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Catalisadores
Catalisadores são materiais muito
complexos e um problema básico
em Catálise consiste em
correlacionar o comportamento
catalítico de um material e as suas
propriedades.
3. A textura do catalisador:
Textura do suporte Método BET
(porosidade, área específica, Porosimetria
distribuição de poros)
Caracterização textural de
catalisadores
O conhecimento das propriedades
texturais de um catalisador tem uma
grande importância prática, dado que
a dimensão das partículas/porosidade
tem uma influência direta sobre o
número e acessibilidade dos centros
ativos.
A caracterização da textura de um
catalisador (área específica, volume
poroso, diâmetro de poros...) realiza-
se através de algumas técnicas básicas:
análise das isotermas de adsorção
porosimetria de mercúrio
monocamada A
- N2
FISISSORÇÃO DE
NITROGÊNIO
C – C = 1,54 Å (parafinas)
CuK 1 = 1,5418 Å
Imagine que um feixe de raios-X incida sobre
um cristal. Como o espaçamento entre os
átomos do cristal tem um valor comparável
com o comprimento de onda dos raios-X, o
feixe se refletirá nos planos dos átomos
como em um espelho. Veja o que se passa
com dois raios que incidem em planos
vizinhos. Os máximos ("altos") de cada onda
são assinalados com uns tracinhos. Um dos
raios (em verde), incide no plano de baixo e
percorre uma distância um pouco maior que
o outro (em vermelho). A diferença entre os
dois caminhos é mostrada na trajetória do
raio verde, com uma cor rosa. Nesse
desenho, essa diferença é exatamente um
comprimento de onda. Portanto, os raios
refletidos (ou "difratados", no caso) saem
em fase e terão interferência construtiva. É
claro que isso só acontece para um ângulo
de incidência bem determinado.
Sempre que a diferença de fase entre duas
ondas for zero, 1 comprimento de onda, 2
comprimentos de onda etc, as ondas
interferem construtivamente e suas
amplitudes se somam. Mas, se a diferença
de fase for de meio comprimento de onda,
três meios comprimentos de onda etc, elas
interferem destrutivamente e suas
amplitudes se subtraem.
Veja agora um feixe incidindo em um ângulo
mais rasante. Nesse caso, a diferença de
caminhos é menor. Desenhamos o caso
especial em que a diferença de caminho é
exatamento meio comprimento de onda.
Agora os raios difratados estão defasados
um do outro: um alto de um corresponde a
um baixo do outro. Haverá interferência
destrutiva e os dois raios se anularão. Isto é,
nessa direção não haverá raios-X refletidos.
Agora podemos escrever a chamada Lei de Bragg.
Pode-se ver na figura (trigonometria), que a
diferença de caminhos é , onde é o ângulo entre a
direção dos raios-X e o plano de átomos do cristal. A
interferência será construtiva e, portanto, haverá
um feixe difratado apenas no caso em que essa
diferença de caminhos for um número inteiro de
comprimentos de onda dos raios-X. Isto é, se
2dsen = n (n = inteiro), haverá um feixe
difratado. Essa é a Lei de Bragg.
No caso do método dos pós, sendo a
amostra constituída por um grande número
de cristalitos, cuja orientação se supõe
completamente estatística, existe sempre
um dado número desses cristalitos para as
quais se verifica a relação de Bragg, entre o
ângulo de incidência da radiação e uma
família de planos cristalinos, definida pelos
índices de Miller (h k l):
O difratômetro de pós
O difratômetro de pós está esquematizado
na figura seguinte.
Onde:
• v volume de gás quimissorvido;
• VM volume molar do gás;
• s superfície ocupada por um
átomo metálico;
• n estequiometria da reação de
quimissorção;
• NA número de Avogadro
Os valores de n não são tão evidentes
a partir das valências, mas depende
da natureza do gás e do metal. É
possível mostrar pelo menos duas
formas quimissorvidas para a
adsorção de CO sobre níquel em
função das condições operacionais:
Ni
C = O (n = 2)
Ni
A figura abaixo apresenta a influência da
área do suporte sobre a dispersão do agente
ativo ( 10% Ni/SiO2)
- N2
FISISSORÇÃO DE
NITROGÊNIO
ÁREA METÁLICA
QUIMISSORÇÃO
COM MOLÉCULAS
ESPECÍFICAS
Espectroscopia no infravermelho de
CO adsorvido
Em geral, esta testes são conduzidos em
espectrofotômetros de absorção no infravermelho
com transformada de Fourier, com diferentes
resoluções da ordem de 4 cm-1 ou inferiores. Os
instrumentos são equipados com câmaras de aço
inoxidável e com janelas de CaF2, que permitem a
realização de tratamentos “in situ”. Os
catalisadores (25 mg), depois de moídos e
prensados (5 tons/cm2) em pastilhas de 10 mm de
diâmetro, são acoplados individualmente a um
suporte especial e introduzidos na câmara do
espectrômetro, onde são submetidos a distintos
tratamentos: redução em fluxo de H2 a diferentes
temperaturas, resfriamento em fluxo de He até a
temperatura ambiente e tratamento sob vácuo por
30 min.
