. .

Equipo en prueba - Ajustes del dispositivo

. . .
Subestación/Bahía:
Subestación: C.T. SANTA ROSA Dirección de subestación: AGUSTINO
Bahía: GENERATOR PROTECTIVE Dirección de bahía: TG7
RELAY PANEL
. . .
Dispositivo:
Nombre/descripción: RELE BALANCE DE TENSION Fabricante: BASLER ELECTRIC
Tipo de dispositivo: VOLTAGE BALANCE RELAY Dirección del dispositivo:
No de serie: C1F A1P C1N3F/BE1-60
Info adicional 1:
Info adicional 2:

Hardware Configuration
.
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 GD280M
. .
Comprobación del hardware
Realizado en Resultado Detalles
17/04/2019 16:16:10 Correcta

TextView:

TextView:

1.1.1 [60] Trip Times_11V:

.
Ajustes de la prueba
Estado Prefalla Falla Postfalla
V L1-E 0.000 V 11.00 V 0.000 V
0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L2-E 0.000 V 11.00 V 0.000 V
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L3-E 0.000 V 11.00 V 0.000 V
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L1 0.000 A 0.000 A 0.000 A
0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L2 0.000 A 0.000 A 0.000 A
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L3 0.000 A 0.000 A 0.000 A
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz

. .
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON State Sequencer Versión: 3.20
Comienzo: 17-abr.-2019 17:22:49 Fin: 17-abr.-2019 17:22:53
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la prueba
.
Evaluación de tiempo
Nombre Ignor. Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
60_Side 1 Prefalla Falla Entr. bin. 1 600.0 ms 100.0 ms 100.0 ms 603.7 ms 3.700 ms +
0>1
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado

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t/s

.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta

1.1.2 [60] Trip Times_20V:

.
Ajustes de la prueba
Estado Prefalla Falla Postfalla
V L1-E 0.000 V 20.00 V 0.000 V
0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L2-E 0.000 V 20.00 V 0.000 V
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L3-E 0.000 V 20.00 V 0.000 V
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L1 0.000 A 0.000 A 0.000 A
 0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L2 0.000 A 0.000 A 0.000 A
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L3 0.000 A 0.000 A 0.000 A
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz

. .
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON State Sequencer Versión: 3.20
Comienzo: 17-abr.-2019 17:24:25 Fin: 17-abr.-2019 17:24:30
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la prueba
.
Evaluación de tiempo
Nombre Ignor. Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
60_Side 1 Prefalla Falla Entr. bin. 1 180.0 ms 100.0 ms 100.0 ms 185.1 ms 5.100 ms +
0>1
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado

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t/s

.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta

1.1.3 [60] Trip Times_32V:

.
Ajustes de la prueba
Estado Prefalla Falla Postfalla
V L1-E 0.000 V 32.00 V 0.000 V
0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L2-E 0.000 V 32.00 V 0.000 V
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L3-E 0.000 V 32.00 V 0.000 V
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L1 0.000 A 0.000 A 0.000 A
 0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L2 0.000 A 0.000 A 0.000 A
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L3 0.000 A 0.000 A 0.000 A
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz

. .
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON State Sequencer Versión: 3.20
Comienzo: 17-abr.-2019 17:26:02 Fin: 17-abr.-2019 17:26:07
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la prueba
.
Evaluación de tiempo
Nombre Ignor. Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
60_Side 1 Prefalla Falla Entr. bin. 1 120.0 ms 100.0 ms 100.0 ms 118.9 ms -1.100 ms +
0>1
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado

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.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta

TextView:

1.2.1 [60] Trip Times_11V:

.
Ajustes de la prueba
Estado Prefalla Falla Postfalla
V L1-E 0.000 V 11.00 V 0.000 V
0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L2-E 0.000 V 11.00 V 0.000 V
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L3-E 0.000 V 11.00 V 0.000 V
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz

. .
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON State Sequencer Versión: 3.20
Comienzo: 17-abr.-2019 17:34:38 Fin: 17-abr.-2019 17:34:42
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la prueba
.
Evaluación de tiempo
Nombre Ignor. Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
60_Side 2 Prefalla Falla Entr. bin. 1 600.0 ms 100.0 ms 100.0 ms 636.6 ms 36.60 ms +
0>1
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
.

