizao das provas. 15.8 Sero considerados documentos de identidade: carteiras expedidas pelos Comandos Militares, pelas Secretarias de Segurana Pblica, pelos Institutos de Identificao e pelos Corpos de Bombeiros Militares; carteiras expedidas pelos rgos fiscalizadores de exerccio profissional (ordens, conselhos etc.); passaporte brasileiro; certificado de reservista; carteiras funcionais do Ministrio Pblico; carteiras funcionais expedidas por rgo pblico que, por lei federal, valham como identidade; carteira de trabalho; carteira nacional de habilitao (somente o modelo com foto). 15.8.1 No sero aceitos como documentos de identidade: certides de nascimento, CPF, ttulos eleitorais, carteiras de motorista (modelo sem foto), carteiras de estudante, carteiras funcionais sem valor de identidade, nem documentos ilegveis, no identificveis e/ou danificados. 15.8.2 No sero aceitos cpia do documento de identidade, ainda que autenticada, nem protocolo do documento. 15.9 Por ocasio da realizao das provas, o candidato que no apresentar documento de identidade original, na forma definida no subitem 15.8 deste edital, no poder fazer as provas e ser automaticamente eliminado do concurso pblico. 15.10 Caso o candidato esteja impossibilitado de apresentar, no dia de realizao das provas, documento de identidade original, por motivo de perda, roubo ou furto, dever ser apresentado documento que ateste o registro da ocorrncia em rgo policial, expedido h, no mximo, noventa dias, ocasio em que ser submetido identificao

especial, compreendendo coleta de dados, de assinaturas e de impresso digital em formulrio prprio. 15.10.1 A identificao especial ser exigida, tambm, ao candidato cujo documento de identificao apresente dvidas relativas fisionomia ou assinatura do portador. 15.11 No dia de realizao das provas, o CESPE/UnB poder submeter os candidatos ao sistema de deteco de metal. 15.12 No sero aplicadas provas em local, data ou horrio diferentes dos predeterminados em edital ou em comunicado. 15.13 No ser admitido ingresso de candidato no local de realizao das provas aps o horrio fixado para o seu incio. 15.14 O candidato dever permanecer, obrigatoriamente, no local de realizao das provas por, no mnimo, uma hora aps o incio das provas. 15.14.1 A inobservncia do subitem anterior acarretar a no correo das provas e, consequentemente, a eliminao do candidato no concurso pblico. 15.15 O CESPE/UnB manter um marcador de tempo em cada sala de provas para fins de acompanhamento pelos candidatos. 15.16 O candidato que se retirar do ambiente de provas no poder retornar em hiptese alguma. 15.17 O candidato somente poder retirar-se do local de realizao das provas levando o caderno de provas no decurso dos ltimos quinze minutos anteriores ao horrio determinado para o trmino das provas. 15.18 No haver, por qualquer motivo, prorrogao do tempo previsto para a aplicao das provas em razo do afastamento de candidato da sala de provas. 15.19 No haver segunda chamada para a realizao das provas. O no comparecimento a estas implicar a eliminao automtica do candidato. 15.20 No ser permitida, durante a realizao das provas, a comunicao entre os candidatos nem a utilizao de mquinas calculadoras e/ou similares, livros, anotaes, rguas de clculo, impressos ou qualquer outro material de consulta, inclusive cdigos e/ou legislao. 15.21 Ser eliminado do concurso o candidato que, durante a realizao das provas, for surpreendido portando aparelhos eletrnicos, tais como bip, telefone celular, walkman, agenda eletrnica, notebook, palmtop, pendrive, receptor, gravador, mquina de calcular, mquina fotogrfica, controle de alarme de carro etc., bem como relgio de qualquer espcie, culos escuros ou quaisquer acessrios de chapelaria, tais como chapu, bon, gorro etc. e, ainda, lpis, lapiseira/grafite e/ou borracha.

15.21.1 O CESPE/UnB recomenda que o candidato no leve nenhum dos objetos citados no subitem anterior, no dia de realizao das provas. 15.21.2 O CESPE/UnB no ficar responsvel pela guarda de quaisquer dos objetos supracitados. 15.21.3 O CESPE/UnB no se responsabilizar por perdas ou extravios de objetos ou de equipamentos eletrnicos ocorridos durante a realizao das provas, nem por danos neles causados. 15.21.4 No ser permitida a entrada de candidatos no ambiente de provas portando armas. O candidato que estiver armado ser encaminhado Coordenao. 15.22 Ter suas provas anuladas e ser automaticamente eliminado do concurso pblico o candidato que, durante a sua realizao: a) for surpreendido dando ou recebendo auxlio para a execuo das provas; b) utilizar-se de livros, mquinas de calcular ou equipamento similar, dicionrio, notas ou impressos que no forem expressamente permitidos ou que se comunicar com outro candidato; c) for surpreendido portando aparelhos eletrnicos, tais como bip, telefone celular, walkman, agenda eletrnica, notebook, palmtop, pendrive, receptor, gravador, mquina de calcular, mquina fotogrfica, controle de alarme de carro etc., bem como relgio de qualquer espcie, culos escuros ou quaisquer acessrios de chapelaria, tais como chapu, bon, gorro etc. e, ainda, lpis, lapiseira e/ou borracha; d) faltar com o devido respeito para com qualquer membro da equipe de aplicao das provas, com as autoridades presentes ou com os demais candidatos; e) fizer anotao de informaes relativas s suas respostas no comprovante de inscrio ou em qualquer outro meio, que no os permitidos; f) no entregar o material das provas ao trmino do tempo destinado para a sua realizao; g) afastar-se da sala, a qualquer tempo, sem o acompanhamento de fiscal; h) ausentar-se da sala, a qualquer tempo, portando a folha de respostas e/ou a folha de texto definitivo; i) descumprir as instrues contidas no caderno de provas, na folha de respostas ou na folha de texto definitivo; j) perturbar, de qualquer modo, a ordem dos trabalhos, incorrendo em comportamento indevido; k) utilizar ou tentar utilizar meios fraudulentos ou ilegais para obter aprovao prpria ou de terceiros, em qualquer etapa do concurso pblico;

l) no permitir a coleta de sua assinatura; m) for surpreendido portando caneta fabricada em material no transparente; n) for surpreendido portando anotaes em papis, que no os permitidos; o) for surpreendido portando qualquer tipo de arma e/ou se negar a entregar a arma Coordenao; p) no permitir ser submetido ao detector de metal. 15.23 No dia de realizao das provas, no sero fornecidas, por qualquer membro da equipe de aplicao destas e/ou pelas autoridades presentes, informaes referentes ao seu contedo e/ou aos critrios de avaliao e de classificao. 15.24 Se, a qualquer tempo, for constatado, por meio eletrnico, estatstico, visual, grafolgico ou por investigao policial, ter o candidato se utilizado de processo ilcito, suas provas sero anuladas e ele ser automaticamente eliminado do concurso pblico. 15.25 O descumprimento de quaisquer das instrues supracitadas implicar a eliminao do candidato, constituindo tentativa de fraude. 15.26 As despesas decorrentes da participao no concurso pblico, em todas as suas fases, correm por conta dos candidatos. 15.27 O candidato dever manter atualizado seu endereo perante o CESPE/UnB, enquanto estiver participando do concurso pblico, por meio de requerimento a ser enviado Central de Atendimento do CESPE/UnB, e perante o INMETRO, se selecionado. So de exclusiva responsabilidade do candidato os prejuzos advindos da no atualizao de seu endereo. 15.28 Os casos omissos sero resolvidos pelo CESPE/UnB juntamente com o INMETRO 15.29 As alteraes de legislao com entrada em vigor antes da data de publicao deste edital sero objeto de avaliao, ainda que no mencionadas nos objetos de avaliao constantes do item 16. 15.30 A legislao com entrada em vigor aps a data de publicao deste edital, bem como as alteraes em dispositivos legais e normativos a ele posteriores, no sero objeto de avaliao, salvo se listada nos objetos de avaliao constantes do item 16. 15.31 Quaisquer alteraes nas regras fixadas neste edital s podero ser feitas por meio de outro edital. 16 OS OBJETOS DE AVALIAO (HABILIDADES E CONHECIMENTOS) 16.1 HABILIDADES

16.1.1 As questes das provas objetivas podero avaliar habilidades que vo alm de mero conhecimento memorizado, abrangendo compreenso, aplicao, anlise, sntese e avaliao, valorizando a capacidade de raciocnio. 16.1.2 Cada questo das provas objetivas poder contemplar mais de uma habilidade e conhecimentos relativos a mais de uma rea de conhecimento. 16.2 CONHECIMENTOS 16.2.1 Nas provas objetivas, sero avaliados, alm das habilidades, conhecimentos, conforme especificao a seguir. 16.2.1.1 CONHECIMENTOS BSICOS LNGUA PORTUGUESA: 1 Compreenso e interpretao de textos. 2 Tipologia textual. 3 Ortografia oficial. 4 Acentuao grfica. 5 Emprego das classes de palavras. 6 Emprego do sinal indicativo de crase. 7 Sintaxe da orao e do perodo. 8 Pontuao. 9 Concordncia nominal e verbal. 10 Regncia nominal e verbal. 11 Significao das palavras. 12 Redao de correspondncias oficiais. (SOMENTE PARA CARGOS DE NVEL SUPERIOR) LNGUA INGLESA: 1 Compreenso de textos escritos em Lngua Inglesa (nfase em textos tcnicos). 2 Itens gramaticais relevantes para a compreenso dos contedos semnticos. ATUALIDADES: Tpicos relevantes e atuais de diversas reas, tais como segurana, transportes, poltica, economia, sociedade, educao, tecnologia, energia, relaes internacionais, desenvolvimento sustentvel e ecologia, suas inter-relaes e suas vinculaes histricas. 16.2.1.2 CONHECIMENTOS ESPECFICOS CARGO 1: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ASSISTENTE SOCIAL 1 Fundamentos histrico, terico e metodolgico do Servio Social. 2 O projeto ticopoltico do Servio Social e a regulamentao da profisso. 3 Questo social no Brasil. 4 Questo de gnero. 5 A poltica social e seu processo histrico; polticas setoriais e por segmento: assistncia; sade; sade mental; previdncia; criana e adolescente; educao; idoso; portadores de necessidades especiais. 6 Trabalho e Servio Social. 7 Pesquisa e Servio Social. 8 Debate tico contemporneo e a busca da consolidao do projeto tico poltico do Servio Social, as condies de trabalho e respostas profissionais aos desafios de hoje. 9 reas de atuao do Assistente Social e demandas profissionais no mbito das relaes entre Estado e Sociedade. 10 Estratgias de ao em Servio Social e os instrumentos de interveno do Assistente Social especialmente voltados para o trabalho em organizaes empresariais. 11 Condicionantes, conhecimentos, habilidades e exigncias para o trabalho do Servio Social em empresas. 12 O Processo de Trabalho do Servio Social. 13 Leis, regulamentaes, estatutos e demais resolues do trabalho profissional em Servio Social.

CARGO 2: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: AVALIAO DA CONFORMIDADE I SISTEMAS DE GESTO. 1 Qualidade: Fundamentos e conceitos, planejamento e ferramentas; dimenses da Qualidade. 2 Histria da Qualidade. 3 Sistema de Gesto da Qualidade: fundamentos, vocabulrio, justificativas, requisitos e abordagens. 4 Sistema de Gesto Ambiental: requisitos com orientaes para uso. 5 Auditorias de Sistemas de Gesto: diretrizes para auditorias de sistema de gesto. II ACREDITAO. 1 Conceitos e definies. 2 Requisitos para organismos que fornecem auditoria e certificao de sistemas de gesto. 3 Critrios gerais para o funcionamento de diferentes tipos de organismos que executam inspeo. 4 Requisitos gerais para organismos que operam sistemas de certificao de produtos. 5 Requisitos gerais para competncia de laboratrios de ensaio e calibrao. III AVALIAO DA CONFORMIDADE (AC). 1 Definies, conceitos, vocabulrio e princpios gerais. 2 Classificao da atividade de AC. 3 Mecanismos de avaliao da conformidade. 4 Sistema Nacional de Metrologia, Normalizao e Qualidade Industrial - SINMETRO. 5 Impacto da AC no Comrcio Internacional (Barreiras Tcnicas e Reconhecimentos Mtuos). IV REGULAMENTAO TCNICA. 1 Definio. 2 Regulamentao x Normalizao. 3 Objetivos. 4 A funo dos rgos reguladores e o papel do INMETRO como rgo regulador. 5 O Guia de Boas Prticas de Regulamentao. V NORMALIZAO. 1 Definio, objetivos, nveis de normalizao. 2 Processo de elaborao de normas tcnicas brasileiras. 3 Documento normativo e tipos de normas tcnicas. VI RELAES DE CONSUMO. 1 Cdigo de Defesa do Consumidor. 2 Sistema Nacional de Defesa do Consumidor. CARGO 3: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CINCIAS CONTBEIS 1 Contabilidade geral: objetivo; ativo, passivo e patrimnio lquido; patrimnio: formao,composio, equao fundamental do patrimnio; variaes patrimoniais: receita e despesa; plano de contas, sistemas de escriturao, estornos, demonstraes financeiras, balano patrimonial: etapas do levantamento, regularizao de contas, demonstraes, correo monetria, depreciao, amortizao e exausto; provises e reservas; demonstrao de resultados e outras demonstraes obrigatrias da Lei n. 6.404/76; Anlise de balano. 2 Contabilidade Pblica: conceituao, estrutura e organizao; plano de contas com base na lei n 4.320/64 e legislao complementar. 2.1 Normas Brasileiras de Contabilidade: NBC P 1; NBC P 3; NBC P 4; NBC T 11 e NBC T 12. 2.2 Registros contbeis de operaes tpicas em unidades oramentrias ou administrativas (sistemas oramentrio, financeiro, patrimonial e de compensao). 2.3 Balano e demonstraes das variaes patrimoniais exigidas pela Lei n 4.320/1964. 2.4 Anlise de balano: oramentrio, financeiro, patrimonial, comparativo da receita e despesas. 3 Contabilidade comercial: elaborao de demonstraes contbeis pela legislao societria e pelos princpios fundamentais da contabilidade. 4 Consolidao de demonstraes contbeis. 5 Anlise econmico-financeira. 6 Oramento pblico: elaborao, acompanhamento e fiscalizao. 6.1 Plano plurianual. 6.2 Projeto de lei oramentria anual: elaborao, acompanhamento e aprovao. 6.3 Princpios oramentrios. 6.4 Diretrizes oramentrias. 6.5 Processo oramentrio. 6.6 Mtodos, tcnicas e instrumentos do oramento pblico. 6.7 Despesa Pblica: categorias, estgios. 6.8 Tomadas e prestaes de contas. 7 Efeitos inflacionrios sobre o patrimnio das empresas. 8 Avaliao e contabilizao de investimentos societrios no

pas. 9 Destinao de resultado. 10 Imposto de renda de pessoa jurdica. 11 IRRF. 12 ICMS. 13 Custos para tomada de decises. 14 Sistemas de custos e informaes gerenciais. 15 Lei n. 8.666/93 e suas alteraes posteriores. 16 Lei n 10.520/2002 e alteraes posteriores. 17 Lei Complementar n 101/2000 (Lei de Responsabilidade Fiscal). Lei n 8.112 - Regime Jurdico dos Servidores Pblicos. Decreto 5.450/2005. Lei n 10.180/2001. Decreto n 3.591/2000. Lei n 8.429/92 - Improbidade Administrativa. Lei n 9.784/99 - Lei do Processo Administrativo. Decreto Lei n 200/67. CARGO 4: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ESTATSTICA 1 Estatstica Descritiva: Tipos de Variveis e Nveis de Mensurao. Medidas de tendncia central e de variabilidade. Pesquisa por Amostragem. Experimentos e Estudos Observacionais. Apresentao e Explorao do Conjunto de Dados. Anlise Bidimensional. Tabelas de Contingncia e Associao entre Variveis Qualitativas. 2 Clculo de Probabilidades: Modelos Determinsticos e No Determinsticos. Espaos Amostrais Finitos. Probabilidade Condicionada e Independncia. Distribuies Unidimensionais. Funes de Densidade e Probabilidade. Variveis Aleatrias discretas e contnuas. Funo de uma Varivel Aleatria. Momentos Ordinrios. Principais Distribuies discretas e contnuas. Varivel Aleatria Multidimensional. Estatsticas de Ordem. Valor esperado de uma Varivel Aleatria Multidimensional. Funo Geratriz de Momentos de uma Varivel Aleatria. Distribuio Normal Bivariada. Convergncia de Variveis Aleatrias. Desigualdades Estatsticas. Leis dos Grandes Nmeros. Teoremas Limites. 3 Inferncia Estatstica: Populao, Amostra e Distribuies Amostrais. Estimao Pontual: Propriedades de Estimadores. Mtodos de Estimao; Intervalos de Confiana. Testes de Hipteses. Inferncia Bayesiana. 4 Teoria de Amostragem: Amostragem Aleatria Simples. Estimao de Propores, Razes e Domnios. Tamanho da Amostra. Amostragem Estratificada. Amostragem Proporcional ao tamanho. Amostragem Sistemtica. Amostragem por Conglomerados. Dupla Amostragem. Erros Alheios Amostragem. 5 Estatstica No Paramtrica: Testes Baseados na Distribuio Binomial. Teste do Sinal. Teste da Mediana. Medidas de Correlao por Postos. Teste de Mc Nemar. Teste de Friedman. Testes de MannWhitney e de Kruskal-Wallis. Teste de Aderncia de Kolmogorov-Smirnov. Distribuio Multinomial e os Testes Qui-quadrado de Aderncia, Independncia e Homogeneidade. Testes de Aleatoriedade. 6 Modelos Lineares: Regresso Linear com uma Varivel Independente. Inferncia em Regresso. Anlise dos Resduos. Multicolinearidade. Abordagem Matricial do Modelo de Regresso Linear Simples. Regresso Mltipla. Variveis Indicadoras. Seleo de Variveis. 7 Anlise de Sries Temporais: Modelos para Sries Localmente Constantes. Decomposio segundo Tendncia, Ciclo e Sazonalidade. Suavizao Exponencial Geral. Mnimos Quadrados Generalizados. Anlise dos Erros de Previso. Modelos ARIMA de Box & Jenkins. Modelos SARIMA. 8 Planejamento de Experimentos: Experimentos para Comparar vrios Tratamentos. Comparao entre Mdias dos Tratamentos. Modelos com Efeitos Fixos e Aleatrios. Blocos Completos e Blocos Incompletos. Experimentos Fatoriais. 9 Anlise Multivariada: Distribuio Normal Multivariada. Anlise de Componentes Principais. Anlise Fatorial. 10 Controle Estatstico de Qualidade: Ferramentas para o Controle de Qualidade. Grficos de Controle para Variveis. Grficos de controle para Atributos. Anlise da Capacidade do Processo. Inspeo por Amostragem. 11 Pesquisa Operacional: Programao Linear. Mtodo Simplex. Teoria da Dualidade, Anlise de

Sensibilidade, Problema de Transporte. 12 Modelos Quantitativos em Cincias Sociais: Escalas Multidimensionais. Mtodos: Julgamento Comparativo, Julgamento Categrico, Soma Constante. Escala de Saaty. Escalas Multidimensionais. Escala de Atitudes. Confiabilidade. Veracidade. Montagem de Escalas de Atitude. Escalas de Thurstone. Escala de Likert. Escala de Guttman. 13 Ferramentas Computacionais: Tcnicas Bsicas de Programao. Estruturas Bsicas de Dados. Linguagem R. Planilhas Eletrnicas Excel. Anlise Estatstica usando o Excel. CARGO 5: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: GESTO PBLICA 1 Planejamento estratgico. 1.1 Conceitos, mtodos e tcnicas. 1.2 Modelos de gesto e estruturas organizacionais. 1.3 Avaliao de desempenho institucional. 1.4 Planejamento organizacional. 1.5 As escolas de planejamento estratgico. 1.6 Modelo SWOT. 1.7 Modelo Porter. 1.8 Planejamento baseado em cenrios. 1.9 Princpios da Administrao Estratgica: metodologia de elaborao do pensamento estratgico. 1.10 Modelos de gesto estratgica. 1.11 Estratgias competitivas. 1.12 Sistema de medio de desempenho organizacional. 1.13 Indicadores de desempenho. 1.14 Balanced Scorecard. 1.15 Elaborao, anlise e avaliao de projetos. 1.16 Projetos e suas etapas. 2 Gesto de qualidade. 2.1 Conceitos bsicos do modelo de gesto baseado na qualidade total (GQT). 2.2 Anlise, padronizao e melhoria de processos. 2.3 Ciclo PDCA. 2.4 Benchmarking. 2.5 Ferramentas clssicas para o gerenciamento de processos. 2.6 Prmio Nacional da Qualidade como estratgia competitiva 2.7 Critrios de excelncia do Prmio Nacional de Gesto Pblica. 3 Gesto governamental. 3.1 Evoluo da administrao pblica no Brasil (aps 1930). Reformas Administrativas. 3.2 Modelos de gesto pblica: patrimonialista, burocrtico (Weber) e gerencial. 3.3 Conceitos de Eficcia e Efetividade aplicados Administrao Pblica: avaliao e mensurao do desempenho governamental. 3.4 Instrumentos gerenciais contemporneos: avaliao de desempenho e resultados; sistemas de incentivo e responsabilizao; flexibilidade organizacional; trabalho em equipe; mecanismos de rede. 3.5 Novas formas de gesto de servios pblicos: formas de superviso e contratualizao de resultados. 3.6 Modelos contemporneos de gesto de pessoas: gesto de pessoas por competncias; liderana e desempenho institucional. 3.7 Sistema de Planejamento e Oramento do Governo Federal: fundamentos legais; conceitos bsicos do sistema de planejamento, oramento e financeiro; gesto por programas; integrao planejamento e oramento; eficincia do gasto pblico; custos. 3.8 Gesto de suprimentos e logstica na administrao pblica. A modernizao do processo de compras 3.9 Gesto de contratos e convnios no setor pblico. 3.10 Os controles interno e externo. Responsabilizao e Prestao de Contas. 3.11 Avaliaes de Polticas Pblicas e Programas Governamentais: referencial terico, conceitos bsicos e tipos de avaliao. Tcnicas de avaliao e monitoramento da despesa pblica. Avaliao de polticas pblicas e seu relacionamento com processos, resultados e impactos. 3.12 Direitos, deveres e responsabilidades dos servidores pblicos. CARGO 6: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MEDICINA CARDIOLOGIA 1 Anatomia e fisiologia do aparelho cardiovascular. Semiologia do aparelho cardiovascular. 2 Mtodos diagnsticos: eletrocardiografia. Ecocardiografia. Medicina nuclear. Hemodinmica. Ressonncia magntica. Radiologia. 3 Cardiopatias congnitas

