Documenti di Didattica
Documenti di Professioni
Documenti di Cultura
Uma das grandes invenções do século 20, o transistor, foi um resultado inesperado de
pesquisas realizadas em radares para os Estados Unidos e Grã-Bretanha durante a 2ª
Guerra Mundial. O que a Companhia Telefônica Bell Labs queria em 1945 era uma
alternativa de estado sólido para as frágeis, caras e consumidoras de potências
chamadas válvulas (Vacuum tubes).
O físico William Shockley, diretor do programa, e seus colegas Walter Brattain e John
Bardeen atingiram seu objetivo 2 anos e meio mais tarde, a 23 de dezembro de 1947
criando o Transistor de Contato Puntual.
A invenção foi um grande sucesso. O transistor de junção não era apenas mais estável e
confiável que seu predecessor mas era também muito mais simples e barato. Suas
primeiras aplicações comerciais surgiram em 1953. Inicialmente ele era um dispositivo
caro. Texas Instruments, um dos principais fabricantes, vendia transistores de germânio
de junção por US$ 96 cada, numa época em que as válvulas custavam US$ 1 ou menos.
Apesar disso, os transistores eram muito superiores, consumindo infinitamente menos
energia e não produzindo calor. Em meados da década de 50 eles já custavam US$ 2,50
e o primeiro rádio portátil a transistor, chamado Regency, era vendido a US$ 50,00.
No final dos anos 50, fabricar um transistor já era um processo industrial de grandes
volumes, utilizando uma técnica de litografia conhecida como processo mesa. Esse
processo, no entanto, tinha inconveniente. A mesa estava sujeita tanto a contaminação
como acidentes e este processo não permitiria a fabricação de resistores.
Foi então que Jean Hoerni, um físico suíço e um dos fundadores da Fairchild, inventou um
processo onde ao invés de montar-se a mesa no topo do substrato de silício, ele
simplesmente a difundia na base, e a seguir o emissor nesta, cobrindo o dispositivo com
uma camada protetora. O resultado foi o processo planar, durável e confiável, o marco
que tornou possível a produção comercial de circuitos integrados.
Enquanto isso, Robert Noice, também da Fairchild, dava um passo importante na forma
de interconectar os microcomponentes do circuito integrado. Ele inspirou-se nas técnicas
que empregavam dióxido de silício como barreira para a difusão de impurezas. Dessa
forma, enquanto o processo de Jack Kilby utilizava pequeninos fios nas conexões entre os
componentes do circuito, o processo desenvolvido por Robert Noyce empregava trilhas de
alumínio ou ouro, que podiam ser aplicadas com a ajuda de máscaras e fotolitografia.
O primeiro circuito integrado lógico foi anunciado em março de 1961 pela Fairchild, e
consistia de um flip-flop de diâmetro de 1,5 mm (Figura 2 –1961).
Figura 4 : Primeira Memória Estática - SRAM Figura 5 : Primeira Memória Dinâmica - DRAM
(Fairchild – 1970) (Intel – 1970)
O primeiro microprocessador (Intel 4004) nasceu de um projeto de um fabricante de
calculadoras encomendado à Intel em 1969. Era um computador de uso geral constituído
de 4 pastilhas; uma ROM de 256 bits, uma RAM de 32 bits, um registrador de
deslocamento de 10 bits e um microprocessador de 4 bits. Ao invés de distribuir as
funções lógicas e aritméticas por várias pastilhas, Marcian e Holf, propuseram colocá-las
todas em um único circuito integrado.
Alguns meses após, outra firma pediu à Intel para projetar um conjunto de CI´s para um
terminal inteligente. A Intel sugeriu um microprocessador, só que deveria ser mais
poderoso que o 4004, precisando de 8 bits. Assim surgiu o Intel 8008 (Figura 6 – 1972),
projetado por Hal Feeney, Ted Holf, Frederico Faggin e Stan Mazer, com
aproximadamente 3.300 transistores MOS. Curiosamente ele foi rejeitado pela firma por
ser muito lento, e a Intel colocou-o no mercado aberto, onde foi um grande sucesso. As
dimensões da pastilha do 8008 era de 3mm x 4,3mm.
