UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA

PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM ENGENHARIA MECÂNICA

Modelo metrológico para seleção

de conjunto sensor/condicionador
de sinais para medição de
deformação e temperatura

Projeto de dissertação submetido à

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA

como parte dos requisitos necessários à obtenção do grau de

Mestre em Engenharia Mecânica

Carolina Brum Medeiros

Orientador Prof. Edison da Rosa

Florianópolis, janeiro de 2007.

 Sumário

Lista de Figuras . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. iv

Lista de Tabelas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. v

Lista de Siglas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. vi

Lista de Simbolos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. viii

1 Introdução . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 1

2 Objetivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 2

2.1 Objetivos gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 2

2.2 Objetivos específicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 2

3 Revisão bibliográfica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 3

3.1 Teoria da medição . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 3

3.1.1 Alguns termos do Vocubulário Internacional de Termos Fundamen-

tais e Gerais de Metrologia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 4

3.2 Teoria dos erros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 5

3.2.1 Fontes de erros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 5

3.2.2 Estatística dos erros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 6

3.3 Sistema de Medição . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 6

3.3.1 Módulos básicos de um sistema de medição . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 7

3.3.2 Características de um sistema de medição . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 8

3.4 Sistemas de aquisição de sinais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 10

3.5 Sensores/trandutores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 11
 3.5.1 Medição de deformação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 12

3.5.2 Medição de temperatura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 17

3.5.3 Sensores inteligentes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 20

3.5.4 Estado da arte em sensores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 20

3.5.5 Sistemas de comunicação para sensores - com fio . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 21

3.5.6 Sistemas de comunicação para sensores - sem fio . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 22

3.6 Condicionadores de sinal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 23

3.6.1 Medição de resistência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 23

3.6.2 Divisor de tensão . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 24

3.6.3 Ponte de Wheatstone . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 24

3.6.4 Anderson Loop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 25

3.6.5 Amplificadores diferenciais e de instrumentação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 26

3.6.6 Filtros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 27

3.6.7 Modulação . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 27

3.6.8 Amplificadores Chopper . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 27

3.6.9 Amplificadores de auto zero . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 28

3.6.10 Amplificadores de carga . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 28

3.7 Método UAEMS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 28

4 Metodologia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 29

4.1 Análise teórica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 29

4.2 Análise Matemática . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 30

4.3 Análise experimental . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 31

4.4 Método de seleção . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 31

5 Resultados e conclusões . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 32

Referências Bibliográficas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 33

6 Anexo I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 35
6.1 Cronograma de Atividades . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . p. 35
 Lista de Figuras

Figura 3.1 Módulos básicos de um sistema de medição ............................. 7

Figura 4.1 Módulos, fatores internos, externos e mútuos do conjunto estudado . . . . . . . . 30

 Lista de Tabelas

Tabela 3.1 Características típicas de extensômetros metálicos e semicondutores (1) . . . . 16

 Lista de Siglas

PW Ponte de Wheatstone

AL Anderson Loop

FI Faixa de indicação

FN Faixa nominal

FM Faixa de medição

VD Valor de uma divisão (de escala)

ID Incremento digital

R Resolução

CR Curva característica de resposta

S Sensibilidade

CE Curva de erros

H Histerese

TR Tempo de resposta

Td Tendência

C Correção

Re Repetitividade

Rp Reprodutibilidade

EL Erro de linearidade

SASs sistemas de aquisição de sinais

RTD Resistance Temperature Detector

PTC Positive Temperature Coefficient

NTC Negative Temperature Coefficient

RFID Radio-Frequency IDentification

PDAs Personal Digital Assitants

VD Tensão diferencial
VMC tensão de modo comum

GD ganho diferencial

GMC ganho de modo comum

RRMC razão de rejeição de modo comum

ac corrente alternada

UAEMS Unified Approach to the Engineering of Measurement Systems

 Lista de Simbolos

l comprimento

A área

ρ resistividade

R resistência

F força mecânica

σ tensão mecânica

E módulo de Young

ε deformação mecânica

GF Gage Factor
 1

1 Introdução

A intensa necessidade de conhecer, verificar e controlar dispositivos, em ambientes indus-

triais e de pesquisa, leva a necessidade de medições coerentes e metrologicamente guiadas.
Neste sentido, existem diversos estudos sobre características metrológicas de sistemas de me-
dição, porém a maioria é deficiente ou específica a alguma aplicação. Como exemplo, têm-se
os instrumentos convencionais, reconhecidos comercialmente, que, em sua maioria, não apre-
sentam aos usuários análises metrológicas criteriosas; garantindo apenas o erro máximo de seus
equipamentos. Este erro descrito é comumente condicionado ao módulo utilizado e ao número
de canais ativos. Vale lembrar que este dado é referente ao sinal de entrada no equipamento, e
não havendo nenhuma responsabilidade do fabricante quanto à estrutura auxiliar existente entre
sensor/transdutor e instrumento.

Esta estrutura auxiliar, prévia à inserção do sinal no instrumento de medição, caracteriza-

se pela presença de sensores/transdutores, fiação e condicionador de sinais, que não é levada
em conta nos dados metrológicos do instrumento. Esta etapa anterior é pouco explorada pela
literatura por haver diversas técnicas de realizá-la e por ser, na maioria das vezes, dedicada para
a configuração do sensor/transdutor.

Sendo assim, é necessário realizar a reunião de informações, hoje esparsas, sobre o módulo
inicial de qualquer medição: o conjunto sensor mais condicionador de sinais e todos os efeitos
internos e externos influentes neste binômio. E, para certificar os dados, é indispensável análise
matemática criteriosa para obtenção das incertezas previstas para cada conjunto.

Este projeto apresenta primeiramente seus objetivos gerais e específicos (Capítulo 2), se-
guido de uma breve revisão bibliográfica (Capítulo 3). O capítulo 4 apresenta o método de
pesquisa do problema, que comtempla os estudos teóricos, matemáticos e experimentais pre-
vistos. Com isto, busca-se chegar a alguns resultados (Capítulo 5). O cronograma de atividades
é apresentado no Anexo I.
 2

2 Objetivos

2.1 Objetivos gerais

Busca-se dissertar sobre os conjuntos sensores mais condicionador de sinais para medição
de temperatura e deformação. Esta descrição científica destes conjuntos compõe análise me-
trológica para indicação do melhor conjunto para cada aplicação e a formação de conjuntos
ótimos, ou seja, quais condicionadores são mais indicados para cada tipo de sensor.

2.2 Objetivos específicos

Em especial, dois condicionadores de sinal se destacam entre as variadas opções, um por sua
aceitação histórica, o condicionamento por ponte de Wheatstone (PW) e outro por ter excassa,
para não dizer inexistente, pesquisa publicada, além daquela realizada pelo seu desenvolvedor,
Karl Anderson, que é o condicionamento por Anderson Loop (AL). O último se auto apresenta
como solução simplificada e inteligente às limitações do primeiro, mas pouco se sabe sobre
suas características e sobre as possível limitações que desenvolve.

A comparação destes dois condicionadores será realizada, buscando características seme-

lhantes, distintas ou, ainda, aplicações ótimas para cada um. Com isso, alguns resultados podem
ser obtidos no sentido de indicar um ou outro condicionamento para uma determinada classe de
sensores: passivos, ativos, resistivos, piezoelétricos etc.

Ainda, a elaboração de um método de seleção do conjunto sensor/condicionador a utilizar,

de acordo com a aplicação a que se destina, o ambiente em que está inserido e a variação das
grandezas secundárias presentes (2).
 3

3 Revisão bibliográfica

Nesta seção do projeto, uma breve revisão bibliográfica é apresentada. Esta será dividida
nos seguintes tópicos:

• Teoria da medição;

• Teoria dos erros;

• Sistemas de medição;

• Sensores;

• Condicionadores;

• Método de Peter Stein.

3.1 Teoria da medição

A medição forma a ligação essencial entre o mundo empírico e o teórico (imagem abstrata
do mundo). Neste sentido, as medições são consideradas como sendo a representação de uma
grandeza empírica. Medir é mapear os elementos de uma fonte, pertencente a um domínio
empírico, sobre os elementos de uma imagem, parte do espaço abstrato. Em outras palavras,
os elementos da fonte representam as características dos estatos e os fenômenos do ambiente;
e, os elementos da imagem são símbolos de uma imagem abstrata. Estes símbolos podem ser
números (quantitativa) ou nomes (qualitativa).

