PXI
La Alianza de Sistemas PXI Lanza PXI 2.0
La Alianza de
Sistemas PXI,
un grupo con
membresía de
más de 50
compañías,
lanzó la versión
2.0 de la Especificación PXI en Agosto del 2000.
Dicha versión define las extensiones de la
arquitectura CompactPCI que cumplen con las
necesidades de los desarrolladores de sistemas
para medición y automatización. Las
extensiones PXI proporcionan un nivel de
funcionalidad más elevado y una mayor
interoperabilidad en comparación con
CompactPCI. La Alianza de Sistemas PXI las
distribuye y mantiene sin costo alguno.
Nociones Básicas de Conmutación de Radio
Frecuencia (RF) Compleja
En nuestro mundo tecnológico, los dispositivos
inalámbricos se han convertido en algo
extremadamente común y la necesidad de
sistemas de prueba de radio frecuencia se
incrementa rápidamente.
Crosstalk, VSWR y Pérdida
por Inserción
Los parámetros que son extremadamente
importantes en el dominio de la radio frecuencia
de más de 100 MHz de ancho de banda son la
Pérdida por Inserción, la Razón de Onda de
Voltaje Fija (VSWR) y Crosstalk; estos parámetros
están conectados a fenómenos físicos que ocurren
cuando la frecuencia de señal de radio viaja dentro
de un sistema. Comparemos esto a un rayo de luz
que viaja dentro de un vidrio con diferentes
constantes de refracción.
Porción
reflejada
Porción
transmitida
Onda
Fuente incidente
de luz
Compare la luz viajando a través de un vidrio con diferentes
constantes de refracción.
14
Actualizaciones Clave en PXI 2.0
PXI 2.0 incluye actualizaciones a los requisitos
y directrices en las secciones mecánicas, eléctricas y
de software pero mantiene una completa
interoperabilidad con la versión 1.0; además, refleja
la más reciente versión de CompactPCI
(PICMG 2.0 R3.0) e incluye capacidad de
direccionamiento geográfico, así como la opción
para operación de PCI de 66 MHz. PXI 2.0
también incluye actualizaciones a especificaciones
de conformidad electromagnéticas y agrega un
encuadramiento de software para Windows
2000/NT/Me/9x. Quizá la mejora más
significativa dentro de las directrices es la mejor
definición de la operación de segmentos múltiples
PXI: cómo construir un chasís PXI con muchas
más de ocho ranuras.
Cuando la luz (nuestra Parámetro
señal) llega a la primera
Pérdida por inserción
superficie, parte de ella se refleja
VSWR
y parte de ella continúa viajando
Aislamiento
a través de la primera capa del
vidrio. La reflexión es causa de
que el vidrio tiene una constante de refracción
diferente a aquella del aire. En nuestros circuitos, la
impedancia característica del cable es equivalente a
la refracción constante en el vidrio: si es diferente
a la impedancia de la fuente, parte de la señal
se refleja.
La VSWR califica la cantidad de señal que se
refleja hacia la fuente. Una conmutación teórica
debe tener una VSWR igual a cero. En realidad, la
impedancia no se iguala de manera perfecta, por
los tanto la VSWR tiene un valor mayor a cero.
No se desea la reflexión de la señal porque la parte
de la señal que se refleja viaja de
vuelta hacia la fuente y se puede
ocasionar un daño permanente a como se puede esperar, este parámetro se degrada
la fuente de la señal si no está
diseñada para soportar la
reflexión de la señal. La luz que
viaja a través de la primera capa
del vidrio tiene una pérdida de
energía puesto que el vidrio no es
perfectamente transparente y se
pierde parte de la señal a lo largo
del trayecto. De la misma
“La versión actualizada incluye contribuciones por
parte de diversas compañías y expande la esfera de
las posibles aplicaciones para PXI”, afirmó Mark
Wetzel, Presidente del Subcomité Técnico de la
Alianza de Sistemas PXI. “Un elemento clave de
esta nueva revisión especifica el puenteo de bus
más allá de dos segmentos, definiendo de esta
manera los sistemas PXI más grandes con mayor
precisión y revelando el camino hacia sistemas de
mayor rendimiento”.1
Para bajar una copia gratuita de la
Especificación PXI y para obtener información
sobre la membresía visite pxisa.org
ni.com/pxi
Valor teórico Nivel deseado a la frec. de interés
0 dB Pérdida de menos de 1.5 dB
1 Menos de 1.5
-∞ Menos de –50.0 dB
manera, una conmutación no es perfectamente
“transparente” para la señal y parte de la energía de
la señal se pierde a lo largo del trayecto de la
conmutación, convirtiéndose principalmente en
calor. Una conmutación teórica debe tener una
pérdida por inserción igual a cero.
El crosstalk es una medida de la influencia
que una señal que fluye por el canal tiene sobre la
señal en otros canales; este parámetro se expresa
generalmente en dB. Un buen comportamiento de
crosstalk garantiza que las señales en el Canal 2 se
ven afectadas marginalmente por las señales en al
Canal 1. El crosstalk necesita ser asociado con un
valor específico para la frecuencia. En general, tal
conforme la frecuencia se incrementa, así que se
necesita una idea precisa del alcance de frecuencia
de la señal conmutada.1
Para una versión más profunda de este artículo
visite ni.com/zone y lea “Arquitecturas de
Conmutación de RF Compleja”
ni.com/zone
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 Pruebas

