Fiabilidad Predicha de Electronica Aereoespacial:
Uso de Dos Conceptos Avanzados Probables
Ephraim Suhir
Universidad de
California
1158 Alta St. Santa
Cruz, CA 95064
650-969-1530
suhire@aol.com
Resumen de dos avances probabilistico diseñado para
fiabilidad (PDfR) los conceptos son dirigidos y hablados en
el uso a la predicción, la cuantificación y el aseguramiento
de la fiabilidad de electrónica aeroespacial:
1) Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov (BAZ) el modelo, que es una
extensión del actualmente extensamente el modelo de Arrhenius
usado y, en la combinación con la ley exponencial de fiabilidad,
permite obtener una fórmula simple, fácil de usar y físicamente
significativa para la evaluación de la probabilidad de fracaso
(PoF) de un material o un dispositivo después del tiempo dado
en la operación en la temperatura dada y bajo la tensión dada
(no necesariamente mecánico),
2) La Distribución de Valor Extrema (EVD) la técnica que
puede ser usada para evaluar el número de las cargas
repetidoras que causan la degradación de material/dispositivo
y tarde o temprano conduce a su fracaso por cerrando, en una
manera gradual, el hueco entre la capacidad de porte (la energía
de activación sin estrés) del material o el dispositivo y la
demanda (la carga). Lo muestran que la degradación material
(envejecido, la acumulación de daño, la propagación de defecto,
etc.) puede ser vista, cuando el modelo de BAZ es considerado,
Como un proceso de Markovian, y que el modelo de BAZ puede
ser obtenido Como la solución última fija con la ecuación de
Fokker-Planck conocida en la teoría de procesos de Markovian.
Lo muestran también que el modelo de BAZ dirige lo peor, pero
un razonablemente el conservador, la situación.
Es sugerido por lo tanto que el período transitorio precediendo
la condición dirigida por el modelo de BAZ fijo no tiene que ser
considerado para en evaluaciones de la ingeniería. Sin embargo,
cuando hay un interés a la comprensión el proceso de
degradación transitorio, la solución obtenida con la ecuación de
Fokker-Planck puede ser usado por esta razón. en cuanto al
concepto EVD, esto atribuye el proceso de degradación a la
acumulación de daños y perjuicios causados por un tren de
cargas repetidoras de alto nivel, mientras las cargas de los
niveles que son bastante inferiores que sus valores extremos no
se contribuyen considerablemente a la vida finita de un material
o un dispositivo. En nuestra gestión de riesgos probable (PRM)
el análisis basado tratamos la energía de activación sin estrés (la
capacidad) como una variable aleatoria normalmente
distribuida, y escoja, por la simplicidad, la ley de Rayleigh (sola
paramétrica) como la distribución básica que es la base del
EVD. Los conceptos generales se dirigieron y hablaron son
ilustrados por ejemplos numéricos.
Es concluido que el uso del acercamiento de PDFR y en
particular los dos susodichos modelos avanzados deberían ser
considerados como un natural, la técnica físicamente
significativa, informativa, comprensiva, y profunda que refleja
bien la física que es la base de los procesos de degradación en
materiales, dispositivos y sistemas. Esto es la creencia del autor
que ellos extensamente serán usados en la práctica de la
ingeniería, cuando la alta fiabilidad es imperativa, y la
capacidad de cuantificarlo es sumamente deseable.
978-1-4673-1813-6/13/$31.00 ©2013 IEEE
Índice
1. INTRODUCION..…………………… ……………..…………………1
2. OBJETIVO.. ……………………………………..…..…………………3
3. ENFOQUE...…...…………………………...……………………...……3
4. PROCEDIMIENTOS DE BAZ TRANSITORIOS Y FIJOS ……4
5.ENTROPÍADELMODELODEBAZ…..……………..…………….…5
6.FALLO ORIENTADO A PRUEBAS ACELERADAS (FOAT) Y SU
SIGNIFICADO …….....………………..…………………..…………….6
7. LOS PARÁMETROS DEL MODELO DE BAZ ESTABLECIDO DE
DATOS FOAT.…………………………..…………...…………………..7
8.DISTRIBUCIÓN DE VALOR EXTREMA (EVD)
CONCEPTO………………………………………………………..…....7
9. CIRCUNVOLUCIÓN DEL EVD Y DISTRIBUCIÓN NORMAL
………………….………………………………………………………….8
10. EJEMPLOS NUMERICOS……………………..……….…………..9
11.CONCLUCION…………………...………………..………………...11
REFERENCIAS..……………………………...…………………..….…11
APPENDIX:