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Objetivos
1.1. Identificar la forma de utilizar diferentes aparatos de medida de magnitudes eléctricas,
tales como: voltímetro, amperímetro y multímetro.
1.2. Diferenciar las escalas de medición de magnitudes eléctricas y su correcta utilización.
1.3. Identificar las diferencias al realizar mediciones eléctricas con aparatos de medida:
analógicos y digitales
2. Resolución teórica
+ d
-
I1 I2
I3
+ - +
- + -
15V
Después de resolver el sistema de ecuaciones obtuvimos las corrientes que pasan por las resistencias
de todo el circuito.
I 1=0.12 [ A ]
I 2=0.03 [ A ]
Y por leyes de Kirchhoff de corriente en el nodo “d” obtuvimos la corriente faltante, es decir la que
pasa por la R100 la cual fue la siguiente:
I 3=0.09 [ A ]
A partir de los datos obtenidos realizamos la determinación de los respectivos voltajes en cada
resistencia del circuito de la figura 1, para el respectivo cálculo utilizamos la ley de ohm la cual
presentamos a continuación los resultados:
V R =6 [ V ]
50
V R =9 [ V ]
100
V R =9 [ V ]
300
R1 R2 R3
50±5% 100±5% 300±5%
1 ∂ R eq A− B ∂ R eq A− B ∂ R eq A− B
ε Req =
R eq A− B {
ε rR 1 ∙ Ŕ1 ∙
∂ R1
+ ε rR 2 ∙ Ŕ 2 ∙
∂ R2
+ ε rR 3 ∙ Ŕ 3 ∙
∂ R3 }
a) S1 y S2 cerrados (S3 abierto)
∂ R eq A −B ∂ Req A−B
=1 =1
∂ R1 ∂ R2
Luego aplicando la ecuación 1 obtenemos el error.
1
ε Req = { 5∗50 ∙ 1+5∗100∗1+5∗300∗0 }
150
1
ε Req = { 750 }
150
ε r=5 %
Finalmente obtenemos la resistencia equivalente entre los puntos A-B con su respectivo error.
∂ R eq A −B ∂ R eq A −B
=1 =1
∂ R1 ∂ R3
Luego aplicando la ecuación 1 obtenemos el error.
1
ε Req = { 5∗50 ∙ 1+5∗100∗0+5∗300∗1 }
150
1
ε Req = { 1750 }
150
ε r=11.67 %
Finalmente obtenemos la resistencia equivalente entre los puntos A-B con su respectivo error.
d) S1, S2 y S3 cerrados
Req A−B =125 Ω
∂ R eq A −B
=1
∂ R1
∂ R eq A −B R 3 ( R 2+ R 3) −(R 2∗R3 )
= =0.5625
∂ R2 (R 2+ R 3)2
∂ R eq A −B R 2 ( R 2+ R3 ) −(R 2∗R3 )
= =0.0625
∂ R2 (R 2+ R 3)2
Luego aplicando la ecuación 1 obtenemos el error.
1
ε Req = { 5∗50 ∙ 1+5∗100∗0.5625+5∗300∗0.0625 }
125
1
ε Req = { 625 }
125
ε r=5 %
Finalmente obtenemos la resistencia equivalente entre los puntos A-B con su respectivo error.
3. Datos prácticos
Análogo Digital
Escala V 10 V 30 I 0.3 I1 V 20 V 200 I 200 μA I 2000μA
Total 0 15 0.09 0.09 15.13 15 0.1628 0.164
R50 4.7 4.8 0.09 0.09 6.21 6.1 0.1628 0.164
R100 6.7 6.8 0.066 0.065 8.9 8.8 0.1262 0.127
R300 6.7 6.8 0.02 0.02 8.92 8.8 0.0372 0.037
4. Errores
Primero se tuvo que obtuvo que determinar una media de todas las medidas ya sea de voltaje
como de corriente en cada elemento del circuito y se las presenta en la tabla de arriba.
Como se puede observar en la tabla de la resistencia de 50Ω se tiene un error relativo tanto en la
corriente como en el voltaje es menor a 10% con lo que nos dice que durante el proceso de
recolección de datos existieron fallos ya sea en la posición que nos colocamos en los
instrumentos de medición analógicos.
Por otro lado en la resistencia de 100 Ω se observa que en el error de voltaje podría ser por una
mala lectura de los instrumentos o también podría ser por un error de calibración del equipo.
Y finalmente en la resistencia de 300 Ω se observa el mismo error ya que como el circuito está
en paralelo se va a encontrar con los mismos errores que en la resistencia de 100 Ω
5. Cuestionario
5.1. Consultar sobre las redes de resistencias en escalera y cuál es su aplicación.
Una red R-2R permite una forma simple y económica de implementar un convertidor
digital-analógico (DAC), enlazando grupos de resistencias de precisión alternando los dos
valores posibles en una escalera.
Los convertidores digital-analógicos (DAC) de escalera o red R-2R hacen uso de la red R-
2R para generar una señal analógica a partir de los datos digitales que se presenten en sus
entradas.
Ventajas:
Alta velocidad de conversión
Funcionamiento sencillo
5.2. Explique brevemente las diferencias entre fuentes ideales y reales, tanto de voltaje
como de corriente.
Voltaje
Una fuente de voltaje ideal es la que nos suministra una tensión constante
independientemente del valor de la intensidad que suministra.
Son las fuentes de tensión que tenemos en la realidad, como ya hemos dicho no existe una
fuente ideal de tensión, ninguna fuente real de tensión puede producir una corriente
infinita, ya que en toda fuente real tiene cierta resistencia interna.
Corriente
Una fuente de corriente ideal es la que nos suministra una intensidad constante
independientemente del valor de la tensión en sus bornes
Una fuente de corriente real estará constituida, por una fuente de corriente ideal con una
resistencia interna conectada en paralelo.
5.3. A través de diagramas circuitales, explicar la forma de conexión de: un amperímetro,
un voltímetro y un óhmetro. Comentar sobre el efecto de carga de cada uno.
Para un voltímetro se debe conectar en paralelo con la porción del circuito sobre el
que se quiere realizar la medida.
Para un amperímetro se debe colocar en serie con la rama a medir y debe tener muy
baja resistencia para evitar una alteración significativa de la corriente que se va a
medir.
La resistencia se mide con un óhmetro, y se conecta entre los dos extremos de la
resistencia a medir, estando ésta desconectada del circuito eléctrico.
5.4. Consultar sobre las diferentes categorías de los multímetros digitales (CAT I, CATII,
y CAT III).
CAT I – Electrónica
Esta Categoría se utiliza para equipos electrónicos que se conectan a la red e instalaciones
eléctricas protegidas.
Valores transitorios de comprobación para las categorías de medición:
600V Impulso transitorio máximo 2,500 V (pico). Fuente de
comprobación: 30 ohmios
1000V Impulso transitorio máximo 4,000 V (pico). Fuente de
comprobación: 30 ohmios
[1] T. Medidas, «Qué es el CAT I, II, III, IV que se muestra en los multímetros, amperímetros o
puntas de prueba, y para qué sirve?,» [En línea]. Available: shorturl.at/cdrvO. [Último acceso:
2019 Octubre 26].
[2] M. O. R. Nave, «hyperphysics,» [En línea]. Available: shorturl.at/gBCQ8. [Último acceso: 26
Octubre 2019].
[3] J. L. Diaz, «Principio de Funcionamiento de los instrumentos,» UMSA, 2008.
[4] FondoFormacion, Aplicaciones del magnetismo en los aparatos de medida, 2001.
[5] P. F. Perez, «Curso de Capacitación en medidas electrónicas,» 1999.