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1. Introducción
Se hace una mención especial de las características peculiares que las MMCs poseen
respecto a la instrumentación habitual de metrología dimensional y se pasa revista a los
factores mas importantes que inciden sobre la estabilidad temporal de estos instrumentos.
Por último se analizan los distintos tipos de controles entre calibraciones que pueden
considerarse y los artefactos disponibles para la realización de estos controles, realizando
una valoración crítica de las ventajas e inconvenientes que cada uno de ellos posee.
1.1 Calibración
Es posible que el sistema de calidad a que está sometido el usario del patrón le imponga
algún límite máximo respecto a la incertidumbre de su frecuencia F. Supóngase que dicho
límite sea Umax = 0,000 100 MHz. Para determinar en que instante temporal la
incertidumbre de F alcanzará dicho valor (por efecto de la deriva temporal) se puede partir
de la siguiente expresión:
Umax 2 U (Fc ) 2
t 2,56 años
U (Ct )
La primera causa suele estar ligada al hecho de que la variación temporal de la corrección
de calibración no suele producirse de forma lenta, suave y constante. En muchas
ocasiones esta variación se produce (o puede producirse) de forma impredecible y
puntual (a saltos). Diversos factores pueden coaligarse en un momento dado para
provocar una variación brusca y puntual en la corrección de calibración. Por ejemplo, un
uso inadecuado del instrumento, un pequeño golpe, una sobretensión, una falta de
suministro de cualquier tipo, un arañazo, etc... pueden provocar una variación brusca en
la corrección de calibración lo suficientemente pequeña como para que el usuario no la
detecte pero lo suficientemente grande (en comparación con la incertidumbre asignada al
instrumento) para invalidar el uso posterior de éste.
Cuando este tipo de situaciones aparecen la única posibilidad para poder seguir
garantizando la validez de las correcciones de calibración correspondientes a la última
calibración es someter el equipo periódicamente a “controles entre calibraciones”.
Los “controles entre calibraciones” son pequeños ensayos a los que se someten los
instrumentos de medida (o patrones) con el fin de confirmar la validez de su última
calibración. La frecuencia con la que deben realizarse estos controles debe ser tanto
mayor cuanto mas inestable sea el instrumento o patrón y cuanto mas largo sea el
periodo de recalibración.
Dado que los “controles entre calibraciones” suelen ser ensayos sencillos, su capacidad
de dar respuesta, de manera fiable, a la pregunta “¿el instrumento ha sufrido una deriva
temporal significativa desde la última calibración?” es limitada. Para dar una respuesta
con elevada fiabilidad a dicha pregunta el instrumento debería recalibrarse, pero eso es
justo lo que se desea evitar (al menos, hasta que el periodo de recalibración haya
transcurrido en su totalidad). Por tanto, en ocasiones, un resultado negativo en un “control
entre calibraciones” puede ser, simplemente una falsa alarma.
Si, por el contrario, dos o tres de dichos controles son negativos se acepta que el
micrómetro se ha desajustado. En este caso se ha de proceder a un ajuste del micrómetro
seguido de una calibración inmediatamente posterior.
Nótese que el coste del control (una única medida con un único patrón: barra patrón de
ajuste) es muy inferior al coste habitual de una calibración (diez medidas en cada punto
de calibración, fijando once puntos de calibración y utilizando bloques patrón
longitudinales, BPLs).
Los intervalos de recalibración se han fijado tradicionalmente de forma fija en función del
uso más o menos intensivo y más o menos agresivo sufrido por el patrón o instrumento.
Todo ello, se ha traducido en una presencia mínima o en una ausencia total de “controles
entre calibraciones” a diferencia de lo que ocurre en otras áreas metrológicas como pueda
ser la eléctrica donde dichos controles si son habituales.
Las MMCs son, por consiguiente, instrumentos que no son comparables al resto de la
instrumentación utilizada en metrología dimensional y no es por tanto extraño que tengan,
a veces, requisitos claramente distintos.
Uno de los puntos en los que las MMCs se diferencian del resto de los instrumentos de
metrología dimensional es en su estabilidad temporal. La mayoría de los instrumentos
dimensionales se caracterizan por una buena o muy buena estabilidad temporal que se
traduce en la no necesidad, en muchos casos, de controles entre calibraciones. Sin
embargo, las MMCs se caracterizan por una estabilidad temporal que no puede ser
garantizada de forma sencilla. Son instrumentos muy sensibles, por ejemplo, a pequeñas
variaciones en la ortogonalidad entre sus ejes: un defecto de perpendicularidad de cinco
segundos (valor coincidente con la mejor capacidad óptima de medida ofertada de forma
habitual por los laboratorios acreditados para calibraciones de bloques patrón angulares)
se traduce en errores de 8 µm en piezas de dimensiones del orden de 1 m.
Así pues, las MMCs son instrumentos en los cuales los “controles entre calibraciones”,
con una frecuencia alta (intervalos cortos de tiempo entre controles consecutivos) son
muy recomendables. De otro modo, es muy difícil poder asegurar que la validez de la
calibración se mantiene a lo largo de periodos de tiempo incluso tan cortos como puedan
ser seis meses o un año.