Más Mediciones con NI-SCOPE ™

Ahora usted puede extraer más funcionalidad de
los digitalizadores de alta velocidad de National
Instruments con una actualización GRATIS a la
versión más reciente de nuestro software
Mediciones que
y fluctuación de ancho de pulso. Consulte la barra Proporciona NI-SCOPE
lateral en esta página para obtener una lista
completa de mediciones.
NI-SCOPE le ofrece flexibilidad de Mediciones y Funciones de Arreglo

manejador NI-SCOPE. programación al proporcionarle una interfaz para FFT Amplitude Spectrum (Volts RMS)
FFT Amplitude Spectrum (dB)
NI-SCOPE ofrece más de 50 funciones de programación de aplicaciones (API) en LabVIEW FFT Phase Spectrum
medición, incluyendo matemática de forma de 6i y Measurement Studio de National Instruments Last Acquisition Histogram
Multi-Acquisition Voltage Histogram
onda, mediciones de histogramas de tiempo y y en Visual Basic y Visual C++ de Microsoft. Multi-Acquisition Time Histogram
voltaje y herramientas para medición de frecuencia Debido a su diseño, el software funciona Array Integral
Derivative
tales como ventanas de fuga espectral y filtros específicamente con los digitalizadores de alta Inverse
digitales. Este software está en conformidad con velocidad NI 5102, NI 5112 y NI 5911, los Hanning Window
Flat Top Window
IVI y es compatible con Windows 2000/NT/9x cuales ofrecen un mayor rendimiento total, Hamming Window
y está disponible en ni.com/idnet memoria profunda, bajo costo y una integración Triangle Window
Blackman Window
Con NI-SCOPE y los digitalizadores de alta de sistemas simplificada.1 Polynomial Interpolation
velocidad de National Instruments, usted puede Multiply Channels
Add Channels
personalizar y definir sus mediciones; NI-SCOPE Para mayores informes sobre NI-SCOPE visite Subtract Channels
le da la opción de diversos controles de ventanas y ni.com/info y especifique la clave newsletter. Divide Channels
Multi-Acquisition Average
funciones de filtros para mediciones de dominio de Butterworth Filter
frecuencia precisas. Además, las mediciones de Chebyshev Filter
Bessel Filter
histogramas de tiempo y voltaje de adquisición
ni.com/instruments Windowed FIR Filter
múltiple están disponibles para análisis de amplitud Array Offset
Array Gain

Controladores VXI Basados en Pentium III Mediciones Escalares*

Rise Time AC Estimate
Fall Time DC Estimate
National Instruments presenta la serie de Voltage Max FFT Frequency
controladores VXI impulsados por un Voltage Min FFT Amplitude
Voltage Peak to Peak Low Reference Voltage
procesador Intel Pentium III de 700 MHz que Voltage High Mid Reference Voltage
proporcionan un rendimiento VXI sin igual. Voltage Low High Reference Voltage
Voltage Amplitude Area
Con un paquete de componentes de Period Integral
vanguardia, la Serie VXIpc™-870 aprovecha la Frequency Cycle Area
Voltage Average Voltage Base
familia de microprocesadores Intel Pentium Voltage RMS Voltage Top
III sin transigir el rendimiento o espacio. La Voltage Cycle Average Voltage Base to Top
Voltage Cycle RMS Phase Delay
Serie VXIpc-870 está en completa Positive Width Time Delay
conformidad con VXIplug&play y es Negative Width Rising Slew Rate
Positive Duty Cycle Falling Slew Rate
compatible con todo el software Windows Negative Duty Cycle Average Period
NT/98, incluyendo el software de aplicación Overshoot Average Frequency

LabVIEW y Measurement Studio, el software

ejecutor de pruebas TestStand y el software de
interfaz a bus NI-VXI™/NI-VISA™ de Mediciones de Histogramas**

National Instruments. Histogram Hits

Histogram New Hits
El controlador de la Serie VXIpc -870/700 ofrece un
™
Histogram Mean
La Serie VXIpc-870 rendimiento sin igual. Histogram Standard Deviation
Histogram Mode
La Serie VXIpc-870 utiliza un innovador Histogram Min
diseño mecánico para conjuntar los VXIpc-870, basadas en la arquitectura del Intel Histogram Max
Histogram Amplitude
microprocesadores de alto rendimiento Pentium III Pentium III, proporcionan lo último en tecnología Histogram Median
de Intel en una unidad tamaño C de dos ranuras. de bus de alta.1 Histogram Mean Plus Stdev
Histogram Mean Plus 2 Stdev
Usted también puede pedir el VXIpc-870 con un Histogram Mean Plus 3 Stdev
drive para disco flexible, CD-ROM, disco duro Para mayores informes sobre VXIpc-870 visite
Ultra DMA 33, expansión para tarjeta PC y una ni.com/info y especifique la clave newsletter. * Excluye mediciones de histogramas
** Tenemos disponibles histogramas de tiempo y voltaje
variedad de periféricos de alto rendimiento para
ni.com/vxi
PC en el mismo paquete. Las computadoras