cianticas e acianticas. 4 Hipertenso arterial. Isquemia miocrdica. Doena reumtica. Valvulopatias. 5 Miocardiopatias. 6 Insuficincia cardaca congestiva. Doena de Chagas. Arritmias cardacas. 7 Marca-passos artificiais. 8 Endocardite infecciosa. Doenas do pericrdio e doenas da aorta. 9 Embolia pulmonar - hipertenso pulmonar - cor pulmonar - infeces pulmonares. 10 Patologias sistmicas e aparelho cardiovascular. 11 Reabilitao cardiovascular. 12 Cardiomiopatias dilatadas: avaliao da funo sisto-diasttica, implicaes prognsticas e critrios para ressincronizao ventricular. 13 Cardiomiopatias hipertrficas: classificao e avaliao da funo sistodiastlica, prognstico e teraputica. 14 Cardiomiopatias restritivas: classificao, avaliao da funo sisto-diast1ica e diferenciao de constrio pericrdica. 15 Cardiopatia isqumica: avaliao de angina e IAM. 16 Ecocardiografia sob estresse na avaliao de isquemia e viabilidade miocrdicas. 17 Ecocardiografia transesofgica nas valvopatias. 18 Ecocardiografia transesofgica nas aortopatias. 19 Ecocardiografia transesofgica na pesquisa de fonte embolignica. 20 Avaliao das leses carotdeas e vertebrais. 21 Avaliao das leses obstrutivas arteriais de MMII e MMSS pseudoaneurismas. 22 Avaliao das leses obstrutivas de artrias renais. 23 Avaliao de trombose venosa de MMII e MMSS. 24 Avaliao ps-cirurgia de revascularizao miocrdica e ps angioplastia pelo teste ergomtrico. 25 Avaliao ps-infarto do miocrdio pelo teste ergomtrico. 26 Avaliao funcional dos pacientes portadores de miocardiopatia e doena oravalvar. 27 Avaliao funcional pelo ergoespirometria de indivduos sadios e cardiopatias. 28 Clnica mdica e conduta mdico-pericial. 28.1 Noes gerais das reas mdicas: clnica mdica; cirurgia; psiquiatria; ortopedia e traumatologia e medicina do trabalho. 28.2 Conduta pericial. 29 Noes gerais de medicina. 29.1 Bioestatstica. 29.2 Epidemiologia. 293 Sistemas imunitrio e suas doenas. 29.4 Molstias infecciosas. 29.5 Sistema nervoso e suas doenas. 29.6 Sistema respiratrio e suas doenas. 29.7 Sistema cardiovascular e suas doenas. 29.8 Sistema genito-urinrio e suas doenas. 29.9 Sistema digestivo e suas doenas. 29.10 Doenas hematolgicas e hematopoiticas. 29.11 Distrbios nutricionais. 29.12 Metabolismo e suas doenas. 29.13 Sistema endcrino e suas doenas. 29.14 Gentica e noes de doenas hereditrias. 30 Atendimento a urgncias e emergncias mdicas. 31 Diagnstico e tratamento das doenas de maior prevalncia na populao. CARGO 7: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MEDICINA ORTOPEDIA E TRAUMATOLOGIA 1 Noes gerais de medicina. 1.1 Bioestatstica. 1.2 Epidemiologia. 1.3 Sistemas imunitrio e suas doenas. 1.4 Molstias infecciosas. 1.5 Sistema nervoso e suas doenas. 1.6 Sistema respiratrio e suas doenas. 1.7 Sistema cardiovascular e suas doenas. 1.8 Sistema gnito-urinrio e suas doenas. 1.9 Sistema digestivo e suas doenas. 1.10 Doenas hematolgicas e hematopoiticas. 1.11 Distrbios nutricionais. 1.12 Metabolismo e suas doenas. 1.13 Sistema endcrino e suas doenas. 1.14 Gentica e noes de doenas hereditrias. 2 Atendimento a urgncias e emergncias mdicas. 3 Diagnstico e tratamento das doenas de maior prevalncia na populao. 4 Sistema msculo esqueltico: estrutura do tecido sseo; crescimento e desenvolvimento; calcificao, ossificao e remodelagem; estrutura do tecido cartilaginoso; organizao, crescimento e transplante; tecido muscular: organizao, fisiologia e alterao inflamatria; tecido nervoso: estrutura, organizao, fisiologia, alterao degenerativa, inflamatria e tratamento. 5 Deformidades congnitas e adquiridas: etiologia e diagnstico; p torto congnito; displasia do desenvolvimento do quadril; luxao congnita do joelho; pseudoartrose congnita tibial; talus vertical; aplasia

congnita/displasia dos ossos longos; polidactilia e sindactilia; escoliose. 6 Infeces e alteraes inflamatrias osteoarticulares: etiologia, diagnstico e tratamento; artrite piognica, osteomielite aguda e crnica; tuberculose ssea; infeco da coluna vertebral; sinovites; artrite reumatoide. 7 Tumores sseos e leses pseudotumorais: propriedades biolgicas; classificao; diagnstico, estagiamento e tratamento. 8 Osteocondroses: etiologia, diagnstico e tratamento; membro superior, inferior e quadril. 9 Alteraes degenerativas osteoarticulares: etiologia, diagnstico e tratamento; artrose do membro superior, inferior e quadril. 10 Doenas osteometablicas na prtica ortopdica: etiologia, diagnstico e tratamento. 11 Princpios do tratamento do paciente politraumatizado. 12 Fraturas e luxaes da articulao do quadril e da coluna cervicotraco-lombar: etiologia, diagnstico e tratamento. 13 Fraturas, luxaes, leses capsulo-ligamentares e epifisrias do membro superior e inferior: etiologia, diagnstico e mtodos de tratamento. 14 Noes de ergonomia e melhoria das condies de trabalho. 15 Etiologia das DORTs e fatores estressantes em ambiente de trabalho. 16 Clnica mdica e conduta mdico-pericial. 16.1 Noes gerais das reas mdicas: clnica mdica; cirurgia; psiquiatria; cardiologia e medicina do trabalho. 16.2 Conduta pericial. CARGO 8: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MEDICINA PSIQUIATRIA 1 Noes gerais de medicina. 1.1 Bioestatstica. 1.2 Epidemiologia. 1.3 Sistemas imunitrio e suas doenas. 1.4 Molstias infecciosas. 1.5 Sistema nervoso e suas doenas. 1.6 Sistema respiratrio e suas doenas. 1.7 Sistema cardiovascular e suas doenas. 1.8 Sistema genito-urinrio e suas doenas. 1.9 Sistema digestivo e suas doenas. 1.10 Doenas hematolgicas e hematopoiticas. 1.11 Distrbios nutricionais. 1.12 Metabolismo e suas doenas. 1.13 Sistema endcrino e suas doenas. 1.14 Gentica e noes de doenas hereditrias. 2 Atendimento a urgncias e emergncias mdicas. 3 Diagnstico e tratamento das doenas de maior prevalncia na populao. 4 Transtornos mentais orgnicos, incluindo sintomticos. 4.1 Transtornos mentais e de comportamento devidos ao uso de substanciais psicoativas. 4.2 Esquizofrenia, transtornos esquizotpicos e delirantes. 4.3 Transtornos do humor (afetivo). 4.4 Transtornos neurticos, relacionados ao estresse e somatoformes (transtornos fbicosansiosos, obsessivos-compulsivos etc.). 4.5 Sndromes comportamentais associadas a distrbios fisiolgicos e a fatores fsicos (transtornos alimentares, no orgnicos, do sono, disfuno sexual etc.). 4.6 Transtornos da personalidade e de comportamento em adultos (transtornos especficos de personalidade etc.). 4.7 Tratamento psicofarmacolgico. 4.8 Sofrimento psquico e psicopatologia do trabalho (inclusive com relao ao lcool e s drogas). 5 Clnica mdica e conduta mdico-pericial. 5.1 Noes gerais das reas mdicas: clnica mdica; cirurgia; ortopedia e traumatologia; cardiologia e medicina do trabalho. 5.2 Conduta pericial. CARGO 9: ANALISTA EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MEDICINA DO TRABALHO 1 Atendimento a urgncias e emergncias mdicas. 2 Diagnstico e tratamento das doenas de maior prevalncia na populao. 3 Doenas profissionais, do trabalho e relacionadas ao trabalho. 4 Epidemiologia e bioestatstica. 5 Clnica mdica e conduta mdico-pericial. 5.1 Noes gerais das reas mdicas: clnica mdica; cirurgia; psiquiatria; ortopedia; cardiologia. 5.2 Conduta pericial. 6 Sade do trabalhador. 6.1 Estatstica em medicina do trabalho. 6.2 Legislao e normativos referentes a segurana

e sade no trabalho. 6.3 Doenas ocupacionais, acidentes do trabalho e conduta mdicopericial: conceito e epidemiologia; preveno, impacto do trabalho sobre a sade e segurana dos trabalhadores; indicadores de sade doena dos trabalhadores; patologia do trabalho; conduta pericial. 6.4 Higiene Ocupacional. 6.5 Promoo da sade e preveno de doenas. 6.6 Noes de fisiologia do trabalho (viso, audio, metabolismo e alimentao, sistemas respiratrio, cardiovascular, osteoarticular). 6.7 Agentes fsicos e riscos sade. 6.8 Agentes qumicos e riscos sade. 6.9 Agentes biolgicos e riscos sade. 6.10 Noes de toxicologia. 6.11 Sofrimento psquico e psicopatologia do trabalho (inclusive com relao ao lcool e s drogas). 6.12 Ergonomia e melhoria das condies de trabalho. 6.15 Etiologia das DORTs e fatores estressantes em ambiente de trabalho 7 Regime Jurdico dos Servidores Pblicos Federais. 8 Polticas pblicas em sade e segurana no trabalho. 9 A Investigao das relaes sade-trabalho. 10 Estabelecimento do nexo causal da doena com o trabalho e as aes decorrentes. 11 Patologia do trabalho. 12 Estratgia de preveno, gerenciamento de riscos e mudana tecnolgica. 13 Organizao do trabalho e seus impactos sobre a sade dos trabalhadores. 14 Bases tcnicas para a avaliao, controle e preveno dos fatores de risco e para a melhoria dos ambientes e das condies de trabalho. 15 Adicionais ocupacionais (de insalubridade, de periculosidade e por exposio a irradiao ionizante). 16 Sistemas de Gesto de Segurana e Sade Ocupacional de acordo com a OHSAS 18001. 17 Diretrizes da OIT para a Segurana e Sade Ocupacional. 18 Gesto integrada de Segurana. Meio Ambiente e Sade Ocupacional 19 Poltica de Segurana e Sade no Trabalho: planejamento, implementao e operao. CARGO 10: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ACREDITAO I QUALIDADE. 1 Qualidade: Fundamentos e conceitos, planejamento e ferramentas. 2 Sistema de Gesto da Qualidade: Fundamentos, justificativas, requisitos e abordagens. 3 Auditorias de Sistemas de Gesto; ABNT NBR ISO 19011 Diretrizes para auditorias de sistema de gesto da qualidade e/ou ambiental. II ACREDITAO. 1 Conceitos e definies. 2 Normas relativas atividade de Acreditao: ABNT NBR ISO/IEC 17011; Avaliao de conformidade - Requisitos gerais para os organismos de acreditao que realizam acreditao de organismos de avaliao de conformidade; ABNT NBR ISO/IEC 17021 - Avaliao da conformidade - Requisitos para organismos que fornecem auditoria e certificao de sistemas de gesto; ABNT NBR ISO/IEC 17020 Avaliao de conformidade - Critrios gerais para o funcionamento de diferentes tipos de organismos que executam inspeo; ABNT ISO/IEC Guia 65 Requisitos Gerais Para Organismos que Operam Sistemas de Certificao de Produtos; ABNT NBR ISO/IEC 17025 Requisitos gerais para competncia de laboratrios de ensaio e calibrao. ABNT NBR ISO/IEC 17024 - Avaliao da Conformidade - Requisitos Gerais para Organismos que Realizam Certificao e Pessoas. III AVALIAO DA CONFORMIDADE. 1 Definies e conceitos, ABNT NBR ISO/IEC 17000 - Avaliao de conformidade - vocabulrio e princpios gerais. 2 Classificao da atividade de avaliao da conformidade. 3 Mecanismos de avaliao da conformidade. 4 Sistema Nacional de Metrologia, Normalizao e Qualidade Industrial - SINMETRO. 5 Regulamentao tcnica.

CARGO 11: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ANLISE DE REQUISITOS E QUALIDADE DE SOFTWARE 1 Gesto de Processos de Negcio: Conceitos de gesto de processos de negcios (BPM). Benefcios da gesto por processos. Modelagem do processo atual (as is) e futuro (to be). Tcnicas de anlise de processo. Indicadores de desempenho de processos. Simulao de processos. Melhoria de processos. Integrao de processos. Notao BPMN. Ferramentas de automao de processos de negcio (BPMS). Gesto por processos e seus impactos na gesto de pessoas. 2 Engenharia de requisitos: Conceitos. Tcnicas de elicitao de requisitos. Gerenciamento de requisitos. Especificao de requisitos. Tcnicas de validao de requisitos. Prototipao. Notaes UML e ER. 3 Engenharia de software: processos de desenvolvimento de software (processo cascata, processo iterativo), RUP, Scrum e Programao Extrema(XP); projeto de software orientado a objetos (OOP) e aspectos (AOP), Padres de Projeto (Design Patterns) e Anti-Patterns. Ciclo de vida do software. Conceitos de qualidade de software. Garantia da Qualidade de software (SQA). ISO 12207. ISO 15504. ISO 9126. NBR ISO 25000. IEEE 829. Modelos CMMI, MPS.BR. Principais mtricas de desenvolvimento e qualidade de software. Anlise por Pontos de Funo - APF: Conceitos, tcnicas bsicas de contagem, normas de procedimento determinadas pelo IFPUG. Anlise de Pontos de Casos de Uso. 4 Gesto de Negcios: noes e metodologias de planejamento estratgico; Balanced Scorecard (BSC); Matriz SWOT; anlise de cenrios; medio de desempenho. Arquitetura e modelagem organizacional, estruturas funcionais, matriciais, por processos e por projetos. Cultura Organizacional: conceitos, elementos, influncias intra e supra-organizacionais e mudana organizacional. Clima organizacional. Motivao. Poder e Gesto de Conflitos. Processo de tomada de deciso. Anlise e soluo de problemas. 5 Gerncia de projetos: conceitos bsicos; processos e reas do conhecimento do PMBOK. 6 Aplicaes: Arquitetura e tecnologias de sistemas de informao: conceitos bsicos; Workflow e gerenciamento eletrnico de documentos; Conceitos de Sistemas Integrados de Gesto (ERP); Conceitos de Arquitetura Orientada a Servios (SOA); arquitetura clienteservidor; arquitetura distribuda; portais corporativos; sistemas colaborativos; gesto de contedo; especificao de metadados e web services. Noes de SQL. Software livre e software pblico: conceito, tipos de licena, estgio atual das principais aplicaes. Acessibilidade na web: conceitos bsicos, recomendaes W3C, e-Mag.Segurana da informao: conceitos bsicos; polticas de segurana; classificao de informaes. 7 Testes de Software. Conceitos de teste: tipos, padres, mtodos e processos. Test Driven Development (TDD). Planejamento, Elaborao Execuo e Automatizao de testes. Mtricas e Estimativas aplicadas a Teste de Software. CARGO 12: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA : ARQUITETURA DE SOLUES DE SOFTWARES 1 Engenharia de Software: conceitos gerais, engenharia de requisitos de software, processos de desenvolvimento de software (processo cascata, processo iterativo), RUP, Scrum e Programao Extrema(XP); projeto de software orientado a objetos (OOP) e aspectos (AOP), Padres de Projeto (Design Patterns) e Anti-Patterns. Conceitos de testes de software (Unitrios, Integrao, Funcional) e Test Driven Development (TDD). Mtricas de Qualidade. Medio e estimativas de projetos de software. Anlise por pontos de funo (APF). Notaes UML, ER e BPMN. CMMi e MPS.Br.

Modelagem de Processos de Negcio (BPM). 2 Arquitetura, Integrao e Solues Corporativas. Arquitetura de aplicaes Web. Arquitetura cliente/servidor. Integrao e interoperabilidade. E-ping. SOA. Barramento corporativo de servios (ESB). Padres Arquiteturais Corporativos (EAP). Sistemas de Gesto de Processos de Negcio (BPMS); Portais corporativos. Arquitetura atual e futura, anlise de gap e roadmap; Gesto e Recursos Informacionais. Sistemas de GED e Workflow. Sistemas Integrados de Gesto: ERP e CRM. Aplicaes Mveis (celulares, PDA e netbook): programao embarcada; plataforma JME. 3 Desenvolvimento. Boas prticas de programao como Refatorao, Componentizao. Sintaxe e Semntica das Linguagens Visual Basic, ASP, PHP, Java e C#. Plataformas Java Enterprise Edition (JEE) e .NET. Linguagens XML, XSLT. Linguagens Dinmicas como Groovy ou Ruby. Frameworks de persistncia como Hibernate e NHibernate, Frameworks de Injeo de dependncia como Spring e Spring.NET. Frameworks Integrados como GRAILS ou RAILS. Web Services. BPEL.Tcnicas de Profiling. 4 Ferramentas. Ambientes Integrados (IDE) como Eclipse e Visual Studio. Ferramentas de Build como Ant, Maven ou similares. Ferramentas de Integrao Contnua como o Cruise Control ou similares. Ferramentas de automatizao de testes como JUnit ou Nunit. Servidores como Tomcat, JBOSS e IIS. Ferramenta de Controle de Verso como Source Safe, Subversion ou GIT. 5 Banco de Dados e Gesto da Informao. Modelagem e normalizao de dados. Administrao de dados. Administrao de SGBD. SQL, Stored Procedures, Triggers, Views e Jobs. Datawarehouse, OLAP, Data Mining, BI - Business Inteligence. 6 Gerncia de Projetos. PMBOK: Conceitos, reas de Conhecimento, Processos, Ferramentas e Tcnicas. 7 Segurana da informao: normas ISO 27001 e ISO 27002. Tcnicas de preveno em aplicao como SQL Injection, Denial of Service (DoS), Flood. 8 Software livre e software pblico: conceitos, tipos de licena, estgio atual das principais aplicaes. CARGO 13: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ARTICULAO INTERNACIONAL I Comrcio Internacional. 1 Comrcio exterior e comrcio internacional. O comrcio internacional e as relaes internacionais. 2 O delineamento de novos padres no comrcio internacional e a retomada do crescimento. 3 A crise dos anos 70: o comrcio e o "Dilogo Norte-Sul". 3.1 O surgimento do conceito de "Terceiro Mundo". 3.2 Termos de troca: conceitos e implicaes para o comrcio e o desenvolvimento. 4 Poltica comercial, protecionismo e livre comrcio. 4.1 Globalizao, integrao econmica e formao de blocos regionais. 4.2 Algumas questes comerciais contemporneas. 5 A Rodada do Uruguai e criao da OMC. 6.1 O Acordo sobre Barreiras Tcnicas ao Comrcio 6. Economia Internacional (tarifas, subsdios e barreiras - cmbio, balana comercial, PIB). II Anlise das relaes internacionais do Brasil. 1 O multilateralismo de dimenso universal: a ONU, as Conferncias Internacionais, os rgos multilaterais. O sistema interamericano. 2 O Brasil e a formao dos blocos. 3 A dimenso da segurana na poltica exterior do Brasil. 4 As relaes regionais do Brasil. 4.1 O Brasil e seus vizinhos. 4.2 O Brasil e os Estados Unidos. 4.3 O Brasil e a Unio Europeia. 5 Rodada de Doha. 6 Conferncia das Naes Unidas sobre Comrcio e Desenvolvimento - UNCTAD. III Poltica externa brasileira. 1 As relaes regionais em seus marcos histricos: o projeto ABC dos anos 1950, a OPA e a Aliana para o Progresso; os regimes militares, cooperao e rivalidades ao tempo da Guerra Fria; origens do processo de integrao; um balano de dez anos de Mercosul; Processos de Integrao na Amrica Latina ALADI e ALALC. 2 O Mercosul. 2.1 Objetivos e caractersticas do Mercosul. 2.2 O Tratado de Assuno e o