As funções de transferências consistem em determinados algoritmos, regras e procedimen-

tos que definem a representação das grandezas empíricas por símbolos abstratos. Klaassen
(3) define cinco tipos de medições: nominal, cardinal, ordinária, por intervalo e por relação;
demonstrando maior preocupação com a representação simbólica do mundo abstrato. Já Alber-
tazzi et al (4) define a medição quanto à função na qual exerce na indústria e na pesquisa e,
também, quanto ao método de realização das medidas. Suas classificações citadas são descritas
a seguir.
3.1 Teoria da medição 4

Empregos da medição em processos ou fenômenos físicos:

• Monitorar Observar ou registrar passivamente o valor de uma grandeza. Esta função é

muito utilizada no comércio e em atividades cotidianas;

• Controlar De natureza ativa, a operação visa manter uma ou mais grandezas ou processos
dentro de limites predefinidos;

• Investigar Exige qualidade dos sistemas de medição, por envolverem descoberta e com-
preensão de novos fenômenos naturais.

Métodos básicos de medição:

• Comparação Determina o valor do mensurando comparando-o com um artefato cujo va-

lor de referência é muito bem conhecido (padrão);

• Indicação Torna perceptível para o usuário um efeito proporcional ao valor do mensu-

rando;

• Diferencial Combina os dois métodos anteriores, o mensurando é comparado a uma me-

dida materializada (padrão), cujo valor é próximo ao do mensurando, e a diferença entre
ambos é medida por um instrumento que opera pelo método da indicação.

Para frisar a importância dos termos técnicos metrológicos para a correta transmissão de
informações de qualquer sistema de medição, alguns conceitos básicos do VIM (Vocubulário
Internacional de Termos Fundamentais e Gerais de Metrologia) (5) são descritos abaixo:

3.1.1 Alguns termos do Vocubulário Internacional de Termos Fundamen-

tais e Gerais de Metrologia

• Mensurando Objeto da medição. Grandeza específica submetida à medição;

• Incerteza de medição Parâmetro, associado ao resultado de uma medição, que caracteriza

a dispersão dos valores que podem ser fundamentadamente atribuídos a um mensurando;

• Erro de medição Resultado de uma medição menos o valor verdadeiro do mensurando;

• Instrumento de medição Dispositivo utilizado para uma medição, sozinho ou em conjunto

com dispositivo(s) complementar(es);

• Medida materializada Dispositivo destinado a reproduzir ou fornecer, de maneira perma-

nente durante seu uso, um ou mais valores conhecidos de uma dada grandeza;
3.2 Teoria dos erros 5

• Transdutor de medição Dispositivo que fornece uma grandeza de saída que tem uma
correlação determinada com a grandeza de entrada;

• Sensor Elemento de um instrumento de medição ou de uma cadeia de medição que é

diretamente afetado pelo mensurando.

3.2 Teoria dos erros

Os erros estão sempre presentes em uma medição. Compete a quem a realiza reduzi-los a
níveis aceitáveis ou, ao menos, conhecê-los para validar a confiabilidade de seus dados.

3.2.1 Fontes de erros

Vários fatores podem, agindo sobre o processo de medição, originar erros de medição. Estes
fatores são chamados de fonte de erros. A gênese dessas fontes pode ser interna ao aparato de
medição, externas, decorrer das interações entre o sistema de medição com o mensurando ou
com o operador.

Fatores internos ao sistema de medição

Nos aparatos de medição elétricos, as conexões e propriedades dos componentes eletrônicos

e o desempenho dos circuitos são as maiores fontes de erros internos. As propriedades de
vários componentes eletrônicos se degradam com o tempo de vida, além disso, muitas vezes
os valores comerciais de componentes não condizem com os valores nominais especificados
em projeto, gerando deturpações nas funções e características dos instrumentos. Outras fontes
geralmente negligenciadas, pela difícil detecção, são os efeitos das correntes de fuga, tensões
termoelétricas, não casamento das impedâncias, característica RLC dos condutores elétricos e
aterramento ou referência deficientes. .

Fatores externos ao sistema de medição

O ambiente no qual o sistema de medição está inserido influencia no seu comportamento.

Grandezas mecânicas como vibração e temperatura podem provocar erros expressivos. Já as
grandezas elétricas - como fortes campos eletromagnéticos, flutuações de tensão e freqüência da
rede de alimentação - podem alterar o funcionamento dos dispositivos eletrônicos que compõe
o conjunto de medição.
3.3 Sistema de Medição 6

Interações e retroações

Os sistemas de medição, especialmente os baseados em sensores passivos, interagem com

o mensurando podendo modificar o seu valor em maior ou menor grau. Este efeito é chamado
de retroação. Diversas interações podem subexistir no sistema de medição, mascarando dados.
Este fenômeno é de difícil detecção, a menos que altere drasticamente os dados.

Influência do operador

A leitura do resultado de medição, tanto analógico quanto digital, é feita por um operador
que possui sua própria percepção do resultado, podendo este ser interpretado de forma distinta
por outro operador.

3.2.2 Estatística dos erros

A teoria de erros utiliza a estatística, comumente, para expressar o erro relativo a uma
medição através dos conceitos já reconhecidos de erro, erro relativo, média, desvio padrão,
variância. É indispensável frisar a diferença entre erro e incerteza. Erro se refere a diferença
entre o valor verdadeiro do mensurando e o resultado da medição. Já a incerteza expressa dúvida
quanto ao resultado da medição. Os erros sistemáticos podem ser corrigidos, já as incertezas
devem ser estudadas para que suas fontes sejam reduzidas ao máximo possível.

3.3 Sistema de Medição

Neste ponto do trabalho, é importante ceder atenção a terminologia. Geralmente, inclu-

sive comercialmente, vários termos são encontrados para designar dispositivos que realizam
medições: sistema de medição, instrumento de medição, aparato de medição etc. Segundo o
Dicionário Michaelis (6), Sistema é

"Corpo de normal ou regras, entrelaçãdas numa concatenação lógica e, pelo

menos, verossímil, formando um todo harmônico. Conjunto ou combinação de
coisas ou partes de modo a formarem um todo complexo ou unitário. Qualquer
conjunto ou série de membros ou elementos correlacionados."

Segundo o mesmo dicionário, Instrumento é

"Aparelho, objeto ou utensílio que serve para executar uma obra ou levar a
efeito uma operação mecânica em qualquer arte, ciência ou ofício. Todo meio de
conseguir um fim, de chegar a um resultado."
3.3 Sistema de Medição 7

Por outro lado, o VIM (5) reconhece a utilização de vários termos para descrever os artefa-
tos utilizados nas medições, porém ele conceitua apenas Sistema-"Conjunto completo de instru-
mentos de medição e outros equipamentos acoplados para executar uma medição específica."-
e Instrumento -"Dispositivo utilizado para uma medição, sozinho ou em conjunto com disposi-
tivo(s) complementar(es)."

Neste trabalho, para evitar a repetição excessiva dos termos, são utilizados vários termos in-
discriminadamente. Os casos específicos em que a sinonimização não seja devida, são relatados
com cautela.

3.3.1 Módulos básicos de um sistema de medição

Os módulos básicos comprendem o transdutor ou sensor, a unidade de tratamento de sinal

e o dispositivos mostrador. O transdutor é o módulo que gera um sinal de medição geralmente
proporcional ao valor do mensurando. O sensor é o primeiro estágio do transdutor, é a parte
deste que é diretamente afetada pelo mensurando. A unidade de tratamento de sinais processa
o sinal de medição do transdutor/sensor e amplifica, atenua, filtra, digitaliza, armazena, ou seja,
trata o sinal para que o mesmo possa ser melhor apresentado à etapa seguinte. O dispositivo
mostrador é o módulo que torna o sinal de medição perceptível ao usuário.

Figura 3.1: Módulos básicos de um sistema de medição

A unidade de tratamento de sinais compreende vários módulos: condicionador de sinais,

multiplexador (quando da existência de mais de um canal), conversor analógico digital e co-
municação com o computador ou com placa de aquisição de sinais. A natureza dos sinais é
analógica até a entrada do conversor analógico digital, sendo digitalizada por este em seguida,
resultando em um sinal mais imune a ruídos e interferências.

O artigo "Approaches to evaluate the virtual instrumentation measurement uncertainties"

(7) defende que, mesmo que os erros devido aos sensores e seus condicionamentos sejam pre-
dominantes comparados as incertezas geradas na conversão analógico digital, eles não são ana-
lisados pelo artigo porque devem ser analisados separadamente cada situação em particular,
graças a variadade de soluções em transdutores e condicionadores. Esta é a uma grande moti-
vação para este trabalho.

O condicionamento de sinais pode contém diversas funções dependendo do fim ao qual se

destina: amplificação, filtragem, modulagem, atenuação, eliminação de offset, casamento de
3.3 Sistema de Medição 8

impedância e outras. O VIM (5) não faz referência a qualquer elemento que possa estar entre o
transdutor e o dispositivo mostrador. Segundo ISA (8), condicionador de sinais é: "Um módulo
que desloca, atenua, amplifica, lineariza e/ou filtra o sinal." Em geral, o termo é utilizado na
literatura para designar todo e qualquer dispositivo eletrônico utilizado para formatar o sinal de
maneira que este seja melhor digitalizado pelo conversor analógico digital.