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Soluciones de Clientes
LabVIEW Controla Proceso de Reducción de Fierro Esponja
Por: Rogelio Rodríguez G./Jorge Rodríguez A.
VI Technology de México
El Desafío: Automatizar el proceso de
reducción de fierro esponja para que una
computadora controle tres procesos
simultáneamente.
La Solución: Utilizando LabVIEW, DAQ y
comunicación serial para la adquisición
de datos y control.
Introducción
VI Technology está conformada por un grupo de
ingenieros y programadores expertos en el campo
de instrumentación y automatización industrial.
Hemos participado exitosamente en diversos
proyectos desde pruebas automatizadas para una
planta nuclear hasta producción de obleas de silicio
para semiconductores. Un ejemplo de uno de
nuestros más recientes proyectos es el de la
automatización del proceso de reducción en el
Laboratorio de Fierro Esponja para el fabricante
de acero Hylsa.
Antecedentes
El proceso de reducción de fierro esponja se
utiliza para eliminar las impurezas del hierro,
dando como resultado el fierro esponja, el cual es
mezclado con chatarra en la acería para la
producción de láminas. En el laboratorio se
simulan las condiciones de reducción de la planta.
El laboratorio de reducción de fierro esponja tiene
controladores de temperatura, básculas de peso y
recursos humanos para llevar acabo el proceso de
reducción del hierro.
El proceso comienza al introducir un reactor
con la muestra de hierro a reducir en un horno
eléctrico. Se inicia con un proceso de
recalentamiento hasta alcanzar la temperatura de
inicio del proceso y cuando ésta se alcanza se
inyecta una mezcla de cuatro gases al reactor. La
cantidad de gas inyectado y el momento en que se
inyecta es determinada por el operador. A partir de
este momento el operador toma los datos del
tiempo y el peso perdido del fierro, registrándolos
manualmente en una tabla. Este proceso dura entre
25 y 40 min. dependiendo del porcentaje de
reducción que se necesite. En este lapso de tiempo
el operador tiene que estar completamente
dedicado a revisar el tiempo y el peso en el
cronómetro y la báscula sin distracción alguna, de
lo contrario, la información será incongruente y la
16
prueba se tendría
que repetir.
El laboratorio cuenta
con tres hornos de
reducción y se desea
controlar los tres al mismo
tiempo; además, el
proceso usaba al 100
porciento los recursos
humanos y había
posibilidad de tomar
incorrectamente
los datos.
Diseño delSistema
de Pruebas Panel en LabVIEW donde el operador configura el proceso y
carga/descarga el reactor.
Se diseño el sistema de
tal manera en que el
operador solo interviniera para cargar/descargar el proceso. El proceso se reduce según el flujo de
reactor y configurar el proceso. El sistema de gases seleccionado, que es controlado por
reducción de fierro esponja cuenta con control de controladores de Flujo Másico, y termina con el
temperatura de lógica difusa para 2 zonas dentro proceso cuando el porcentaje de reducción llega al
del horno y 2 zonas dentro del reactor, mismo que que se introdujo en la pantalla de parámetros. Los
fue desarrollado en LabVIEW. datos generados en el proceso son almacenados en
La medición del peso se hace mediante una un archivo separado por comas.
báscula con interfaz RS232 conectada al PC.
La temperatura se adquiere mediante termopares Beneficios del Sistema
y se controla mediante drivers de potencia que de Reducción
alimentan 2 resistencias térmicas de 220 VAC Los recursos humanos se liberaron al 95% y los
por cada horno. datos pueden ser observados gráficamente con
El sistema se desarrolló para una PC Pentium, precisión, y además se puede observar el
cuenta con dos tarjetas AT-MIO 16DE10 y una comportamiento de la temperatura en cualquier
PCI E Series. También se uso una tarjeta de parte del proceso. Esto nos da una idea de los
puertos seriales extra ya que se usaron tres puertos factores que influyen en el proceso de reducción
para la comunicación con las tres básculas. con gases.
El Software se programó en LabVIEW ya que
cuenta con una excelente interfaz gráfica y es Resultados
bastante fácil la programación debido a que es Actualmente ya están automatizados los dos
gráfica. Para iniciar la aplicación se tiene que primeros hornos y el tercero está en
proporcionar una clave para poder tener acceso a construcción. El sistema se mejoró en todos
los botones de parámetros de la prueba. Los tres sus aspectos dando como resultado un proceso
hornos se pueden controlar independientemente robusto con mediciones correctas y poca
por lo que se pueden realizar reducciones intervención del operador.1
simultáneas con diferentes tiempos de inicio.
Para iniciar una reducción es necesario alimentar VI Technology de México
los parámetros de la prueba para se active el Río Tíber 100-12
interruptor de inicio de reducción. Al empezar la Col. Del Valle
reducción se habilitan los indicadores de México, San Pedro Garza G., N.L. 66250
temperatura del gas y de la muestra así como el Tel. (8) 356-9510 • Fax (8) 378-4485
cronómetro y el indicador de peso. vi-tech.com
A partir de este momento se habilita el botón
de la gráfica que al ser presionado muestra una
ni.com/latam
gráfica con los valores adquiridos durante el
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™
FieldPoint y ComponentWorks Automatizan y Controlan Pruebas
en los Equipos de Alumbrado Público en Caracas
Por: Ing. Miguel Ereú, Edgar Chacón, Omar
Mantilla, Alirio Rojas y Alejandro Briceño,
C.A. La Electricidad de Caracas
El Desafío: Desarrollar una herramienta lo
suficientemente poderosa para realizar los
estudios fotométricos de manera eficiente y
controlar la calidad de los equipos de
iluminación adquiridos por la C.A. La
Electricidad de Caracas.
La Solución: FieldPoint como el sistema de
adquisición de datos y el software
ComponentWorks con Visual Basic fue la
™
configuración utilizada para resolver el
problema planteado.
Anteriormente la empresa realizaba las pruebas
referentes a los factores de luminancia, iluminancia
e intensidad luminosa de las luminarias utilizadas
en alumbrado público en forma manual.
Posteriormente, el usuario realizaba complejos
cálculos matemáticos para construir las curvas
necesarias para determinar la calidad de los equipos
a los cuales se le realizaba el estudio, trayendo como
consecuencia grandes pérdidas de tiempo.
Actualmente, gracias al sistema diseñado con
FieldPoint y ComponentWorks, la compañía
cuenta con una herramienta capaz de realizar
mediciones de los diferentes parámetros
fotométricos y elaborar en tiempo real las curvas
fotométricas características de las luminarias. Este
sistema ha permitido evaluar el comportamiento de
los diferentes equipos de iluminación de manera
efectiva reduciendo el tiempo de duración de las
pruebas y presentando una interfaz interactiva entre
el usuario y el equipo de medición.
Automatización de Pruebas
Se creó un sistema automatizado capaz de adquirir,
transmitir, almacenar y procesar niveles de luz
provenientes de equipos de iluminación
(luminarias), directamente de un sistema de
alumbrado público o en pruebas de campos a
luminarias específicas. El sistema de control
diseñado para la automatización de las pruebas
fotométricas consta de cinco módulos:
• Curvas Isolux (suelo)
• Curvas Fotométricas (polares)
• Medición de los parámetros de iluminación
en tiempo real (pruebas de campo)
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™
• Diseños de sistema de alumbrado público
• Análisis de los parámetros de mantenimiento
de los equipos de alumbrado público (vida útil
de las lámparas, factor de suciedad de las
luminarias, etc.)
El software se desarrollo en ambiente
Visual Basic y añadimos las herramientas de
ComponentWorks para poder comunicarnos
fácilmente con los módulos de adquisición de
datos FieldPoint.
A. Módulo para el monitoreo de las
pruebas de campo
Esta enfocado a la realización de las curvas Isolux,
niveles de iluminación, etc. Este módulo emplea
sensores de luz distribuidos en el área de trabajo,
recorriendo el área en forma automática gracias a las
estructuras diseñadas para tal fin; durante el
recorrido los sensores van tomando los niveles de
luz necesarios para la elaboración de las curvas, estos
transmiten la información al sistema de adquisición
de datos, el cual digitaliza las señales y envía la
información procesada a la estación de trabajo en