Protocolo de Ouro Preto. 2.3 O estgio atual de integrao do Mercosul. 2.4 Estrutura e Funcionamento do Mercosul. 3 Barreiras Tcnicas ao Comrcio - Articulao Internacional. 3.1 Acordo Geral sobre Barreiras Tcnicas (TBT) OMC - 3.2 Funes, Objetivos e Estrutura Organizacional. 3.3.Princpios Gerais. 3.4. Os Vrios acordos. 3.5. Trade Policy Review e Solues de Controvrsias. 3.6 O Acordo TBT. 3.7. O que so barreiras tcnicas. 3.8. Histrico das negociaes mundiais envolvendo Barreiras Tcnicas. 3.9 Estrutura, contedo. 3.10 Definies. 3.11 Cobertura. 3.12 Standards Code. 3.13. Medidas Cobertas pelo TBT: Regulamentao Tcnica, Normalizao e Avaliao da Conformidade. 4 Princpio da No discriminao e de evitar barreiras ao Comrcio desnecessrias. 5 Princpio da Harmonizao (O uso de normas interna internacionais). 6 O papel das Organizaes de normalizao internacionais. 7 Resultados de Avaliao da Conformidade. 7.1 Aceitao de Resultados de AC. 7.2 Abordagens para facilitar a aceitao de resultados de AC. 8 Requisitos de Transparncia - Notificao, disponibilizao e disseminao de RT's e Pontos Focais. 9 Assistncia Tcnica e Tratamento Especial e Diferenciado. 9.1 O trabalho no Comit de Barreiras Tcnicas. 9.2 Revises Trienais. 9.3 Assistncia Tcnica. CARGO 14: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CINCIA DA COMPUTAO 1 Organizao e arquitetura de computadores; lgebra booleana; sistema de numerao e codificao; aritmtica computacional; arquitetura e componentes funcionais de computadores RISC e CISC: processador, memria, barramentos, dispositivos de entrada/sada, perifricos, dispositivos de armazenamento; conceitos de processamento paralelo e distribudo; gerenciamento de E/S: estrutura de E/S (polling, interrupes, acesso direto memria); clusters e grids. 2 Teoria da computao; linguagem de computadores: linguagens formais e autmatos, hierarquia de Chomsky, mquina de Turing; compiladores: anlises lxica, sinttica e semntica; combinatria e teoria dos grafos; complexidade e eficincia de algoritmos. 3 Estruturas de dados; lgica de programao; paradigmas de programao; tipos abstratos de dados (lista, fila, pilha, arvores, heap); estruturas de dados e arquivos; mtodos de acesso, ordenao e pesquisa; hash; modularizao: acoplamento entre mdulos e coeso de mdulos; subrotinas: chamadas por endereo, referncia e valor; programao estruturada; descrio de dados. 4 Sistemas operacionais; multiprogramao e multiprocessamento; sistemas de arquivos: conceito de arquivo e diretrio, mtodos de acesso, alocao de arquivos (contnua, encadeada, indexada, por extenso), proteo de arquivo; gerenciamento de memria: algoritmos de alocao de memria, fragmentao, paginao segmentao, memria virtual, substituio de pginas; gerenciamento de processos: comunicao entre processos, threads, escalonamento, primitivas de sincronizao; interface grfica; sistemas com requisitos de tempo real: polticas de escalonamento. 5 Redes de computadores; tipos; topologias; arquiteturas; protocolos; meios de transmisso; elementos de interconexo (hub, switch, roteador, gateway); modelo de referncia OSI; TCP/IP; tecnologias de redes locais (Ethernet) e de redes de longas distncias; Transmisso PLC (Power Line Connection), Rdios Cognitivos, Redes sem Fio; protocolos/servios: IPv4, IPv6, TCP, UDP, IPSec, ARP, RARP, ICMP SNMP, DNS, DHCP, SMTP, HTTP, FTP, TELNET, LDAP, NAT; QoS; VoIP. 6 Linguagens; linguagem de programao: tipos de linguagem; compilador, ligador, montagem, carregador e interpretador; variveis estticas e dinmicas; procedimentos: passagem de parmetro por valor, por endereo e por referncia; Assembly, C, C++, Java; Anlise esttica/dinmica de binrios: anlise de fluxo de dados intra/interprocedural, anlise de

controle de fluxo intra/inter procedural; Value Set Analysis; Interpretao Abstrata. 7 Segurana; Confidencialidade, integridade e disponibilidade; ameaas, ataques vulnerabilidades e riscos; mecanismos, servios e polticas de segurana; criptografia assimtrica (RSA, Elptica) e simtrica (3DES, AES), hashes criptogrficos (MD-5, SHA-1); autenticao e autorizao; assinaturas digitais; ICP-Brasil; IDS/IPS, controle de acesso (incluindo RBAC); fire walls; DMZ; listas de controle de acesso (ACLs); ataques de negao de servio (Denial of Service - DoS), sistemas de deteno/preveno de intruso (IPS/IDS); Kerberos, PGP, VPN: SSL e TLS; segurana de servidores (WWW, SMTP, POP, FTP e DNS); planos de contingncia; auditoria; recuperao de desastres, resposta a incidentes; srie ISO27000, Mtodos de proteo de software: ofuscao de cdigo, marca d'gua. CARGO 15: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CINCIAS ECONMICAS 1 Estrutura de mercado. Concorrncia perfeita, concorrncia imperfeita, monoplio, oligoplio. Dinmica de determinao de preos e margem de lucro. Padro de concorrncia. Anlise de competitividade. Anlise de indstrias e da concorrncia. Vantagens competitivas. Cadeias e redes produtivas. Competitividade e estratgia empresarial. 2 Anlise macroeconmica. Sistemas de contas nacionais. Sistema de contas nacionais no Brasil. Anlise de determinao da renda - macroeconomia neoclssica: curva de oferta de produto e de demanda de trabalho, teoria quantitativa da moeda e o equilbrio de pleno emprego. Abordagem de expectativas racionais. Determinantes do consumo e do investimento. Anlise de poltica monetria e fiscal em economias fechadas e abertas sob diferentes regimes cambiais. Dinmica econmica. Funes da moeda. Conceitos de oferta e demanda monetria. Taxa de juros. Sistema Financeiro Nacional. Instrumentos de poltica monetria. Teorias da inflao. Crescimento econmico: modelos de crescimento exgeno e endgeno. 3 Economia internacional. Teoria do comrcio internacional: vantagens comparativas. Comrcio e desenvolvimento. Regimes Cambiais: fixo, flutuante e regimes intermedirios. 4 Balano de pagamentos: estrutura, saldos e formas de financiamento. 5 Instrumentos de poltica comercial: tarifas, subsdios e cotas. 6 Globalizao, blocos econmicos regionais e acordos multilateral e bilateral de comrcio exterior. 7 O mercado de capital global. 8 Organismos internacionais: FMI, BIRD, BID, OMC. 9 Economia do setor pblico. Conceito de bem pblico. Funes governamentais. Conceitos gerais de tributao. Tendncias gerais da evoluo do gasto pblico no mundo. Conceitos bsicos da contabilidade fiscal: NFSP, conceitos nominal e operacional e resultado primrio. Curva de Laffer monetria e o financiamento atravs de senhoriagem. Noo de sustentabilidade do endividamento pblico. Evoluo do dficit e da dvida pblica no Brasil a partir dos anos 80. Previdncia Social. Sistema tributrio. Federalismo. Privatizao e regulao no Brasil. 10 Economia brasileira. Evoluo da economia brasileira e da poltica econmica desde o perodo do milagre econmico. Reformas estruturais da dcada de 90. Economia brasileira no ps-Plano Real: concepes, principais problemas, conquistas e desafios. O ajuste de 1999. 11 Desenvolvimento econmico e social. Transformaes do papel do Estado nas sociedades contemporneas e no Brasil. Desigualdades scio-econmicas da populao brasileira. Distribuio da renda: aspectos nacionais e internacionais. O papel das principais agncias de fomento no Brasil (BNDES, Banco do Brasil, Caixa Econmica Federal, agncias de fomento estaduais). 12 Noes de economia do meio ambiente. 13 Anlise de projetos estruturados (project finance). Anlise de viabilidade do projeto, arranjos de garantia,

estrutura jurdica e plano de financiamento. 14 Mtodos quantitativos. Conceitos bsicos de probabilidade e estatstica. Variveis aleatrias. Distribuio de probabilidade, distribuio de frequncia e distribuio acumulada. Estatstica descritiva. Estimao pontual e por intervalos. Testes de hiptese. Princpios de lgebra matricial. Regresso. Conceitos bsicos e aplicaes de nmeros ndices, medidas de distribuio de renda e concentrao industrial. CARGO 16: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: DESENVOLVIMENTO DE SISTEMAS 1 Segurana da informao: Confiabilidade, integridade, disponibilidade; Mecanismos de segurana: Criptografia, assinatura digital, garantia de integridade, controle de acesso, certificao digital; Gerncia de riscos: ameaa, vulnerabilidade, impacto; Polticas de segurana: Srie ISO27000. 2 Estrutura de dados e algoritmos: Tipos bsicos de dados; Algoritmos para pesquisa e ordenao; Listas lineares e suas generalizaes: Listas ordenadas, listas encadeadas, pilhas e filas; rvores e suas generalizaes: rvores binrias, rvores de busca, rvores balanceadas (AVL), rvores B e B+. 3 Engenharia de software: Modelos de ciclo de vida de desenvolvimento de software; Anlise e projeto orientado a objetos/aspectos; UML; Metodologias e ferramentas de desenvolvimento; tcnicas e estratgias de teste de software; qualidade no desenvolvimento de software; Manuteno de software; Reengenharia; Engenharia reversa; Mtricas de software; CMMI, MPS/BR; modelo cliente/servidor, web services e design patterns; Sries ISO 20000 e 25000; Modelos de gesto: bazar, catedral; colaborativo; PMBOK. 4 Tecnologia: Banco de Dados, Banco de Dados Relacional em Plataforma Baixa, MySQL em Linux, PostgreSQL em Linux, ADABAS, XML. Arquitetura de banco de dados: Relacional, Hierrquico, Rede, Lista Invertida, Orientado a objetos; Servidores de Web e de aplicao: Zope, Jboss, Apache, Tomcat. Linguagens de implementao de regras de negcio, orientada a objeto: Java, Javascript, Phyton, PHP, Ruby, C++, Procedural: Natural, Cobol, C; Interface WEB: GIMP, Ajax, Padres WEB para interatividade, animaes e aplicaes offline: CSS, SVG, SMIL, XML HttpRequest, WebRunners (XULRunner, Prism; bibliotecas e aplicaes para traduo de aplicaes desktop para WEB), ferramentas de diagramao e desenho, engines de templates WEB; frameworks: EJB, JSF, Hibernate, Tiles, Struts, Eclipse, Plone, GTK, QT; linguagem de implementao banco de dados: banco - Fsico, Lgico e Conceitual, linguagens procedurais embarcadas, SQL/ANSI. 5 Arquitetura: Padres de projeto - padres de criao: Singleton, Prototype, padres estruturais: Adapter, Faade, etc, Padres Comportamentais: Command, Iterator, Padres GRASP: Controler, Expert, Tecnologia de Mercado JSE, JME, JEE. Service-Oriented Architeture: Workflow, Web Services, Mensageria, CORBA; Linhas de Produtos: Domnio de componentes, Criao de componentes, ciclo de vida de componentes. 6 Gerncia de projetos: Gerenciamento do ciclo de vida do sistema: determinao dos requisitos, projeto lgico, projeto fsico, teste, implementao; Diagrama de Rede, Caminho Crtico, Folgas, Estrutura Analtica do Projeto; O conceito e os objetivos da gerncia de projetos; Abertura e definio do escopo de um projeto; Planejamento de um projeto; Execuo, acompanhamento e controle de um projeto; Reviso e avaliao de um projeto; Fechamento de um projeto; Metodologias, tcnicas e ferramentas da gerncia de projetos. 7 Tpicos avanados: inteligncia computacional, Conceitos de dataware housing, Business Intelligence, programao distribuda, processamento em GRID, gesto eletrnica de documentos, XML, Sistemas de Informaes Gerenciais e de Apoio a Deciso. Web semntica Ontologias.

CARGO 17: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: EDUCAO A DISTNCIA 1 Fundamentos da educao. 2 Processo de ensino-aprendizagem a distncia. 3 Papel poltico pedaggico e organicidade do ensinar, aprender e pesquisar. 4 Currculo e construo do conhecimento. 5 Processo de ensino-aprendizagem. 6 O desenvolvimento das novas tecnologias de informao e comunicao e a constituio espacial e temporal da vida social. 7 Polticas pblicas e projetos em Educao a Distncia. 8 Educao a Distncia e as polticas de formao de professores. 9 A legislao brasileira atual em Educao a Distncia. 10 Os meios de comunicao e informao e a linguagem. 11 Conceitos, teorias e definies de Educao a Distncia. 12 Organizao e planejamento do trabalho pedaggico em Educao a Distncia. 13 A produo de materiais didticos em Educao a Distncia. 14 Tutoria, acompanhamento e avaliao em Educao a Distncia. 15 Educao a Distncia em contextos formais e no formais de educao. CARGO 18: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA CIVIL 1 Interpretao de projetos grficos: arquitetura, estrutura, instalaes eltricas. 2 Instalaes hidrulicas e sanitrias, poos artesianos, fossas spticas, captao e drenagem de guas pluviais. 3 Preveno contra incndio. 4 Sinalizao horizontal a sistemas de segurana. 5 Coberturas, revestimentos, acabamentos, pisos, impermeabilizao, pintura e noes de concreto. 6 Pavimentos rgidos e flexveis. 7 Conceitos de manuteno preventiva e corretiva. 8 Materiais de Construo. 9 Modelos de estruturas. 10 Estudos ambientais. 11 Mecnica de solos e fundaes. 12 Estruturas isostticas. 13 Conforto ambiental. 14 Topografia e cartografia. 15 Tecnologia da construo. 16 Teoria das estruturas. 17 Instalaes eltricas e especiais. 18 Fotointerpretao. 19 Gerenciamento de construes. 20 Execuo de projetos arquitetnicos e elaborao de especificaes tcnicas para execuo de obras e servios de Engenharia em edifcios pblicos e industriais. 21 Estrutura de edificaes. 22 Instalaes prediais. 23 Comunicao visual. 24 Isolamento trmico. 25 Isolamento acstico. 26 Sistema virio. 27 Alvenaria. 28 Estruturas de ao, madeira e concreto. 29 Esquadrias. 30 Gerncia de projetos. CARGO 19: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA ELTRICA 1 Conceitos bsicos de sistemas de corrente alternada. 2 Grandezas fasoriais: tenso e corrente. 3 Impedncia e potncia complexas. 4 Potncias ativas, reativa e aparente. 5 Fator de potncia. 6 Energia. 7 Medio de grandezas eltricas. 8 Conceitos bsicos de sistemas trifsicos. 9 Grandezas de linha e de fase. 10 Potncia trifsica. 11 Fator de potncia e compensao de potncia reativa. 12 Conexes trifsicas de geradores, cargas e transformadores. 13 Componentes simtricas. 14 Modelagem de sistemas eltricos de potncia. 15 Geradores. 16 Transmissores. 17 Linhas de transmisso. 18 Cargas. 19 Anlise de sistemas eltricos de potncias. 20 Gerao, transmisso e distribuio. 21 Fluxo de carga. 22 Curto-circuitos simtricos e assimtricos. 23 Noes de estabilidade. 24 Converso eletromecnica de energia. 25 Circuitos magnticos, transformadores, mquinas de corrente contnua, motores de induo e mquinas sncronas. 26 Instalaes eltricas. 26.1 Instalaes eltricas e iluminao prediais, instalaes industriais, quadro de comando de motores. 26.2 Fundamentos da

manuteno de sistemas eltricos. 27 Sistemas e Unidades de Medidas: unidades fundamentais e derivadas do Sistema Internacional de Unidades CARGO 20: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA ELETRNICA 1 Materiais eltricos e eletrnicos; materiais Condutores: caractersticas dos materiais condutores; resistividade, condutividade eltrica, condutividade trmica, coeficiente de temperatura, tenso de contato, fora termoeltrica, efeito Hall. 2 Contato eltrico: consideraes, fenmenos e propriedades; ricochete, durabilidade e resistncia de contato. 3 Materiais semicondutores: teoria bsica dos semicondutores; tipos e caractersticas; purificao e dopagem; juno semicondutora e componentes tpicos. 4 Materiais Isolantes: dieltricos; polarizao e constante dieltrica; condutividade superficial; fator de perdas; descarga eltrica e rigidez dieltrica; propriedades mecnicas, trmicas e fisioqumicas; materiais utilizados industrialmente; isolantes lquidos, slidos e pastosos. 5 Materiais magnticos: caractersticas e teoria bsica dos materiais magnticos; domnios; magnetizao, anisotropia, magnetostrio e deformaes; correntes parasitas; materiais utilizados em ncleos magnticos e ms. 6 Circuitos eltricos e Eletrnicos: Teoria de circuitos: Leis que regem e elementos que compem os circuitos lineares; teoremas bsicos de circuitos; circuitos equivalentes; quadripolos; fontes controladas; transformadas de Laplace e Fourier aplicadas a circuitos. 7 Eletrnica: diodos semicondutores, transistores bipolares e transistores de efeito de campo: funcionamento, caractersticas e aplicaes; polarizao e estabilidade. 8 Amplificadores de um ou mais estgios; resposta em altas e baixas frequncias; amplificadores realimentados. 9 Osciladores. 10 Funcionamento, caractersticas e aplicaes de amplificadores operacionais. 11 Circuitos eletrnicos no lineares. 12 Sistemas Digitais: lgica booleana e aritmtica binria; variveis, funes e operaes binrias; bases numricas; circuitos combinacionais e sequenciais; mquinas de estado; famlias lgicas: TTL e CMOS. 13 Computadores digitais; memrias principais de microprocessadores. 14 Sistemas de Comunicao e Telecomunicaes: Teoria da comunicao: sinais: caractersticas, tipos, espectro; modulao de sinais: amplitude frequncia, fase e pulso; codificao; transmisso de sinais e dados. 15 Rudo. 16 Eletromagnetismo: ondas planas; polarizao, reflexo, refrao e difrao de ondas eletromagnticas; linhas de transmisso e guias de onda; antenas, irradiao e propagao. 17 Sistemas de Medio e Controle Eltrico e eletrnico: Medio e Erro: definies; exatido e preciso; algarismos significativos; tipos de erro; anlise estatstica e probabilidade de erros; erros-limite. 18 Sistemas e Unidades de Medidas: unidades fundamentais e derivadas do Sistema Internacional de Unidades; unidades eltricas e magnticas. 19 Padres de medio: definies; classificao de padres; padres eltricos. 20 Calibrao. 21 Caractersticas de Desempenho de Instrumentos. 22 Instrumentos Indicadores Eletromecnicos: galvanmetros e o mecanismo de bobina mvel e m permanente; indicadores de CC CA; ampermetros, voltmetros e ohmmetros; medidores de energia e fator de potncia. 23 Medio com pontes: operao e tipos de pontes de medio. 24 Instrumentos Eletrnicos: voltmetro, ampermetro, multmetro, medidor de impedncias medidor de RF, osciloscpio, geradores de sinais, analisadores de distoro e espectro, frequencmetro, medidor de perodo e contadores. 25 Transdutores e Sistemas de Medio: classificao e seleo; extensmetros e transdutores de deslocamento; medio de temperatura; dispositivos fotossensveis. 26 Sistemas de Aquisio e Teste Computadorizados: interfaces: multiplexao; testes automatizados; controle digital. 27 Engenharia de controle:

modelagem de sistemas dinmicos; resposta transitria e permanente ; diagrama de blocos e fluxo de sinal; equaes e variveis de estado; critrios de estabilidade; anlise nos domnios tempo e frequncia compensadores de ganho e fase; controladores PID. 28 Condicionamento, Conversao e Recuperao de Sinais: filtragem, mdia correlao e codificao; conversores A/D e D/A. 29 Regulao de Velocidade e Sistema de excitao de geradores hidrulicos. 30 Procedimentos de Rede do NOS. 31 Legislao da ANEEL; Legislao da ANATEL. NR10 e NR 33. CARGO 21: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA MECNICA 1 Mquinas de combusto. 2 Sistema de refrigerao de motores. 3 Bombas. 4 Compressores; geradores. 5 Tubulaes industriais e vlvulas. 6 Acoplamentos. 7 Quadros de comando, controle e proteo. 8 Lubrificantes e lubrificao industrial. 9 Anlise de vibrao. 10 Balanceamento dinmico. 11 Alinhamento, dimensionamento de eixos, mancais e rolamentos. 12 Transmisso por correias e engrenagens. 13 Ensaios destrutivos e no destrutivos. 14 Mquinas de elevao (elevadores montacargas e guindastes), escadas rolantes, esteiras transportadoras. 15 Balanas. 16 Sistema de refrigerao industrial e ar condicionado. 17 Troca de calor. 18 Sistemas e Unidades de Medidas: unidades fundamentais e derivadas do Sistema Internacional de Unidades. CARGO 22: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA DE PRODUO 1 GESTO DA PRODUO. 1.1 Gesto de Sistemas de Produo 1.2 Planejamento e Controle da Produo 1.3 Gesto de Processos Produtivos 1.3.1 Gesto de Processos Produtivos Discretos 1.3.2 Gesto de Processos Produtivos Contnuos. 1.3.3 Gesto da Automatizao de Equipamentos e Processos. 1.3.4 Planejamento de Processos Produtivos. 1.4 Gerncia de Projetos. 2 GESTO DA QUALIDADE. 2.1 Controle Estatstico da Qualidade. 2.2 Normalizao e Certificao da Conformidade. 2.3 Organizao Metrolgica para a Qualidade. 2.4 Confiabilidade de Equipamentos, Mquinas e Produtos. 2.5 Qualidade de Servios. 2.6 Sistemas e Unidades de Medidas: unidades fundamentais e derivadas do Sistema Internacional de Unidades. 3 GESTO ECONMICA. 3.1 Engenharia Econmica. 3.2 Gesto de Custos. 3.3 Gesto Financeira de Projetos. 3.4 Gesto de Investimentos. 4 GESTO DO PRODUTO. 4.1 Pesquisa de Mercado. 4.2 Planejamento do Produto. 4.3 Metodologia de Projeto do Produto. 4.4 Engenharia de Produto. 4.5 Marketing do Produto. 5 GESTO ESTRATGICA E ORGANIZACIONAL. 5.1 Avaliao de Mercado. 5.2 Planejamento Estratgico. 5.2.1 anlise estrutural de indstrias. 5.2.2 estratgias genricas. 5.2.3 cadeia de valor. 5.2.4 Competncias centrais. 5.2.5 Viso baseada em recursos. 5.3 Estratgias de Produo. 5.4 Empreendedorismo. 5.5 Organizao Industrial. 5.6 Estratgia de Marketing. 5.7 Redes de Empresas e Gesto da Cadeia Produtiva. 5.8 Engenharia de processos de negcio. 5.9 Sistemas integrados de gesto ("ERP"). 5.10 Gesto de Resultados (incluindo Balanced Scorecard). 6 GESTO DO CONHECIMENTO ORGANIZACIONAL. 6.1 Gesto da Inovao. 6.2 Gesto da Tecnologia. 6.3 Gesto da Informao de Produo. 6.3.1 Sistemas de Informaes de Gesto. 6.3.2 Sistemas de Apoio Deciso. 7 GESTO AMBIENTAL. 7.1 Gesto de Recursos Naturais. 7.2 Gesto Energtica. 7.3 Gesto de Resduos Industriais.