3.3.2 Características de um sistema de medição

Características ligadas à faixa de utilização

Faixa de indicação (FI) Compreende o intervalo entre o menor e o maior valor que podes ser
indicado pelo dispositivo mostrador do sistema de medição;

Faixa nominal (FN) Válido quando o mostrador possui várias escalas, sendo possível escolher
a faixa ativa. Cada uma destas faixas é uma faixa nominal;

Faixa de medição (FM) Representa o conjunto de valores do mensurando para a qual o sis-
tema foi desenhado para operar.

Características ligadas à indicação

Valor de uma divisão (de escala) (VD) Nos instrumentos analógicos, corresponde à diferença
entre os valores da escala entre duas marcas sucessivas;

Incremento digital (ID) Corresponde à menor variação da indicação direta possível de ser
apresentada por um dispositivo mostrador digital;

Resolução (R) Representa a menor diferença entre indicações que pode ser significativamente
percebida. Nos instrumentos digitais, é equivalente ao incremento digital; nos mostrado-
res analógicos pode ser considerada igual ou uma fração de VD.

Características que relacionam o estímulo (entrada) com a resposta (saída)

Curva característica de resposta (CR) Denomina a relação entre o estímulo e a resposta de

um sistema, a relação entre entrada e saída, que pode ser linear ou de ordem superior;

Sensibilidade (S) É o quociente entre a variação da resposta (sinal de saída) e a correspondente

variação do estímulo (sinal de entrada). Corresponde a inclinação da curva característica
de resposta;

Curva de erros (CE) É um gráfico que representa os erros apresentados pelo sistema de me-
dição como função da sua indicação; revelando a forma em que os erros se manifestam;
3.3 Sistema de Medição 9

Histerese (H) O erro de histerese, normalmente classificado como aleatório, é quantificado

como sendo a diferença entre a indicação para um dado valor do mensurando quando
este é atingido por valores crescentes e a indicação quando o mensurando é atingido por
valores decrescentes;

Tempo de resposta (TR) É o intervalo de tempo entre o instante em que o sistema é submetido
a um estímulo com uma variação brusca e o instante em que a resposta atinge e permanece
dentro de limites especificados em torno do seu valor final estável.

Características ligadas aos erros de medição

Tendência (Td) É uma estimativa do erro sistemático cometido por um sistema de medição,
calculada a partir da media das medições repetitivas efetuadas, da qual é subtraído o valor
verdadeiro convencional do padrão medido;

Correção (C) É o valor que somado ao resoultado naõ corrigido de uma medição compensa o
erro sistemático, corresponde numericamente à tendência com sinal invertido;

Repetitividade (Re) Exprime a intensidade com que agem os erros aleatórios em repetidas
medições do mesmo mensurando, efetuadas sob as mesmas condições de medição;

Reprodutibilidade (Rp) Exprime a intensidade com que agem os erros aleatórios em repetidas
medições do mesmo mensurando, efetuadas sob condições variadas de medição;

Erro de linearidade (EL) Exprime o quanto a curva característica de resposta real se afasta da
linha reta ideal;

Erro máximo (Emáx) É o valor absoluto do maior valor de erro de medição que pode ser
cometido pelo sistema de medição em toda a sua faixa de medição e nas condições ope-
racionais em que é avaliado;

Estabilidade Expressa a aptidão de um sistema de medição em conservar constantes suas ca-

racterísticas metrológicas, geralmente ao longo do tempo;

Deriva É a taxa de variação de uma característica que ocorre de maneira lenta e uniforme com
o tempo ou outra grandeza de influência.

Vale lembrar que precisão e exatidão são termos qualitativos e não devem ser utilizados
como parte do termos acima descritos que, por sua vez, descrevem quantitativamente os instru-
mentos de medição.
3.4 Sistemas de aquisição de sinais 10

Alguns autores, como Pallàs-Areny et al (1) e Beckwith et al (9), classificam os sistemas de

medição perante suas características estáticas (sensibilidade, resolução, repetitividade, reprodu-
tibilidade, linearidade, histerese e erros sistemáticos e aleatórios) e dinâmicas (erro dinâmico,
tempo de resposta, ordem do sistema) e ainda, por outras características como: impedância,
confiabilidade e outras.

3.4 Sistemas de aquisição de sinais

Este é o termo mais encontrado comercialmente para designar instrumentos de medição.

Estes SASs são cada vez mais compatíveis com a automação dos processos de medição. Con-
seqüência disto é a modularização constante dos sistemas. Na prática, o usuário adquire um
módulo SAS genérico e algumas placas específicas às aplicações que deseja. Isso gera a pre-
ocupação com a padronização de barramentos, conectores, linguagem de programação. O uso
de ferramentas livres e não proprietárias facilita a ampliação e interfaceamento de sistemas de
medição.

Flesch (10) argumenta que a modularização exige que o usuário conheça melhor as espe-
cificações de cada módulo do SAS e, ainda, que a técnica de propagação/combinação de erros,
utilizada para calcular a incerteza do SAS com um todo, é falha. Segundo ele, a solução seria
a técnica da modelagem, que é extremamente dificultada pelo fato comprovado que a maioria
dos fabricantes de módulos de SAS não fornecem as especificações necessárias para a estima-
tiva da incerteza de medição. O autor também explica que o motivo do não fornecimento das
especificações advém do fato de os usuários não as exigerem ou não saberem aplicar seus dados
(quando fornecidos).

Uma exemplificação do problema relatado pode ser apreciada pelos dados fornecidos pelo
fabricante HBM (11) sobre seu SAS mais reconhecido, o MGCPlus. Frisa-se o descuido do fa-
bricante com a língua portuguesa, os termos em inglês foram adaptados pelo uso de formatação
itálica.

Sistema MGCPlus:
Conversão A/D: conversor individual por canal de 24 bits - resolução de ±
7.680.000 steps.
Erro combinado máximo (linearidade, ruído, drift térmico, etc) - accuracy class:

• Módulo "single channel" 0,0025% / 0,01% / 0,03% - depende do módulo;

• Módulo "Multi channel" 0,01% / 0,05% / 0,1% - depende do módulo.

Taxa de amostragem (Sample rate):

3.5 Sensores/trandutores 11

• Módulo "single channel" 19.200 Hz (medidas por segundo por canal);

• Módulo "Multi channel" 2.400 Hz para 8 canais / 4800 Hz para 4 canais /

9.600 Hz para 2 canais (medidas por segundo por canal).

Taxa de transferência:

• Ethernet: 307.200 valores medidos por segundo;

• USB: 76.800 valores medidos por segundo.

Outros detalhes:

• Um conversor A/D, desenvolvido pela HBM especialmente para medição, por

canal, conseqüência disso é medição simultânea e sincronizada de todos os
canais;

• Possibilidade de até 03 sample rates diferentes e simultâneos;

• Controladores e memória digitais em todos os módulos, possibilitando ajustes

de zero, ganho em ambiente digital e seleção de filtros digitais independente
por slot, alem de seleção de trigger de inicio e fim de medição e para mudança
de sample rate, com possibilidade de lógicas AND e OR entre todos os canais;

• Portas de comunicação RS232, USB e Ethernet além de slot PCMCIA para

cartão de memória para operação stand alone (sem PC);

• Possibilidade de acesso multi-usuário.

Por outro lado, há a opção de projetar um SAS dedicado à necessidade, o que, por expe-
riência e por literaturas científicas, leva a crer que esta escolha resulta em dados com menor
incerteza, embora resultem em dispositivos limitados em funções e ampliações.

3.5 Sensores/trandutores

Este texto fará uso do termo sensores para englobar dispositivos sensores e transdutores, já
que a base funcional de um transdutor é o sensor. Assim como os sistemas de medição como
um todo, os sensores possuem suas características, algumas delas são:

• dimensões;

• resolução;

• exatidão;

• confiabilidade;
3.5 Sensores/trandutores 12

• estabilidade;

• largura de banda;

• tempo de resposta;

• impedância de entrada;

• impedância de saída;

• faixa de operação, medição;

• grandezas de interferência;

• grandezas de alteração;

• necessidade de alimentação (passivo/ativo).

Todos os sensores estudados serão classificados segundo essas características, auxiliando

a escolha de uma tecnologia de sensores para cada aplicação. Na literatura foram encontrados
dois tipos de classificação de sensores, uma segundo a grandeza física afetada pelo mensurando;
outra, segundo a função que exerce: medição de temperatura, deformação etc.

Classificam por grandeza afetada na medição, as seguintes obras pesquisadas: Signal and
Systems Conditioning (1) e Introduction to Instrumentation and Measurements (12); e por fun-
ção as obras: Electronic Measurement and Instrumentation (3), Introduction to Mechatronics
and Measurement Systems (13), Mechanical Measurements (9), Instrumentation and Control
(14), Handbook of Transducers for Electyronic Measuring Systems (15), Instrumentation for
Engineering Measurements (16), Measurement Systems (17).