forma simultánea (Fig. 2.a).
B. Módulo para el Monitoreo
de las Curvas Fotométricas
Este módulo esta encargado de monitorear y
controlar todo lo referente a la medición de
intensidad luminosa emitida por una luminaria en
todas direcciones valiéndose de un luxómetro
encargado de sensar los niveles de luz. Al colocar el
luxómetro en el área de trabajo se ejecutan
instrucciones en el software las cuales accionan las
estructuras mecánicas que permiten tomar las
mediciones de luz para procesarlas luego en la
PC al terminar el recorrido de 180∞ que realiza el
mismo por el riel. Estas estructuras se encuentran
ubicadas en un área de 4x4 m. Esta área se
encuentra cubierta por una superficie no
reflectante para hacer las mediciones más exactas.
El software de automatización permite además
ver las diferentes curvas fotométricas por cada
sección en grados del plano C, así como
también la información referente a la luminaria,
almacenar esta información en una base de
datos, generar reportes los cuales muestran el
porcentaje de rendimiento, el valor de la
intensidad máxima (Imax), la ubicación en los
planos gamma y C de la misma, el flujo y la
intensidad luminosa.
Soluciones de Clientes
C. Sistema Móvil de Iluminación
Esta encargado de monitorear y controlar todo lo
referente a la medición de iluminancia y niveles de
iluminación emitidas por las luminarias en la vía
pública. Para la elaboración de las pruebas se escoge
una avenida, calle o autopista la cual es recorrida
por un vehículo que tiene instalado en el techo una
cabeza fotosensible del luxómetro anteriormente
mencionado, el auto se desplaza a lo largo de la vía
a una velocidad constante (50 Km/h).
El usuario escoge el número de puntos que se
desea monitorear y el intervalo de tiempo de la
lectura. Una vez finalizado el barrido de los puntos,
la información recolectada es procesada por el
sistema de adquisición de datos, este equipo se
comunica con un computador portátil el cual
calcula y grafica los niveles de iluminación presentes
en la vía. El sistema le permite al usuario cargar los
datos referentes a la ubicación de la prueba (calle,
Avenida, etc.), características de la luminaria, postes,
características de la calzada, así como también la
velocidad del vehículo, distancia a recorrer, número
de puntos a tomar etc. Además el software muestra
en forma gráfica y en tiempo real los puntos que se
están tomando de la vía, la posición relativa del
vehículo y se puede suspender de manera temporal
la adquisición de datos en caso de que se presenten
obstáculos en la vía.
D. Módulo para el Diseño de
Alumbrado Público
Esta proyectado como herramienta práctica para ser
utilizada por los ingenieros de proyectos ya que
permite realizar en forma rápida y efectiva el cálculo
para el diseño de iluminación, específicamente en
alumbrado público.
Con la automatización de procesos industriales
utilizando instrumentación virtual se logra mayores
prestaciones, flexibilidad y eficiencia de los procesos
específicamente en el área de fotometría. Con este
nuevo sistema se ha logrado una optimización de
los diferentes elementos o equipos que conforman
un sistema de alumbrado público, permitiendo
detectar posibles fallas o defectos antes y durante su
funcionamiento logrando un mejor diseño o
proyección de los sistemas de alumbrado público.
C.A. La Electricidad de Caracas
Chacao, Venezuela
miguel.ereu@grupoedc.com
ni.com/latam
17
LabVIEW
¡NUEVO! Herramientas para LabVIEW para Aplicaciones de
Alta Cuenta de Canales
Con Ia creciente demanda de compartimiento de
datos, integridad de datos e integración de
hardware de diferentes fabricantes, National
Instruments proporciona las herramientas para
ayudarle a desarrollar aplicaciones de alta cuenta
de canales de manera eficiente. Ahora tenemos
disponibles nuevas herramientas para que
construya sus aplicaciones con LabVIEW. Este
módulo se conecta a LabVIEW para proporcionar
herramientas basadas en configuración para iniciar
su sistema de alta cuenta de canales rápidamente.
Flexibilidad en Registro de
Datos y Redes Distribuidos
Estas nuevas herramientas de LabVIEW, que
vienen en conjunto como Módulo de Control
Supervisorio y Registro de Datos (Datalogging and
Supervisory Control Module), facilitan las
aplicaciones de monitoreo y de registro histórico
con su amplia capacidad para registro histórico de
datos, tendencias y gráficas. Ya sea que recolecte
datos usando productos DAQ, módulos de E/S
FieldPoint o controladores lógicos programables
(PLC) de National Instruments, usted sólo
configura cuáles puntos desea recolectar. El
Monitor de Terminal (Tag Monitor) muestra los
datos en tiempo real mientras que se adquieren y
registran datos en el sistema. El Visualizador de
Tendencias Históricas (Historical Trend Viewer)
es una utilidad incorporada que proporciona un
sencillo mecanismo para ver datos históricos.
Puesto que le registro histórico ocurre
automáticamente, usted puede usar LabVIEW
Aplicación de Reactor Químico utilizando el módulo de registro de datos y
control supervisorio LabVIEW.
18
para desarrollar una aplicación para registro de al definir la seguridad de sistema a nivel y de
datos sin necesidad de programación; así mismo, operador a interfaz con tan solo usar el ratón de su
usted puede registrar datos en cualquier máquina PC, sin necesidad de programación. Puede
que usted seleccione conectada a una red. Esta también limitar el acceso del usuario a las
capacidad de registro da datos distribuido le da una diferentes utilidades como Tag Monitor, Historical
flexibilidad sin precedente para registrar datos Trend Viewer, paneles frontales e incluso objetos
desde muchas aplicaciones a una computadora en gráficos individuales.
particular o a cualquier número de computadoras
en una red. Además, compartir los datos entre Productividad Mejorada
diferentes máquinas es simple, entre los sistemas de
Aún cuando la programación gráfica de LabVIEW
su laboratorio, su piso de producción o el mundo le proporciona flexibilidad y poder increíbles, las
entero. Usted puede conectarse a cualquier tipo de funciones de HMI simples deben ser precisamente
datos que resida en diferentes computadoras tan eso: simples. El asistente de HMI (HMI Wizard) y
fácilmente como conectarse a los datos en una el asistente de páneles (Panel Wizard) encapsulan
sola máquina. los datos de configuración y la programación
gráfica en objetos reutilizables que usted puede usar
Generación de Alarma y para desarrollar funciones de control supervisorio,
Manejo de Eventos HMI, navegación de la pantalla y monitoreo. Estos
Este nuevo módulo ofrece un completo manejo de asistentes aumentan la productividad y reducen el
alarma y eventos. Usted puede calcular y registrar tiempo de desarrollo de la aplicación al eliminar las
tareas repetitivas y
dándole la habilidad para
El nuevo Módulo de Control Supervisorio y reutilizar fácilmente los
Registro de Datos (Datalogging and objetos de la interfaz de
usuario. Además, este
Supervisory Control Module) simplifica la
módulo adicional de
configuración de sistemas y mejora su LabVIEW agrega más de
productividad de desarrollo. 3,300 gráficas,
incluyendo válvulas,
automáticamente información de la alarma y motores, sensores, PLC y mezcladores para
eventos para el sistema, condiciones de la alarma desarrollar páneles frontales de apariencia
para terminales individuales o utilizar la profesional para sus sistemas de medición y
programación gráfica de LabVIEW para desarrollar automatización.
esquemas de alarmas Ya sea que necesite una herramienta para control y
más sofisticados. automatización industrial de gran envergadura o
Cualquier cliente que simplemente necesite monitorear y registrar un
conectado a red puede par de docenas de puntos de E/S para recolección
ver las alarmas de históricos, el nuevo Módulo de Control
o eventos en una o Supervisorio y Registro de Datos simplifica la
más máquinas servidor configuración de sus sistemas y mejora su
y aceptarlas. productividad de desarrollo.1
Seguridad Para mayores informes sobres el módulo adicional
Incorporada de LabVIEW visite ni.com/info y especifique la
Con estas nuevas clave newsletter.
herramientas, usted tiene
seguridad en su
ambiente de LabVIEW
y en su red; puede
convertir cualquier VI
ni.com/labview
en una aplicación segura
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 Análisis