CARGO 23: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ENGENHARIA DE SEGURANA DO TRABALHO 1 Acidente do trabalho. 1.1 Conceito tcnico e legal. 1.2 Causas e consequncias dos acidentes. 1.3 Taxas de frequncia e gravidade. 1.4 Estatsticas de acidentes. 1.5 Comunicao e registro de acidentes. 2 Preveno e Controle de Riscos em Mquinas, Equipamentos e Instalaes. 2.1 Movimentao de cargas. 2.2 Transporte de produtos perigosos. 2.3 Instalaes eltricas. 2.4 Obras e servios de construo civil. 2.5 Operao de mquinas e ferramentas. 3 Higiene Ocupacional. 3.1 Programa de preveno de riscos ambientais. 3.2 Gases e vapores. 3.3 Aerodispersides. 3.4 Ficha de segurana de produtos qumicos. 3.5 Limites de tolerncia e de exposio. 3.6 Exposio ao rudo. 3.7 Exposio ao calor e ao frio. 3.8 Trabalho sob condies hiperbricas. 4 Proteo contra Incndio. 4.1 Propriedade fsico-qumica do fogo. 4.2 O incndio e suas causas. 4.3 Classes de incndio. 4.4 Mtodos de extino. 4.5 Agentes e aparelhos extintores. 4.6 Extintores de incndio. 4.7 Sistemas de preveno e combate a incndios. 4.8 Brigadas de incndio. 4.9 Planos de emergncia e auxlio mtuo. 4.10 Armazenamento de produtos inflamveis. 4.11 Anlise da NR-23. 5 Gerenciamento de Riscos. 5.1 Investigao e anlise de acidentes. 5.2 Tcnicas de anlise de risco. 6 Gesto de Segurana, Meio Ambiente e Sade. 6.1 Sistemas de Gesto de Segurana e Sade Ocupacional de acordo com a OHSAS 18001. 6.2 Diretrizes da OIT para a Segurana e Sade Ocupacional. 7 Doenas do Trabalho. 7.1 Programa de Controle Mdico de Sade Ocupacional. 7.2 Doenas Osteomusculares Relacionados ao Trabalho. 7.3 Suporte Bsico Vida. 7.4 Primeiros Socorros. 8 Ergonomia. 8.1 Conforto ambiental. 8.2 Organizao do trabalho. 8.3 Mobilirio e equipamentos dos postos de trabalho. 8.4 Influncia na ergonomia da iluminao, cores, clima etc. 8.5 Ergonomia e preveno de acidentes. 8.6 Transporte, armazenamento, movimentao e manuseio de materiais. 8.7 Estudo da NR-17 - ergonomia. 9 Legislao e Normas Tcnicas da ABNT relativas a segurana do trabalho. 10 Equipamentos de proteo individual. 11 Gesto integrada de Segurana, Meio Ambiente e Sade Ocupacional. 12 Transporte de produtos perigosos; Transferncia e descarte de Produtos Qumicos. 13 Equipamento de Proteo Individual (EPI). 14 Equipamento de Proteo Coletiva (EPC). 15 Inspeo de segurana. 16 Anlise da NR-6. 17 Medicina do trabalho. 17.1 Toxicologia. 17.2 Doenas profissionais. 17.3 Agentes causadores de doenas: Fsicos Biolgicos - Qumicos. 18 Adicionais ocupacionais (de insalubridade, de periculosidade e por exposio a irradiao ionizante). CARGO 24: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: GESTO DA INFORMAO 1 Conceitos fundamentais: Programao orientada a objetos; UML; CMMi; RUP. Arquiteturas: cliente-servidor, SOA; Conceito de servidor de aplicao. Redes de Computadores e Internet: Conceitos bsicos em comunicao de dados. Protocolo TCP/IP; Segurana: firewalls, mecanismos de autenticao, criptografia, certificados digitais. 2 Administrao de dados: Informao e Gesto Informacional: Conceituao e Papel da Informao nas Organizaes. Implantao da Gesto Informacional: custos e benefcios. Entidades e Relacionamentos; Mapeamento de Cardinalidade; Normalizao e dependncia funcional; Auto-relacionamento; Agregao; Mapeamento de restries de integridade; Generalizao e especializao. Padronizao dos Modelos de Dados; Administrao de Dicionrio de Dados. 3 Banco de dados: Conceitos. Abstrao de Dados; Instncias e Esquemas; Independncia de Dados; Mapeamento a partir do

Modelo Entidade-Relacionamento; Sistemas Gerenciadores de Banco de Dados (ORACLE, MySQL, PostgreSQL e SQL Server). Linguagens de definio e manipulao de dados. Linguagem de consulta - SQL; conceitos e comandos PLSQL e TransacSQL. Triggers e stored procedures, functions, packages e views. Controle e processamento de transaes: recuperao, concorrncia, gerncia e protocolos de transaes distribudas. Bancos de dados distribudos. Controle de proteo, integridade e concorrncia. Backup, recuperao, administrao/configurao, tunning e deteco de problemas em banco de dados. Microsoft SQL Server: fundamentos, administrao e configurao, performance e deteco de problemas. Segurana. Camadas de acesso a dados (ODBC, JDBC); Monitores de processos e transaes (TP monitors). 4 Suporte deciso: Conceitos bsicos; Modelagem Dimensional; Metodologia de desenvolvimento de Data Warehouse (Planejamento, Modelagem, Construo, Utilizao e Gerncia); Tcnicas para Extrao, Transformao e Carga (ETL); Caractersticas e funcionalidades de uma ferramenta OLAP. Data Mining. CARGO 25: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: GOVERNANA DE TECNOLOGIA DA INFORMAO 1 Planejamento organizacional. As escolas de planejamento estratgico, Balanced Scorecard, planejamento baseado em cenrios (cenrios prospectivos). Matriz SWOT. 2 Arquitetura e modelagem organizacional, estruturas funcionais, matriciais, por processos e por projetos. 3 Mapeamento, anlise e racionalizao de processos organizacionais, 6 sigma, indicadores de desempenho. Conceitos de gesto de processos de negcios (BPM). Notao BPMN. Ferramentas de automao de processos de negcio (BPMS). Gesto por processos e seus impactos na gesto de pessoas. 4 Cultura Organizacional: conceitos, elementos, influncias intra e supra-organizacionais e mudana organizacional. Clima organizacional. Motivao. Poder e Gesto de Conflitos. 5 Processo de tomada de deciso. Anlise e soluo de problemas. 6 Alinhamento estratgico de TI: Conceito, desdobramento das estratgias empresariais e dos fatores crticos de sucesso em requisitos de TI, Balanced Scorecard de TI. 7 Plano Estratgico de Tecnologia da Informao - PETI e Plano Diretor de Tecnologia da Informao - PDTI: Viso geral, objetivos e importncia. 8 Modelos de governana corporativa: caractersticas, objetivos e benefcios. COSO. IBGC. 9 Modelos de governana de TI: caractersticas, objetivos e benefcios. COBIT, NBR ISO/IEC 35000, eSCM. 10 Portfolio de TI: Objetivos, importncia, tipos de projetos, servios e ativos do portfolio de TI. Modelos e tcnicas de Gesto de Portfolio: caractersticas, objetivos, aplicabilidade e benefcios. 11 Gesto de Servios de TI. ITIL: Conceitos bsicos, estrutura, objetivos, aplicabilidade e benefcios do modelo. NBR ISO/IEC 20000. 12 Gerncia de projetos: conceitos bsicos, reas de conhecimento e processos do PMBOK. Escritrio de Projetos (PMO). 13 Gesto da informao. Estratgia e Poltica da informao. Processos de gerenciamento da informao. Arquitetura da informao. Fundamentos de sistemas de informao: conceitos e tipos. 14 Gesto do conhecimento. Organizaes como comunidades de conhecimento; processos de disseminao do conhecimento. 15 Gesto por Competncias: conceito e tipologia de competncias, modelo integrado de Gesto por Competncias, identificao e priorizao de competncias importantes para o negcio e mapeamento de perfis profissionais por competncias. 16 Engenharia de software: princpios, tcnicas de levantamento de requisitos, anlise e projetos orientados a objetos, ciclo de vida de software, processo de testes de software. Processos de desenvolvimento de software. CMMi e MPS.Br. Metodologias RUP, XP e Scrum. Anlise por pontos de funo (APF). Notaes UML,

ER e BPMN. Modelagem de Processos de Negcio (BPM). Arquitetura orientada a servios (SOA). Noes de software livre. 17 Anlise de viabilidade tcnica e econmica de projetos de TI. Anlise de TCO (total cost of o wnership). CARGO 26: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INFRAESTRUTURA E REDES DE TECNOLOGIA DA INFORMAO 1 Gerenciamento de servios: ITIL: Conceitos bsicos, estrutura e objetivos. NBR ISO/IEC 20000. 2 Sistemas Operacionais: LINUX; UNIX; Windows Server (2003, 2008): Conceitos, estruturas, utilitrios, comandos, configurao e instalao; Clusterizao. Virtualizao. Computao em GRID e cloud computing. Balanceamento de carga. Gerenciamento de memria: alocao, paginao, segmentao, memria virtual; Gerenciamento de processador: chamadas, comunicao interprocesso, agendamento, multiprogramao, processos concorrentes, primitivas de sincronizao. Gerenciamento de perifricos: hardware e software de entrada e sada, deadlock, conteno. Sistema de Arquivos - FAT e variaes, NTFS, VSAM, Ext3, inodo (inode); Gerenciamento lgico de volumes; Conceitos, estruturas, definio, alocao, organizao de arquivos, proteo, tipos de registros, mtodos de acesso; Armazenamento distribudo, RAID, conceitos de rede de armazenamento (SAN) e servidores de armazenamento (NAS). Noes de Arquitetura Distribuda - Principais conceitos e componentes; Modelo cliente/servidor em 2 e 3 camadas; Sincronismo e filas de mensagens; Temporizao e redundncia; Chamadas remotas. Linguagens de Script (Shell, SQL, JCL, BAT, VBS). Arquivos de Configurao XML. 3 Administrao de Servios: Servidores de Aplicao: Apache, IIS, Tomcat e JBoss. Administrao de servidores de correio eletrnico (Lotus Notes, Microsoft Exchange e solues livres). Servios de diretrio: Microsoft Active Directory (AD) e LDAP. Noes de Web services. 4 Segurana da Informao: NBR ISO/IEC 27001 e NBR ISO/IEC 27002: histrico do modelo, estrutura, objetivos, categorias, aplicabilidade e benefcios do modelo. Poltica de Segurana. Gesto de Continuidade do Negcio (planos de contingncia e recuperao de desastres). Anlise de Riscos. Classificao e controle dos ativos de informao. Controles de acesso fsico e lgico. Avaliao de Segurana de Aplicaes. Auditoria de segurana. Conceitos de backup e recuperao de dados. Tratamento de incidentes e problemas. Identificao de tipos de cdigos maliciosos: vrus e outros malware. Ataques e protees relativos a hardware, software, sistemas operacionais, aplicaes, bancos de dados, redes, pessoas e ambiente fsico. Segurana de Rede: conceitos bsicos, principais ameaas, vulnerabilidades, sistemas de proteo (IDS, IPS, firewall, Proxy, NAC, VLANs), monitoramento de trfego, sniffer de rede, VPN, interpretao de pacotes, deteco e preveno de ataques (phishing/scam, spoofing, DoS, flood). Criptografia simtrica e assimtrica: conceitos e aplicabilidade. Certificao, autenticao e assinatura digital: conceitos e aplicabilidade. 5 Redes: Redes LAN, WAN e Metropolitanas; Arquiteturas de Redes, Topologias e Equipamentos; Modelo OSI; Arquitetura TCP/IP, Endereamento IP, subredes, VLSM e CIDR; Meios de comunicao: Equipamentos de conexo e transmisso, repetidores, switches e roteadores; Funcionamento da camada de enlace (servios, enquadramento, controle de erro e fluxo); Tecnologia Ethernet: IEEE 802.3, HDLC e PPP e Padres IEEE 802.2; IEEE 802.1q; IEEE 802.1p; Protocolos: IPv4, DHCP, ARP e RARP. Protocolos de aplicao do TCP/IP: portas, resoluo de nomes, DNS, FTP, NFS, ICMP, TELNET, HTTP e SNMP. Infra-estrutura de Redes LAN e WAN - Conceitos bsicos de cabeamento estruturado. Funcionalidades dos ativos de redes; Conceitos de

Instalao, configurao e monitorao dos ativos de rede, de gateways de aplicao, roteadores, comutadores e switches de camada 2 e 3. Padro IEEE 802.3af. Redes Sem Fio LAN e WAN - Redes Wi-Fi (Wireless Fidelity) padres IEEE 802.11 a, b e g. Protocolo CSMA/CA, Redes Wi-Max (Worldwide Interoperability for Microwave Access) padro IEEE 802.16 e IEEE 802.16e e protocolos de segurana de redes sem fio. Telefonia e Videoconferncia - Tecnologia de Voz sobre IP e telefonia IP: arquitetura, equipamentos e configurao; Tcnicas de Voz e Vdeo, Telefonia e Videoconferncia IP H.323 e SIP. VoIP e requisitos de Qualidade de Servio (QoS) para Voz e Vdeo. Redes IP - "IP multicasting", Tcnicas de Qualidade de servio (QoS) em redes IP ("DiffServ"); algoritmos de roteamento esttico e dinmico (vetor distncia e estado de enlace), Protocolos de roteamento: RIP, OSPF e BGP. MPLS (Multiprotocol Label Switching). Internet. Redes Virtuais Privadas (VPN). Armazenamento de dados: rede SAN (Storage Area Network). Switches e Directors Fiber Channel; ISL - Inter Switch Link; conceitos de fitotecas; conceitos de armazenamento de discos. CARGO 27: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INFORMTICA APLICADA A METROLOGIA LEGAL 1 Organizao e arquitetura de computadores: lgebra booleana; sistema de numerao e codificao; aritmtica computacional; arquitetura e componentes funcionais de computadores RISC e CISC: processador, memria, barramentos, dispositivos de entrada/sada, perifricos, dispositivos de armazenamento; conceitos de processamento paralelo e distribudo; gerenciamento de E/S: estrutura de E/S (polling, interrupes, acesso direto memria); estrutura do disco; escalonamento de disco; cache de disco; clusters e grids. 2 Princpios de automao: sistemas digitais de aquisio de dados, condicionamento de sinal, sample-hold, conversores A/D e D/A; dispositivos tpicos de controle analgico (eletroeletrnicos, hidrulicos e pneumticos); controladores ONOFF, PID; sinais contnuos e discretos; sistemas lineares e no lineares: resposta impulsiva; resposta no tempo; resposta em frequncia; estabilidade; controladores digitais: quantizao, escalonamento; vlvulas de regulao; CLP (controlador lgico programvel); sensores; atuadores inteligentes; noes de controle de malha aberta e malha fechada. 3 Teoria da computao: linguagem de computadores: linguagens formais e autmatos, hierarquia de Chomsky, mquina de Turing; compitadores: anlises lxica, sinttica e semntica; combinatria e teoria dos grafos; complexidade e eficincia de algoritmos. 4 Sistemas operacionais: multiprogramao e multiprocessamento; sistemas de arquivos: conceito de arquivo e diretrio, mtodos de acesso, alocao de arquivos (contnua, encadeada, indexada, por extenso), proteo de arquivo; gerenciamento de memria: algoritmos de alocao de memria, fragmentao, paginao segmentao, memria virtual, substituio de pginas; gerenciamento de processos: comunicao entre processos, threads, escalonamento, primitivas de sincronizao; interface grfica; sistemas com requisitos de tempo real: polticas de escalonamento, linguagens e executivo. Microsoft Windows Vista/2003/XP/2000 e Linux: conceitos, estruturas, utilitrios, comandos, configurao e instalao; sistemas de tempo real: diferenas para sistemas operacionais convencionais; sistemas de tempo real proprietrios e de cdigo aberto: VxWorks, QNX e MontaVista. 5 Redes de computadores: tipos; topologias; arquiteturas; protocolos; meios de transmisso; cabeamento estruturado (NBR 14.565); elementos de interconexo (hub, switch, roteador, gateway); modelo de referncia OSI; TCP/IP; tecnologias de redes locais (Ethernet) e de redes de longas distncias (redes pticas, SONET, MPLS); Transmisso

PLC (Power Line Connection), Redes sem Fio: Wi-Fi e WiMax, redes celulares 2 e 3G; protocolos/servios: IPv4, IPv6, TCP, UDP, IPSec, ARP, RARP, ICMP SNMP, DNS, DHCP, SMTP, HTTP, FTP, TELNET, LDAP, NAT; servidores Web, E-mail, arquivos; proxy; QoS; VoIP; sistema multimdia: compresso (mpeg), sincronizao e protocolos (RTP, RTCP). 6 Banco de dados: modelagem de dados; modelo relacional; modelo entidade relacionamento (MER); mapeamento do MER para o modelo relacional; lgebra relacional; normalizao; projeto de bancos de dados; SQL (ANSI): linguagem de definio de dados (DDL) e linguagem de manipulao de dados (DML); conceitos de: transao, transaes distribudas, concorrncia, recuperao, integridade; procedimentos (Stored Procedure); vises (views), gatilhos (triggers); SGBDs: Oracle, SQL Server, MySQL. 7 Estruturas de dados e Linguagens. Lgica de programao; paradigmas de programao; tipos abstratos de dados (lista, fila, pilha, arvores, heap); estruturas de dados e arquivos; mtodos de acesso, ordenao e pesquisa; hash; modularizao: acoplamento entre mdulos e coeso de mdulos; sub-rotinas: chamadas por endereo, referncia e valor; programao estruturada; descrio de dados; linguagem de programao: tipos de linguagem; compilador, ligador, montagem, carregador e interpretador; tipos de dados, operadores, variveis estticas e dinmicas; escopo de variveis; procedimentos: passagem de parmetro por valor, por endereo e por referncia; Assembly, C, C++, Java, JSP, HTML, XML. 8 Sistemas de informao: modelos de ciclo de vida de desenvolvimento de software; anlise e projeto orientado a objetos/aspectos; UML; metodologias e ferramentas de desenvolvimento; tcnicas e estratgias de teste de software; qualidade no desenvolvimento de software; manuteno de software; reengenharia; engenharia reversa; mtricas de software; CMMI, modelo cliente/servidor de 2, 3 e n camadas, web services; 32 design patterns, ontologias, sries ISO 20000 e 25000. 9 Segurana: Confidencialidade, integridade e disponibilidade; ameaas, ataques vulnerabilidades e riscos; mecanismos, servios e polticas de segurana; criptografia assimtrica (RSA, Elptica) e simtrica (3DES, AES), hashes criptogrficos (MD-5, SHA-1); autenticao e autorizao; assinaturas digitais; ICPBrasil; IDS/IPS, controle de acesso (incluindo RBAC); firewalls; DMZ; listas de controle de acesso (ACLs); ataques de negao de servio (Denial of Service - DoS), sistemas de deteno/preveno de intruso (IPS/IDS); Kerberos, PGP, VPN: SSL e TLS; segurana de servidores (WWW, SMTP, POP, FTP e DNS); planos de contingncia; auditoria; recuperao de desastres, resposta a incidentes; srie ISO27000. CARGO 28: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INSTRUMENTAO DA DINMICA DOS FLUIDOS 1 Eletricidade e Eletrnica: Elementos lineares bsicos de circuitos: resistores, capacitores, indutores, fontes independentes e dependentes. Teoremas e leis de circuitos: Kirchhoff, Thvenin, Norton, Miller. 2 Anlise de circuitos lineares em regime transitrio e permanente. 3 Circuitos em ponte: Utilizao de pontes em circuitos de instrumentao. 4 Elementos no lineares de circuitos: diodo retificador, diodo Zener. Circuitos retificadores sem e com filtro. 5 Estabilizadores. 6 Circuitos ceifadores, grampeadores, multiplicadores de tenso. 7 Elementos ativos: transistores bipolares e de efeito de campo. 8 Amplificadores transistorizados. 9 O transistor como chave. 10 Portas lgicas. 11 Circuitos sequenciais. 12 Mtodos de converso Analgica/Digital e Digital/Analgica. 13 Amplificador operacional ideal e no ideal. 14 Circuitos lineares e no lineares bsicos e de instrumentao com Amp Op. 15 Filtros ativos. 16 Osciladores. 17 Funes de transferncia e resposta em frequncia. 18 Mecnica dos Fluidos. 18.1 Conceitos fundamentais: o fluido como um contnuo,

campo de velocidade, campo de tenso, viscosidade. 18.2 Esttica dos fluidos: equao bsica do campo de presso, manometria, fora hidrosttica sobre superfcies submersas, empuxo, flutuao, estabilidade. 18.3 Equao de Bernoulli. 19 Mtodos Experimentais: Princpio de padronizao de vazo: mtodo gravimtrico, provadores; Medidores de vazo de fluidos. 19.1 Por diferencial de presso: placas de orifcio, Venturi, tubos de Pitot. 19.2 rea varivel: rotmetros. 19.3 Medidores por princpios trmicos. 19.4 Magnticos. 19.5 Acsticos. 19.6 Por emisso de vrtices. 19.7 Por efeito Coriolis. 19.8 Velocidade crtica: bocais snicos. 19.9 Deslocamento positivo: pistes rotativos, diafragma. 19.10 Velocimtricos: turbinas. 19.10.1 Anemometria trmica: princpios, circuito de controle, medies de campos mdios e flutuantes em 1 e 2 direes, dinmica dos anemmetros a temperatura constante, operao a corrente constante. 19.10.2 Anemometria por efeito Doppler: princpios, teoria de reflexo da luz para partculas pequenas, gerao do sinal, aquisio e tratamento do sinal, sistemas de anemometria laser-Doppler. 19.10.3 Velocimetria por imagem de partculas: princpios: traadores, fontes de luz, registro de imagem, tcnicas de gravao, tcnicas de aquisio e de tratamento de imagem, ps-processamento de imagem. CARGO 29: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA ACSTICA E VIBRAES Programa da prova objetiva: 1. Metrologia Geral: 1.1. Grandezas e suas definies; 1.2. Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008); 1.3. Sistema Internacional de Unidades (SI, 8a edio); 1.4. Hierarquia metrolgica nacional: rastreabilidade, disseminao e comparabilidade; Calibrao de padres e instrumentos de medio; 2. Acstica, ultrassom e vibraes: 2.1 Conceitos bsicos de ondas mecnicas: Frequncia, Comprimento de onda, Perodo, Velocidade de propagao, amplitude, valor eficaz, notao fasorial. 2.2 Fundamentos bsicos de acstica: gerao, propagao, ondas planas, ondas esfricas, fenmenos de transmisso (absoro, reflexo, ondas estacionrias, difrao e impedncia).. Grandezas acsticas: presso, potncia e intensidade. Escalas lineares e logartmicas. Escalas em decibel. Fundamentos de vibrao: sistema de 1 grau de liberdade, movimento oscilatrio, vibrao livre, movimento excitado harmonicamente. Grandezas de movimento vibratrio: deslocamento, velocidade e acelerao. 2.3 Conceitos bsicos de anlise de sinais: em nvel global, por banda de frequncia e por anlise espectral; Tipos de sinais: determinsticos, harmnicos, pseudo-aleatrios, aleatrios, transientes e, no estacionrios. Transformadas discreta e rpida de Fourier (DFT e FFT), filtros. Anlise de sinais no domnio do tempo e das frequncias. 2.4 Conceitos bsicos de instrumentao: sensibilidade de transdutores, faixa dinmica, funo de resposta em frequncia, faixa linear de resposta. Princpio de funcionamento e de aplicao de microfones capacitivos, acelermetros piezoeltricos, hidrofones. 2.5 Conceitos bsicos de medio de: nvel de presso sonora, de isolamento sonoro, absoro sonora. de potncia sonora, de potncia ultrassnica, mapeamento de feixe ultrassnico, vibraes com transdutores inerciais como acelermetros e transdutores sem contato. 2.6 Conceitos bsicos de calibrao por comparao e por mtodos absolutos de medidores de nvel sonoro, calibradores de nvel sonoro, microfones,, hidrofones e transdutores de vibrao. 3. Incerteza e estatstica aplicada metrologia: conceitos bsicos de estatstica: mdia, mediana, desvio padro, amplitude, varincia. amostragem. repetitividade e reprodutibilidade; conceitos bsicos de Incerteza de medio (incerteza

