ENSAYOS DESTRUCTIVOS

DEFINICIONES

WALTER SOLIS ESCOBEDO

8 “A”

481010229

ING. JULIAN RAMIREZ CARILLO

Ensayo a la dureza Vickers.

Es el que se emplea para determinar la dureza de un material mediante la

penetración en él de un diamante de forma piramidal. Se emplea
fundamentalmente en los ensayos de materiales de gran dureza y de la piezas con
secciones muy pequeñas, o en capas muy finas exteriores como son: las
nitruradas, cementadas, etc.

Los ensayos a la dureza se basan en la Ley de semejanza que expresa:

Los cuerpos semejantes de un material homogéneo cuando se les aplica una
carga igual en magnitud y distribución, reciben un esfuerzo y se deforman en igual
grado, tanto dentro como fuera de los límites de elasticidad y proporcionalmente al
cuadrado de sus dimensiones lineales.

El método

Diamante para el ensayo de dureza Vickers.

Consiste en la penetración de un diamante piramidaltetraédrico con

un ángulo entre aristas de 136° en la superficie que se ensaya, y se expresa por el
valor numérico de la dureza, que se obtiene dividiendo la carga (kgf) entre la
superficie lateral de la huella (mm²) calculada por las diagonales. El valor numérico
de la dureza se calcula por la fórmula de la Fig. 1.
donde:

P = carga sobre el diamante piramidal, en kgf

α = ángulo entre las aristas del diamante piramidal opuestas, en grados

d = media aritmética que resulta de ambas diagonales de la huella después de

eliminada la carga, en mm

Recomendaciones

Para realizar los ensayos se recomiendan esfuerzos de: 5, 10, 20, 30, 50 y 100 kgf

Cuando se va a ensayar un material muy duro (Hv > 500), se recomienda aplicar
una carga no mayor de 50 kgf, ya que al aplicarse mayores cargas podría
deteriorarse el diamante.

Para ensayos de aceros cementados o de láminas delgadas, se aplican los

menores esfuerzos.

Requisitos para el ensayo

Elevar la carga de forma gradual hasta el valor requerido.

Mantener constante la carga aplicada P, durante el tiempo establecido.

El error relativo permisible para la carga P, no debe ser mayor de ± 1 %.

El penetrador de diamante debe tener forma de pirámide tetraédrica, con un

ángulo entre las aristas opuestas por el vértice ? - 136° ± 30´´.

La longitud de la línea de unión de las aristas opuestas del diamante piramidal no

debe ser mayor que 0,002 mm.

La parte de trabajo del diamante no debe ser inferior a 0,3 mm con respecto a su
eje.
Las aristas del diamante deben estar bien pulidas, libres de rajaduras u otros
defectos superficiales visibles con un aumento de 30x.

Fuente

Kirnosov V. Medición de fuerza y dureza. Edit. Pueblo y Educación. La Habana.

1985

El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscopy)

utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen
ampliada de la superficie de un objeto. Es un instrumento que permite la
observación y caracterización superficial de sólidos inorgánicos y orgánicos. Tiene
una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran
parte de la muestra.
El microscopio electrónico de barrido está equipado con diversos detectores, entre
los que se pueden mencionar: el detector de electrones secundarios para obtener
imágenes de alta resolución SEI (Secundary Electron Image), un detector de
electrones retrodispersados que permite la obtención de imágenes de composición
y topografía de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un detector de
energía dispersiva EDS ( Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los
Rayos X generados por la muestra y realizar diversos análisis semicuantitativo y
de distribución de elementos en superficies.
Se pueden realizar estudios de los aspectos morfológicos de zonas microscópicas
de los distintos materiales con los que trabajan los investigadores científicos y las
empresas privadas, además del procesamiento y análisis de las imágenes
obtenidas. Las principales utilidades del SEM son la alta resolución (~1 nm), la
gran profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imágenes y la
sencilla preparación de las muestras.
La preparación de las muestras es relativamente sencilla las principales
características son: muestra sólida, conductora. Caso contario, la muestra es
recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro
para darle propiedades conductoras a la muestra. De lo contrario, las muestras no
conductoras se trabajan en bajo vacío.
Las aplicaciones del equipo son muy variadas, y van desde la industria
petroquímica o la metalurgia hasta la medicina forense.