Fonte : Intel
Figura 8 : Dimensão mínima dos transistores por circuito integrado com o avanço da tecnologia[2]
3. TRANSISTOR MOSFET
Porta
N+ N+ Xj
Dopagem de Fósforo
e/ ou Arsênio
Si - P
Substrato
Figura 9. Perfil de um transistor NMOSFET
A figura 10 apresenta a foto de um transistor NMOSFET de porta de silício policristalino,
projetado e fabricado na Escola Politécnica da USP[3].
400 µm
Porta
300 µm
Dreno
Fonte
Si-Poli
[3]
Figura 10. Foto de um Transistor NMOSFET fabricado na Escola Politécnica da USP
O perfil de um transistor MOSFET canal P (PMOSFET) pode ser visto na figura 11.
Porta
N ++
P N ++
P Xj
Dopagem de boro
Fósforo
(BF2)
e/ou Arsênio
Si - N
P
Substrato
Figura 11. Perfil de um transistor PMOSFET
4. INVERSOR CMOS
a) b)
VDD
280 µm Vout
PMOSFET
VDD GND
Vin Vout
NMOSFET
Vin
420 µm
c)
Vin
Si-Poli
Vout
VDD GND
Metal
SiO2
(Isolante)
N+ P+ P+ N+ N+ P+
Si - N
Si - P
5. TENDENCIAS FUTURAS
Com a constante diminuição das dimensões, diversos efeitos de canal curto apareceram
dificultando a utilização de estrutura planar de porta única dos transistores MOSFET
convencionais.
O aumento do número de portas (double gate ou triple gate) melhora muito o acoplamento
porta-canal, que minimiza os efeitos de canal curto, viabilizando transistores de até 10nm
de comprimento de canal.
A camada de silício do canal pode ser dopada ou não. A tendência é utilizar camada sem
dopagem (manter a dopagem natural da lâmina que é por volta de 1015 átomos de
boro/cm3), para se evitar o problema de degradação da mobilidade causado pelo aumento
da dopagem, bem como a variação de tensão de limiar (VT) causada pela variação
estatística de dopantes no canal.
O eletrodo de porta precisa ser um metal (TiN, por exemplo), não só para evitar o
problema da depleção do silício policristalino, como também para ajustar a tensão de
limiar de ambos os transistores (NMOSFET e PMOSFET), pois com o canal fracamente
dopado, a tensão de limiar ficaria inadequada.
Porta
Dielétrico de porta
Dielétrico de porta
Fonte
Fonte
Dreno
Dreno
N+
N+ Metal
N+
N+
SiO 2
SiO2 Si -
P
Si-P
Figura 14. Vista em perspectiva de um Transistor SOI FINFET (candidato a próxima geração)
6. CONCLUSÃO
O Brasil tem desenvolvido pesquisas de alto nível nessa área, principalmente em centros
de pesquisas e universidades. Mas um país com dimensões continentais, precisa de mais
“massa crítica” para dar conta da infinidade de aplicações relacionadas às áreas de
microeletrônica e nanoeletrônica.
Referências
[2] Moore, G. E., Technical Digest International Electron Devices Meeting, 1995.
[4] Martino, J. A., “Um processo CMOS de cavidade dupla para comprimentos de porta de
2 µm”. Tese de Doutorado, Escola Politécnica da USP, 1988.
[5] Pavanello, M. A., Martino, J. A., Simoen, E., Rooyackers, R., Collaert, N. e Claeys, C.;
“Low Temperature Analog Operation of Triple Gate FinFETs with HfO2 Dielectrics and TiN
Gate Material", IEEE International SOI Conference, 2006.