Seguindo a tendência, esse texto apresenta uma classificação for função exercida, assim,
a seguir consta uma breve introdução aos sensores para medição de deformação mecânica e
temperatura.

3.5.1 Medição de deformação

Extensômetros piezoresistivos

O sensor/transdutor mais utilizado para medição de deformação é o extensômetro de re-

sistência, citado em todas as bibliografias da seção acima e, também, em bibliografias mais
antigas. Estes sensores, baseados no princípio piezoresistivo, em que uma alteração na gran-
deza de entrada (deformação, no caso) causa uma variação na resistência elétrica do material.
3.5 Sensores/trandutores 13

Podem ser de material condutor, para extensômetros metálicos; ou semicondutor, para extensô-
metros semicondutores. Estes últimos têm características bastante distintas ao primeiro, ainda
pouco explorados na literatura.

Um breve equacionamento dos dispositivos piezoelétricos é apresentado a seguir, descon-

siderando os efeitos secundários dos sensores.

A resistência elétrica do fio de comprimento ‘l’, área ‘A’ e resistividade ‘ρ’ é dada por:

R = ρ ∗ l/A (3.1)

Quando um fio é tensionado longitudinalmente, cada uma das três variáveis, que afetam a
resistência, mudam e logo também ’R’, resultando na diferencial abaixo:

dR dρ dl dA
= + + (3.2)
R ρ l A

Além disso, a alteração no comprimento resultante quando é aplicada a força ‘F’, dentro do
limite de comportamento elástico, é dado pela Lei de Hooke:

F dl
σ= = E ∗ε = E ∗ (3.3)
A l

sendo ‘σ ’ a tensão mecânica, ‘E’ o módulo de Young e ‘ε’ a deformação mecânica, usual-
mente dada em "microstrain", que equivale a: 1 "microstrain" = 1 µε = 10−6 m/m.

Outro conceito básico é necessário, o do Gage Factor, ‘GF’, que nada mais é do que a
sensibilidade do sensor, ou seja, relaciona a variação do dado de saída (resistência elétrica) com
a variação do dado de entrada (deformação mecânica). Sua fórmula é apresentada na 3.4.

∆R/Ro
GF = (3.4)
ε

Extensômetros metálicos

Nestes sensores, uma tensão trativa, aumenta seu comprimento ‘l’ e diminui sua área ‘A’,
relacionando as duas grandezas pelo coeficiente de Poison ‘ν’. Dá-se preferência a materiais
com baixo coeficiente de Poison para que a sensibilidade transversal possa ser desprezível.

Desconsiderando o efeito da temperatura, da dilatação transversal e do coeficiente de dila-

tação térmica, a resistência pós-deformação do extensômetro seguirá a equação 3.4, sendo que
o ’GF’ é comercialmente encontrado na ordem de 2 (dois) e a resposta é linear. A consideração
das grandezas secundárias de entrada do sensor será consideranda quando do estudo do método
3.5 Sensores/trandutores 14

de Peter Stein, apresentado em item posterior.

Extensômetros semicondutores

A variação de resistência elétrica através da derivada da resistividade, que nos sensores

metálicos era considerada desprezível, é a função de transferência para os extensômetros semi-
condutores.

Nestes, a variação de resistência graças às variáveis dimensionais (‘l’ e ‘A’) é desprezível,

assim como suas dimensões são extremamente reduzidas.

Semicondutores são materiais que, diferentemente dos metais, possuem apenas poucos elé-
trons livres para circulação de corrente elétrica. Quando um desses elétrons se move, deixa
no lugar de origem uma lacuna, a qual se move em direção oposta ao elétron. Lacunas e elé-
trons contribuem para a circulação de corrente no material. O número de portadores de carga
(elétrons e lacunas) em um semicondutor é fortemente dependente da temperatura ‘T’.

Um controle maior sobre o comportamento elétrico dos semicondutores é atingido através

da dopagem deste com impurezas. Esses átomos de impurezas podem ser doadores ou recepto-
res de elétrons. Os doadores, como fósforo e arsênio, aumentam o número de eletrons livres no
material; ao contrário dos receptores (como o gálio e o alumínio), que aumentam o número de
lacunas no material. Como o número de portadores no material dopado é maior que no material
sem dopagem, a dopagem estabelece qual será o portador majoritário no semicondutor, lacuna
(dopagem do tipo P) ou elétrons livres (dopagem do tipo N).

Pela forte dependência dos portadores frente à temperatura, os semicondutores usualmente

são utilizados como sensores de temperatura também. Já para medição de deformação mecâ-
nica, este fato caracteriza uma grande desvantagem deste tipo sensor, tornando seu uso inviável
em ambientes de grande deriva térmica.

Uma técnica de fabricação de extensômetros semicondutores é a dos resistores difusos que

consiste em imergir pastilhas ‘N’ num substrato ‘P’, ou vice-versa. Desta forma, forma-se um
resistor. Podem ser produzidos para fornecer variações positivas ou negativas com carga trativa.
As principais características desses sensores são a alta sensibilidade, em torno de 120 (cento e
vinte) e a alta dependência da temperatura. Eles têm dimensões bastante reduzidas frente aos
metálicos e resistência nominal alta. Sua resposta é não linear.

Comparação entre os extensômetros metálicos e semicondutores

Quando surgiram, na década de 60, os sensores semicondutores vieram com a promessa de

aposentar os metálicos, o quer não ocorreu. Atualmente, há campo para ambos os sensores de
3.5 Sensores/trandutores 15

acordo com a aplicação.

Extensômetros metálicos têm sensibilidade de 2 (dois) a 4 (quatro), enquanto os semicon-

dutores têm sensibilidade de 50 (cinqüenta) a 175 (cento e setenta e cinco). Graças à baixa
sensibilidade, os transdutores metálicos devem ser colados próximos ao ponto de análise - ge-
ralmente o ponto de máxima concentração de tensão - logo, mais passível de rompimento,
inclusive do sensor. Já a alta sensibilidade do silício, por exemplo, permite que a medição possa
ser feita a uma determinada distância de segurança do ponto crítico, resultando que sua vida
útil, em trabalho, seja maior do que a do metálico: vinte e cinco vezes superior ao metálico,
aproximadamente 25 milhões de ciclos (18). Por outro lado, as pequenas dimensões e a baixa
robustez dos contatos dos extensômetros semicondutores fazem com que este seja facilmente
danificado ao ser colado e soldado na peça.

Extensômetros metálicos necessitam de deformações da ordem de (1500 a 2500) µm/m,

para produzir um sinal significativo. Para os semicondutores, deformações da ordem de (50
a 300) µm/m já produzem sinais significativos. Isso leva a conclusão de que o sistema de
condicionamento para os semicondutores pode ser bem mais simples do que os para sensores
metálicos, já que requer menor filtragem, amplificação e número de bits na conversão analó-
gica digital. A resistência nominal dos extensômetros semicondutores é bem maior que a dos
metálicos, exigindo menor capacidade de corrente da fonte de alimentação.

A variável temperatura geralmente é o ponto de inflexão na escolha do sensor a utilizar, em

detrimento as outras características, vantajosas ou não, dos dois tipos de sensores. A variação
da temperatura causa dois fenômenos importantes no extensômetro semicondutor:

• a variação da resistência do sensor;

• a variação da sensibilidade do sensor;

Dados estes dois fatores, é indispensável o uso de técnicas de compensação da temperatura.

Uma delas, bastante difundida é o uso de extensômetro dummy - disposto para ser submetido
somente à temperatura, sem sofrer os efeitos da deformação. Em aplicações em que a variação
de temperatura é alta, é desaconselhado o uso de sensores de deformação semicondutores.

A linearidade, para pequenas deformações, é equivalente para os dois tipos de sensor. A

histerese está ligada à capacidade de o sensor deformar-se com carga e retornar as características
originais quando submetido à descarga de mesmo nível. Isto está intimamente ligado à quali-
dade da cola, à colagem do sensor e à capacidade de extender/comprimir da sua base. Neste
sentido, fica claro que, por ter dimensões maiores e requerer maior quantidade de cola, o ex-
tensômetro de metal tem maior histerese. O extensômetro semicondutor é colocado diretamente
a peça, portanto não possui base, característica de apenas alguns metálicos.
3.5 Sensores/trandutores 16

Uma das desvantagem dos semicondutores é que, devido às pequenas dimensões, é difícil
colá-lo à peça e manuseá-lo. Após a colagem, é dificil ratificar visualmente se este processo foi
realizado corretamente. Sem dúvida, esta tecnologia de sensores exige habilidade e paciência
do usuário.

