Microscopía electrónica

de barrido SEM
Fernanda Itzel Basurto Torres
Ana Laura De Jesús González
Sarahi González Paz
Jessica Elisa Plascencia Amer
  Es una técnica de microscopía electrónica capaz de producir
imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra
utilizando las interacciones electrón-materia.
 Utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar
una imagen.

¿Qué es?
  El microscopio de electrones fue desarrollado cuando la longitud
de onda de la luz blanca se convirtió en un factor limitante para los
microscopios. Los electrones tienen una longitud de onda mucho
más corta, lo que permite tener mejor resolución.
 Así como las dimensiones se encojen para los materiales y sus
¿Porque usar componentes, muchas estructuras ya no pueden ser
electrones en caracterizadas con microscopia con luz.

lugar de luz?
  Por ejemplo. Para determinar la integridad de una capa de nano
fibra por filtraciones, se necesita microscopia electrónica para
caracterizar la muestra.

Microscopio
Óptico vs
Microscopio
Electrónico
  Su funcionamiento consiste en hacer incidir un barrido de haz de electrones
sobre la muestra. La muestra (salvo que ya sea conductora) está
generalmente recubierta con una capa muy fina de oro o carbón, lo que le
otorga propiedades conductoras. La técnica de preparación de las muestras
se denomina “sputtering” o pulverización catódica.

¿Cómo
funciona?
 Los principales
componentes del MEB
incluyen:
 Fuente de electrones
 Columna por la cual los
electrones viajan con
lentes
Principales electromagnéticas
Componentes  Detector de electrones
 Cámara de Muestras
 Computadora y display
  1.- En el MEB la muestra generalmente es recubierta con una capa de
carbono o capa delgada de un metal para darle propiedades
conductoras a la muestra.
 2.- Posteriormente, se barre la muestra con electrones acelerados que
a través del cañón.
 3.- Un detector mide la cantidad de electrones enviados que arroja la
intensidad de la zona de muestra.

Funcionamiento  4.- Obtenemos imágenes de gran resolución en materiales pétreos,

metálicos y orgánicos. La luz es sustituida por un haz de electrones.
del MEB  5.- Se lleva a cabo en la columna del microscopio, donde se aceleran
los electrones en un campo eléctrico. Por un voltaje pequeño para
muestras muy sensibles.
 6.-Los electrones acelerados salen del cañón, y se enfocan mediante
las lentes condensadora y objetiva.
 7.- Con las bobinas deflectoras se barre este fino haz de electrones
sobre la muestra, punto por punto y línea por línea.
 Los electrones son producidos por calentamiento termoiónico.
Estos electrones son luego acelerados a un voltaje entre 1 y 40
kilovoltios y condensados en un delgado haz que se usa para el
análisis.
Hay tres maneras de generar electrones.
 Filamento de Tungsteno.
La fuente de  Hexaboruro de lantano.
electrones  Cañon de emisión por campo.
  Al alcanzar el haz la superficie de la muestra se generan
principalmente las siguientes partículas
 – Electrones retrodispersados (e1)
 – Electrones secundarios (e2)
 Además de radiación electromagnética (rayos X) y otras partículas
menos significativas
Partículas
generadas
 • Interacción del haz de electrones
Interacción con la materia

electrón- • e1 electrones retrodispersados

• e2 electrones secundarios
muestra
• RX
  Detector de electrones secundarios: (SEI – Secundary Electron
Image) con los que obtenemos las imágenes de alta resolución.
 Detector de electrones retrodispersados: (BEI – Backscattered
Electron Image) Con menor resolución de imagen pero mayor
contraste para obtener la topografía de la superficie.
 Detector de energía dispersiva: (EDS – Energy Dispersive
Spectrometer) detecta los rayos X generados y permite realizar un
análisis espectrográfico de la composición de la muestra.

Detectores
  Morteros y hormigones: Microestructura, fases cristalinas,
impurezas, detección e identificación de sales, microfisuración,
etc.
 Materiales metálicos: Fases cristalinas, texturas, composición,
tamaño de grano, patologías y deterioro (corrosión, fatiga,
defectos, fragilización, etc.)
 Análisis de fracturas en distintos materiales.
Aplicaciones  Determinación de espesores.
 Productos cerámicos: Microestructura, evaluación de la
temperatura de cocción, fases cristalinas, impurezas, detección e
identificación de sales y florescencias, etc.
 Geología: Cristalografía, composición mineralógica, petrología,
estudio de composición de arcillas, etc.
  Toda muestra debe ser tratada con extremo cuidado para no
dañar la superficie.
 Debe lavarse (tiempo: 1 a 5 minutos).
 Durante el lavado se recomienda hacer varios cambios con
Muestras. solución nueva y observar bajo el estereoscopio la ausencia de
partículas suspendidas.
 Muestra

Sólida seca Sólida húmeda.

De baja
Conductiva No conductiva. Fijación.
humedad.

Preparación de
la muestra. Recubrimiento Observación a
Deshidratación.
con metal. bajo vacío.

Observación a Secado a punto

alto vacío. crítico .

Recubrimiento
con metal.
  Detector de electrones secundarios, para obtener imágenes de
alta resolución (SEI).
 Detector de electrones retrodispersado que permite la obtención
de imágenes de composición y topografía de la superficie (BEI).
 Detector de energía dispersiva (EDS) que permite detectar los
rayos X generados por la muestra y realizar análisis de distribución
de elementos en superficie.
 Facilidad de preparación de muestras.
Ventajas
  No existe otro instrumento que tenga el mismo rango de
aplicaciones en el estudio de materiales sólidos.
 Los datos son arrojados en menos de 5 minutos para la mayoría de
análisis.
 El microscopio produce imágenes tridimensionales realistas.
 Proporciona aumentos de 200 000 diámetros.
Ventajas.
  Las muestras deben ser sólidas y deben entrar en la cámara del
microscopio
 Las muestras deben ser estables en un vacío de entre 1x10-5 y
1x10-6 Torricelli.
 Muestras que se desgasifican a bajas presiones no pueden ser
usadas por el MEB
Desventajas.  La mayoría de estos microscopios no detectan elementos muy
ligeros ni elementos con números menores al 11.
  Se debe poner una cubierta conductora a muestras que no son
conductoras.
 Sus desventajas serían que solamente pueden ser observados
organismos muertos y no se puede ir más allá de la textura
externa.

Desventajas.
  Fecha de consulta: 9/noviembre/2017
https://www.patologiasconstruccion.net/2012/12/la- microscopia-
electronica-de-barrido-sem-i-concepto-y-usos/

Bibliografía