Grupsolution 40

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Modelo Conceptual de la Situación Planteada

La compañía AMD productora de semiconductores necesita probar y analizar una nueva tecnología
de fabricación de Circuitos Integrados (CI) para esto Grupsolution 40 deberá recopilar los datos
necesarios para realizar la prueba y análisis del proceso buscando allí el posible problema de
medición de los tiempos de fabricación y de esta manera minimizar costos adicionales para la
compañía.

La distribución de la planta de trabajo consta de 6 estaciones que son Cleaning, Oxidation,

Lithography, Etching, Ion Inplontation Y Photoresist Strip, adicional a esto los Circuitos Integrados se
fabrican sobre unos Waffers quienes a su vez son los que se transportan por medio de bandas
adaptados a un soporte hasta cada una de las estaciones donde realizan su operación. La planta se
ha operado como prueba en un tiempo aproximado de 1 mes y medio donde se han extraído los
datos necesarios del tiempo de procesamiento en cada una de las estaciones para realizar el análisis
correspondiente y obtener la solución al problema, la planta funciona 24 horas los 7 días de la semana
y es operada en 4 turnos por dos trabajadores quienes hacen tunos de 6 horas continuas.

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Representación Gráfica

Ciclo 1 ciclo 2 ciclo 3

Cleaning Oxidation Lithography

Proceso de limpieza Transformación del Grabado o trazado

de la Waffers para material para crear de los patrones del
iniciar la operación aislamiento y producto
continuar el proceso

Ciclo 6 Ciclo 5 ciclo 4

Photoresist Strip Ion Implontation Etching

Implantación de Implantación de los Proceso de

las tiras de iones conductores grabado de las
fotorresistencia para la transferencia conexiones en
de datos aguafuerte

Almacén esterilizado

Gráfico 1. Representación gráfica del proceso productivo de la compañía de AMD

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Análisis de datos de entrada

Para el análisis de datos de entrada deberá se registrarán para cada una de las estaciones
los Tiempos de estación, histogramas correspondientes y prueba de bondad o de ajuste a la
distribución planteada:
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