Use la Alternativa de LabVIEW 6i para Reducir

el Ruido Espectral
LabVIEW 6i incluye más de 30 herramientas
para medición basadas en Procesamiento Digital
de Señales (DSP), las cuales son funciones
estándar o instrumentos virtuales (VI) en
LabVIEW que aceptan un tipo de datos de forma
de onda (una señal del dominio de tiempo que
incluye una razón de muestreo y otra información
de adquisición) y dan como salida una medición
con el escalamiento apropiado.
Usted puede utilizar estos VI uno a la vez o
puede combinarlos para obtener una capacidad de
medición aún mayor. A continuación abordaremos
el tema de cómo combinar dos nuevos VI de
análisis de medición para reducir el ruido en sus
análisis espectrales. Para nuestro ejemplo,
reduciremos el ruido de ancho de banda aplicando
promedio de vectores tal como se muestra en la
figura. Este promedio es una característica de la
Transformada Rápida de Fourier (FFT) Espectro
de Potencia, una de las nuevas herramientas para Este diagrama de LabVIEW 6i muestra cómo utilizar el disparo basado en software para análisis
análisis de frecuencia de LabVIEW 6i. Puesto que espectral con reducción de ruido basada en promedio de vectores.
se necesita como entrada un registro de tiempo
adquirido sincrónicamente, el promedio de alternativa al disparo basado en hardware es el
vectores requiere de una señal de entrada por disparo basado en software que se puede aplicar
disparador. Existen varias formas de suplir dicho con detección de disparo de nivel básico, uno más ¿Porqué Aplicar Promedio
disparador; se puede aplicar un disparador de los nuevos VI para análisis de medición. Dicho
VI requiere un registro
de Vectores a un Espectro
de tipo de dato de de Potencia?
Una posible alternativa al disparo basado en forma de onda y egreso o Al aplicar el promedio de vectores usted
hardware es el disparo basado en software salid independientemente puede reducir la energía de ruido de su
de que se haya detectado sistema. Esto se logra al promediar por
que se puede aplicar con detección de disparo
un disparador. Si se separado los componentes reales y
de nivel básico, otro de los nuevos VI para detecta un disparador, complejos del espectro, cancelando los
análisis de medición. también devuelve la componentes de fase aleatorios. El resultado
ubicación del mismo. es un promedio de la fase y la magnitud y
analógico o digital previo a la adquisición. Para El uso de la detección de disparo de nivel básico es equivalente al promedio del dominio de
muchas de las tarjetas de adquisición de datos de para el promedio de vectores con FFT Espectro de tiempo. Puesto que se desea reducir sólo el
E/S de multifunción (MIO) e instrumentos Potencia es un proceso muy directo. Primero, ruido, usted debe asegurarse que la porción
basados en PC de National Instruments, seleccione una entrada de tiempo sincrónico de la señal que no es de ruido no varíe en
implementar dicha capacidad de disparo es tan utilizando la ubicación del disparador para fase con relación a sus otras muestras del
sencillo como ajustar un simple parámetro. seleccionar un punto de inicio sincrónico de sus espectro. Este requisito significa que el
muestras asincrónicas. Al ajustar los parámetros de espectro de entrada debe compartir un
Una Alternativa en Forma entrada de histéresis y la detección de disparador de disparador en común que no sea para
de Software nivel básico usted puede optimizar el disparo ruido. El artículo principal describe un
En algunas circunstancias, no se tiene disponible adecuado a su señal de entrada. Para seleccionar el método para proporcionar un disparo
un disparador analógico o digital basado en subconjunto, se debe aplicar otro VI, Select basado en software para esta tarea.
hardware; por ejemplo, algunos tipos de hardware Waveform Subset. Este VI requiere un punto
e instrumentos de adquisición no tienen esta de inicio y una longitud (número de muestras)
capacidad o quizá usted necesite un análisis y se da como resultado la selección, la cual
espectral por promedio de vectores para bloques de usted puede ingresar al FFT Espectro de
datos adquiridos previamente. Una posible Potencia. Es continúa en la página 20