http://mty.cimav.edu.mx/sem/

El microscopio electrónico de transmisión (TEM) es un instrumento que

aprovecha los fenómenos físico-atómicos que se producen cuando un haz de
electrones suficientemente acelerado colisiona con una muestra delgada
convenientemente preparada. Cuando los electrones colisionan con la muestra, en
función de su grosor y del tipo de átomos que la forman, parte de ellos son
dispersados selectivamente, es decir, hay una gradación entre los electrones que
la atraviesan directamente y los que son totalmente desviados. Todos ellos son
conducidos y modulados por unas lentes para formar una imagen final sobre una
CCD que puede tener miles de aumentos con una definición inalcanzable para
cualquier otro instrumento. La información que se obtiene es una imagen con
distintas intensidades de gris que se corresponden al grado de dispersión de los
electrones incidentes.

La imagen del TEM tal como se ha descrito ofrece información sobre la estructura
de la muestra, tanto si ésta es amorfa o cristalina.

Además, si la muestra es cristalina, es decir, hay una estructura de planos

periódica, puede ocurrir que varias familias de esos planos cumplan la condición
de Bragg y difracten de forma coherente la onda electrónica incidente. Esto da
lugar a un diagrama de difracción, que es una imagen de distintos puntos
ordenados respecto a un punto central (electrones transmitidos no desviados) que
nos aportan información sobre la orientación y estructura del/los cristales
presentes.

http://www.upv.es/entidades/SME/info/753329normalc.html
 La concentración de esfuerzos es ocasionada por los cambios abruptos en
la geometría del material, que puede ser por filetes y orificios generalmente. Otras
formas de concentrar los esfuerzos puede ser la discontinuidad en el material
(inclusiones), los esfuerzos residuales, las soldaduras, el trabajo en frio. Es
importante estudiar la concentración de esfuerzos porque un incremento traerá
como resultado una falla en el material. Los métodos para calcular la
concentración de esfuerzos son;
 el método analítico usando la Teoría de la elasticidad,
 el método Numérico usando el método de elemento finito y
 experimentalmente usando muy pequeñas galgas extenciométricas y por
fotoelasticidad.
A continuación estudiaremos el método de cómo obtener la gráfica que nos
servirán para describir cómo se comporta el factor de concentración de
esfuerzos Kt en una placa con filetes, con una sujeción en un extremo y una carga
axial en el otro extremo. Los resultados obtenidos son independientes del tamaño
del elemento y del material utilizado; solo depende de las razones de los
parámetros involucrados, es decir, de las razones r/h y H/h. El esfuerzo
máximo smax es obtenido mediante el método de elemento finito utilizando
el software SOLID WORKS. Para calcular el esfuerzo promedio sprom=P/A
utilizamos la carga axial P entre área en la sección crítica. Para obtener el factor
de concentración de esfuerzo Kt dividimos elsmax entre el sprom. Deberá de
considerarse que este procedimiento es válido solo cuando el smax no exceda el
límite de proporcionalidad del material.
La barra plana está sometida a una carga axial P=10000N, tiene 20 cm de largo,
un espesor t=1 cm, Se desea calcular el factor de concentración de esfuerzos. El
material que se escogió es un acero de bajo carbono AISI 1020
CASO (H/h=2)

/trabajos96/calculo-del-factor-concentracion-esfuerzos-utilizando-solidworks/calculo-del-factor-concentracion-
esfuerzos-utilizando-solidworks.shtml#ixzz40qN3ybHA