Um quadro comparativo geral é mostrado na tabela 3.1 e ilustra as principais características

desses dois tipos de sensores:

Tabela 3.1: Características típicas de extensômetros metálicos e semicondutores (1)

Parâmetro Metálico Semicondutor
Faixa de medição 0,1 µm/m a 50000 µm/m 0,001 µm/m a 3000 µm/m
Gage Factor 1,8 a 4,5 40 a 200
Resistência nominal (Ω) 120, 250, 350, 600, ..., 5000 1000 a 5000
Comprimento ativo da grade (mm) 0,4 a 150 (padrão: 3 a 5) 1a5

Extensômetros piezoelétricos

São utilizados para medições dinâmicas. Seu principio de funcionamento se baseia no fato
de que cargas elétricas são alteradas, em certos materiais (como o quartzo), quando submetidas
à tensão mecânica. Este efeito é reversível.

Originalmente, os transdutores de efeito piezoelétrico são transdutores de deslocamento,

mas que, através do coeficiente elástico de Young, podem ser utilizados como transdutores de
força e deformação. A aplicação deste tipo de tecnologia é bastante restrita: ora porque a
resistência do material - mesmo sendo alta - nunca é infinita, ora porque a sensibilidade não
é constante (a carga elétrica gerada pela força mecânica é maior no início do carregamento
mecânico, depois, parte da carga elétrica é drenada.

Extensômetros de fio vibrante

Segundo (19), a freqüência de oscilação de um fio tensionado depende diretamente do com-

primento entre os apoios do fio. Se este comprimento for alterado pelo deslocamento de uma
de suas extremidades, causado pela aplicação de uma força, causará modificação na freqüên-
cia de vibração do fio. Essa freqüência é medida através de um sensor de relutância variável
(vulgarmente, uma bobina) que detecta o sinal, seguido de um amplificador que condiciona este
conteúdo em freqüência. Através de equacionamento simples, obtem-se o valor da deformação,
conhecendo-se o módulo de Young do material.

A vantagem deste sensor em relação aos já descritos resistivos é que estes são insensíveis
a variações de resistência nos fios de ligação, porém são sensíveis à temperatura, pela dilatação
3.5 Sensores/trandutores 17

térmica do fio. Uma importante característica desta tecnologia é que esta detecta deformações
não planares.

Fibras ópticas

Fibra óptica é um filamento, de quatzo, sílica ou de materiais poliméricos, com capacidade

de transmitir luz. Estes filamentos têm diâmetros variáveis, dependendo da aplicação: desde di-
âmetros ínfimos, da ordem de micra (mais finos que um fio de cabelo), até vários milímetros. A
transmissão da luz pela fibra segue um mesmo princípio, independentemente do material usado
ou da aplicação: é lançado um feixe de luz em uma extremidade da fibra, e pelas características
ópticas do meio (fibra), esse feixe percorre a fibra através de consecutivas reflexões.

A fibra possui no mínimo duas camadas: o núcleo e o revestimento. No núcleo ocorre

a transmissão da luz propriamente dita, embora o revestimento não seja menos importante. A
transmissão da luz dentro da fibra é possível graças a uma diferença de índice de refração entre o
revestimento e o núcleo, sendo que o núcleo possui sempre um índice de refração mais elevado,
característica que aliada ao ângulo de incidência do feixe de luz, possibilita o fenômeno da
reflexão total.

Uma característica importante que torna a fibra óptica indispensável em muitas aplicações é
o fato de não ser suscetível à interferência eletromagnética, vantagem sobre outros tipos de meio
de transmissão que empregam o fios metálicos, como o cobre. Esta característica motivou o
estudo das fibras para efeitos de sensores. Neste âmbito, medições de deformação e temperatura
são possíveis através do uso de fibra óptica como elemento sensor.

Quando uma força ou pressão produz uma microdeformação na fibra, a curvatura desta
se modifica, diminuindo o ângulo de incidência e também o crítico. Assim, ocorre a reflexão
apenas parcial da luz, causando perdas que aumentam com deformações maiores. Através da
medição dessa perda de transmissão, se pode medir a deformação existente.

3.5.2 Medição de temperatura

Estima-se que 15% dos transdutores utilizados na indústria e em laboratórios são de tempe-
ratura. Destes, de 70 a 80 % são termopares e sensores resistivos (10). Esta grandeza é de suma
importância, inclusive como medição secundária para compensação em outras medições.

Os transdutores elétricos mais comuns são os termopares, como já citado, seguido dos
resistivos (termorresistor e termistor) pela capacidade de aquisição automatizada. O termopar é
o mais versátil de todos por ser mais simples fisicamente, de fácil instalação e manuseio e não
requerer alimentação (sensor ativo). Além disso, possui boa resposta dinâmica e ampla faixa de
3.5 Sensores/trandutores 18

operação. Como desvantagens, tem-se o alto erro (em média, de 1◦ C) e a resposta não-linear.

Termopares

O principio de funcionamento de um sensor do tipo termopar se fundamenta no fato de

quando dois metais similares forem conectados, formando uma junção, uma tensão termoelé-
trica é gerada. A este fenômeno da-se o nome de Efeito de Seebeek.

Assim, em um circuito aberto constituído por uma única junção formada por dois fios existe
uma tensão que depende dos metais dos fios e da temperatura da junção. Esta tensão termoelé-
trica gerada não pode ser medida por voltímetros, já que formaria nova junção a conexão com
o este instrumento.

Portanto, em circuitos com termopares, se mede a diferença entre temperaturas e não o

valor absoluto de temperatura da junção principal (mensurando). Para isto, necessita-se de uma
junção de referência, que pode ser física, como uma junção imersa em gelo (0◦ C), simulada
através de circuito eletrônico ou através de um termistor de baixo erro.

São bastante difundidas as cinco leis para circuitos envolvendo termopares. São elas:

• A força eletromotriz térmica de um termopar com a junções ’T1 ’ e ’T2 ’ é totalmente

independente das outras temperaturas ao longo do circuito (lei válida para materiais ho-
mogêneos);

• No circuito considerado na primeira lei, se um terceiro material (C) é inserido entre A e

B, desde que as novas junções térmicas estejam à mesma temperatura, a tensão resultante
é independente do material C, do seu comprimento e das temperaturas ao longo dele;

• Se um metal C é inserido entre A e B, numa junção a temperatura de C em qualquer ponto

distinto da junção AC é irrelevante desde que AC e BC estejam à mesma temperatura;

• Se a força eletromotriz térmica dos metais A e C é VAC , a dos metais BC é VCB , então a
tensão térmica dos metais A e B, vale VAC +VCB ;

• Se um termopar produz uma tensão V1 quando as junções estão às temperaturas T1 e T2 , e

uma tensão V2 quando elas estão às temperaturas T2 e T3 , então o termopar produzirá um
tensão V1 +V2 quando as junções estiverem às temperaturas de T1 e T3 .

A ISA (International Standard for Automation)(8) determina os tipos mais comuns de ter-
mopares: J, K, E, S, R, B e N; cada um com faixa de medições e erros máximos admissíveis
especificados por normas ANSI e DIN (20).
3.5 Sensores/trandutores 19

Termorresistores

Os termorresistores operam baseados na variação da resistência elétrica de um condutor

metálico em função da temperatura. São confeccionados com fios de alta pureza normalmente
de platina, cobre ou níquel. Atualmente, o termorresistor de platina é o mais usado. Usualmente
são encapsulados em corpos cerâmicos, vítreos ou de fibra de vidro.

Como vantagem, pode-se citar a boa estabilidade (em torno de 0,38 Ω/◦C), a linearidade
por intervalos e a elevada exatidão; já como desvantagens, constam o relativo alto custo, auto-
aquecimento e a necessidade de excitação (transdutor passivo). A identificação destes sensores
é padronizada, pelo símbolo do material de fabricação e pela sua resistência a 0◦ C. Assim, o
mais comercialmente conhecido Pt100 é um termorresistor de platina que tem resistência de 100
Ω a 0◦ C. Comercialmente, os termorresistores são chamados de RTD - Resistance Temperature
Detector. A norma DIN 43760 estabelece os erros máximos tolerados para estes sensores (20).

Os termorresistores são principalmente utilizados como elemento padrão de calibração e

em medição de temperatura em bancadas de ensaios de produtos, devido a sua característica de
estabilidade por longos períodos de tempo e sua exatidão.

Termistores

Os termistores apresentam grande variação da resistência de seu material semicondutor

com a temperatura, devido a variação do número de portadores de cargas e a mobilidade destes.
Eles estam disponíveis com coeficientes de temperatura positivo (PTC) ou negativo (NTC). Por
outro lado, eles não são lineares e necessitam de alimentação externa. A estabilidade depende
fortemente da temperatura de aplicação e do processo de fabricação.

A utilização freqüente desse tipo de sensores se deve ao seu baixo custo, pequenas dimen-
sões e seu coeficiente de temperatura, que é bem maior do que o do termorressistor de platina.
Devido à alta sensibilidade são mais convenientes para medição de pequenas faixas de tempe-
raturas.