padro tipos A e B, incerteza combinada, incerteza expandida, segundo o Guia de Expresso de Incerteza de Medio). Programa da prova discursiva: 1 Instrumentao de medio em acstica, ultrassom e vibraes. 1.1 Principio bsico de funcionamento e aplicao de: microfones capacitivos e medidores de presso sonora. 1.2 Principio bsico de funcionamento e aplicao de transdutores emissores de ultrassom e hidrofones. 1.3 Princpio bsico de funcionamento e de aplicao de acelermetros. 2 Tcnicas de medio em acstica, ultrassom e vibraes. 2.1 Conceitos bsicos de medio de nvel de presso sonora. 2.2 Conceitos bsicos de medio de potncia ultrassnica e mapeamento de feixe ultrassnico. 2.3 Conceitos bsicos de medio de vibraes com acelermetros e por tcnicas sem contato. CARGO 30: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA BIOQUMICA E BIOLOGIA MOLECULAR 1- Preparo de solues tampo; Instrumentao para medio de pH em laboratrio de bioqumica. 2- Espectroscopia UV/visvel; Construo de curvas-padro para quantificao. 3 Biossegurana, desinfeco e esterilizao de vidraria e meios de cultura; Isolamento, cultura e preservao de micro-organismos. 4 Isolamento de DNA plasmidial e genmico; Isolamento de RNA total e de mRNAs; Eletroforese de cidos nucleicos. 5 Metodologia do DNA recombinante; Clonagem e construo de bibliotecas genmicas e de cDNA; Triagem de bibliotecas genmicas com sondas; Marcao de sondas de cidos nucleicos; Triagem de bibliotecas de expresso; Deteco de protenas com anticorpos marcados. 6 PCR e RT-PCR; clonagem de produtos de PCR; PCR em tempo real. 7 Sequenciamento automatizado de DNA. 8 Qumica de protenas, estrutura, purificao, caracterizao, quantificao, sequenciamento e cromatografia e eletroforese de protenas. 9 Enzimas, cintica, fatores que influenciam a atividade enzimtica. 10 Carboidratos, caracterizao, estrutura, quantificao, degradao e purificao. CARGO 31: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA AO CULTIVO DE CLULAS 1 Biologia celular: estrutura e funo, proliferao, diferenciao. 2 Biologia tecidual: integrao estrutural e funcional. 3 Cultivo de clulas in vitro: condies bsicas necessrias, meios de cultura, condies fsicas e qumicas. 4- Culturas primrias de clulas humanas e animais. 5- Imortalizao, estabelecimento e caracterizao de linhagens celulares. 6. Caracterizao fenotpica de clulas cultivadas: morfologia, ultraestrutura, imunofluorescncia de elementos estruturais, expresso de marcadores superficiais (CDs), citometria de fluxo. 7. Caracterizao gentica: caritipo, fingerprinting, sequenciamento e expresso de genes de interesse especfico. 8. Manipulao gnica de clulas in vitro. 9. Caracterizao funcional de clulas cultivadas: expresso de genes marcadores de linhagens celulares (RT-PCR), sntese de protenas e de metabolitos de interesse, sua glicosilao, modificaes secundrias, estrutura secundria e terciria, atividade metablica. 10. Monitoramento de proliferao celular e de capacidade clonognica. 11. Clulas-tronco embrionrias: estabelecimento, manuteno e caracterizao. 12. Clulas-tronco adultas:

estabelecimento, manuteno e caracterizao. 13. Clulas-tronco induzidas (IPS): estabelecimento, manuteno e caracterizao. 14. Culturas tri-dimensionais e tecidoequivalentes. 15. Bioengenharia tecidual in vitro. Interao de clulas com matrizes tridimensionais. 16. Biomatriais de origem bigena e sintticos. 17. Expanso, scalingup, obteno da massa celular e de produtos de interesse industrial. 18. Uso de bioreatores. 19. Aplicao de clulas cultivadas em controles de qualidade e de citotoxicidade. 20. Aplicaes clnicas de cultivo de clulas in vitro. 21. Monitoramento microbiolgico e molecular de contaminantes. 22. Criopreservao.23. Biossegurana. 24. Administrao de dados, rastreabilidade de produtos e processos, legislao vigente nacional e internacional sobre o cultivo, circulao, distribuio e uso de clulas humanas e animais. CARGO 32: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA AO CULTIVO DE CLULAS ANIMAIS 1 Biologia celular: aspectos estruturais e funcionais. 2 Fisiologia celular. 3 Replicao, ciclo celular. 4 Organizao tecidual. 5 Aspectos celulares da embriognese. 6 Renovao celular, conceito de clulas-tronco, diferenciao celular. 7 Linhagens primrias. 8 Linhagens estabelecidas. 9 Caracterizao morfolgica, gentica e funcional de clulas. 10 Expanso de clulas, escala laboratorial, escala industrial. 11 Obteno de bioprodutos. 12 Cultivo de clulas em 3D, engenharia celular e tecidual. 13 Uso de clulas em controle de qualidade de processos e produtos industriais. CARGO 33: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA MICROSCOPIA DE MACROMOLCULAS 1 Aspectos bsicos da organizao celular. 2 Estrutura do ncleo celular; organizao do DNA em procariontes, em mitocndria e cloroplasto. 3 O DNA cinetoplstico. 4 Princpios gerais de microscopia eletrnica de varredura e transmisso. 5 Mtodos de preparo de macromolculas para anlise por microscopia eletrnica. 6 Materiais de referncia na rea de estrutura de macromolculas. CARGO 34: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA APLICADA MICROSCOPIA PTICA 1 Princpio e aplicao das microscopias de campo claro, campo escuro, contraste de fase, constraste interferencial diferencial e de fluorescncia. 2 Princpio e aplicao de vdeo microscopia. 3 Componentes e funcionamento do microscpio ptico em suas diferentes modalidades. 4 Fluorocromos: aplicao, propriedade, especificidade e filtros. 5 Princpio, aplicao, componentes e funcionamento do microscopio confocal de varredura a laser e microscpio multi-fton. 6 Princpio e aplicao da microscopia de fluorescncia espectral. 7 Princpios e aplicao das tcnicas de: imunofluorescncia, FISH, FRET, FRAP e Deconvoluo. CARGO 35: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA DA DINMICA DOS FLUIDOS

1 Fundamentos: Conceitos fundamentais: o fluido como um contnuo, campo de velocidade, campo de tenso, viscosidade. 2 Esttica dos fluidos: equao bsica do campo de presso, manometria, fora hidrosttica sobre superfcies submersas, empuxo, flutuao, estabilidade. 3 Equaes bsicas na forma integral para um volume de controle: conservao da massa, da quantidade de movimento linear, da energia. 4 Anlise diferencial dos movimentos dos fluidos: cinemtica, conservao da massa, equaes de Euler e de Navier-Stokes, escoamentos de Couette e de Hagen-Poiseuille. 5 Escoamento potencial: definio, equaes bsicas, superposio, fontes, circulao e vorticidade, soluo geral, a condio de Kutta. 6 Anlise de escoamentos em condutos: escoamento laminar plenamente desenvolvido, escoamento turbulento plenamente desenvolvido, perdas contnuas e localizadas. 7 Escoamento sobre superfcies externas: camada limite, arrasto, sustentao. 8 A modelagem matemtica da turbulncia: o conceito de viscosidade turbulenta, modelos algbricos e diferenciais. 9 Escoamento compressvel unidimensional: fundamentos da termodinmica, velocidade do som, a equao da energia, escoamento em dutos com seo varivel, ondas de choque normais, escoamento isentrpico atravs de dutos com seo varivel, bocais, efeitos do atrito. 10 Anlise dimensional e semelhana: teorema dos Pi, grupos adimensionais importantes, modelos e semelhana. 11 Mtodos Experimentais: Princpio de padronizao de vazo: mtodo gravimtrico, provadores. 11.1 Medidores de vazo de fluidos: por diferencial de presso: placas de orifcio, Venturi, tubos de Pitot, rea varivel: rotmetros, medidores por princpios trmicos, magnticos, acsticos, por emisso de vrtices, por efeito Coriolis, velocidade crtica: bocais snicos, deslocamento positivo: pistes rotativos, diafragma, velocimtricos: turbinas. 11.2 Anemometria trmica: princpios, circuito de controle, medies de campos mdios e flutuantes em 1 e 2 direes, dinmica dos anemmetros a temperatura constante, operao a corrente constante. 11.3 Anemometria por efeito Doppler: princpios, teoria de reflexo da luz para partculas pequenas, gerao do sinal, aquisio e tratamento do sinal, sistemas de anemometria laser-Doppler. 11.4 Velocimetria por imagem de partculas: princpios, traadores, fontes de luz, registro de imagem, tcnicas de gravao, tcnicas de aquisio e de tratamento de imagem, ps-processamento de imagem, medies tridimensionais em domnios planos. CARGO 36: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA DAS GRANDEZAS ELETROMAGNTICAS 1 Carga, corrente e tenso eltrica; Elementos de circuitos: resistores, capacitores, indutores e fontes; Anlise nodal e por malha; Lei de Ohm, leis de Kirchhoff; Teoremas de rede: superposio, Thvenin e Norton; Reatncia capacitiva e indutiva, impedncia e fator de dissipao. 2 Conceitos de sistemas de tenso e corrente alternada, circuitos em corrente contnua e alternada. 3 Grandezas fasoriais: tenso e corrente. 4 Potncias: ativa, reativa e aparente. 5 Conceitos bsicos de sistemas trifsicos; Grandezas de linha e de fase. Fator de potncia e compensao reativa. 6 Mtodos de medio: comparao (potenciomtrico, pontes etc.), substituio, leitura direta, leitura indireta. 7 Medidores analgicos e digitais de: resistncia, capacitncia, indutncia, tenso e corrente contnua e alternada, potncia e energia; osciloscpio; detetores de nulo; conversores trmicos e transformadores de medio. 8 Aterramento, blindagem e guarda de equipamentos em alta e baixa tenso. 9 Efeitos parasitas: fora eletromotriz trmica, resistncia de contato, resistncia de isolamento, corrente de disperso, absoro dieltrica, capacitncia parasita, indutncia parasita, elevao de potencial e induo

eletromagntica. 10 Campo eltrico e magntico em instalaes de alta tenso e seus efeitos (corona, eletrostticos e eletromagnticos). 11 Medidas de tendncia central e de disperso, Distribuio de probabilidade, Intervalo de confiana, Noes bsicas de probabilidade, Variveis aleatrias, Coeficiente de correlao. 12 Incerteza de medio (conceitos, incerteza padro tipos A e B, incerteza combinada, incerteza expandida, clculos, algarismo significativo, critrios de arredondamento, teoria e propagao de erros). 13 Sistema Internacional de Unidades (principalmente as unidades de medida referentes s grandezas ligadas rea de eltrica). 14 Vocabulrio Internacional de Metrologia (calibrao, rastreabilidade, erro de indicao, valor verdadeiro convencional, exatido, repetitividade, reprodutibilidade, grandeza de influncia, mensurando, resultado de medio, resoluo, valor de uma diviso etc.). 15 Norma ABNT NBR ISO-IEC 17025 - Requisitos gerais para a competncia de laboratrios de ensaio e calibrao (2 ed., 2005). 16 Algoritmo computacional. 17 Linguagens de programao LabVIEW e linguagem C. CARGO 37: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA LEGAL I METROLOGIA. 1 Fundamentos da Metrologia: Grandezas e Unidades, Medies, Resultados de Medio, Instrumentos de Medio, Caractersticas dos Instrumentos de Medio, Padres. 2 Fundamentos da Metrologia Legal: Conceitos, Vocabulrio, Principais atividades. 3 Papel do Inmetro em fruns internacionais de Metrologia Legal. 4 Clculo de incerteza de medio. 5 Resoluo Conmetro 11/88. II GARANTIA METROLGICA. 1 Regulamentao Tcnica Metrolgica: Definio, Objetivos, Papel do Inmetro como rgo regulamentador, Guia de Boas Prticas de Regulamentao, Documentos e marcas da metrologia legal. 2 Controle metrolgico legal: Controle legal dos instrumentos de medio, Superviso metrolgica, Percia metrolgica. III GESTO DA QUALIDADE. 1 Princpios de Gesto da Qualidade. 2 Requisitos gerais para competncia de laboratrios de ensaio e calibrao (ABNT NBR ISO IEC 17025:2005). 3 Sistema de Gesto da Qualidade (NBR ISO 9001:2008). IV MATEMTICA. 1 Clculo diferencial e integral para funes de uma e de vrias variveis reais. 2 lgebra linear: matrizes, determinantes, sistemas lineares, espaos vetoriais, transformaes lineares. V QUMICA. 1 Tabela peridica. 2 cidos, bases, sais e xidos. 3 Reaes de oxidao-reduo. 4 Termoqumica. 5 Clculos estequiomtricos. 6 Transformaes qumicas e equilbrio. 7 Compostos de carbono. 8 Solues aquosas. 9 Disperses. 10 Natureza corpuscular da matria. 11 Natureza eltrica da matria. VI FSICA. 1 Leis de Newton. 2 Conservao do momento linear. 3 Conservao do momento angular. 4 Conservao da energia mecnica. 5 Gravitao. 6 Equilbrio. 7 Propriedades e processos trmicos. 8 Mquinas trmicas e processos naturais. 9 Fenmenos ondulatrios. 10 Processos luminosos. 11 Processos sonoros. 12 Eletrosttica. 13 Cargas em movimento. 14 Eletromagnetismo. 15 Radiaes eletromagnticas. 16 Hidrosttica. 17 Mecnica Bsica: Esttica, Cinemtica e Dinmica. 18 Mecnica dos Fluidos. 19 Noes de Eletricidade e Eletrnica. VII ESTATSTICA. 1 Medidas de tendncia central. 2 Medidas de disperso. 3 Distribuio de probabilidade. 4 Grficos de controle. 5 Intervalo de confiana. 6 Testes de hipteses. 7 Variveis aleatrias. 8 Coeficiente de correlao. CARGO 38: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM GRANDEZAS PTICAS

1 Carga eltrica, lei de Coulomb e campo eltrico; fluxo eltrico e lei de Gauss, potencial eltrico, clculo de potenciais e campos, corrente eltrica e lei de Ohm e lei de Ampre. Campo magntico, fora sobre cargas, movimento de partculas, fluxo magntico e lei de Faraday. Conceitos bsicos de sistemas de tenso e corrente alternada, circuitos em corrente contnua e alternada e lei de Kirchhoff. 2 Polarizao e condies para interferncia de ondas luminosas, propagao de ondas, coerncia, padres de difrao, disperso, reflexo e transmisso de ondas. 3 Conceitos de emisso espontnea e emisso estimulada, Lasers e espalhamento. 4 Fontes de Radiao Naturais e Artificiais e Detectores de Radiao ptica. 5 Medio, Erros, Efeitos e Correes, Avaliao da Incerteza Padro Tipos A e B, Determinao das Incertezas Padro Combinada e Expandida. 6 Termos Fundamentais e Gerais de Metrologia (Grandezas e Unidades, Medies, Resultados de Medio, Instrumentos de Medio, Caractersticas dos Instrumentos de Medio, Padres). 7 Conceitos de linguagem de programao e algoritmo computacional. CARGO 39: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM GRANDEZAS TRMICAS 1 Termometria de radiao: Tipos de termmetros de radiao. Radiao de corpo negro e corpo cinza. Erros na termometria de radiao. Calibrao de termmetros de radiao. Realizao e disseminao da Escala Internacional de Temperatura para termmetros de radiao. 2 Termometria de contato: Termometria de resistncia; tipos de termmetros de resistncia. Medies de resistncia com 2, 3 e 4 fios com pontes AC, DC. Erros na termometria de resistncia. Equaes de interpolao para termmetros de resistncia. Calibrao de termmetros de resistncia. Realizao e disseminao da Escala Internacional de Temperatura com termmetros de resistncia. Termometria termoeltrica; tipos de termopares Princpios da termometria termoeltrica. Erros na termometria termoeltrica. Calibrao de termopares. Termometria de lquido em vidro; tipos de termmetros de lquido em vidro. Princpio de funcionamento. Erros na termometria de lquido em vidro. Calibrao de termmetros de vidro. 3 Higrometria: Tipos de higrmetros, psicrometria. Princpios de medio de umidade em gases. Erros na medio da umidade em gases. Calibrao de medidores de umidade de gases. Importncia da higrometria em processos industriais. CARGO 40: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM MECNICA 1 Metrologia geral grandezas e suas definies. A importncia da metrologia para a qualidade industrial. A importncia de um Instituto Nacional de Metrologia. Conceitos sobre metrologia industrial, cientfica e legal. Realizao, reproduo, conservao e disseminao das unidades de medida. Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008). Sistema Internacional de Unidades (SI). Incerteza de medio (conceitos, importncia, aplicabilidade, determinao da incerteza padro tipo A e tipo B, incerteza combinada, incerteza expandida, clculos) segundo o Guia para a Expresso da Incerteza de Medio. Requisitos gerais para a competncia de laboratrios de ensaio e calibrao. Cadeia de rastreabilidade e de disseminao metrolgica. 2 Metrologia mecnica. Aplicabilidade, princpios de medio e mtodos de calibrao de instrumentos de medio e padres de comprimento, fora, torque, massa, massa especfica, viscosidade, presso (relgio comparador, bloco-padro, clula de carga, torqumetro, balana, peso-padro, densmetro, viscosmetro, manmetro).

Conhecimentos especficos aplicados s grandezas comprimento, ngulo plano, fora, torque, dureza, impacto, massa, volume, massa especfica, viscosidade, tenso superficial e presso. Modalidades de presso (absoluta, manomtrica, negativa e diferencial). 3 Estatstica aplicada metrologia. Medidas de tendncia central. Medidas de disperso. Distribuies (Normal, "t" de Student). Critrios de rejeio. Intervalo de confiana. Grficos (cartas) de controle. Teoria dos erros. Testes de Hipteses aplicados comparao de mdias e desvios-padro. Distribuies Normal e "t" de Student. Regresso linear. 4 Fsica. Anlise dimensional. Leis de Newton. Lei de conservao da energia. Conservao do momento linear e angular. Conservao da energia mecnica. Momento linear. Gravitao. Equilbrio. Empuxo. Propriedades e processos trmicos. Mquinas trmicas e processos naturais. Fenmenos ondulatrios. Processos luminosos. Processos sonoros. Eletrosttica. Cargas em movimento. Eletromagnetismo. Radiaes eletromagnticas. Hidrosttica. Mecnica bsica: Esttica, cinemtica e dinmica. 5 Tecnologia mecnica. Propriedades fsicas (mecnicas, trmicas, eltricas e magnticas). Ensaios mecnicos destrutivos. Ensaios no destrutivos. Noes de processos de fabricao. 6 Mecnica aplicada. Fora, momento e centro de gravidade. Momentos de inrcia. Torque e potncia. Tenso e deformao. Elasticidade e Lei de Hooke. Trao. Compresso. Cisalhamento. Flexo. Toro. Resistncia dos materiais. Mecnica dos fluidos. 7 Noes de instrumentao / automao. Fundamentos de eletricidade: corrente contnua, corrente alternada, Lei de Ohm, Leis de Kirchoff, fontes de tenso e de corrente eltrica. Resistores, capacitores, indutores e transformadores: Funo, propriedades, parmetros bsicos. Conceitos de instrumentao. Noes sobre geradores de sinais. Caractersticas e tipos de sinais de entrada e sada. Noes sobre manipulao, transmisso e registro de dados. Noes sobre aquisio, processamento e anlise de dados experimentais. CARGO 41: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA DE MATERIAIS - OPO 1 1 Mecnica quntica. 1.1 Equao de Schroedinger. 1.2 Orbitais. 1.3 Ligaes primrias (covalente, metlica e inica) e secundrias (dipolo permanente e van der Waals). 1.4 Poo de potencial finito e infinito 1.5 tomo de um eltron - o tomo de hidrognio, nmero quntico de spin. 2 Noes de Estado Slido. 2.1 Redes espaciais de Bravais. 2.2 ndices cristalogrficos e operaes vetoriais. 2.3 Lei de Bragg. 2.4 Estruturas cristalinas dos elementos, cristais inicos e cristais moleculares. 2.5 Vibraes da Rede Cristalina. 2.6 Imperfeies pontuais, lineares e de superfcie. 2.6.1 Energias e fenmenos associados s imperfeies. 2.6.2 Interaes entre imperfeies. 2.7 Propriedades eletrnicas de slidos. 2.7.1 Modelo de eltrons livres. 2.7.2 Bandas de energia e suas propriedades. 2.8 Semicondutores. 2.8.1 Semicondutores intrnsecos e extrnsecos. 2.8.2 Densidade de portadores. 2.8.3 Lei de ao das massas. 2.8.4 Resistividade eltrica em semicondutores. 2.8.5 Propriedades ticas e fotocondutividade. 2.8.6 Junes p-n. 2.9 Propriedades magnticas dos materiais. 2.9.1 Diamagnetismo. 2.9.2 Paramagnetismo. 2.9.3 Ferromagnetismo. 2.9.4 Curvas de histerese. 2.9.5 Domnios magnticos. 2.9.6 Ferri e antiferromagnetismo. 3 Tcnicas de caracterizao microestrutural. 3.1 Princpios bsicos de microscopia: aumento, resoluo e contraste. 3.2 Formao de imagem por difrao e por varredura. 3.3 Microscopia com luz visvel (fotnica). 3.3.1 Princpios de tica geomtrica e fsica: lentes, aberraes, difrao e interferncia princpio de Abbe. 3.3.2 Princpios fsicos da microscopia; mecanismos de contraste: amplitude, cor, contraste de fase e luz polarizada. 3.4 Microscopia eletrnica: descrio dos instrumentos, mecanismos de