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Measurement Studio

Componentes de Intefaz de Usuario (UI)

de Measurement Studio para Visual Basic
Al crear un sistema de medición, usted desea dar a
sus aplicaciones de software una apariencia
profesional. Para diseñadores que crean aplicaciones
con Visual Basic o en cualquier contenedor de
controles ActiveX, ahora pueden crear fácilmente
interfaces de usuario para medición y
automatización con los Componentes de Interfaz
de Usuario para Visual Basic de Measurement
Studio de National Instruments.
Los Componentes de Interfaz de Usuario para
Visual Basic de Measurement Studio son un
subconjunto de la funcionalidad que ofrece el
paquete completo de Measurement Studio; con
estos componentes, usted puede crear de manera
rápida y fácil interfaces de usuario, perillas,
Estilos de gráfica profesionales de
Measurement Studio
conmutadores, contactos deslizantes,
LED, taques, termómetros y gráficas en
2D en tiempo real. Por ello, su aplicación
puede imitar hardware autónomo para
hacerla más intuitiva y fácil de
comprender. Puesto que los controles
vienen en la interfaz estándar ActiveX,
usted puede utilizar los controles con
cualquier producto de adquisición de
datos o GPIB de cualquier fabricante.
Los controles también proporcionar
una forma simple de transferir datos y
conectar su aplicación por medio de
Internet. Con las características Características incorporadas de DataSocket
incorporadas de DataSocket™, usted
puede conectar el valor de un contacto deslizante o crear fácilemente aplicaciones para Web
cualquier control de la interfaz de usuario al valor verdaderamente interactivas que pueden controlar y
medido real en un sistema de medición; lo cual es monitorear cualquier sistema de medición desde
posible por mecio de OPC, HTTP, FTP y DSTP cualquier parte del mundo.
(protocolo de transferencia de DataSocket National Instruments ofrece estas
optimizado para transferencia de mediciones) sin herramientas a la venta y se pueden bajar de
necesidad de escribir codigo. También puede enviar nuestras páginas Web.1
datos al ligar el control a la entrada por medio de la
escritura en cualquier sistema de medición, así su Para mayores informes sobre Measurement Studio
aplicación controla su sitema en red en vez de visite ni.com/info y especifique la clave newsletter.
únicamente monitorear los valores o errores.
Finalmente, Visual Basic puede crear controles
ActiveX e integrarlos a una página Web utilizando
ni.com/mstudio
Internet Explorer. Con esta capacidad, usted puede

Use la Alternativa de LabVEIW 6i para Reducir el Ruido Espectral

promediado mantiene una longitud fija (lo cual es
un requisito para promedio de vectores) y la
selección no excede la longitud de su bloque
de datos.
Después, debe activar el promedio de vectores
en FFT Espectro de Potencia. Para ello, se debe
crear un control para la entrada de Parámetros de
Promedio en ese VI y configure los parámetros
como sigue:
• Modo de Promedio: Vector
• Modo de Peso: Elija Linear si desea que todos
los bloques promediados reciban un peso igual
continuación de la página 19 durante la promediación. Esto da como
importante determinar la longitud de la entrada en resultado unas mediciones menos influenciadas
un valor que, al añadirse al punto de inicio, no por componentes de señal transitoria pero no
exceda el número de muestras en su bloque de contribuye a un monitoreo en vivo del
datos. Al hacerlo, usted se asegura que el bloque promedio que se está ejecutando. Si se tiene
como propósito examinar el promedio conforme
se desarrolla, elija Exponencial. Este modo pesa
el promedio, así que las muestras más recientes
tienen una mayor influencia en el resultado.
• Número de Promedios: Elija un valor para
configurar el número de promedios lineares a
realizarse (el parámetro no tiene efecto con la
promediación exponencial). Los valores más
altos indican un menor ruido en las mediciones
pero un mayor tiempo de medición.1
Sam Shearman, Gerente de Productos para
Acond. de Señales y Software de Análisis
E-mail sam.shearman@ni.com
ni.com/analysis