Os termistores são comumente empregados em circuitos de compensação da junção de

referência de termopares e em sistema de controle de temperatura ambiente, já que possuem
alta sensibilidade nessa faixa de temperatura.

Fibras ópticas

Assim como no item 3.5.1, as perdas de transmissão podem ser funções de transferência,
caracterizando as fibras ópticas como sensores. A variação de temperatura provoca mudança no
índice de refração da fibra, provocando perdas na transmissão.
3.5 Sensores/trandutores 20

Sensores piroelétricos

O efeito piroelétrico é análogo ao efeito piezoelétrico, porém ao invés de a deformação

causar geração de cargas elétricas, neste caso, é a variação de temperatura quem causa uma
mudança na carga elétrica do material. Quando há uma variação de temperatura uniforme ao
longo do material, o efeito piroelétrico pode ser descrito pelo coeficiente piroelétrico, que re-
laciona linearmente a variação de temperatura com a variação da polarização espontânea. Esta
polarização altera as características capacitivas do sensor.

3.5.3 Sensores inteligentes

Um sensor é considerado inteligente quando possui um microprocessador interno para ope-

rações automaticas, para processar dados e para atingir melhor versatilidade. Alguns modelos
possuem vários sensores encapsulados no mesmo substrato, junto a multiplexador e um conver-
sor analógico digital. Com o barateamento da tecnologia de fabricação de microprocessadores,
os sensores inteligentes ganharam força, sendo necessário a criação de normas IEEE para estes.
O conjunto de normas IEEE 1451 descreve padrões para os sensores no que concerne a identi-
dade digital do sensor, protocolos de comunicação, integração de sensores e interfaceamentos.
Com isto é possível obter, na prática, medição de deformação e temperatura simultâneas, alia-
das a um processamento inteligente que realiza a compensação de temperatura sobre a medição
de deformação.

3.5.4 Estado da arte em sensores

RFID

RFID é a sigla do nome em língua inglesa Radio-Frequency IDentification, que significa

Identificação por Rádio Frequência. Trata-se de um método de identificação automática atra-
vés de sinais de rádio, recuperando e armazenando dados remotamente através de dispositivos
chamados de tags RFID. Uma tag RFID é um pequeno objeto, como um adesivo, que pode ser
colocado em uma pessoa, animal ou produto. Ele contém chips de silício e antenas que lhe
permitem responder aos sinais de rádio enviados por uma base transmissora.

O transceptor ou leitor é o componente de comunicação entre o sistema RFID e os sistemas

externos de processamento de informações. A complexidade dos leitores dependendo do tipo
de etiqueta (tag) e das funções a serem aplicadas. Os mais sofisticados apresentam funções de
checagem de paridade de erro e correção de dados.

O funcionamento começa pelo envio de uma onda eletromagnética pelo leitor. A etiqueta
3.5 Sensores/trandutores 21

recebe essa onda e, de acordo com sua estrutura única, modula essa onda. A onda modulada
- pela distância entre pulsos - é percebida pelo leitor, que identifica a identidade única da tag
através da modulação. Esse funcionamento faz com que essa tecnologia seja a substituta do
código de barras. Comercialmente, as pequenas etiquetas são compradas por centavos de dolar,
mas o leitor/transmissor é, ainda, muito caro. A grande vantagem dessa técnica é dispensa de
qualquer alimentação da etiqueta (o sinal e a alimentação são a onda enviada pelo transmissor)
e a não utilização de fios, já a desvantagem é que o sensor (etiqueta) não possui inteligência
alguma.

Como sensor, as etiquetas modulam recebido pela antena de acordo com sua temperatura
ou deformação no momento. Ou seja, a separação entre os pulsos, que corresponde a identidade
do sensor, se altera de acordo com a temperatura e deformação. Esta tecnologia é bastante nova,
assim, os dados metrológicos das medições com as etiquetas não foram encontradas.

Sensores wireless

Sensores sem fios para medição de temperatura e deformação já são realidade. Além disso,
eles possuem várias facilidades embarcadas: condicionamento de sinal, memória, padrão de
comunicação wireless, antena, identidade própria etc. Geralmente utilizam a freqüência aberta
de 2,4 GHz e são capazes de se comunicar com o concentrador com distância em torno de
70 m. Comercialmente, assim como a tecnologia RFID, os sensores apresentam baixo custo,
porém os concentradores são muito caros, em torno de dezenas de milhares de dólares. Uma
desvantagem é que necessitam bateria. Exemplos de solução comercial são apresentados no
sítio da MicroStrain
c (21)

3.5.5 Sistemas de comunicação para sensores - com fio

Muitas vezes o objeto de medição está distante do concentrador, que agrupa os dados de
vários sensores e o processa digitalmente em um microcomputador. Esta situação, muito co-
mum, exige o estudo de técnicas para transmitir o sinal da fonte ao receptor dos dados, de modo
a não perdê-los. A solução mais barata é a utilização de fios (par trançado, cabos coaxiais e
fios de telefone). Contudo, estes meios têm largura de banda e velocidade limitadas. As fibras
ópticas sobrepões estas limitações e são imunes a interferência eletromagnética, porém são de
custo elevado.

Outra solução para distâncias curtas é a conversão do sinal do sensor em uma corrente pro-
porcional que é transmitida por um par trançado. O receptor, então, detecta esta corrente através
da queda de tensão causada por esta em um resistor. Valores padrões de corrente são utiliza-
dos, o mais comum é do de (4 a 20) mA. A telemetria por corrente é insensível a termopares
3.5 Sensores/trandutores 22

parasitas e a quedas de tensão ao longo da resistência dos fios.

Para distâncias maiores, a antiga solução de transmissão RF, usando modulação, foi quase
que totalmente substituída pela tecnologia wireless, descrita no item 3.5.6

3.5.6 Sistemas de comunicação para sensores - sem fio

Existem muitos circuitos integrados de baixo consumo que são apropriados para redes de
sensores sem fio e implementam sua camada física, responsável pela definição da freqüência
de operação, do esquema de modulação e da interface de hardware do sistema . Fabricantes
como Atmel, MicroChip e ChipCon são alguns exemplos de produtores de tais circuitos. Se
possível, deve-se utilizar um link de rádio que esteja baseado em uma norma. Isto permite a
interoperabilidade entre circuitos integrados de diversos fabricantes. Os padrões mais utilizados
para comunicação sem fio são:

• IEEE 802.11x Um padrão utilizado para redes locais com alta taxa de transferência de
dados entre computadores e outros dispositivos. A taxa de transferência varia de 1 Mbps
a 50 Mbps. Tipicamente, o raio de abrangência é de 90 m com antenas padrão; sendo que
este raio pode ser extendido com o uso de antenas direcionais ativas. Dentre os esquemas
de modulação possíveis para esta norma estão a do espectro espalhado direto e alternado.
Enquanto que as taxas de transferência são mais que suficientes para a aplicação em
redes de sensores sem fio, os requisitos de consumo de energia impedem sua aplicação
em sensores sem fio;

• Bluetooth (IEEE 802.15.1 e .2) Um padrão para redes pessoais, consumindo menos ener-
gia que o padrão 802.11. Foi especificada originalmente para tranferência de dados entre
computadores pessoais e periféricos como telefones celulares ou PDAs (Personal Digi-
tal Assitants). O bluetooth funciona sobre uma topologia do tipo estrela e suporta até
sete dispositivos remotos com um único concentrador. Algumas desvantagens estão na
relação potência de sinal versus raio de alcance, número pequeno de dispositivos remo-
tos por concentrador e latência elevada durante sincronização entre dispositivo remoto e
concentrador;

• IEEE 802.15.4 Esta norma foi especificamente desenvolvida para atender os requisitos
das aplicações de sensores sem fio. O padrão é flexível, como taxa de transmissão va-
riável e multiplas freqüências de transmissão. Os requisitos de consumo de energia são
baixos, entretanto o hardware foi desenvolvido para permitir que o link de comunicação
possa ser desligado (sleep mode) remotamente, reduzindo o consumo ao mínimo. Su-
porta topologia do tipo estrela e malha, possui encriptação de dados, indicador de nível
de qualidade do sinal e modulação de espectro espalhado direta;
3.6 Condicionadores de sinal 23

• ZigBee Uma associação de companhias que trabalham para criar produtos confiáveis,
de baixo custo e consumo de energia, para monitoramento e controle em redes sem fio.
Este padrão suporta topologias estrela e híbridos estrela/malha. Este padrão está baseado
na IEEE 802.15.4, mas expande seu escopo na especificação da rede e na interface de
aplicação;

• IEEE 1451.5 Enquanto a IEEE 802.15.4 especifica a arquitetura de comunicação que

é apropriada para redes de sensores sem fio, ela possui poucos detalhes referentes às
especificações da interface do sensor. A IEEE 1451.5 padroniza esta interface para uma
rede de sensores sem fio. Atualmente esta norma está sendo escrita e possui como base a
IEEE 802.15.4.