.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta

1.2.2 [60] Trip Times_20V:

.
Ajustes de la prueba
Estado Prefalla Falla Postfalla
V L1-E 0.000 V 20.00 V 0.000 V
0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L2-E 0.000 V 20.00 V 0.000 V
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L3-E 0.000 V 20.00 V 0.000 V
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz

. .
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON State Sequencer Versión: 3.20
Comienzo: 17-abr.-2019 17:35:22 Fin: 17-abr.-2019 17:35:26
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la prueba
.
Evaluación de tiempo
Nombre Ignor. Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
 antes
60_Side 1 Prefalla Falla Entr. bin. 1 180.0 ms 100.0 ms 100.0 ms 190.7 ms 10.70 ms +
0>1
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado

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t/s

.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta

1.2.3 [60] Trip Times_32V:

.
Ajustes de la prueba
Estado Prefalla Falla Postfalla
 V L1-E 0.000 V 32.00 V 0.000 V
0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L2-E 0.000 V 32.00 V 0.000 V
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
V L3-E 0.000 V 32.00 V 0.000 V
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz

. .
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON State Sequencer Versión: 3.20
Comienzo: 17-abr.-2019 17:36:39 Fin: 17-abr.-2019 17:36:44
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la prueba
.
Evaluación de tiempo
Nombre Ignor. Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
60_Side 2 Prefalla Falla Entr. bin. 1 120.0 ms 100.0 ms 100.0 ms 120.7 ms 700.0 μs +
0>1
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado

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M1
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tsV
3
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S1
7
5
.2
t/s
10
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3
4
in
l.b
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S1
7
5
.2
t/s

.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta

TextView:

1.3.1 [60] Pickup Ajuste 15%:

Ajustes de la prueba
.
General
Nº de estados de 1
rampa:
Pasos totales por 200
prueba:
Tiempo total por prueba:20.000 s
Nº de ejecuciones de 1
prueba:

Modo de entrada: Directo

Tipo de falta:

Magnitudes en rampa
V L1-E; L2-E; L3-E / Magnitud
.
Estados de rampa
Rampa Rampa 1
V L1-E 0.000 V
0.00 °
60.000 Hz
V L2-E 0.000 V
-120.00 °
60.000 Hz
V L3-E 0.000 V
120.00 °
60.000 Hz
V(2)-1 69.28 V
0.00 °
60.000 Hz
Forzar fases abs. No
Señ. 1 Desde 0.000 V
Señ. 1 Hasta 20.00 V
Señ. 1 Delta 100.8 mV
Señ. 1 d/dt 1.008 V/s
Sal. bin. 1 0
Sal. bin. 2 0
Sal. bin. 3 0
Sal. bin. 4 0
dt por paso 100.0 ms
Pasos de rampa 200
Tiempo de rampa 20.000s
Trigger Ninguno
Lógica del trigger
Entr. bin. 1
Entr. bin. 2
Entr. bin. 3
Entr. bin. 4
Entr. bin. 5
Entr. bin. 6
Entr. bin. 7
Entr. bin. 8
Entr. bin. 9
Entr. bin. 10
Paso atrás No
Tiempo de retardo 0.000 s

. .
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON Ramping Versión: 3.20
Comienzo: 17-abr.-2019 17:55:59 Fin: 17-abr.-2019 17:56:21
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la evaluación
Nombre / ejec. Rampa Condición Señ. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal
Arranque_Side Rampa 1 Entr. bin. 1 0->1 V L1-E; 10.40 V 10.58 V 500.0 mV 500.0 mV 184.0 mV + 1.300 ms
1 L2-E; L3-
E
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
.

.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta

TextView:

1.3.1 [60] Pickup Ajuste 15%:

Ajustes de la prueba
.
General
Nº de estados de 1
rampa:
Pasos totales por 200
prueba:
Tiempo total por prueba:20.000 s
Nº de ejecuciones de 1
prueba:

Modo de entrada: Directo

Tipo de falta:

Magnitudes en rampa
V L1-E; L2-E; L3-E / Magnitud
.
Estados de rampa
Rampa Rampa 1
V L1-E 0.000 V
0.00 °
60.000 Hz
V L2-E 0.000 V
-120.00 °
60.000 Hz
V L3-E 0.000 V
120.00 °
60.000 Hz
V(2)-1 69.28 V
0.00 °
60.000 Hz
Forzar fases abs. No
Señ. 1 Desde 0.000 V
Señ. 1 Hasta 20.00 V
Señ. 1 Delta 100.8 mV
Señ. 1 d/dt 1.008 V/s
Sal. bin. 1 0
Sal. bin. 2 0
Sal. bin. 3 0
Sal. bin. 4 0
dt por paso 100.0 ms
Pasos de rampa 200
Tiempo de rampa 20.000s
Trigger Ninguno
Lógica del trigger
Entr. bin. 1
Entr. bin. 2
Entr. bin. 3
Entr. bin. 4
Entr. bin. 5
Entr. bin. 6
Entr. bin. 7
Entr. bin. 8
Entr. bin. 9
Entr. bin. 10
Paso atrás No
Tiempo de retardo 0.000 s

. .
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON Ramping Versión: 3.20
 Comienzo: 17-abr.-2019 17:46:43 Fin: 17-abr.-2019 17:47:05
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la evaluación
Nombre / ejec. Rampa Condición Señ. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal
Arranque_Side Rampa 1 Entr. bin. 1 0->1 V L1-E; 10.40 V 10.48 V 500.0 mV 500.0 mV 83.20 mV + 51.00 ms
2 L2-E; L3-
E
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
.

.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta