O cambios en el proceso con el fin de que se pueda investigar y tomar acciones correctivas antes de la

producción de muchas piezas no conformes. Adicionalmente recuérdese que la meta final del control
estadístico de procesos es la eliminación de la variabilidad de proceso.

Los diagramas de control son una herramienta contrastada para mejorar la productividad, ya que el
rechazo y la reelaboración los costos disminuyen y la capacidad de la producción aumenta. Los
diagramas de control son eficaces para evitar defectos preventivamente, manteniendo el proceso bajo
control bajo la etapa de fabricación, lo que evita el coste de separar los artículos correctos de los
defectuosos después de su fabricación. Los diagramas de control evitan ajustes innecesarios al proceso
derivados de posibles variaciones anormales ilusorias que realmente no lo sean. Proporcionan
información para el análisis, ya que a menudo el patrón de los puntos en el diagrama de control
contiene información diagnóstica para un operario o ingeniero con experiencia, información que
permite implementar un cambio en el proceso que mejore su rendimiento. Ofrece información sobre el
valor de parámetros y su estabilidad en el tiempo, lo que permite estimar la capacidad del proceso.

DIAGRAMA DE CONTROL
Es una representación gráfica de una característica de calidad, medida o calculada a partir de muestras
del producto, en función del número de las muestras o el tiempo. La gráfica tiene una línea central que
representa el valor medio de la característica de calidad correspondiente al estado bajo control (es decir,
solamente hay causas fortuitas). En la gráfica se muestran también otras dos líneas horizontales,
llamadas límites superior de control (LSC) y límite inferior de control (LIC). Mientras los puntos se
encuentran entre los límites, se considera que el proceso está bajo control y no es necesario tomar
ninguna acción. Sin embargo, un punto que se encuentra fuera de los límites de control se interpreta
como una evidencia de que el proceso esta fuera de control, y son necesarias acciones de investigación
y corrección con el fin de encontrar y eliminar la o las causas asignables a este comportamiento. Se
acostumbra a unir los diferentes puntos muestrales en el diagrama de control mediante segmentos
rectilíneos con objeto de visualizar mejor la evolución de la secuencia de los puntos en el tiempo.

Incluso si todos los puntos se hallan comprendidos entre los límites de control, pero se comportan de
manera sistemática o no aleatoria, esto indica que el proceso esta fuera de control. Por ejemplo, en el
gráfico de control, todos los puntos hasta la mitad de la gráfica se encuentran por debajo de la línea
central aunque estén por encima del límite inferior de control, y de media gráfica en adelante todos los
puntos salvo uno se encuentran por encima de la línea central. Este comportamiento indica ausencia de
aleatoriedad. Además, se observa cierta periodicidad en la primera mitad y hay dos puntos por encima
del límite superior de control con lo que se conjetura que algo anda mal. Si el proceso está bajo control
todos los puntos deben tener un esquema esencialmente aleatorio. Se puede aplicar métodos
estadísticos para encontrar secuencias fuera de control. Generalmente hay una causa por la que aparece
cierto patrón no aleatorio en un diagrama de control, y si se puede encontrar y eliminar, es posible
mejorar el funcionamiento del proceso.

Los diagramas de control para variables se usan para contrastar características de calidad cuantitativas.

Se han calculado varios índices de capabilidad para resumir la comparación de los datos con
especificaciones. Un índice común es el Cp, que es igual a la distancia entre los límites de
especificación, dividida entre 6 veces la desviación estándar. En este caso, el Cp es igual a 0,268902, el
cual generalmente no se considera bueno. Cpk es un índice de capabilidad unilateral, el cual, en el caso
de una distribución normal, divide la distancia de la media al límite de especificación más cercano,
entre 3 veces la desviación estándar. En este caso, el Cpk es igual a 0,249182. La diferencia más bien
grande entre el Cp y el Cpk es un signo de que la distribución no está bien centrada entre los límites de
especificación. K es igual a la media menos el valor nominal, dividida entre la mitad de la distancia
entre las especificaciones. Puesto que K es igual a 0,0733333, la media está localizada 7,33333% desde
el centro de las especificaciones hacia el límite superior de especificación.
Con base en límites 6,0 sigma. La sigma de corto plazo se estimó a partir del rango promedio.

Control de aceptación por atributos

Los diferentes campos de la pantalla Muestreo de Aceptación – Atributos tienen la siguiente
interpretación:
Campo Acción – define el tipo de acción deseada:

Crear Plan OC – crea un plan que controla la probabilidad de aceptar un lote tanto a nivel de calidad
aceptable AQL como para porcentaje de defectuosos aceptado en el lote LTPD. Los lotes rechazados se
devuelven al productor sin ser rectificados.

Crear Plan AOQL – Crea un plan que minimiza el número total de unidades inspeccionadas en una
fracción seleccionada de elementos no-conformes al mismo tiempo que asegura que el porcentaje
máximo de elementos no conformes aceptados no exceda un valor específico. Los lotes rechazados son
sometidos a una inspección del 100% y son rectificados.

Crear Plan LTPD – Crea un plan que minimiza el número total de unidades inspeccionadas en una
fracción seleccionada de elementos no-conformes mientras que al mismo tiempo controla la
probabilidad de aceptar un lote para un porcentaje de defectuosos LTPD. Los lotes rechazados son
sometidos a una inspección al 100% y son rectificados.