3.6 Condicionadores de sinal

3.6.1 Medição de resistência

A equação geral para um sensor cuja resistência varia segundo um fator ’x’ em resposta a
um mensurando é R = Ro ∗ f (x), assumindo-se f (0) = 1. Para sensores lineares tem-se R =
Ro ∗ (1 + x).

O intervalo de valores que pode apresentar a variável ’x’ é fortemente dependente do tipo
e das dimensões do sensor. Existem dois requisitos básicos para condicionamento de sinais.
Primeiramente, o condicionador deve fornecer tensão ou corrente elétrica para obter sinais de
saída, porque a variação de resistência não é, por si só, um sinal. Segundo, esta alimentação -
cuja magnitude afeta o sinal de saída - deve ser limitada pela máxima dissipação de potência
dos sensores.

Alguns sensores requerem circuitos especiais. Por exemplo, termistores necessitam lineari-
zação, extensômetros exigem cancelamento das grandezas secundárias de interferência. Além
disso, sensores que fornecem baixos sinais de saída precisam melhorar sua relação sinal-ruído
para melhor aproveitar a faixa de operação do conversor analógico digital. Condicionadores
devem, também, ser insensíveis aos fios de ligação ou compensá-los. Um método de reduzir
a influência dos fios é a técnica de medição por quatro fios, também chamada de circuito de
Kelvin.

Variações da saída causadas por variações de temperatura, manipulação dos sensores e ou-
tros tantos fatores causam erros de zero que devem ser anulados. Estes sinais não nulos pré
variação do mensurando são chamados de erro de offset. A zeragem das tensões de offset tam-
bém é função do condicionador de sinais.
3.6 Condicionadores de sinal 24

3.6.2 Divisor de tensão

Método para medição de resistência, é comumente usado para medir altos valores de re-
sistência. Sua aplicação emgloba os sensores resistivos de grande sensiblidade e também os
não-lineares, como os termistores, porque a não-linearidade da relação entre a tensão de saída
e a resistência do sensor permite a linearização do termistor: R = Rr ∗V /(Vr −V ).

3.6.3 Ponte de Wheatstone

É um método para medir pequenas resistências ou pequenas variações de resistência. É, em

geral, aplicado para descobrir o valor de um elemento resistivo desconhecido (método de zero)
ou para medir variações de resistências, independente de seus valores nominais iniciais (método
de deflexão).

A opção por medir pequenos desbalanceamentos (variação da resistência em relação ao seu

valor nominal inicial) na prática se processa através da subtração eletrônica (Leis de Kirchhoff)
da tensão sobre o elemento sensor e de um resistor estável de valor nominal igual ao valor inicial
do sensor (sem o efeito do mensurando).

A equação geral da ponte é mostrada na 3.5. O equacionamento em função da variação do

sensor depende da configuração da ponte escolhida, são estas:

• um quarto de ponte para apenas um elemento sensor na ponte;

• meia ponte para dois sensores postos em série (R1 e R4 ou R2 e R3 );

• meia ponte diagonal para dois sensores dispostos em diagonal (R1 e R3 ou R2 e R4 );

• ponte completa para quatro elementos sensores.

R3 R4
vo = Vr ∗ ( − ) (3.5)
R2 + R3 R1 + R4

Essa técnica é bastante empregada como condicionador para extensômetros piezoresistivos

e termorresistores, podendo ser adaptado para compensar o resistência dos fios de ligação, a
temperatura e tensão de (offset).

A sensibilidade é dada pela derivada da saída em relação a variação de resistência do sen-

sor. A configuração um quarto de ponte é não-linear. Limitando-se a deformação, pode-se, por
arredondamento, considerar o circuito como sendo linear. Apesar disso, segundo (1), a lineari-
dade não é necessária para atingir uma boa exatidão, sendo o que mais importa a repetitividade
3.6 Condicionadores de sinal 25

dos dados; embora, a proporcionalidade da função de transferência facilite a interpretação dos

dados.

3.6.4 Anderson Loop

O loop de Anderson nada mais é do que uma ponte de Wheatstone aberta e alimentada
por uma fonte de correte, ao invés de uma fonte de tensão. Seu desenvolvedor propõe sua
criação como uma substituição a PW, o que não ocorreu. Como limitações que motivariam essa
substituição, ele cita (22):

• Metade do sinal de cada elemento ativo é atenuado pelo sinal do elemento adjacente na
ponte;

• O sinal de saída é usualmente uma função naõ linear da variação da impedância por ramo
individual da ponte;

• Vários elementos ativos assistidos fornecem apenas uma saída;

• Os fios de ligação e a impedância dos conectores tipicamente adiciona incertezas à medi-

ção;

• Para garantir-se uma alimentação confiável, seriam necessários nove fios de ligação por
ponte;

• Quando a alimentação é feita por tensão contínua, é difícil separar a tensão termoelétrica
daquela gerada pela variação de impedância (desejada).

O loop de Anderson combina um subtrator duplamente diferencial e ativo com um circuito

de Kelvin que assiste à duas ou mais impedâncias associadas em série e alimentadas pela mesma
fonte de corrente. A queda de tensão sobre cada elemento resistivo é amplificada e, posterior-
mente, subtraídas entre si. Essa configuração permite maior liberdade matemática e de ganho
sobre cada um dos elementos, permite o encadeamento de mais de quatro sensores, RRMC mais
alta (23).

Uma desvantagem, já conhecida, é que se um dos sensores abrir no laço, todas as medições
dos outros sensores serão desabilitadas, característica de qualquer circuito série. Outra desvan-
tagem é que ainda não existem estudos metrológicos sobre o assunto, somente a descrição de
funcionamento e facilidades, descritas pelo autor.
3.6 Condicionadores de sinal 26

3.6.5 Amplificadores diferenciais e de instrumentação

Amplificadores diferenciais

O amplificador diferencial fornece uma tensão de saída proporcional à tensão de entrada.

Este amplificador processa a diferença de tensão entre seus terminais de entrada. Idealmente,
a resistência de entrada deste dispositivo deve ser infinita e, a de saída, nula. Alguns conceitos
são indispensáveis:

• Tensão diferencial (VD ) É a diferença entre as duas tensões de entrada do amplificador.

Numericamente é expressa por tensão na entrada não inversora menos a tensão na entrada
inversora;

• Tensão de modo comum (VMC ) Corresponde a média dos valores das tensões de entrada
do amplificador;

• Ganho diferencial (GD ) Define o ganho sobre a tensão diferencial;

• Ganho de modo comum (GMC ) Define o ganho sobre a tensão de modo comum;

• Razão de rejeição de modo comum (RRMC) Expresso em dB, demonstra a relação entre
o ganho diferencial e o ganho de modo comum do amplificador.

Resulta, então, nas equações 3.6 e 3.7

GD
RRMC = (3.6)
GMC

GD
Vs = VD ∗ GD ±VMC ∗ (3.7)
RRMC

A RRMC em amplificadores reais está na faixa de 80 a 140 ou até 160 dB. Este valor, apa-
rentemente alto, em aplicações práticas, pode ser extremamente crítico em função de o sinal
de saída dos transdutores (tensão diferencial) ser muito menor do que a tensão de modo co-
mum. A razão de rejeição também é importante do ponto de vista de rejeição das interferências
provenientes da rede de 60 Hz.

Amplificador de instrumentação

É frequentemente encontrado na literatura e tem larga aplicação em instrumentação e con-

trole. Trata-se de um tipo particular de amplificador diferencial. Na prática pode ser implemen-
tado com dois ou três amplificadores operacionais. Como características desejáveis, apresenta:
3.6 Condicionadores de sinal 27

alta impedância de entrada, ganho facilmente ajustável (geralmente um resistor estável, também
vulgarmente chamado de resistor de precisão), tensão de saída pouco influenciada pela tensão
de modo comum. A particularidade é uma etapa de pré-amplificação antes da amplificação
diferencial.

3.6.6 Filtros

Filtro é um elemento projetado para apresentar uma função de transferência com caracterís-
ticas de dependência da freqüência do sinal de entrada. Assim, é possível isolar as freqüências
desejáveis das indesejáveis. Existem basicamente dois tipos principais: passa-altas e passa-
baixas. A partir destes dois modelos fundamentais podem ser implementados outros, como os
filtro passa-faixa e rejeita-faixa. As freqüência delimitantes do espectro do sinal de saída são
chamadas freqüência de corte. A escolha desta freqüência precisa ser feita com cuidado, uma
vez que seu comportamento não é ideal. É usual, embora não possa ser considerado como regra
geral, a adoção de um afastamento de pelo menos uma década entre a freqüência de corte do
filtro e a freqüência de interesse. Outra ferramenta são os gabaritos apresentados em (24).

Filtros são considerados passivos, se utilizam componentes como resistores, capacitores e

indutores; já os ativos utilizam amplificadores operacionais e de transcondutância.

