ESCUELA SUPERIOR DE INGENIERÍA MECÁNICA Y ELÉCTRICA UNIDAD CULHUACAN

PRACTICA 1.0

MUESTREADORES Y RETENEDORES

Competencias.

Construye, analiza, implementa un dispositivo de muestreo y retención para comprobar dos de

los procesos empleados en la discretización de señales analógicas.

Analiza las variaciones que se producen en ambos procesos al cambiar los parámetros del
sistema y las señales de entrada, desde una cuadrado hasta una senoidal básica.

Material y equipo

CANTIDAD DISPOSITIVO OBSERVACIONES

1 CI.LM555
1 CI.LM741
1 CI.CD4016 CMOS (PRECAUCIÓN)
1 CI.CD4096 CMOS(PRECAUCIÓN)
2 RESISTENCIAS 100 Ω ½ WATT
1 RESISTENCIA 27 Ω ½ WATT
1 RESISTENCIA 1 KΩ ½ WATT
1 RESISTENCIA 2.2 KΩ ½ WATT
1 POTENCIOMETRO 50 KΩ
1 CAPACITOR 2.2 nF cerámico
1 CAPACITOR 1.0 nF cerámico
1 CAPACITOR 0.1 μF cerámico
2 CAPACITORES 100 uF 16 v
1 FUENTE SIMETRICA
1 GENERADOR DE FUNCIONES
1 OSCILOSCÓPIO

Descripción procedimental

1. El circuito de la figura 1.4 realiza la operación de muestreo sobre la señal Ve(t) y genera una
señal muestreada Ve*(t), este circuito consta de las siguientes partes:

o Generador de pulsos de muestreo.

o Inversor lógico.

o Interruptor analógico (switch bidireccional) controlado por pulsos.

2. Implemente el sistema y pruébelo por partes, verificando el correcto funcionamiento de cada

una de ellas.

o Generador de pulsos de muestreo. (Terminal 3 del LM555)

o Inversor lógico. (Terminal 2 del CD4069)

o Interruptor analógico (switch bidireccional) controlado por pulsos. (Terminal 2 del

CD4016)

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3. Compruebe y analice el proceso de muestreo para diferentes señales de entrada, comenzando

con una señal de tipo senoidal Ve(t) de 1 KHz. y una amplitud pico a pico de 10 V.

4. Si se tienen señales con demasiado ruido inserte los capacitores electrolíticos en ambas fuentes
de voltaje, como se muestra en la figura 1.5.

5. Mida el rango de frecuencias mínimo y máximo de la señal de salida del generador de pulsos
variando el potenciómetro P1.

6. Varíe la frecuencia de la señal senoidal a un valor en el rango de 30KHz a 50KHz y observe el

comportamiento simultáneo de las señales de entrada Ve(t) y de salida Ve*(t), ajuste el valor
de frecuencia para obtener un proceso de muestreo equivalente.(Aliasing o Señal de salida que
no es muestreada adecuadamente debido a que no se toman las muestras necesarias para
representarla).

7. Grafique las señales para cada punto y anote los rangos de funcionamiento de cada una de las
etapas, es muy importante llegar a una conclusión práctica de porque con este tipo de circuito
no se puede llegar a muestrear señales de cualquier frecuencia o amplitud.

8. Retire la resistencia R5 de 0.27Kque está conectada a la terminal 2 del switch analógico, ya

que afecta el comportamiento del circuito retenedor que se adicionará a la salida del
muestreador.

9. Añada el circuito de la figura 1.6 a la salida del circuito de la figura 1.4, el cual realizará la
función de retención, que representa el segundo proceso que se debe aplicar a las señales
analógicas para transformarlas a en señales digitales.

10. Anote los comentarios en cuanto a las formas obtenidas así como las gráficas correspondientes,
haciendo las pruebas también para diversos tipos de señales.

Exposición temática de contenido (sugerencias)

1. Explique detalladamente los pasos que se siguen en el proceso de muestreo periódico de una señal
analógica.

2. Investigue el teorema de Nyquist y el concepto de Aliasing y explique la relación que tienen con
respecto al muestreo de señales analógicas.

3. Cuál es la frecuencia máxima teórica de la señal analógica que puede ser muestreada con este
sistema, tomando en cuenta la frecuencia de los pulsos generados por el circuito LM555. Para este paso
se deben calcular los parámetros de funcionamiento del circuito y obtener matemáticamente el valor.

4. Indique el tipo de retenedor empleado en la práctica (figura 1.6) y explique su funcionamiento a

través de la función de transferencia de dicho circuito.

5. Explique de manera gráfica lo que sucedería si la frecuencia de muestreo es elevada y la constante de

tiempo RC del retenedor es mayor al periodo de muestreo T.

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Galería de figuras o diagramas esquemáticos

Aplicado por: Carlos Pérez Torres.

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