Previamente à introdução de CO registra-se
um espectro de absorção no infravermelho
da superfície reduzida, para ser empregado
como referência. As amostras são postas
em contato com CO, à temperatura
ambiente e pressão de 0,7 torr, que
garante o recobrimento total da superfície
metálica. Os espectros de absorção no
infravermelho são registrados depois de 5
min de contato e vácuo por 2 min. As
bandas correspondentes ao CO adsorvido
são obtidas subtraindo-se o espectro de
referência dos espectros das amostras
obtidos após 2 min de vácuo.
A tabela abaixo apresenta as
características das diferentes espécies
de CO adsorvidas sobre Ni/SiO2.
LINEAR L Ni – CO 2040 1
a Valor aproximado
CO CO CO
Ni Cu
suporte
Ni/SiO2 Ni-Li/SiO2
Sem promotor Li Espécies
subcarbonilas (SC) instáveis.
Adição do promotor Li Estabilização
das espécies sub-carbonilas (SC) (mais
estáveis na superfície do catalisador)
MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A determinação da estrutura da superfície
de sólidos é possível empregando-se uma
variedade de métodos experimentais,
dependendo a escolha da informação
específica desejada. Com monocristais, a
simetria da estrutura da superfície e a
presença de características, como degraus,
podem ser obtidas usando-se difração de
elétrons de baixa energia (LEED).
Para cristais reais, a topografia da superfície
pode ser investigada por microscopia ótica
convencional e diversas outras técnicas
microscópicas, como microscopia eletrônica
de varredura (SEM), microscopia eletrônica
de transmissão (TEM), microscopia
eletrônica de transmissão com varredura
(STEM), microscopia eletrônica de alta
resolução (HREM) e microscopia eIetrônica
analítica (AEM).
O conceito básico no exame de amostras
por SEM é que a intensidade da radiação
emergente de cada região da superfície é
característica da topografia da região.
Variações locais na topografia da superfície,
i.e., orientação da superfície em relação ao
feixe de elétrons, origina contraste na
imagem de SEM. Os sinais de raios-X
associados podem ser usados para
obtermos informações sobre a composição
química (análise dispersiva de energia por
raios-X, EDAX). O ambiente local dos
átomos (número de coordenação, natureza
dos ligantes e distâncias interatômicas)
pode ser determinado de uma análise da
estrutura fina estendida da absorção de
raios-X (EXAFS) e, o ambiente de átomos
superficiaís, empregando-se EXAFS de
superfície, EXAFS de ângulo tangencial, de
ângulo crítico ou de reflexão (REFLEXAFS).
Exemplos em catálise do uso de
microscopia eletrônica
CATALISADOR Ni/SiO2
Observação da
sinterização dos
cristalitos de níquel
após 5 h de reação
de hidrogenação
de CO
perda de área
ativa metálica
CATALISADOR Ni-Li/SiO2
Observação de
amostra de
catalisador Ni/SiO2
promovido com lítio
após 5 h de reação
de hidrogenação de
CO
Reação insensível
0,5 à estrutura
0 2 4 6 8 10
dp (nm)
Atividade de hidrogenação do benzeno
( 10-3 mol h-1 g-1)
Hidrogênio 2 41,6
Metano 4 34,8
Nitrogênio 28 5,8
Pentano 72 3,1
Hexano 86 3,0
Onde:
S – sensibilidade
K – constante que depende da geometria
da célula e da localização do filamento;
I – intensidade da corrente;
R – Resistência do filamento;
- diferença de condutividade térmica
entre a amostra e o gás de arraste;
g – condutividade térmica do gás de
arraste;
Tf – temperatura do filamento;
Tb – temperatura do bloco do detector.
Alguns exemplos em que a técnica de
redução à temperatura programada é
utilizada como fonte importante de
informação:
A tabela a seguir mostra os principais
parâmetros de um catalisador de
níquel preparado por dois métodos
distintos.
Método Ni (%) (%) D (%) SM dP (nm)
(m2/g)
Impregnação 10,4 89 1,6 10 60
Precipitação 9,3 91 7,9 48 13
NaHCO3