20 National Instruments ■ (512) 794-0100 ■ ni.com


Defina sus Noticias en ni.com/zone
En Agosto del 2000, develamos Developer Insights
en ni.com/insights, una revista en línea con un
enfoque netamente técnico. Insights presenta
columnas mensuales de los expertos técnicos de
National Instruments; así como columnas de
editores terceros, incluyendo LabVIEW Technical
Resource (LTR).
En Developer Insights usted puede encontrar
artículos a fondo sobre conceptos técnicos
enfocados en adquisición de datos (DAQ),
pruebas automatizadas, software de uso
general y técnicas de LabVIEW. Además de
un rico contenido, en los artículos de Insights
usted encontrará:
• Códigos fuente y ejemplos
• Enlaces a más recursos en línea
• Comentarios de otros desarrolladores
que han leído el artículo
• La oportunidad de compartir sus
propias ideas sobre el tema
En esta revista, usted no encontrará referencias
de mercadotecnia, únicamente información
técnica práctica. Developer Insights es su material
de referencia para enterarse de la tecnología de
vanguardia y tecnología de desarrollo que le
ayudará a explorar nuevas ideas para sacar el
mayor partido a la instrumentación virtual. Visite
estas páginas hoy y encuentre entre otras cosas:
Comparta sus VI con LabVIEW Player
El nuevo LabVIEW Player es una versión
compacta y con conexión a Web de LabVIEW
diseñada para compartir instrumentos virtuales
(VI) de LabVIEW por medio de Internet. Al bajar
e instalar LabVIEW Player, que está disponible
GRATIS en ni.com, cualquier persona puede
abrir y ejecutar VI seguros. Con LabVIEW Player
usted puede distribuir fácilmente por Web sus
aplicaciones que ilustran conceptos de medición y
National Instruments ■ (512) 794-0100 ■ ni.com
Página Web
• Calibración de Sistemas: vea cómo puede
mejorar la precisión de su sistema de medición
• Arquitectura de Conmutación de Radio
Frecuencia Compleja: explore la necesidad de
nuevas soluciones de conmutación en el
dominio de GHz con esta serie de dos partes
• Integración con Movimiento Utilizando
RTSI: aprenda a usar el bus RTSI para integrar
movimiento, visión y adquisición de datos a
sus aplicaciones
• Detección de Tono que se Ajusta a la
Frecuencia de Forma de Onda en LabVIEW
6i: descubra cómo usar LabVIEW 6i y sus tipos
de datos de forma de onda de instrumentos Use MyNI para Personalizar sus Noticias
virtuales para análisis de medición para localizar
y caracterizar componentes de frecuencia en
una señal
Con la publicación semanal de artículos, usted
puede visitar Developer Insights in NI Developer
™
ni.com le Brinda
Zone y decirnos cuáles temas le gustaría que
nuestros expertos en National Instruments
lo que Usted Desea
cubrieran en el futuro.1 Ahora usted puede personalizar ni.com
con la información sobre medición y
Para mayores informes sobre Developer Insights automatización que más le interese a usted.
visite ni.com/info y especifique la clave newsletter. Con MyNI, usted puede crear una página
Web de National Instruments personalizada
que le proporciona noticias, servicios e
ni.com/zone
información sobre productos hechas a la
medida de sus preferencias.
Usted tiene fácil acceso al NI Business
Center™ donde puede hacer nuevos pedidos,
™
revisar pedidos anteriores y sus fechas de
entrega, ver cotizaciones, entregar y revisar
automatización, técnicas de análisis o diferentes peticiones de servicio y mucho más. MyNI
enfoques sobre manipulación de datos. También también despliega la información más reciente
puede utilizar LabVIEW Player para ejecutar sobre los productos de NI que usted ha
clientes ligeros para aplicaciones distribuidas. adquirido y, si gusta, los productos que le
Pruebe LabVIEW Player hoy mismo. NI interesan. Basada en su localización geográfica,
Developer Zone en ni.com ahora presenta la usted puede ver los nombres y direcciones de
Galería de VI de LabVIEW Player, una nuestro personal de soporte local y los eventos
colección de VI diseñados para ilustrar la que NI tenga programados en su área. También
poderosa capacidad para medición y puede ver noticias en diferentes idiomas,
automatización de LabVIEW. 1 incluyendo Inglés, Alemán, Francés e Italiano.
Con MyNI, usted recibe las noticias sobre
Para bajar LabVIEW Player visite productos y tecnologías de su interés.1
ni.com/info y especifique la clave newsletter
ni.com/labview my.ni.com
21
Calendario de Eventos

Calendario de Cursos en Latinoamérica

Febrero - Abril 2001
L INSTRU
NA
IO

M
A cada estudiante se le proporciona una mesa de trabajo personal equipada con un PC y un libro guía del
EN
NAT

TM
TS curso. Los cursos en español son dictados por Ingenieros de Aplicaciones de National Instruments, quienes
ON
están altamente capacitados en el material del curso y en los temas generales de adquisición de datos y
CU

TI

ST
A

OM
ER EDU
C
control de instrumentación basada en PC.

CURSOS 2001
FEBRERO
CURSO LOCALIDAD FECHA
TestStand San Juan, PR 5 al 7
LabVIEW Básico I & Básico II Bogotá, CO 5 al 9
LabVIEW Básico I & Básico II Santiago, CL 12 al 16
LabVIEW Básico I & DAQ Cd. Juárez, MX 12 al 16
LabVIEW Básico I & Básico II Puebla, MX 12 al 16
LabVIEW Básico I & Básico II Córdoba, AR 19 al 23
LabVIEW Básico I & Básico II Reynosa, MX 19 al 23
LabVIEW Básico I & Básico II Caracas, VE 19 al 23
LabVIEW Avanzado Córdoba, AR 26 al 28
LabVIEW Básico I & Básico II Veracruz, MX 26 al 2 Marzo
LabVIEW Básico I & Básico II (inglés) El Paso, TX, EE.UU. 26 al 2 Marzo
MARZO
CURSO LOCALIDAD FECHA
LabVIEW Básico I & Básico II Quito, EC 5 al 9
LabVIEW Básico I & Básico II Bogotá, CO 5 al 9
LabWindows/CVI Básico I & Básico II Cd. Juárez, MX 5 al 9
TestStand Cd. Juárez, MX 12 al 14
LabVIEW Básico I & Básico II Lima, PE 12 al 16
LabVIEW Básico I & Básico II Guadalajara, MX 12 al 16
LabVIEW Básico I & Básico II Santiago, CL 19 al 23
LabVIEW Básico I & Básico II Buenos Aires, AR 26 al 30
LabVIEW Básico II & Avanzado Cd. Juárez, MX 26 al 30
LabVIEW Básico I & Básico II Cd. de México, MX 26 al 30
ABRIL
CURSO LOCALIDAD FECHA
LabVIEW Básico I & Básico II San Juan, PR 2 al 6
LabVIEW Básico I & Básico II Caracas, VE 2 al 6
LabVIEW Básico I & Básico II Cd. Juárez, MX 2 al 6
LabVIEW Básico I & Básico II Monterrey, MX 2 al 6
LabWindows/CVI Básico I & Básico II Querétaro, MX 16 al 20
LabVIEW Básico I & Básico II Santiago, CL 23 al 27
LabVIEW Básico I & Básico II Bogotá, CO 23 al 27
LabVIEW Básico I & Básico II Cd. Juárez, MX 23 al 27

