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CONTENIDO

1. INTRODUCCIÓN ………………………………………………………………………………….3
2. ESTRUCTURA DEL TEM……………………………………………………………………….....5
3. ABERRACIONES…………………………………………………………………………………..7
4. FÍSICA DEL ESTADO SÓLIDO……………………………………………………………………9
5. DIFRACCIÓN DE ELECTRONES…………………………………………………………………12
6. IMÁGENES EN UN TEM…………………………………………………………………………..13

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 • Cuando nos acercamos un objeto al ojo, mayor
es el ángulo aparente.
• Punto de equilibrio ( d= 25cm) con un ángulo
aparente máximo.
1. INTRODUCCIÓN
Figura 1: esquema del ojo
Fuente: https://www.coursera.org/

• Para observar objetos pequeños, el ojo no será

suficiente y para este caso se utilizan: lupas o
microscopios ópticos.
Figura 2: uso de una lupa
Fuente: https://www.coursera.org/

• El principio de Huygens nos indica: si el

objeto observado es menor que la longitud de
onda de la luz utilizada, la luz difractará
alrededor del objeto.

Figura 3: difracción
Fuente: http://nemesis.tel.uva.es/
3
 • Para observar objetos de hasta 600nm, se debe
utilizar una lupa.
• Si es menor a 600nm, se debe buscar una
radiación con la longitud de onda menor.
1. INTRODUCCIÓN

• Las partículas se comportan como ondas y

viceversa, a esto se le conoce como la
dualidad ONDA-PARTÍCULA
Figura 4: Dualidad onda- partícula
Fuente: https://www.coursera.org/
¿Por qué ver con Electrones?

• Los electrones son buenos candidatos para

hacer imágenes.

Ventajas de usar electrones

• Son partículas cargadas.
• Son posible deflectarlos con campos
electromagnéticos. Figura 5: Electrones
• Son fácilmente manipulables. Fuente:https://cuentos-cuanticos.com/
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 Figura. 6 Esquema del TEM
Fuente: https://www.coursera.org/learn/tecnicas-microscopicas-caracterizacion/supplement/mFhEt/estructura-del-tem
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 Cañón de

Partes principales del TEM

electrones
Lentes
electromagnéticas
Aperturas
mecánicas

Sistema de vacío

Pantalla
fluorescente
Sistema de
registro
6
1. ASTIGMATISMO

Figura. 7 Orificio pequeño del mesh, tapado

con cinta.
Fuente: Yasuji, J. (2015) “Introducción a la
microscopía electrónica. Principios y aplicaciones”.
Instituto Naciona de Investigación de Salud Pública
INSPI.
Figura . 8 Virus de la Orquídea
Fuente: Yasuji, J. (2015) “Introducción a la
microscopía electrónica. Principios y aplicaciones”.
Instituto Naciona de Investigación de Salud Pública
INSPI.

Fotografía D no Astigmatismo, E
Fotografías A y C muestran Astigmatismo.
Astigmatismo. B después de corrección
de Astigmatismo.
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2. ABERRACIÓN ESFÉRICA 3. ABERRACIÓN CROMÁTICA

Figura 9. Aberración esférica corregida Figura 10. Aberración cromática

Fuente: Yasuji, J. (2015). “Introducción a la Fuente: Yasuji, J. (2015). “Introducción a la

microscopía electrónica. Principios y aplicaciones”. microscopía electrónica. Principios y aplicaciones”.
Instituto Naciona de Investigación de Salud Pública Instituto Naciona de Investigación de Salud Pública
INSPI. INSPI.

La aberración esférica se produce porque La incapacidad de un objetivo para llevar

las diferentes longitudes de onda entran y luz de diferentes colores (diferentes
salen de la lente a diferentes ángulos. longitudes de onda) al mismo plano focal.

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• Un cristal ideal es una repetición infinita de una unidad estructural.
La red de Bravais
• Es el conjunto de puntos de un cristal desde los cuales se ve el mismo entorno
atómico. Todo el cristal se genera al repetir periódicamente un cierto conjunto de
átomos, que se conoce como base atómica.

Figura 11: Esquema de un cristal de ordenamiento atomico de largo alcance.

Fuente: Cristalografia. (2012). Recuperado de: http://blog.utp.edu.co/metalografia/
9
Sólo hay 14 clases de redes
de Bravais en tres
dimensiones que se obtienen
combinando las diferentes
operaciones de simetría de
translación y simetría
puntual.

Figura 12: Redes de Bravais.

Fuente: Solid state chemistry. Recuperado de: https://www.seas.upenn.edu

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 Posición
• Red recíproca.
𝐑 = 𝐧𝟏 𝐚𝟏 +
𝐧𝟐 𝐚𝟐 + 𝐧𝟑 𝐚𝟑
A cada red cristalina le
corresponde una red recíproca,
los nodos o puntos que
conforman la red recíproca.
Red de
Bravais 𝑎2 𝑥𝑎3
𝑏1 = 2𝜋
𝑎1 ∗ (𝑎2 𝑥𝑎3 )
𝑎3 𝑥𝑎1
𝑏2 = 2𝜋
𝑎1 ∗ (𝑎2 𝑥𝑎3 )
𝑎1 𝑥𝑎2
𝑏3 = 2𝜋
𝑎1 ∗ (𝑎2 𝑥𝑎3 )
Translación
𝐓 = 𝐧𝟏 𝐚𝟏 +
𝐧𝟐 𝐚𝟐 +𝐧𝟑 𝐚𝟑
Figura 13: Vectores de la Red de Bravais.
Fuente: Propia
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1. DIFRACCIÓN DE BRAGG

Figura 14. Modelo de Bragg Figura 15. Difracción de Bragg

Fuente: Yasuji, J. (2015). “Introducción a la Fuente: Yasuji, J. (2015). “Introducción a la

microscopía electrónica. Principios y aplicaciones”. microscopía electrónica. Principios y aplicaciones”.
Instituto Naciona de Investigación de Salud Pública Instituto Naciona de Investigación de Salud Pública
INSPI. INSPI.

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+ Tras el choque del haz de electrones sobre la muestra se
producen diversas señales a partir de las cuales se puede
obtener información valiosa.
+ Estas señales corresponden a los electrones que atravesaron la
muestra, los que se dispersaron de manera elástica e inelástica y
también los fotones que se emiten de la muestra.
+ El TEM trabaja con dos modos para obtener información, el
modo imagen el cual permite obtener imágenes en campo claro
u oscuro de la muestra y el modo difracción para obtener el
patrón de difracción
+ Se forma cuando la muestra se sitúa en el plano focal imagen,
permite apreciar el haz de electrones transmitido y la red de
difracción de un área. A partir de este patrón de difracción se
puede conocer la estructura cristalina de la muestra.

Figura 16 . Patrón de difracción de una aleación Ni-Pt

Fuente: Revista UNAM (2005). Recuperado: http://www.revista.unam.mx
+ Se denomina campo claro cuando las imágenes se forman a
partir de los electrones que no han sido difractados, es decir las
partes donde no hay muestra se verán más claras; se utiliza para
determinar la morfología general de la muestra.

Figura 17. Imagen en campo claro de nanotubos de carbono

Fuente: Area de microscopía. Recuperado :http://www.uma.es/smeT
+ En campo oscuro se omite el haz directo de electrones,
observando oscuras zonas donde no hay muestra; se usa para
determinar los defectos cristalinos y su dirección.

Figura 18. Imágenes de nanopartículas en campo claro y oscuro

Fuente: Estudio Exploratorio de higiene (2011). Fuente:
http://www.scielo.cl/scielo.php?script=