Analizar Plan Existente – calcula la curva característica de operación para un plan de muestreo
especificado por el ususario.

Campo Nivel de Calidad – define el porcentaje defectuoso en lotes “buenos” y “malos”:

AQL (NCA – nivel de calidad aceptable) – el nivel de calidad más bajo que un consumidor encuentra
en promedio.

LTPD (PDTL – porcentaje defectuoso tolerable por lote) – el nivel de calidad más bajo que un
consumidor está dispuesto a tolerar en cualquier lote dado.

Campo Tamaño de Lote – el número de elementos N en el lote.

CAPACIDAD DE LOS PROCESOS

Ya sabemos que siempre que sea válida la distribución normal de probabilidades, el 99,73% de las
medidas de las características de probabilidad del producto se hallarán dentro del intervalo µ±3σ, cuya
anchura es 6σ.

Límites de tolerancia y límites de especificación

Una vez observadas estas condiciones idóneas, se puede realizar un estudio de capacidad reuniendo los
datos necesarios relativos a la característica de calidad en análisis para al menos 50 observaciones
(aunque suele ser usual tomar 100 o más) y calculando la media ¯x y la desviación estándar S de dichos
datos.
Estadísticamente, los límites de especificación son algo externo que ya viene dado. Es usual que los
límites de especificación sean determinados por los ingenieros de manufactura, el cliente o los
desarrolladores/diseñadores del producto, e incluso pueden ser impuestos por la administración.
Evidentemente, si el ingeniero industrial está familiarizado con la variación natural del proceso que se
utilizará para fabricar el producto, el trabajo de establecer las especificaciones adecuadas se
simplificará considerablemente. Si carece de información, es probable que el ingeniero industrial
establezca unas especificaciones muy duras, anticipando en el informe que el departamento de
producción se va a quejar de las mismas. Conociendo la capacidad estimada del proceso, el ingeniero
puede abstenerse de proyectar un producto que no se puede fabricar sin producir una gran cantidad de
elementos defectuosos. Es altamente deseable, además, que el ingeniero industrial conozca los
principios básicos de la estadística para que le resulte más sencillo entender e interpretar los estudios
sobre la capacidad del proceso.

Relación de capacidad del procesos (RCP)

RCP = Cp = CP = (LSE – LIE) / 6σ

Si RCP = 1, los límites de tolerancia natural y los de especificación coincidirían, con lo que la situación
sería ideal. Si RCP > 1, los límites de especificación incluye los límites de tolerancia natural, con lo que
el proceso está trabajando dentro de su capacidad y no deben producirse unidades defectuosas. Si RCP
< 1, los límites de tolerancia natural sobrepasan (contienen) los límites de especificación y los datos
obtenidos para las características de calidad caen fuera de las especificaciones, con lo que el proceso
será muy sensible a la producción o rendimiento, y habrá riesgo de generación de un gran número de
artículos con disconformidad.

No obstante, suele considerarse que el proceso trabaja muy adecuadamente cuando Cp > 1,33,
adecuadamente requiriendo posiblemente control si 1 < Cp < 1,33, e inadecuadamente si Cp < 1.

La relación de capacidad se ha definido para el caso de especificaciones bilaterales (intervalos con dos
extremos).

Para el caso de especificaciones unilaterales, podemos definir la relación de capacidad para intervalos
con solo límite superior de especificación como:

RCPS = CPU = (LSE – µ) / 3σ

En este caso suele considerarse que para procesos ya existentes, el trabajo es muy adecuado Cp < 1,25,
adecuado requiriendo posiblemente control si 1 < Cp < 1,25, e inadecuado si Cp < 1. Para procesos
nuevos o ya existentes, pero con variables críticas, el trabajo es muy adecuado cuando Cp > 1,45,
adecuado requiriendo posiblemente control si 1 < Cp < 1,45, e inadecuado si Cp < 1. Para procesos
nuevos con variables críticas, el trabajo es muy adecuado cuando Cp > 1,60, adecuado requiriendo
posiblemente control si 1 < Cp < 1,60, e inadecuados si Cp < 1.

La relación de capacidad para intervalos con solo límite inferior de especificación podemos definirla
como:

RCPI = CPL = (µ – LIE) / 3σ

Los criterios de buen o mal funcionamiento del proceso según CPL son los mismos que para el caso de
CPK.

También se utiliza el índice de capacidad k, que se define como:

K = 2 (m - ¯x) / (LSE – LIE)

donde m = (LSE – LIE) /2 es el punto medio de los límites de especificación.

También suele utilizarse el índice de capacidad CPK, que se define como:

Cpk = CPK = min (LSE - ¯x, ¯x - LIE) /3σ

La relación CPK = CP (1-K) relaciona CPK, CP Y K.

Para intervalos con solo límite superior de especificación se define CPK como:

CPU = (LSE - ¯x) / 3σ

Para intervalos con solo límite inferior de especificación se define CPK como:

CPL = (¯x – LIE) / 3σ

Se cumple que CPK = min(CPU,CPL)

Suele utilizarse también el índice de capacidad CPM, que se define como:

Cpm = CPM = min(LSE- T, T – LIE) / 3√σ² + ( ¯x - T)²

Siendo T el valor objetivo.

Si se especifica asolo un limite de especificación simple SL, CPM vale:

Cpm = CPM = (T - SL)/ 3√σ² + ( ¯x - T)²

En ocasiones también suele utilizarse el índice Cr = 1/Cp.