formao de imagem e de contraste. 3.4.1 Microscopia eletrnica de transmisso MET. 3.4.2 Microscopia eletrnica de Varredura - MEV. 3.5 Microscopias de tunelamento varredura (STM), Fora atmica (AFM) e confocal. 3.6 Difrao de raiosX. 3.7.1 Gerao de raios-X. 3.6.2 Tcnicas de Laue e de Debye-Scherrer. 3.6.3 Tenses internas. 3.6.4 Textura. 3.6.5 Fluorescncia de raios-X. 3.7 Princpios fundamentais da microanlise. 3.7.1 Lei de Moseley. 3.7.2 Descrio da micro-onda. 3.7.3 Espectrgrafos de comprimento de onda e de energia (WDS e EDS). 3.8 Espectroscopia ptica: FT-IR, UV-VIS e Raman. CARGO 42: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA DE MATERIAIS - OPO 2 1 Mecnica quntica. 1.1 Equao de Schroedinger. 1.2 Orbitais. 1.3 Ligaes primrias (covalente, metlica e inica) e secundrias (dipolo permanente e van der Waals). 1.4 Poo de potencial finito e infinito. 1.5 tomo de um eltron - o tomo de hidrognio, nmero quntico de spin. 2 Noes de Estado Slido. 2.1 Redes espaciais de Bravais. 2.2 ndices cristalogrficos e operaes vetoriais. 2.3 Lei de Bragg. 2.4 Estruturas cristalinas dos elementos, cristais inicos e cristais moleculares. 2.5 Vibraes da Rede Cristalina. 2.5.1 Rede recproca. 2.5.2 Modos normais de vibrao (fnons). 2.5.3 Capacidade e condutividade trmica dos slidos. 2.5.4 Dilatao trmica. 3 Formao, estrutura e propriedades de filmes finos. 3.1 Tcnica de deposio fsica por fase vapor (PVD). 3.2 Tcnica de deposio qumica por fase vapor (CVD). 3.3 Tcnica de crescimento epitaxial. 3.4 Interdifuso e reao em filmes finos. 3.5 Propriedades mecnicas, eltricas, magnticas e pticas de filmes finos. 4 Superfcies. 4.1 Definio de superfcie. 4.2 Modificao de superfcies (funcionalizao). 4.3 Adsoro. 4.4 Adeso, atrito, desgaste. 4.5 Porosidade. 4.6 Propriedades magnticas. 4.7 Propriedades trmicas. 4.8 Tenso superficial. 4.9 Contato entre superfcies. 4.10 Tcnicas de anlise de superfcies. 4.10.1 Espectroscopia de eltrons Auger. 4.10.2 Anlise de superfcie por fotoeltrons. 4.10.3 Microscopia de ponta de prova. 5 Principais materiais semicondutores e suas aplicaes em eletrnica. 5.1 Conceito de eltron e lacuna em semicondutores. 5.2 Propriedades pticas. 5.3 Interao radiao matria. 5.4 Fotodetetores. 5.5 Clulas solares. 5.6 LED's. 5.7 Lasers semicondutores. 5.8 Semicondutores orgnicos. 6 Polmeros conjugados e slidos de baixo peso molecular. 6.1 Fsica dos polmeros condutores. 6.2 Espectroscopia dos polmeros conjugados. 6.3 Electroluminescncia de filmes. 6.4 Diodos orgnicos emissores de luz (OLEDs): fabricao, princpios de operao e aplicaes. 7 Noes bsicas de calorimetria. 7.1 Teoria. 7.2 Tcnicas experimentais. 8 Noes bsicas de termogravimetria. 8.1 Teoria. 8.2 Tcnicas experimentais. 9 Noes bsicas de difusividade e condutividade trmicas. 9.1 Teoria. 9.2 Tcnicas experimentais. 10 Noes bsicas de teoria e tcnicas experimentais para anlise de: 10.1 rea superficial 10.2 Porosidade 10.3 Potencial zeta. CARGO 43: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM QUMICA - OPO 1 1 Fsicoqumica. 2 Termodinmica qumica: equaes de estado, desvios da idealidade. 2.1 Primeira Lei da Termodinmica. 2.2 Termoqumica. 2.3 Segunda Lei da Termodinmica. 2.4 Terceira Lei da Termodinmica: potencial qumico, equilbrio qumico. 2.5 Equilbrio entre fases. 3 Cintica qumica. 4 Eletroqumica: clulas galvnicas e eletrolticas. 5 Corroso eletroqumica. 6 Combusto: estequiometria,

cintica e mecanismos de combusto; balanos de energia e de massa na combusto; poder calorfico de combustveis. 7 Fundamentos e aplicaes da engenharia qumica. 7.1 Reatores qumicos. 7.2 Cintica das relaes qumicas. 7.3 Classificao dos reatores e princpios de clculos dos reatores ideais. 7.4 Balanos materiais e energticos. 7.5 Associaes de reatores em srie e paralelo. 7.6 Parmetros de rendimento dos reatores. 7.7 Influncia da presso e temperatura no projeto de reatores. 8 Operaes unitrias da indstria qumica. 9 Transporte de fluidos compressveis: equaes fundamentais de balano de energia e massa. 10 Clculos de perda de carga, distribuda e localizada. 11 Bombas: tipos de bombas; curvas das bombas; curvas dos sistemas de bombeamento; escolha das bombas. 12 Medidores de vazo: manmetros, venturi, rotmetros. 13 Caracterizao de partculas slidas: anlise granulomtrica, peneiramento. 14 Filtrao: equaes fundamentais para obteno de tortas incompressveis. 15 Determinao dos parmetros de filtrao. 16 Filtrao a presso constante, a vazo constante e a presso e vazo variveis. 17 Sedimentao e centrifugao: equaes fundamentais para suspenses diludas. 18 Transporte de calor: mecanismos, leis bsicas e coeficientes de troca de calor. 19 Equaes fundamentais. 20 Trocadores de calor: tipos e dimensionamento. 21 Evaporadores: simples e mltiplos efeitos. 22 Psicrometria: relaes psicromtricas ar vapor d'gua; equaes fundamentais. 23 Difuso mssica. 24 Lei de Fick; coeficiente de difuso. 25 Destilao: equilbrio lquido-vapor, diagramas de equilbrio, separao por flash. 26 Destilao binria: mtodo de Mc Cabe-Thiele para clculo de estgios. 27 Recursos qumicos. 28 Balanos materiais e balanos energticos com e sem reaes qumicas. 29 Aplicaes de balanos materiais e energticos aos processos qumicos. 30 Fluxograma de processos. 31 Produtos qumicos fundamentais: matrias primas e utilidades para a obteno de alguns produtos qumicos orgnicos e inorgnicos: cido ntrico, cido sulfrico, cloro, hidrxido de sdio, eteno, acetileno, polmeros. 32 guas industriais e potveis: tratamentos para remoo de cor, turvao, dureza, ons metlicos. 33 Materiais para a indstria qumica: materiais empregados, seleo, corroso. 34 Instrumentao e controle de processos: seleo de instrumentos de medidas; tipos de controladores; exemplos de controle em alguns equipamentos de processo. CARGO 44: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA EM QUMICA - OPO 2 1 Estequiometria. 2 Potenciometria. 3 Titulometria. 4 Coulometria. 5 Voltametria. 6 Condutimetria. 7 Grupos funcionais em qumica orgnica. 8 Estereoqumica. 9 Cromatografia gasosa. 10 Cromatografia lquida. 11 Cromatografia de ons. 12 Espectroscopia de absoro atmica. 13 Espectroscopia de emisso atmica. 14 Espectrometria de massas. 15 Estatstica bsica e Tratamento estatstico de dados (Medidas de Tendncia Central. Medidas de Disperso. Testes de Hipteses aplicados comparao de Mdias e Desvios-Padro. Distribuies Normal e "t" de Student). Intervalo de confiana. Teoria dos erros). 16 Qualidade do resultado de medio segundo a ABNT NBR ISO/IEC 17025. 17 Estimativa da incerteza de medio. 18 Validao de mtodos analticos. 19 Ensaios de proficincia por comparaes interlaboratoriais segundo a ISSO/IEC 17043. 20 Certificao e uso de material de referncia. 21 Metrologia bsica, 21.1 Grandezas e suas definies. 21.2 Converso de Unidades e Sistema Internacional de Unidades (SI). 21.3 Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de padres e instrumentos de medio. 21.4 Conceitos bsicos: a importncia da metrologia e da normalizao para a qualidade industrial. A

importncia de um Laboratrio Nacional de Metrologia. Vocabulrio Internacional de Metrologia. CARGO 45: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MICROSCOPIA ELETRNICA 1 Princpio, aplicao, componentes e funcionamento de microscpio eletrnico de transmisso, microscpio eletrnico de varredura e microscpio eletrnico de varredura de feixe duplo. 2 Princpio e aplicao de tomografia de eltrons. 3 Preparo de amostras biolgicas para microscopia eletrnica de transmisso por mtodos convencionais: tampes, fixadores, resinas, corantes e ultramicrotomia. 4 Preparo de amostras biolgicas para microscopia eletrnica de varredura: tampes, fixadores, ponto crtico e metalizao. 5 Princpio e aplicao de contrastao negativa. 6 Princpio e aplicao da tcnica de "Freeze Dry". 7 Crio-mtodos de preparo de amostras biolgicas: criofratura, "etching" profundo, congelamento por alta presso, congelamento por impacto, congelamento por imerso, "Spray Freezing", "Jet Freezing", substituio a frio e crioultramicrotomia. 8 Princpio e aplicao das tcnicas de: citoqumica ultraestrutural, imunocitoqumica e reconstruo tridimensional. CARGO 46: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MICROSCOPIA FORENSE 1. Metrologia forense: Gesto da qualidade nas percias forenses: importncia, impacto, normas ABNT NBR ISO/IEC 17025, ABNT NBR ISO/IEC 17020; Organismos de acreditao para a rea forense: importncia, impacto, exemplos internacionais, Materiais de referncia. 2. Manipulao de microvestgios de interesse forense para anlise por microscopia: Vestgios, indcios, evidncias; Cuidados na preservao; Coleta e armazenamento; Cadeia de custdia; Resduos de tiro; Microcomparao balstica; Marcas de ferramentas; Fibras, etc.3. Mtodos microscpicos para anlise forense de microvestgios: Microscopia eletrnica de varredura aplicada anlise forense; Espectroscopia por disperso de energia aplicada anlise forense; Microscopia ptica de comparao aplicada anlise forense; Microscopia Raman aplicada anlise forense; Microscopia de luz polarizada aplicada anlise forense; Uso de materiais de referncia na anlise forense. CARGO 47: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: PSICOLOGIA 1 Organizaes: estrutura, processos e dinmica. 2 Teoria das organizaes e concepes de trabalho. 3 Cultura e clima organizacional. 4 Motivao e satisfao no trabalho. 5 Poder, liderana e conflitos nas organizaes. 6 Equipes de trabalho e grupos nas organizaes. 7 Ergonomia da atividade e psicopatologia do trabalho. 8 Bem-estar, sade e qualidade de vida no contexto das organizaes. 9 Conhecimento, aprendizagem e desempenho humano nas organizaes. 10 Rotatividade de pessoal. 11 Absentesmo. 12 Dependncia qumica na organizao: preveno e tratamento. 13 Noes de Teorias e Tcnicas Psicoterpicas 14 Aconselhamento Psicolgico. 15 Aspectos psicolgicos em preveno e tratamento do stress. 16 Aspectos psicolgicos de segurana no trabalho. 17 Valores, atitudes e satisfao com o trabalho. 18 Papel do psiclogo organizacional e suas implicaes ticas. 19 O uso da pesquisa para anlise e interveno na organizao. 20 Desligamento de pessoal e aposentadoria: programas de

preparao e acompanhamento. 21 Programas em sade mental: atuao em programas de preveno e tratamento, interveno em grupos vivenciais e informativos. CARGO 48: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: RECURSOS HUMANOS 1 A moderna gesto de recursos humanos; novos conceitos, ferramentas de gesto e estilos de liderana e sua influncia na gesto de pessoas. 2 A gesto de pessoas em um ambiente dinmico e competitivo. 3 Planejamento estratgico da gesto de pessoas. 4 Movimentao e captao de pessoas como estratgia competitiva. 5 Ferramentas modernas de gesto de recursos humanos. 6 Gesto integrada e estratgica de recursos humanos. 7 A negociao no contexto organizacional; gerenciamento da pluralidade nas empresas. 8 A evoluo do conceito de Treinamento e Desenvolvimento para educao continuada. 9 As organizaes de aprendizagem, o desafio de "aprender a aprender" e os conceitos de talento, competncias mltiplas. 10 Desenvolvimento de Pessoas como estratgia de Gesto e a interao desta atividade com as demais funes do processo de Gesto de Pessoas; a elaborao de Projetos de Desenvolvimento de Pessoas: suas fases e procedimentos - diagnstico, planejamento, execuo e acompanhamento/avaliao. 11 Psicodinmica do trabalho; preveno da sade do trabalhador. 12 A importncia da atuao dos profissionais de Recursos Humanos junto s equipes multidisciplinares e interdisciplinares voltadas para a sade do trabalhador dentro e fora do mundo do trabalho. 13 A importncia da preveno da sade dos trabalhadores nas organizaes. 14 Tendncias em gesto de pessoas no setor pblico. 15 Avaliao e gesto do desempenho. 16 Gesto do conhecimento. 17 Gesto de pessoas por competncias: abordagens e ferramentas atualmente utilizadas no levantamento das competncias e habilidades necessrias para a busca do perfil profissional ideal. 18 Distino entre administrao de pessoal, administrao de recursos humanos e gesto social. 19 Poltica de recrutamento e seleo. 20 Poltica de avaliao de desempenho individual e institucional. 21 Poltica de desenvolvimento organizacional. 22 Poltica de promoo e planos de carreira. CARGO 49: PESQUISADOR-TECNOLOGISTA EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: TECNOLOGIA E INOVAO 1 Introduo economia. 2 Economia brasileira. 3 Economia da engenharia. 4 Probabilidade e Estatstica. 5 Pesquisa Operacional. 6 Planejamento e controle de produo. 7 Custos industriais. 8 Administrao financeira. 9 Anlise de investimento. 10 Noes de marketing. 11 Projeto do produto. 12 Gerncia de qualidade. 13 Projetos industriais. 14 Gerncia de manuteno. 15 Planejamento estratgico. 16 Gerncia de projeto e engenharia simultnea. 17 Criao de empresa de base tecnolgicas. 18 Anlise sistmica de empresas e produtividade. 19 Movimento de incubao de empresas e de parques tecnolgicos. 20 Engenharia da informao. 21 Gerncia da informao. 22 Macroeconomia. 23 Gerncia da inovao. 24 Sistemas de inovao; paradigmas tecnolgicos e padres setoriais de inovao e de difuso de tecnologias; localizao e distritos industriais; ambientes inovadores e clusters; sistemas nacional, regional e local de inovao. 25 Anlise aplicada de organizao industrial: vantagens competitivas e anlises de competitividade; diferentes enfoques de poltica industrial: falhas de mercado, superao do subdesenvolvimento, fortalecimento organizacional e inovativo da empresa; dinmicas da indstria e da agricultura brasileiras a partir de 1999: polticas de apoio ao investimento e inovao no perodo recente; PITCE

(Poltica Industrial, Tecnolgica e de Comrcio Exterior, 2003) e PDP (Poltica de Desenvolvimento Produtivo, 2008). 26 Fundos Setoriais: Histrico, Atualidade e Impactos. 27 Avaliao e Monitoramento Tecnolgico. 28 Liderana e Gesto de Projetos de Desenvolvimento Tecnolgico. 29 Redes de Pesquisas e de Especialistas. 30 Metodologias de Anlise Estratgica e de Oportunidades. 31 Propriedade Intelectual: Conceitos de PI, Licenciamento e Transferncia de Tecnologia. 32 Prospeco Tecnolgica: Conceitos e Metodologias. 33 Inteligncia Tecnolgica. 34 Capital Intelectual. 35 Arranjos e Cadeias Produtivas: Conceitos e Situao atual do Brasil. 36 Infraestrutura Tcnica: Atores e Papel no SNI. CARGO 50: ASSISTENTE EXECUTIVO EM METROLOGIA E QUALIDADE REA: ADMINISTRAO I Matemtica Financeira. 1 Razo e proporo. 2 Porcentagem. 3 Juros simples e compostos. 4 Descontos. II Noes de Informtica. 1 Conceito de internet e intranet e principais navegadores. 2 Principais aplicativos comerciais para edio de textos e planilhas, para correio eletrnico, para apresentaes de slides e para gerao de material escrito, visual e sonoro, entre outros. 3 Rotinas de proteo e segurana. 4 Conceitos de organizao de arquivos e mtodos de acesso. III Administrao. 1 Noes de Teoria Geral da Administrao. 1.1 Planejamento, organizao direo e controle. 1.2 tica nas organizaes. 1.3 Princpios e responsabilidade social. 1.4 Administrao da qualidade (como definir, custos da qualidade e da no qualidade). 1.5 Acordos de nvel de servio. 1.6 Fundamentos de Matemtica Financeira. 1.7 Remunerao de Capital e Taxa de Juros. 1.8 Juros Simples. 1.9 Juros Compostos. 1.10 Sries Uniformes de Pagamentos. 1.11 Sries de Parcelas Iguais: Antecipadas e Postecipadas. 1.12 Sistemas de Amortizao: Sistema Francs, Tabela Price. 1.13 SAC - Sistema de Amortizao Constante. 1.14 Fluxos de Caixa. 1.15 Valor Presente Lquido. 1.16 Valor Futuro Lquido. 1.17 Taxa Interna de Retorno. 2 Logstica e gerenciamento de cadeias de suprimento. 2.1 Conceitos gerais de compras. 2.2 Noes de comrcio eletrnico. 2.3 Modalidades de transporte. 2.4 Noes de gesto de estoques. 2.5 Planejamento e previso de estoques. 2.6 Mtodos de controle de estoque. 2.7 Noes de Armazenagem. 2.8 Organizao e manuteno de um almoxarifado. 2.9 Tcnicas de recebimento, movimentao, estocagem e distribuio material. 3 Noes de contabilidade. 3.1 Conceito, objetivo e finalidades. 3.2 Receita, despesa, custos e resultados. 3.3 Patrimnio: conceito, componentes, variaes e configuraes. 3.4 Contas: conceito, estrutura e espcies. 3.5 Apurao de resultados: amortizao, depreciao, exausto e provises. 3.6 Lucro bruto, custo de vendas, lucro operacional e lucro lquido. 3.7 Avaliao de estoques,Levantamentos, Inventrios. 3.8 Tributos e suas aplicaes nas aquisies no mercado interno e externo: noes de ICMS, IPI, ISS, II, PIS/COFINS, CSLL,IR,CPMF, CIDE. 3.9 Documentos fiscais (Nota fiscal de venda de bens e servios - modelos vlidos). CARGO 51: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: BIOTECNOLOGIA 1. Conceitos bsicos em fsico-qumica: pesagem, diluio, preparo de solues, determinao de pH, molaridade, normalidade; cidos, bases e sais; Reaes qumicas; Estequiometria. 2. Mtodos de descontaminao e limpeza de vidraria; Esterilizao e assepsia.3. Meios de cultivo - principais componentes, meios suplementados com soro, meios livres de soro, fatores de crescimento; Mtodos de cultivo celular: clulas em

suspenso e aderentes; Manipulao de clulas: cultivo, co-cultivo, expanso, teste de viabilidade, quantificao; Controle de qualidade do cultivo - determinao de contaminao por bactrias, fungos e micoplasma; Controle de micro-organismos pela ao de agentes fsicos e qumicos; Criopreservao. 4. Preparo de amostra para microscopia ptica: colorao - tipos e aes dos corantes; imunofluoresncia direta e indireta.5. Preparo de amostra para microscopia eletrnica: fixao, desidratao, infiltrao, incluso, ponto crtico, microtomia, contrastao. 6. Tcnicas bsicas em Bioqumica: mtodos cromatogrficos e eletroforticos. Centrifugao e precipitaes; Filtrao e dilise; Parties de fase lquido-lquido; Rompimento e fracionamento celular. 7. Tcnicas bsicas em biologia molecular: Noes bsicas sobre estrutura e metabolismo dos cidos nucleicos; Extrao de cidos nucleicos; Amplificao da molcula de DNA pela reao em cadeia da polimerase (PCR). 8. Utilizao de equipamentos laboratoriais bsicos: microscpio ptico, espectrofotmetro, balana, centrfuga, autoclave, estufa, destilador, cabine de segurana biolgica, capela de exausto qumica, banho, pHmetro, placa agitadora, termociclador. 9- Organizao geral do laboratrio e seus procedimentos de acordo com a NBR ISO/IEC 17025. CARGO 52: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: CONTABILIDADE 1 Contabilidade Geral: Livros obrigatrios e facultativos. Registros contbeis. Mtodo das Partidas Dobradas. Lanamentos de 1a, 2a, 3a, e 4a frmulas. Regime de Competncia e Regime de Caixa. Critrios de avaliao do Ativo e do Passivo. O Patrimnio Lquido. Capital subscrito e integralizado. Reservas de Capital. Reservas de Lucro e Reservas de Reavaliao Lucros ou Prejuzos Acumulados. Contas Patrimoniais e Contas de Resultado. Operaes contbeis comuns s empresas comerciais, industriais e de prestao de servios. Principais Demonstraes Contbeis e suas finalidades; Dividendos obrigatrios. Avaliao de Investimentos pelo mtodo da Equivalncia Patrimonial e pelo mtodo do Custo. Critrios de Avaliao de Estoques. Depreciaes do Ativo Imobilizado e Amortizaes do Ativo Diferido. Estruturao Fiscal - livros obrigatrios e facultativos no mbito das legislaes do Imposto de Renda/Contribuio Social, do ICMS, do IPI e do ISS. Registros na Junta Comercial e Registros nos Cadastros Federal, Estadual e Municipal. 2 Contabilidade Comercial: Registros contbeis das operaes de compra e de venda de mercadorias. Apurao do Custo das Mercadorias Vendidas; Livros obrigatrios e facultativos, especficos da atividade comercial. 3 Contabilidade industrial: Registros contbeis das operaes de formao do Custo dos Produtos Fabricados; do Custo dos Produtos Vendidos; das Receitas Operacionais. Custos Fixos e Variveis e Custos Diretos e Indiretos. Custeio Direto e Custeio por Absoro diferenciaes, vantagens e desvantagens. CARGO 53: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ELTRICA I NOES GERAIS DE METROLOGIA. 1 Grandezas e suas definies. 2 A importncia da metrologia para a qualidade industrial. 3 Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008): calibrao, cadeia de rastreabilidade, valor de referncia, exatido, repetitividade, reprodutibilidade, grandeza de influncia, mensurando, resultado de medio, rastreabilidade, resoluo, unidade de medida, procedimento de medio, padres, etc. 4 Sistema Internacional de Unidades (SI). 5 Definies das