O sinal de saída de um filtro, além de ter diferente amplitude em função da freqüência do

sinal de entrada, tem também alteração da fase em relação ao sinal de entrada. Esta alteração
da fase pode ser importante em sistemas de controle e em sistemas de medição que objetivam
correlacionar sinais dinâmicos de um processo. Algumas desvantagens do uso de filtros estão
no fato que estes limitam a largura de banda e aumentam o tempo de resposta do sistema.

3.6.7 Modulação

Esta técnica consiste em modular uma portadora ac com o sinal de entrada (sinal de sensores
resistivos), então, amplificar este sinal - o que torna o erro de zero irrelevante, e, finalmente,
demodular o sinal. Assim, se pode separar o sinal desejado dos ruídos.

3.6.8 Amplificadores Chopper

Este amplificador é análogo a técnica de modulação, porém é válido para sensores ativos.
Neste caso, o sinal dos sensores modula uma onda quadrada gerada a partir de um chaveamento
repetitivo. Esse chaveamento, conecta a o sinal do sensor à entrada de um amplificador ac. O
sinal resultante é amplificado e depois demodulado e filtrado por um filtro passa-baixa.
3.7 Método UAEMS 28

3.6.9 Amplificadores de auto zero

A maioria dos amplificadores operacionais apresenta uma pequena deriva causada por me-
dições periódicas. Esse efeito é negligenciado quando a entrada é zerada e o circuito posto em
operação, mas esta operação é trabalhosa em amplificadores comuns. Os amplificadores de auto
zero possuem chaves, que se acionadas, realizam a função de conectar as entradas à referência
para anular a deriva causada pela memória das medições anteriores.

3.6.10 Amplificadores de carga

Utilizados para servir a sensores piezoelétricos e piroelétricos, estes amplificadores funcio-

nam como conversores de carga elétrica em tensão elétrica. Além disso, eles devem fornecer a
saída em baixa impedância. Para isso, as características dos amplificadores operacionais e dos
fios de ligação devem ser avaliadas a fim de calcular a real influência do sensor.

3.7 Método UAEMS

Peter Stein desenvolveu um método para engenharia de medição o qual chamou de Uni-
fied Approach to the Engineering of Measurement Systems - UAEMS(25) e (2). Neste método
ele classifica sensores, sistemas de medição e, principalmente, aprofunda a análise da medi-
ção, validando-a ou não. O método parte do princípio que toda medição envolve transferência
não só de informação, mas também de energia. Ainda frisa que essa transferência de energia,
geralmente negligenciada por quem realiza a medição, altera a transferência de informação.
Cada sensor, segundo Stein, possui uma grandeza de entrada principal - deformação para os
extensômetros, mas também grandezas de entrada secundárias que correspondem à variação da
resposta do sensor pela influência de outras grandezas - como por exemplo, a temperatura para
os extensômetros. Para testar os sistemas de medição, são propostos vários testes e técnicas
para estudar aprofundadamente o comportamento do sistema de medição. Considerado um tra-
balho impar por várias referências o método trata da medição como nenhuma outra bibliografia,
desmistificando vários conceitos. Por este motivo, busca-se colocar este trabalho de pesquisa
nos moldes das classificações de Stein.
 29

4 Metodologia

Neste tópico, apresenta-se o método de realização de pesquisa. Para sistematizá-lo, divide-

se este tópico em:

• Análise teórica;

• Análise matemática;

• Análise experimental;

• Método de seleção.

4.1 Análise teórica

A revisão bibliográfica necessita ser lapidada e concentrar sua atenção no conjunto sensor
mais condicionador. Vários aspectos pouco divulgados de cada uma das tecnologias dos sen-
sores devem ser buscados para enquandrá-los nas classificações de Peter Stein. Ainda, todo
o método deste cientista, exaustivamente revisado, guiará muitas dúvidas e investigações em
torno dos sensores e condicionadores.

A partir dos dados gerados, busca-se chegar a diagramas apresentando os dois módulos
(sensor e condicionador), bem como os fatores internos, externos e entre canais que influenciam
no conjunto. O modelo desejado tem a forma apresentada na figura 4.1.

Pode-se perceber na figura as seguintes questões a serem discutidas trabalho:

• as interações possíveis entre cada sensor e os condicionadores disponíveis;

• a influência das grandezas de entrada secundárias em cada sensor;

• os ruídos internos dos circuitos eletrônicos;

• as interferências externas do ambiente;

• as interferências mútuas entre canais (crosstalk) e canais correlacionados;

4.2 Análise Matemática 30

Figura 4.1: Módulos, fatores internos, externos e mútuos do conjunto estudado

• o meio de comunicação entre o sensor e o condicionador - com ou sem fio;

• o casamento de impedância e qualquer interface necessária entre sensor e condicionador;

• o transporte de informação e de energia.

Formados os grupos de sensor mais condicionamento e discutidos seu entorno, é possível

montar o modelo matemático de cada grupo.

4.2 Análise Matemática

A primeira etapa da análise matemática é a modelagem dos caminhos possíveis, por exem-
plo:
4.3 Análise experimental 31

grandeza primária de entrada: deformação → sensor A → condicionador 1 (ver figura 4.1)

Realizada a modelagem, pode-se passar à análise de incertezas de uma suposta medição

utizando o caminho traçado. Neste intuito, serão utilizados o modelo téorico apresentado pelo
ISOGUM (26) e o modelo de Monte Carlo (27). Por experiência, quando várias fontes de
incertezas analíticas são consideradas no cálculo da incerteza expandida, o cálculo se torna
muito complexo, sendo necessário o uso do método númerico da superfície de resposta, para
obter-se a função de medição.

Com esta etapa será possível determinar os melhores conjuntos sensor mais condicionador,
que continuarão sendo estudados nas fases seguintes.

4.3 Análise experimental

Os melhores conjuntos ganharam forma física através de construção de transdutores e pla-

cas de condicionamento. A seguir, serão realizados ensaio em laboratório para validar os resul-
tados matemáticos ou pôr-los a prova.

4.4 Método de seleção

Um modelo conceitual será proposto para seleção dos conjuntos sensor mais condicionador
de sinais, para usuários não especializados. Este método de seleção consiste em o usuário forne-
cer dados sobre sua aplicação - os que possuir - e através de uma ponderação das características,
chegar-se a um aconselhamento sobre qual conjunto utilizar.

Espera-se utilizar três problemáticas interessantes para validar o método de seleção, são
estes:

• aplicação utilizando a tecnologia wireless;

• aplicação em ambientes agressivos - com altas taxas de ondas eletromagnéticas ou cha-

veamentos;

• aplicação embarcada, uma solução metrológica desenvolvida para o prótotipo da equipe

Céu Azul/UFSC de Aerodesign (28).
 32

5 Resultados e conclusões

Os resultados que se almejam são aqueles que permitirem auxiliar usuários não especializa-
dos na escolha de um conceito de sensor e condicionador de sinais. Já para os usuários avança-
dos, busca fornecer-lhes uma ferramenta bem desenvolvida de cálculo de incerteza e análise de
sistemas de medição. Com sorte, chegar-se-á a novas propostas de sensores e condicionadores,
utilizando grandezas e funções secundárias dos mesmos.

Ao fim deste trabalho, será possível conhecer a fundo todas as variáveis que circundam a
medição de deformação e temperatura, no âmbito analógico, que é o mais suceptível a erros.

O material aglutinado e a discussão realizada poderá servir de base para trabalhos futuros,
expandindo a análise a outros módulos dos sistemas de aquisição, como a conversão analógica
digital, multiplexação, comunicação com microcomputadores etc.
 33

Referências Bibliográficas

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10 FLESCH, C. A. Medição de Grandezas Mecânicas. 1998. Apostila.

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12 NORTHROP, R. B. Introduction to Instrumentation and Measurements. [S.l.: s.n.], 1997.

13 ALCIATORE, D. G.; HISTAND, M. B. Introduction to Mechatronics and Measurement

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22 ANDERSON, K. F. Looking Under the Wheatstone Bridge. [S.l.].

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24 FILHO, S. N. Filtros Seletores de Sinais. 3. ed. [S.l.: s.n.], 2003.

25 STEIN, P. K. The Unified Approach to the ENgeneering of Measurement Systems for Test
and Evaluation. 9 ed.. ed. [S.l.: s.n.], 1998.

26 ISO. ISO GUM -Guia para a Expressão da Incerteza de Medição. 3 ed.. ed. [S.l.: s.n.],
2004.

27 KONRATH, A. C.; DONATELLI, G. D.; HAMBURG-PIEKAR, D. The application of

Monte Carlo simulation to evaluate uncertainties. IMEKO XVII Journal Congress, 2006.

28 AeroDesign UFSC. Equipe Céu Azul. 10 fev. 7. Internet: www.aerodesign.ufsc.br.

 35

6 Anexo I

6.1 Cronograma de Atividades

impresso nas duas páginas subseqüentes