Para mayores informes visite ni.com/cursos o envíe correo electrónico a cursos@ni.com

Argentina: 0800 555 4288 por operadora al 800 433 3488 • Chile: 1 230 020 8279 • Colombia: 9 809 122013
México: 001 800 010 0793 • Perú: 0 800 50614 • Puerto Rico: 1 800 433 3488 • Venezuela: 800 14466

ni.com/latam

22 National Instruments ■ (512) 794-0100 ■ ni.com

 Calendario de Eventos

FERIAS
EVENTO/LUGAR FECHA EVENTO/LUGAR FECHA
ExpoComm – México D.F., México Febrero 6 al 9 ExpoManufactura – Monterrey, México Marzo 20 al 22
ExpoComm Andino – Bogotá, Colombia Marzo 13 al 16 Borderlands – El Paso, Texas, EE.UU. Marzo 13 y 14

SEMINARIOS
FECHA LUGAR/SEMINARIO FECHA LUGAR/SEMINARIO
ARGENTINA 3/7/01 Hermosillo, México - Seminario de Medición por
2/21/01 Córdoba, Argentina - Seminario Práctico de LabVIEW 6i Computadora
3/8/01 Buenos Aires, Argentina - Seminario Práctico de 3/8/01 Nogales, México - Seminario de Medición por
LabVIEW 6i Computadora
3/9/01 Buenos Aires, Argentina - Seminario Práctico de 3/8/01 México D.F., México - Automatización de Pruebas en
LabVIEW 6i Producción
3/27/01 Buenos Aires, Argentina - Sistemas de Prueba y Medida 3/13/01 Aguascalientes, México - Resolviendo Aplicaciones de
3/28/01 Buenos Aires, Argentina - Vibración y Sonido
3/16/01 Guadalajara, México - Resolviendo Aplicaciones de
CHILE Vibración y Sonido
2/15/01 Santiago, Chile - Seminario Práctico de LabVIEW 6i 3/20/01 Juárez, México -
2/16/01 Santiago, Chile - 3/27/01 Chihuahua, México - Control de Instrumentos por
3/21/01 Santiago, Chile - Sistemas de Prueba y Medida Computadora
3/29/01 Juárez, México -
COLOMBIA 3/30/01 Monterrey, México - La Revolución de la
2/20/01 Bogotá, Colombia - Automatización de Sistemas de Instrumentación Virtual en las Universidades
Inspección Visual
3/9/01 Bogotá, Colombia - La Revolución de la Instrumentación PUERTO RICO
Virtual en las Universidades 2/1/01 Mayaguez, Puerto Rico - Automatización de Sistemas de
Inspección Visual
MEXICO 3/1/01 San Juan, Puerto Rico - Automatización de Pruebas en
2/9/01 Reynosa, México - Delphi Delco Producción
2/20/01 Juárez, México -
2/21/01 Ensenada, México - Automatización de Pruebas en VENEZUELA
Producción 2/23/01 Caracas, Venezuela - Automatización de Sistemas de
2/22/01 Juárez, México - Control de Instrumentos por Inspección Visual
Computadora 3/6/01 Caracas, Venezuela - La Revolución de la
2/23/01 Tijuana, México - Automatización de Pruebas en Instrumentación
Producción Virtual en las Universidades
2/28/01 Monterrey, México - Celestica
3/6/01 Querétaro, México - Automatización de Pruebas en FRONTERA MEXICO – EE.U.U.
Producción 3/30/01 El Paso, Texas, EE.UU. - PC-Based Instrument Control

Para mayores informes visite ni.com/latam o envíe correo electrónico a info@ni.com

ni.com/latam

National Instruments ■ (512) 794-0100 ■ ni.com 23

En Este Número

Acuerdo Global
de Compra Entre
NI y Philips
Royal Philips Electronics nombró a National
Instruments su proveedor preferente de herramientas
para medición y automatización basadas en PC para sus
plantas de investigación, ingeniería y manufactura
alrededor del mundo. El acuerdo tiene como objetivo
disminuir el costo de operaciones para ambas partes al
mejorar el proceso de pedido de productos y rastreo de
entrega de productos.
Philips utiliza las herramientas basadas en PC de
National Instruments, incluyendo PXI, LabVIEW e
IMAQ Vision en todo el mundo para desarrollo,
fabricación y prueba de muchos de sus productos como
photo courtesy of LightPath Technologies.

teléfonos celulares, televisores, productos de iluminación

y aparatos electrónicos para uso industrial y doméstico.
“Por medio del acuerdo con NI, nuestras
operaciones globales impulsan aún más un nivel
rendimiento de calidad mundial en las áreas de
manufactura, investigación y desarrollo que sobrepasa el
estándar en la industria de la electrónica”, afirmó Mark
Strubbe, Gerente Senior de Ingeniería y Tecnología de
Entérese de cómo la compañía LightPath Technologies utilizó los productos de movimiento, Procesos en Philips Consumer Electronics.1
visión y PXI de NI para desarrollar un sistema de fibra óptica. Página 3.

Este boletín representa un compromiso de National Instruments con el medio ambiente Impreso en EE.UU.

11500 N Mopac Expwy

Austin, TX 78759-3504