4.

1 Comparación de microscopía óptica, electrónica de transmisión y microscopía electrónica

de barrido en términos de disposición óptica, fuente de iluminación, ambiente de trabajo,
mecanismo de formación de imagen y modelo de preparación; discutir sus similitudes y
diferencias.

4.2 Teniendo en cuenta una muestra con características de fractura de la superficie con altas
diferencias de hasta 50 micras, ¿cómo seleccionar los parámetros de operación de SEM para
asegurar todo el campo está en el foco?

4.3 Estimar los aumentos efectivos de una imagen que muestra SEM en la pantalla del
ordenador cuando el tamaño de la sonda varía entre 1 nm y 1μm.

4.4 ¿Cómo se puede obtener imágenes de SEM con la mejor resolución mediante el ajuste de
los parámetros de funcionamiento?

4.5 Cuando nos encontramos con que el nivel de ruido es demasiado alto en una imagen SEM,
¿cómo podemos reducir el ruido ajustando los parámetros de funcionamiento?

4.6 ¿Pueden los electrones retrodispersados generar los mismos niveles de resolución como
electrones secundarios? ¿Por qué?

4.7 En una imagen SEM con composición contraste como se muestra en la Figura 4.16b, que
áreas contienen los elementos metálicos pesados: brillante u oscura? Explique.

4.8 ¿Es posible eliminar la carga de superficie de una muestra de polímero sin revestimiento
conductor? Explique.

5.1 ¿Es práctico para medir la topografía de un área de 1 mm x 10 mm con un GDS? Explique
sus razones.

5.2 ¿Es práctico para medir la topografía de una muestra con rugosidad? Z> 10μm? ¿Por qué?

5.3 ¿Qué características de una corriente de tunelización permite que sea utilizado para los
átomos de imágenes?

5.4 ¿Por qué es un entorno ultra-alto vacío a menudo necesaria para el funcionamiento de un
STM?
5.5 Un agujero aparece en una imagen STM con resolución atómica. ¿Podemos asumir que es
una vacante atómica? ¿Por qué?

5.6 ¿Por qué, en su opinión, son los más propensos a utilizar un AFM de un STM para los
exámenes topográficos?

5.7 Para obtener resolución atómica, la fuerza entre la muestra y la punta de un AFM debe
decaer significativamente a una distancia de separación atómica. Trazar la fuerza de van der
Waals como función de la distancia entre la punta y la muestra y el radio de la punta utilizando
la ecuación 5.2. ¿Podemos obtener imágenes de átomos con la fuerza de van der Waals? 170
Caracterización de Materiales

5.8 Estimar la fuerza capilar entre la punta y la muestra utilizando la ecuación 5.4, y comparar
el nivel de fuerza capilar máximo con la fuerza de van derWaals estimado en el Problema 5.8.
Supongamos que la tensión superficial del agua γ = 0.074Nm-1 a 20 ◦C.

5.9 Comparación de las áreas de contacto en el modo de contacto utilizando la ecuación 5.5:
(1) una punta de silicio con una muestra de hierro, y (2) una punta de silicio con una muestra
de polímero. Supongamos que la fuerza de contacto es 10 nN y el radio de la punta es de 80
nm; el módulo de Young de la punta, el hierro y el polímero son aproximadamente 0,17 ×
1012, 0,2 × 1012 × 1012 y 0,1 Nm-2, respectivamente; y su coeficiente de Poisson es de
aproximadamente 0,3.

5.10 ¿Hay alguna manera, no usando una rejilla estándar, para comprobar si existe la no
linealidad en el escáner? Explique.

5.11 Sugerir métodos para comprobar posibles daños en la punta.