Por otro lado, la elevada complejidad, el gran número de horas de trabajo necesarias y el
alto coste económico de una calibración o verificación según ISO-10360 de una MMC
hacen inviable que ésta pueda llevarse a cabo con una periodicidad inferior a seis meses
(lo habitual es que sea anual).
Nótese que lo difícil es poder asegurar, sin realizar controles entre calibraciones, que una
MMC no sufrido alteraciones apreciables en su comportamiento metrológico desde su
última calibración. Muy probablemente, en ese intervalo de tiempo, la MMC haya sufrido
golpes o cualquier otro tipo de efecto externo que, en principio, si han sido de carácter
moderado, no tienen por qué haber afectado a la MMC. Sin embargo, sin la realización de
un control adecuado lo anterior no se puede demostrar.
Este hecho permite, en teoría, poder controlar e incluso determinar muchas correcciones
y/o factores de calibración sin necesidad de disponer de patrones trazables.
B’ Y
B
xy
v
A X
u
A’
Figura 1.-
dichos ejes para que estuvieran realmente expresadas en milímetros trazables a unidad
de longitud del Sistema Internacional (SI). Tanto el modulo como la dirección de dichos
vectores son desconocidos a priori. Sin embargo x1 , y1 ,x2 , y2 si son conocidos puesto
que se trata de valores numéricos proporcionados por la MMC.
Por tanto:
(x12 y12 ) y (x22 y22 ) coinciden con los cuadrados de las longitudes 1 y 2 que la MMC
habría proporcionado para el BPL en la posiciones 1 y 2.
( d / 2)2 ( d / 2)2 d
xy
2
4 sen cos 2sen cos
(x y )u dxy
xu yv xu yv xu y(u q) q
y y
La última de las expresiones anteriores permite determinar la corrección lineal q que
debería aplicársele al eje Y para conseguir que no existieran diferencias significativas
entre medidas realizadas con orientaciones paralelas al Y frente a aquellas otras
realizadas con orientaciones paralelas al eje X.
La corrección lineal q puede ser determinada a partir tan solo de las lecturas x y y .
No es tampoco necesario disponer de un valor certificado para la longitud del
BPL utilizado.
Alcanzado este punto (repetido en los planos XZ e YZ), podría decirse que la MMC ha
sufrido un proceso de autocalibración que ha permitido convertir el sistema previo de
coordenadas no cartesiano en un verdadero sistema de coordenadas cartesianas.
Sin embargo, aún falta por establecer la relación entre la unidad de medida de la MMC
(que podríamos denominar mMMC) y la unidad de medida (el metro, m) del Sistema
Internacional. Dicha relación es precisamente el módulo del vector u , que coincide con el
módulo u del vector u :
1 mMMC = u m
0
u
x
Esta distinción entre calibración y autocalibración puede ser muy útil a la hora
de diseñar “controles entre calibraciones” en Metrología por Coordenadas.
Los ensayos de palpado suelen ser muy sencillos y rápidos de realizar. Por esta razón,
es posible repetir simplemente los ensayos descritos en las normas ISO-10360-2
(palpador único, [4]) e ISO-10360-5 (palpadores múltiples, [5]). La única necesidad es
disponer de una esfera distinta a la de cualificación (con defecto de esfericidad
suficientemente bajo) sobre la que realizar dichos ensayos.
5. Tipos de artefactos
Unidimensionales: vigas con dos o mas esferas exteriores o interiores (o dos o mas
bloques patrón, step gauges) situadas a lo largo de una línea recta. Son los mas
sencillos de fabricar y los que permiten alcanzar dimensiones mayores.
Bidimensionales: placas de esferas o de agujeros (cilíndricos o esféricos)
Tridimensionales: estructuras mecánicas tridimensionales que soportan
esferas de precisión.
Móviles: artefactos (en general barras articuladas o pivotantes) que se
mueven durante la realización del ensayo.
Los artefactos de tipo móvil parecen tener, en principio, las ventajas de los
tridimensionales: con una única colocación del artefacto sobre la MMC es
posible determinar las correcciones lineales y los errores de perpendicularidad.
Por otro lado, aun mantienen la simplicidad de los artefactos unidimensionales
lo que se traducen en un peso y costo económicos reducidos.
Para cada una de estas distancias puede fijarse un error máximo admisible
E MAX ,ij . Si para todas las distancias entre las esferas i y j, la máxima desviación
(k) (k)
observada entre lecturas D ij max ij min ij
k
k
es inferior a dicho error
máximo, el ensayo se consideraría satisfactorio.
Dado que los requisitos exigibles a un control entre calibraciones son más
bajos que aquellos exigibles a una calibración, también el modelo de MMCV
puede ser mas sencillo. Por tanto, esta es una situación especialmente
indicada para modelos de MMCVs simples como el descrito en la referencia [7]
que está construido a partir de un modelo de comportamiento de MMC
particularmente sencillo denominado “Modelo G” [8].
7. Referencias
[1] BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUAPAP, OIML: International Vocabulary of Basic and
General Terms in Metrology (VIM) 3ª Edición
[6] Trapet, E.; Wäldele, F.: The Virtual CMM Concept. Advanced Mathematical Tools in
Metrology, vol.2. Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences vol.40,
World Scientific, Singapore, 1996.