Unidades de base do SI. 6 Os prefixos do SI. 7 Converso de Unidades. 8 Unidades suplementares e unidades derivadas. 9 Grafia dos nomes das unidades e grafia dos smbolos das unidades. 10 A estrutura metrolgica mundial (Conveno do Metro, Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM), Conferncia Geral de Pesos e Medidas (CGPM), Comit Internacional de Pesos e Medidas (CIPM)). 11 reas da metrologia. 12 Acordo de Reconhecimento Mtuo (MRA). 13 Comparaes chave: conceitos bsicos. 14 Calibrao de padres e de instrumentos de medio. 15. Realizao, reproduo, conservao e disseminao de unidades. 16 Sistema Interamericano de Metrologia (SIM). 17 Sistema Nacional de Metrologia: Sinmetro, Conmetro e o Inmetro. 18 Incerteza de medio (conceitos, incerteza padro tipos A e B, incerteza combinada, incerteza expandida). 19 Erro e a incerteza de medio, distino entre preciso (repetitividade) e exatido. 20 Requisitos gerais para a competncia de laboratrios de ensaio e calibrao. 21 Apresentao e indicao dos resultados de uma medio (algarismo significativos, transformao da unidade do resultado, quantidade de casas decimais, arredondamento de valores numricos, operaes com algarismos significativos). II ESTATSTICA BSICA APLICADA METROLOGIA. 1 Histograma. 2 Grficos de distribuio. 3 Mdia, mediana, moda e outras medidas de tendncia central (mdia aritmtica, mdia aritmtica ponderada, mdia geomtrica, mdia harmnica). 4 Varincia e desvio padro. 5 Homogeneidade de varincias, combinao de varincias. 6 Critrios de rejeio, critrios de chauvenet, critrios de dixon. 7 Erro absoluto de medio. 8 Erro relativo, erro relativo percentual. 9 Erro mdio relativo, erro mdio relativo percentual. 10 Erros mximos admissveis, erro grosseiro, erro sistemtico, erro aleatrio. 11 Propagao de erros. 12 Distribuies (Normal e "t" de Student). Intervalo de confiana. III TPICOS GERAIS APLICADOS. 1 Conhecimentos bsicos de matemtica (Teoria dos conjuntos; Nmeros; Clculos algbricos; Funes; Geometria plana; Geometria no espao; Trigonometria; Sequncias numricas; Sistemas de equaes lineares; Geometria analtica; Nmeros complexos; Polinmios). 2 Grandezas eltricas e magnticas. 3 Simbologia e diagramas eltricos. 4 Circuitos eltricos de corrente contnua. 5 Circuitos eltricos de corrente alternada (Corrente e tenso senoidais, valor eficaz, valor de pico, notao fasorial e impedncia). 6 Diagrama de potncia (Potncia ativa, reativa e aparente, fator de potncia e correo do fator de potncia). 7 Circuitos monofsicos e trifsicos. 8 Metrologia da grandeza resistncia eltrica: realizao, reproduo, conservao e disseminao da unidade; resistor padro, tipos de resistor padro e outros medidores de resistncia eltrica. 9 Metrologia eltrica da grandeza tenso eltrica: medidores de tenso e corrente, impedncia, voltagem alternada, corrente alternada, especificao de instrumentos e artefatos (tenso e corrente), calibrao e circuitos de medio de tenso e corrente, certificados de calibrao, prticas de calibrao em tenso e corrente. 10 Metrologia na rea de capacitncia e Indutncia: capacitor, capacitncia, circuito RC em regime de corrente contnua, indutor, indutncia, circuito LC em regime de corrente contnua, capacitor em regime de corrente alternada, indutor em regime de corrente alternada, impedncia, capacitor padro, indutor padro, calibrao de capacitores e indutores, pontes de medio de capacitores e indutores, realizao e reproduo das unidades de capacitncia e indutncia. 11 Metrologia de potncia e energia eltrica: realizao, reproduo, conservao e disseminao da unidade, energia eltrica, potncia eltrica. Transformadores, medidores de energia eltrica. CARGO 54: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: ELETRNICA

I NOES GERAIS DE METROLOGIA 1. Grandezas e suas definies. 2. A importncia da metrologia para a qualidade industrial. 3. Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008): calibrao, cadeia de rastreabilidade, valor de referncia, exatido, repetitividade, reprodutibilidade, grandeza de influncia, mensurando, resultado de medio, rastreabilidade, resoluo, unidade de medida, padres, etc. 4. Sistema Internacional de Unidades (SI). 5. Definies das Unidades de base do SI. 6. Os prefixos do SI. 7. Converso de Unidades. 8. Unidades suplementares e unidades derivadas. 9. Grafia dos nomes das unidades e grafia dos smbolos das unidades. 10. Calibrao de padres e de instrumentos de medio. 11. Erro e a incerteza de medio, distino entre preciso (repetitividade) e exatido. 12. Apresentao e indicao dos resultados de uma medio (algarismos significativos, transformao da unidade do resultado, quantidade de casas decimais, arredondamento de valores numricos, operaes com algarismos significativos). II INSTRUMENTAO E ELETRNICA. 1. Circuitos eltricos, 2. Eletrnica analgica e digital, 3. Definies e unidades de presso, temperatura, nvel e vazo, 4. Instrumentos de medio de presso, temperatura, nvel e vazo, 5. Instrumentao cientfica e metrolgica. 6. Fundamentos de controle de processo. III CONHECIMENTOS DE QUMICA, FSICA E MATEMTICA. 1. Qumica Geral e Inorgnica: classificao peridica dos elementos; ligaes qumicas; funes qumicas; reaes qumicas; estequiometria; 2. FsicoQumica: cintica e equilbrio qumico; energia qumica, potencial eletroqumico, pilhas eletroqumicas, clculo de fora eletromotriz; 3. Fsica - mecnica: sistema internacional de unidades; ordem de grandeza, potncia de dez e algarismos significativos; leis de Newton: fora, massa e peso; trabalho e conservao de energia hidrosttica: massa especfica e presso. 4. Fsica - termologia: termmetros, escalas de temperaturas e dilatao trmica; capacidade calorfica, calor especfico, calor latente e mudanas de fase da matria; processos de transferncia de calor. 5. Fsica moderna e ptica: natureza, propagao e velocidade da luz; reflexo, refrao e polarizao; ondas eletromagnticas; infravermelho e ultravioleta; raios X e raios gama; espelho, lentes e instrumentos ticos; interferncia e difrao. 6. Fsica nuclear e eletricidade: tomos, propriedades dos ncleos e radioatividade; Fisso e fuso nucleares; ferromagnetismo e propriedades magnticas da matria; campo eltrico, corrente eltrica, lei de Ohm, resistores e capacitores. 7.Matemtica: Teoria dos conjuntos. Conjuntos numricos. Relaes. Funes e equaes polinomiais e transcendentais (exponenciais, logartmicas e trigonomtricas). 8. Anlise combinatria, progresso aritmtica, progresso geomtrica e probabilidade bsica. 9. Matrizes, Determinantes e Sistemas lineares. 10. Geometria plana: reas e permetros. 11. Geometria espacial: reas e volumes. CARGO 55: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: EDIFICAES Padronizao do desenho e normas tcnicas vigentes - Tipos, Formatos, Dimenses e Dobradura de Papel; Linhas Utilizadas no Desenho Tcnico. Escalas. Projeto Arquitetnico - Convenes Grficas (representao de materiais, elementos construtivos, equipamentos, mobilirio); normas tcnicas vigentes; desenho de: Planta de Situao, Planta Baixa, Cortes, Fachadas, Planta de Cobertura; Detalhes; Cotagem; Esquadrias (tipos e detalhamento); Escadas e Rampas (tipos, elementos, clculo, desenho); Coberturas (tipos, elementos e detalhamento); Acessibilidade (NBR 9050/2004). Desenho de Projeto de Reforma - convenes. Projeto e execuo de instalaes prediais - Instalaes Eltricas, Hidrulicas, Sanitrias, Telefonia, Gs, Mecnicas, Ar Condicionado. Estruturas - Desenho de estruturas em concreto armado e

metlicas (plantas de formas e armao). Vocabulrio tcnico - Significado dos termos usados em arquitetura e construo. Tecnologia das construes. Materiais de construo. Topografia. Licitaes e contratos administrativos (Lei Federal 8.666/93 e suas atualizaes). Oramento de obras: Estimativo e Detalhado (levantamento de quantitativos, planilhas, composies de custos, cronograma fsico financeiro). Execuo e fiscalizao de obras. Noes de segurana do trabalho. Desenho em AUTOCAD 14: menus, comandos, aplicaes. CARGO 56: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: INSTRUMENTAO I NOES GERAIS DE METROLOGIA. 1 Grandezas e suas definies. 2 A importncia da metrologia para a qualidade industrial. 3 Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008): calibrao, cadeia de rastreabilidade, valor de referncia, exatido, repetitividade, reprodutibilidade, grandeza de influncia, mensurando, resultado de medio, rastreabilidade, resoluo, unidade de medida, procedimento de medio, padres, etc. 4 Sistema Internacional de Unidades (SI). 5 Definies das Unidades de base do SI. 6 Os prefixos do SI. 7 Converso de Unidades. 8 Unidades suplementares e unidades derivadas. 9 Grafia dos nomes das unidades e grafia dos smbolos das unidades. 10 A estrutura metrolgica mundial (Conveno do Metro, Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM), Conferncia Geral de Pesos e Medidas (CGPM), Comit Internacional de Pesos e Medidas (CIPM)). 11 reas da metrologia. 12 Acordo de Reconhecimento Mtuo (MRA). 13 Comparaes chave: conceitos bsicos. 14 Calibrao de padres e de instrumentos de medio. 15 Realizao, reproduo, conservao e disseminao de unidades. 15 Sistema Interamericano de Metrologia (SIM). 17 Sistema Nacional de Metrologia: Sinmetro, Conmetro e o Inmetro. 18 Incerteza de medio (conceitos, incerteza padro tipos A e B, incerteza combinada, incerteza expandida). 19 Erro e a incerteza de medio, distino entre preciso (repetitividade) e exatido. 20 Requisitos gerais para a competncia de laboratrios de ensaio e calibrao. 21 Apresentao e indicao dos resultados de uma medio (algarismo significativos, transformao da unidade do resultado, quantidade de casas decimais, arredondamento de valores numricos, operaes com algarismos significativos). II ESTATSTICA BSICA APLICADA METROLOGIA. 1 Histograma. 2 Grficos de distribuio. 3 Mdia, mediana, moda e outras medidas de tendncia central (mdia aritmtica, mdia aritmtica ponderada, mdia geomtrica, mdia harmnica). 4 Varincia e desvio padro. 5 Homogeneidade de varincias, combinao de varincias. 6 Critrios de rejeio, critrios de chauvenet, critrios de dixon. 7 Erro absoluto de medio. 8 Erro relativo, erro relativo percentual. 9 Erro mdio relativo, erro mdio relativo percentual. 10 Erros mximos admissveis, erro grosseiro, erro sistemtico, erro aleatrio. 11 Propagao de erros. 12 Distribuies (Normal e "t" de Student). Intervalo de confiana. III INSTRUMENTAO. 1 Noes de Materiais eltricos: condutores, isolantes, fios e cabos. 2 Resistores: Funo, Propriedades, Parmetros bsicos, Tipos de resistores e uso. 3 Capacitores: Funo, Propriedades, Parmetros bsicos, Tipos de capacitores e uso. 4 Indutores e transformadores: Funo, Propriedades, Parmetros bsicos, Tipos e uso. 5 Fundamentos de eletricidade: Corrente contnua, corrente alternada, Lei de Ohm, Leis de Kirchoff, Fontes de tenso, Fontes de corrente, Fonte de tenso controlada, Fonte de corrente controlada. 6 Aterramento. 7 Conceitos de instrumentao. 8 Princpios de medio, propriedades e caractersticas dos instrumentos para medir: grandezas eltricas, presso, vazo, temperatura, fora , torque, deformao, movimento, vibrao, acstica, grandezas trmicas. 9 Sistemas de medio eltricos e mecnicos: princpios

de funcionamento, desempenho. 10 Noes sobre atuadores hidrulicos, pneumticos e solenide. 11 Geradores de sinais. 12 Caractersticas e Tipos de Sinais de EntradaSada. 13 Manipulao, Transmisso e registro de Dados. 14 Aquisio, processamento e anlise de dados experimentais. 15 Eletrnica Linear: introduo aos semicondutores; Diodo: circuitos com diodo, limitadores, dobrador de tenso, grampeador CC, detector de pico a pico; diodos com finalidades especficas: caractersticas e aplicaes dos diodos transistores; Caractersticas de impedncia e ganho; FET e MOSFET; reguladores a transistor. 16 Eletrnica Digital: sistemas numricos: binrio, octal, hexadecimal; funes e portas lgicas; circuitos combinacionais; codificadores e decodificadores; multiplexador e demultiplexador; circuitos aritmticos; flip-flop; Registradores; contadores; memrias: RAM e ROM. 17 Eletrnica Industrial: Amplificadores transistorizados: noes bsicas; amplificador operacional: conceitos bsicos; osciladores; temporizador: conceitos bsicos; Tiristores: caractersticas e aplicaes; Optoeletrnica: fibras ticas, fontes luminosas e fotodetetoras, transmissores e receptores ticos, optoacopladores, componentes especiais, fotodiodo, clula solar, laser. 18 Ambientes laboratoriais: tipo e nvel de risco, condies ambientais, controle de acesso. 19 Filosofias de manuteno: Importncia da manuteno nos cenrios laboratoriais e industriais. 20 Manuteno e reparo de sistemas eltricos. 21 Noes de oficina mecnica: trabalhos em bancadas, mquinas operatrizes, segurana no local do trabalho, segurana em oficinas. CARGO 57: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: MECNICA I NOES GERAIS DE METROLOGIA. 1 Grandezas e suas definies. 2 A importncia da metrologia para a qualidade industrial. 3 Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008): calibrao, cadeia de rastreabilidade, valor de referncia, exatido, repetitividade, reprodutibilidade, grandeza de influncia, mensurando, resultado de medio, rastreabilidade, resoluo, unidade de medida, procedimento de medio, padres, etc. 4 Sistema Internacional de Unidades (SI). 5 Definies das Unidades de base do SI. 6 Os prefixos do SI. 7 Converso de Unidades. 8 Unidades suplementares e unidades derivadas. 9 Grafia dos nomes das unidades e grafia dos smbolos das unidades. 10 A estrutura metrolgica mundial (Conveno do Metro, Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM), Conferncia Geral de Pesos e Medidas (CGPM), Comit Internacional de Pesos e Medidas (CIPM)). 11 reas da metrologia. 12 Acordo de Reconhecimento Mtuo (MRA). 13 Comparaes chave: conceitos bsicos. 14 Calibrao de padres e de instrumentos de medio. 15 Realizao, reproduo, conservao e disseminao de unidades. 16 Sistema Interamericano de Metrologia (SIM). 17 Sistema Nacional de Metrologia: Sinmetro, Conmetro e o Inmetro. 18 Incerteza de medio (conceitos, incerteza padro tipos A e B, incerteza combinada, incerteza expandida). 19 Erro e a incerteza de medio, distino entre preciso (repetitividade) e exatido. 20 Requisitos gerais para a competncia de laboratrios de ensaio e calibrao. 21 Apresentao e indicao dos resultados de uma medio (algarismo significativos, transformao da unidade do resultado, quantidade de casas decimais, arredondamento de valores numricos, operaes com algarismos significativos). II ESTATSTICA BSICA APLICADA METROLOGIA. 1 Histograma. 2 Grficos de distribuio. 3 Mdia, mediana, moda e outras medidas de tendncia central (mdia aritmtica, mdia aritmtica ponderada, mdia geomtrica, mdia harmnica). 4 Varincia e desvio padro. 5 Homogeneidade de varincias, combinao de varincias. 6 Critrios de rejeio, critrios de chauvenet, critrios de dixon. 7 Erro absoluto de medio. 8 Erro relativo, erro relativo percentual.

9 Erro mdio relativo, erro mdio relativo percentual. 10 Erros mximos admissveis, erro grosseiro, erro sistemtico, erro aleatrio. 11 Propagao de erros. 12 Distribuies (Normal e "t" de Student). Intervalo de confiana. III METROLOGIA APLICADA REA DE MECNICA. 1 Conceitos bsicos na medio de comprimento e ngulo plano; Fatores de influncia que podem acarretar erros nas medies de comprimento; Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de instrumentos de medio de comprimento e ngulo plano. 2 Conceitos bsicos de fora, torque, dureza e impacto. 3 Conhecimento bsico de ensaios mecnicos destrutivos. 4 Conhecimento bsico de resistncia dos materiais. 5 Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de instrumentos de medio de fora, torque, dureza e impacto. 6 Conceitos bsicos de massa; grandezas de influncia relativas medio da massa com alta exatido. 7 Princpios de medio de instrumentos de medio de massa; Princpios da fsica aplicados medio da grandeza massa (gravidade, efeito de empuxo do ar, magnetismo e suas influncias nas medies). 8 Conceitos bsicos de presso e vcuo; Modalidades de presso (absoluta, manomtrica, negativa e diferencial); Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de instrumentos de medio de presso e vcuo. 9 Conceitos bsicos de volume, massa especfica, viscosidade e tenso superficial; Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de instrumentos de medio de volume, massa especfica, viscosidade e tenso superficial. 10 Conceitos bsicos de vazo. 11 Mtodos de padronizao, disseminao e calibrao de instrumentos de medio de vazo. IV TECNOLOGIA MECNICA. 1 Noes sobre as Propriedades Fsicas dos Materiais (mecnicas, trmicas, eltricas e magnticas); Noes sobre Materiais (propriedades e principais ligas, quando aplicvel); Noes sobre Tratamentos Trmicos, Termoqumicos e de Superfcie. 2 Noes sobre Ensaios Mecnicos Destrutivos e No Destrutivos. 3 Noes sobre Processos de Fabricao e de Usinagem. V MECNICA APLICADA. 1 Fora; Momento; Centro de Gravidade; Momento de Inrcia; Torque; Potncia. 2 Conceitos de Tenso e Deformao. 3 Noes sobre Elasticidade, Lei de Hooke, Tenses Admissveis e Coeficiente de Segurana. 4 Trao; Compresso; Cisalhamento; Flexo; Toro. 5 Momento Fletor e Esforo Cortante. VI DESENHO MECNICO. 1 Geometria Plana. 2 Simbologia de Tolerncias e Rugosidade. 3 Projeo ortogrfica de slidos geomtricos. 4 Perspectivas isomtricas e dimtricas. 5 Cotagens de dimenses bsicas. 6 Escalas. VII ELEMENTOS DE MQUINAS. 1 Elementos de Fixao (rebites, roscas e parafusos). 2 Mancais (deslizamento e rolamento). 3 Elementos de Transmisso (eixos, chavetas, engrenagens, polias e acoplamentos). VIII MOTORES COMBUSTO. 1 Princpio de funcionamento de motores automotivos (combusto, motor de combusto interna, tempos do motor e coordenao de mbolos). 2 Sistemas dos motores automotivos (sistema de distribuio, de alimentao de ar, de alimentao de combustveis, de lubrificao, de arrefecimento, de escapamento e de partida). 3 Conceitos sobre dimenses e rendimentos (curso do mbolo, velocidade mdia do mbolo, cilindrada, razo de compresso, potncia, diagrama de potncia e torque e consumo). IX HIDRULICA E PNEUMTICA. 1 Princpio de funcionamento de medidores de vazo, medidores de presso e medidores de temperatura. 2 Noes sobre bombas e compressores. X NOES SOBRE INSTRUMENTAO. 1 Instrumentos de medidas eltricas. 2 Noes de eletroeletrnica. CARGO 58: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA

I NOES GERAIS DE METROLOGIA 1. Grandezas e suas definies. 2. A importncia da metrologia para a qualidade industrial. 3. Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008): calibrao, cadeia de rastreabilidade, valor de referncia, exatido, repetitividade, reprodutibilidade, grandeza de influncia, mensurando, resultado de medio, rastreabilidade, resoluo, unidade de medida, procedimento de medio, padres, etc. 3. Sistema Internacional de Unidades (SI). 4. Definies das Unidades de base do SI. 5. Os prefixos do SI. 6. Converso de Unidades. 7. Unidades suplementares e unidades derivadas. 8. Grafia dos nomes das unidades e grafia dos smbolos das unidades 9. Calibrao de padres e de instrumentos de medio. 10. Erro e a incerteza de medio, distino entre preciso (repetitividade) e exatido. 11. Apresentao e indicao dos resultados de uma medio (algarismos significativos, transformao da unidade do resultado, quantidade de casas decimais, arredondamento de valores numricos, operaes com algarismos significativos). II CONHECIMENTOS DE FSICA, QUMICA E MATEMTICA. 1. Qumica Geral e Inorgnica: classificao peridica dos elementos; ligaes qumicas; funes qumicas; reaes qumicas; estequiometria; solues e propriedades coligativas. 2. FsicoQumica: cintica e equilbrio qumico; energia qumica, potencial eletroqumico, pilhas eletroqumicas, clculo de fora eletromotriz; concentrao de ons hidrognio; estudos de gases. 3. Qumica orgnica: funes orgnicas. 4. Fsica - mecnica: sistema internacional de unidades; ordem de grandeza, potncia de dez e algarismos significativos; leis de Newton: fora, massa e peso; trabalho e conservao de energia hidrosttica: massa especfica e presso. 5. Fsica - termologia: termmetros, escalas de temperaturas e dilatao trmica; capacidade calorfica, calor especfico, calor latente e mudanas de fase da matria; processos de transferncia de calor. 6. Fsica moderna e ptica: natureza, propagao e velocidade da luz; reflexo, refrao e polarizao; ondas eletromagnticas; infravermelho e ultravioleta; raios X e raios gama; espelho, lentes e instrumentos ticos; interferncia e difrao. 7. Fsica nuclear e eletricidade: tomos, propriedades dos ncleos e radioatividade; Fisso e fuso nucleares; ferromagnetismo e propriedades magnticas da matria; campo eltrico, corrente eltrica, lei de Ohm, resistores e capacitores. 8. Matemtica Geral: Teoria dos conjuntos. Conjuntos numricos. Relaes. Funes e equaes polinomiais e transcendentais (exponenciais, logartmicas e trigonomtricas). 9. Anlise combinatria, progresso aritmtica, progresso geomtrica e probabilidade bsica. Matrizes, Determinantes e Sistemas lineares. 10. Geometria plana: reas e permetros. 11. Geometria espacial: reas e volumes. CARGO 59: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA CIENTFICA I NOES GERAIS DE METROLOGIA. 1 Grandezas e suas definies. 2 A importncia da metrologia para a qualidade industrial. 3 Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008): calibrao, cadeia de rastreabilidade, valor de referncia, exatido, repetitividade, reprodutibilidade, grandeza de influncia, mensurando, resultado de medio, rastreabilidade, resoluo, unidade de medida, procedimento de medio, padres, etc. 4 Sistema Internacional de Unidades (SI). 5 Definies das Unidades de base do SI. 6 Os prefixos do SI. 7 Converso de Unidades. 8 Unidades suplementares e unidades derivadas. 9 Grafia dos nomes das unidades e grafia dos smbolos das unidades. 10 A estrutura metrolgica mundial (Conveno do Metro, Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM), Conferncia Geral de Pesos e Medidas (CGPM), Comit Internacional de Pesos e Medidas (CIPM)). 11 reas da

metrologia. 12 Acordo de Reconhecimento Mtuo (MRA). 13 Comparaes chave: conceitos bsicos. 14 Calibrao de padres e de instrumentos de medio. 15 Realizao, reproduo, conservao e disseminao de unidades. 16 Sistema Interamericano de Metrologia (SIM). 17 Sistema Nacional de Metrologia: Sinmetro, Conmetro e o Inmetro. 18 Incerteza de medio (conceitos, incerteza padro tipos A e B, incerteza combinada, incerteza expandida). 19 Erro e a incerteza de medio, distino entre preciso (repetitividade) e exatido. 20 Requisitos gerais para a competncia de laboratrios de ensaio e calibrao. 21 Apresentao e indicao dos resultados de uma medio (algarismo significativos, transformao da unidade do resultado, quantidade de casas decimais, arredondamento de valores numricos, operaes com algarismos significativos). II ESTATSTICA BSICA APLICADA METROLOGIA. 1 Histograma. 2 Grficos de distribuio. 3 Mdia, mediana, moda e outras medidas de tendncia central (mdia aritmtica, mdia aritmtica ponderada, mdia geomtrica, mdia harmnica). 4 Varincia e desvio padro. 5 Homogeneidade de varincias, combinao de varincias. 6 Critrios de rejeio, critrios de chauvenet, critrios de dixon. 7 Erro absoluto de medio. 8 Erro relativo, erro relativo percentual. 9 Erro mdio relativo, erro mdio relativo percentual. 10 Erros mximos admissveis, erro grosseiro, erro sistemtico, erro aleatrio. 11 Propagao de erros. 12 Distribuies (Normal e "t" de Student). Intervalo de confiana. III CONHECIMENTOS GERAIS DE METROLOGIA MECNICA. 1 Conceitos bsicos de comprimento e ngulo plano; Fatores de influncia que podem acarretar erros nas medies de comprimento; Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de instrumentos de medio de comprimento e ngulo plano. 2 Conceitos bsicos de fora, torque, dureza e impacto; Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de instrumentos de medio de fora, torque, dureza e impacto. 3 Conceitos bsicos de massa; grandezas de influncia relativas medio da massa com alta exatido; Princpios de medio de instrumentos de medio de massa. 4 Conceitos bsicos de presso e vcuo; Modalidades de presso (absoluta, manomtrica, negativa e diferencial); Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de instrumentos de medio de presso e vcuo. 5 Conceitos bsicos de volume, massa especfica, viscosidade e tenso superficial; Aplicabilidade, princpios de medio e de calibrao de instrumentos de medio de volume, massa especfica, viscosidade e tenso superficial. 6 Conceitos bsicos em relao grandeza vazo; Mtodos de padronizao, disseminao e calibrao de instrumentos de medio de vazo. IV CONHECIMENTOS GERAIS DE METROLOGIA ELTRICA. 1 Metrologia da grandeza resistncia eltrica: realizao, reproduo, conservao e disseminao da unidade. 2 Metrologia eltrica da grandeza tenso eltrica: medidores de tenso e corrente, impedncia, voltagem alternada, corrente alternada. Calibrao e circuitos de medio de tenso e corrente, certificados de calibrao, prticas de calibrao em tenso e corrente. 3 Metrologia na rea de capacitncia e Indutncia: capacitor padro, indutor padro, calibrao de capacitores e indutores, pontes de medio de capacitores e indutores, realizao e reproduo das unidades de capacitncia e indutncia. 4 Metrologia de potncia e energia eltrica: realizao, reproduo, conservao e disseminao da unidade, energia eltrica, potncia eltrica. 5 Transformadores, medidores de energia eltrica. V CONHECIMENTOS GERAIS DE METROLOGIA TRMICA. 1 Temperatura, energia, calor, construo de uma escala de temperatura, uso das escalas usuais de temperatura, calorimetria, transferncia de calor. 2 Termmetros e primeiras escalas termomtricas, necessidade de padronizao, escalas internacionais, Escala Internacional de Temperatura de 1990 (EIT-90), pontos fixos de temperatura, faixas e instrumentos de interpolao da EIT-90, rastreabilidade, medies de temperatura, termometria de lquido em vidro. definio de termopar,

fenmenos termoeltricos, leis da termoeletricidade, tipos de termopares, montagem de termopares, modelo de medio. 3 termometria de resistncia, termmetros de resistncia de platina, equaes de interpolao dos termmetros industriais de resistncia de platina, modelo de medio, principais fontes de erro, clculos na calibrao, termistor, termmetros de resistncia de nquel e de cobre e prticas de laboratrio. 4 Termometria de radiao, radiao eletromagntica, leis da radiao, termmetro de radiao, tipos de pirmetro, componentes bsicos de um pirmetro. VI CONHECIMENTOS GERAIS DE METROLOGIA DE ACSTICA E VIBRAES. 1 Noes bsicas de acstica. 2 Conceitos de escalas de medio (linear, logartmica, decibel). 3 Conceitos bsicos de grandezas acsticas. 4 Aplicabilidade, princpios de calibraes de padro e instrumentos de medies acsticas. 5 Tipos de transdutores de acstica e calibrao de transdutores de acstica. 6 Noes de medies de isolamento sonoro e medies de absoro sonora. Noes bsicas de vibraes. 7 Movimento ondulatrio, conceitos, caractersticas e classificao da onda. 8 Conceitos bsicos das grandezas de movimento (deslocamento, velocidade, acelerao). 9 Conceitos bsicos de medio: valor pico, valor eficaz (rms) e representao no tempo e frequncia. 10 Aplicabilidade, princpios de calibraes de padro e instrumentos de medies de vibraes. 11 Tipos de transdutores de vibraes e calibrao de transdutores de vibraes. VII CONHECIMENTOS GERAIS DE METROLOGIA PTICA. 1 Interferometria, instrumentao para medio interferomtricas. 2 Padres em metrologia dimensional (comprimento) e tcnicas de medio. 3 Intensidade luminosa, iluminncia, fluxo luminoso, Normas de iluminao de interiores. 4 Grandezas radiomtricas, detectores de radiaes pticas, caracterizao de detectores. 5 Espectrofotometria. 6 Colorimetria. 7 Instrumentao em radiometria e metodologias em medidas radiometricas. CARGO 60: TCNICO EM METROLOGIA E QUALIDADE - REA: METROLOGIA QUMICA I NOES GERAIS DE METROLOGIA. 1 Grandezas e suas definies. 2 A importncia da metrologia para a qualidade industrial. 3 Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM 2008): calibrao, cadeia de rastreabilidade, valor de referncia, exatido, repetitividade, reprodutibilidade, grandeza de influncia, mensurando, resultado de medio, rastreabilidade, resoluo, unidade de medida, procedimento de medio, padres, etc. 4 Sistema Internacional de Unidades (SI). 5 Definies das Unidades de base do SI. 6 Os prefixos do SI. 7 Converso de Unidades. 8 Unidades suplementares e unidades derivadas. 9 Grafia dos nomes das unidades e grafia dos smbolos das unidades. 10 A estrutura metrolgica mundial (Conveno do Metro, Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM), Conferncia Geral de Pesos e Medidas (CGPM), Comit Internacional de Pesos e Medidas (CIPM)). 11 reas da metrologia. 12 Acordo de Reconhecimento Mtuo (MRA). 13 Comparaes chave: conceitos bsicos. 14 Calibrao de padres e de instrumentos de medio. 15. Realizao, reproduo, conservao e disseminao de unidades. 15 Sistema Interamericano de Metrologia (SIM). 17 Sistema Nacional de Metrologia: Sinmetro, Conmetro e o Inmetro. 18 Incerteza de medio (conceitos, incerteza padro tipos A e B, incerteza combinada, incerteza expandida). 19 Erro e a incerteza de medio, distino entre preciso (repetitividade) e exatido. 20 Requisitos gerais para a competncia de laboratrios de ensaio e calibrao. 21 Apresentao e indicao dos resultados de uma medio (algarismo significativos, transformao da unidade do resultado, quantidade de casas decimais, arredondamento de valores numricos,

operaes com algarismos significativos). II ESTATSTICA BSICA APLICADA METROLOGIA. 1 Histograma. 2 Grficos de distribuio. 3 Mdia, mediana, moda e outras medidas de tendncia central (mdia aritmtica, mdia aritmtica ponderada, mdia geomtrica, mdia harmnica). 4 Varincia e desvio padro. 5 Homogeneidade de varincias, combinao de varincias. 6 Critrios de rejeio, critrios de chauvenet, critrios de dixon. 7 Erro absoluto de medio. 8 Erro relativo, erro relativo percentual. 9 Erro mdio relativo, erro mdio relativo percentual. 10 Erros mximos admissveis, erro grosseiro, erro sistemtico, erro aleatrio. 11 Propagao de erros. 12 Distribuies (Normal e "t" de Student). Intervalo de confiana. III QUMICA FUNDAMENTAL. 1 Estrutura da Matria. 1.1 Estrutura do tomo. 1.2 A tabela peridica: propriedades peridicas dos elementos. 2 Ligao Qumica. 2.1 Compostos inicos, frmulas e reaes: frmulas, equaes, reaes e ligaes qumicas. 2.2 Compostos covalentes, frmulas e estruturas: molculas covalentes, estrutura de Lewis, geometria e polaridade molecular, formao da ligao covalente. 2.3 Estequiometria: composio percentual, frmulas empricas e moleculares. 3 Estados da matria. 3.1 Gases: gs ideal, presso e temperatura padro, massa molar, densidade e volume molar, lei de Dalton; 3.2 Lquidos e slidos: foras intermoleculares, propriedades fsicas dos lquidos e dos slidos, mudana de fase. 3.3 Solues: solubilidade, o efeito da presso na solubilidade, efeito da temperatura na solubilidade, solues aquosas, concentrao, propriedades coligativas. 4 Fsico-qumica. 4.1 Equilbrio qumico: constante de equilbrio, clculos, o princpio de Le Chatelier. 4.2 Cintica: a velocidade das reaes, fatores que afetam a velocidade das reaes, leis de velocidade, energia de ativao. 4.3.Termodinmica: princpios, termoqumica. 4.4. Eletroqumica. 5 Reaes qumicas. 5.1 Reaes de xido-reduo: nmero de oxidao, balanceamento e estequiometria. 5.2 cidos e bases: teorias, nomenclatura, neutralizao, pH. 5.3 Qumica orgnica e polmeros: funes orgnicas, nomenclatura, reaes, Isomeria constitucional e estereoisomeria, polmeros. 6 Laboratrio qumico: 6.1 Segurana no laboratrio. 6.2 Utilizao de equipamentos e vidrarias. 6.3 Mtodos de separao e purificao. 6.4 Preparao de solues. 7 Metrologia qumica. 7.1 Calibrao de padres e instrumentos de medio da rea de qumica. 7.2 Medio de pH e condutividade eletroltica. 7.3 Introduo espectroscopia atmica. 7.4 Introduo cromatografia. JOO ALZIRO HERZ DA JORNADA Presidente do Inmetro ANEXO 1 QUADRO DE VAGAS As vagas a que se refere este edital so destinadas ao estado do Rio de Janeiro, exceo daquelas especificadas no quadro a seguir, destinadas s Superintendncias do Inmetro nos estados do Rio Grande do Sul, de Gois e do Distrito Federal: CARGO/REA GOIS / DISTRITO FEDERAL Portadores Portadores Gera de Geralde l deficincia deficincia 1 * ** ** RIO DE JANEIRO RIO GRANDE DO SUL Total

1 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade /

Portadores Gera de l deficincia ** ** 1

Assistente Social 2 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade / 9 Avaliao da Conformidade 3 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade / 6 Cincias Contbeis 4 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade / 2 Estatstica 5 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade / 11 Gesto Pblica 6 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade / 1 Medicina - Cardiologia 7 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade / 1 Medicina - Ortopedia e Traumatologia 8 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade / 1 Medicina - Psiquiatria 9 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade / 1 Medicina do Trabalho 10 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 16 e Qualidade / Acreditao 11 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Anlise de 2 Requisitos e Qualidade de Software 12 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 2 e Qualidade / Arquitetura de Solues de Softwares 13 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 3 e Qualidade / Articulao Internacional 14 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 2 e Qualidade / Cincia da Computao 15 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 4 e Qualidade / Cincias Econmicas

1 1 * 1 *

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10 8 2 15 1

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1 1 17

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16 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / ** Desenvolvimento de Sistemas 17 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 4 e Qualidade / Educao a distncia 18 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 2 e Qualidade / Engenharia Civil 19 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 4 e Qualidade / Engenharia Eltrica 20 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 3 e Qualidade / Engenharia Eletrnica 21 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 4 e Qualidade / Engenharia Mecnica 22 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 1 e Qualidade / Engenharia de Produo 23 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 1 e Qualidade / Engenharia de Segurana do Trabalho 24 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 2 e Qualidade / Gesto da Informao 25 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Governana 2 de Tecnologia da Informao 26 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Infraestrutura 2 e Redes de Tecnologia da Informao 27 - Pesquisador 3 Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Informtica

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2 3

aplicada Metrologia Legal 28 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / 1 Instrumentao em Dinmica dos Fluidos 29 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 3 e Qualidade / Metrologia Acstica e Vibraes 30 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Metrologia 1 Aplicada Bioqumica e Biologia Molecular 31 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Metrologia 1 Aplicada ao Cultivo de Clulas 32 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Metrologia 1 Aplicada ao Cultivo de Clulas Animais 33 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Metrologia 1 Aplicada Microscopia de Macromolculas 34 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Metrologia 1 Aplicada Microscopia ptica 35 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 3 e Qualidade / Metrologia da Dinmica dos Fluidos 36 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 4 e Qualidade / Metrologia de Grandezas Eletromagnticas 37 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 8 e Qualidade / Metrologia legal 38 - Pesquisador 3 Tecnologista em Metrologia e Qualidade / Metrologia em

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1 *

1 **

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10 3

Grandezas pticas 39 - Pesquisador Tecnologista em Metrologia 2 e Qualidade / Metrologia em Grandezas Trmicas 40 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 4 e Qualidade / Metrologia em Mecnica 41 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 2 e Qualidade / Metrologia de Materiais - OPO 1 42 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 2 e Qualidade / Metrologia de Materiais - OPO 2 43 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 0 e Qualidade / Metrologia em Qumica - OPO 1 44 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 4 e Qualidade / Metrologia em Qumica - OPO 2 45 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 3 e Qualidade / Microscopia Eletrnica 46 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 1 e Qualidade / Microscopia Forense 47 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 1 e Qualidade / Psicologia 48 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 6 e Qualidade / Recursos Humanos 49 - PesquisadorTecnologista em Metrologia 3 e Qualidade / Tecnologia e Inovao 50 - Assistente Executivo em Metrologia e Qualidade /8 Administrao 51 - Tcnico em Metrologia 4 e Qualidade / Biotecnologia 52 - Tcnico em Metrologia 2

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10 4 2

e Qualidade / Contabilidade 53 - Tcnico em Metrologia e Qualidade / Eltrica 54 - Tcnico em Metrologia e Qualidade / Eletrnica 55 - Tcnico em Metrologia e Qualidade / Edificaes 56 - Tcnico em Metrologia e Qualidade / Instrumentao 57 - Tcnico em Metrologia e Qualidade / Mecnica 58 - Tcnico em Metrologia e Qualidade / Metrologia 59 - Tcnico em Metrologia e Qualidade / Metrologia Cientfica 60 - Tcnico em Metrologia e Qualidade / Metrologia Qumica

4 4 1 4 4 4 7 5

1 * * 1 1 1 1 1

** ** ** ** ** 12 ** **

** ** ** ** ** 1 ** **

** ** ** ** ** 19 ** **

** ** ** ** ** 2 ** **

5 4 1 5 5 39 8 6

* no reservadas vagas para candidatos portadores de deficincia para provimento imediato em virtude do quantitativo oferecido. ** no h vagas para estes cargos / reas / localidades. ANEXO II MODELO DE LAUDO PARA PERCIA MDICA (candidatos que se declararam portadores de deficincia) Atesto, para os devidos fins, que o(a) Sr(a) portador(a) da(s) doena(s), CID _____________________________, que resulta(m) na perda da(s) seguinte(s) funo(es) _______________________. Cidade/UF, ____ de ____________ de 20___. _________________________ Assinatura e carimbo do Mdico Observao: validade de 12 meses. ANEXO III MODELO DE CURRCULO 1. DADOS PARA IDENTIFICAO: NOME: CARGO:

REA INSCRIO N CPF: RG: 2. ESCOLARIDADE: GRADUAO. CURSO DE: ENTIDADE DE ENSINO: ANO CONCLUSO: PS-GRADUAO CURSO SUPERIOR COM TTULO DE MESTRE: ENTIDADE DE ENSINO: REA DE CONCENTRAO: TTULO DA DISSERTAO: ANO CONCLUSO: CRDITOS DE DOUTORADO CONCLUDOS, FORNECIDOS POR INSTITUIO DE ENSINO SUPERIOR RECONHECIDA PELO MINISTRIO DA EDUCAO, COM COMPROVAO DE APROVAO DE EXAME DE QUALIFICAO. REA DE CONCENTRAO: ENTIDADE DE ENSINO: TTULO PROVISRIO DA TESE: DATA DA APROVAO DE EXAME DE QUALIFICAO: ______/_____/______ - CURSO SUPERIOR COM TTULO DE DOUTOR: ENTIDADE DE ENSINO: REA DE CONCENTRAO: TTULO DA TESE:

ANO CONCLUSO: CURSO DE ESPECIALIZAO (CURSOS DE ESPECIALIZAO, CONFORME CARGA HORRIA DEFINIDA NO RESPECTIVO QUADRO DE TTULOS - NO MXIMO, DOIS CURSOS): 1 - NOME DO CURSO: ENTIDADE DE ENSINO: PERODO: CARGA HORRIA TOTAL: 2 - NOME DO CURSO: ENTIDADE DE ENSINO: PERODO: CARGA HORRIA TOTAL: CURSOS DE APERFEIOAMENTO (CURSOS DE APERFEIOAMENTO, COM CARGA HORRIA MNIMA DE 90 HORAS - NO MXIMO, TRS CURSOS): NOME DO CURSO: PERODO: TOTAL DE HORAS: NOME DO CURSO: PERODO: TOTAL DE HORAS: NOME DO CURSO: PERODO: TOTAL DE HORAS: 3. EXPERINCIA PROFISSIONAL (DESCREVA OS PROJETOS / ATIVIDADES RELEVANTES PARA A REA DE ATUAO E ESPECIALIDADES DESENVOLVIDAS / ADQUIRIDAS EM ORDEM DECRESCENTE). 1- NOME DA EMPRESA / ENTIDADE: NOME DO PROJETO / ATIVIDADES:

CARGA HORRIA SEMANAL: PERODO: CARGO / FUNO EXERCIDA: 2- NOME DA EMPRESA / ENTIDADE: NOME DO PROJETO / ATIVIDADES: CARGA HORRIA SEMANAL: PERODO: CARGO / FUNO EXERCIDA: 3- NOME DA EMPRESA / ENTIDADE: NOME DO PROJETO / ATIVIDADES: CARGA HORRIA SEMANAL: PERODO: CARGO / FUNO EXERCIDA: 4- NOME DA EMPRESA / ENTIDADE: NOME DO PROJETO / ATIVIDADES: CARGA HORRIA SEMANAL: PERODO: CARGO / FUNO EXERCIDA: OUTRAS OBSERVAES JULGADAS RELEVANTES PARA O CARGO (PARTICIPAO EM CONGRESSOS, SIMPSIOS REUNIES TCNICOCIENTFICAS, VISITAS TCNICAS, PRMIOS CONCEDIDOS). ______________________________________________________________________ ____________________ ______________________________________________________________________ ____________________ ______________________________________________________________________ ____________________ ANEXO IV QUANTITATIVO DE PROVAS DISCURSIVAS A SEREM CORRIGIDAS CARGO/REA Gera Portadores de

l 1- Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Assistente Social 2 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Avaliao da Conformidade 3 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Cincias Contbeis 4 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Estatstica 5 - Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Gesto Pblica 6- Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Medicina Cardiologia 7- Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Medicina Ortopedia e Traumatologia 8- Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Medicina Psiquiatria 9- Analista Executivo em Metrologia e Qualidade/Medicina do Trabalho 10 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Acreditao 11 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Anlise de Requisitos e Qualidade de Software 12 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Arquitetura de Solues de Softwares 13 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Articulao Internacional 14 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Cincia da Computao 15 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Cincias Econmicas 16 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Desenvolvimento de Sistemas 17 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Educao a distncia 18 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Engenharia Civil 19 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Engenharia Eltrica 20 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Engenharia Eletrnica 21 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Engenharia Mecnica 22 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Engenharia de Produo 23 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Engenharia de Segurana do Trabalho 24 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Gesto da Informao 25 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Governana de Tecnologia da Informao 6

deficincia 1

60 6 42 6 12 1 84 6 6 6 6 6 1 1 1 1

96 6 12 1 12 1 18 1 12 1 24 1 6 1

24 1 12 1 30 1 18 1 36 1 12 1 6 1

12 1 12 1

26 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Infraestrutura e Redes de Tecnologia da Informao 27 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Informtica aplicada Metrologia Legal 28 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Instrumentao em Dinmica dos Fluidos 29 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia Acstica e Vibraes 30 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia Aplicada Bioqumica e Biologia Molecular 31 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia Aplicada ao Cultivo de Clulas 32 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia Aplicada ao Cultivo de Clulas Animais 33 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia Aplicada Microscopia de Macromolculas 34 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia Aplicada Microscopia ptica 35 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia da Dinmica dos Fluidos 36 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia de Grandezas Eletromagnticas 37 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia legal 38 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia em Grandezas pticas 39 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia em Grandezas Trmicas 40 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia em Mecnica 41 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia de Materiais - OPO 1 42 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia de Materiais - OPO 2 43 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia em Qumica - OPO 1 44 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Metrologia em Qumica - OPO 2 45 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Microscopia Eletrnica 46 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Microscopia Forense 47 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Psicologia 48 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Recursos Humanos 49 - Pesquisador-Tecnologista em Metrologia e Qualidade/Tecnologia e Inovao

12 1 18 1 6 1

18 1 6 6 6 6 6 1 1 1 1 1

18 1 24 1 54 6 18 1 12 1 24 1 12 1 12 1 6. 1.

24. 1. 18. 1. 6. 6. 1. 1.

36. 6. 18. 1.

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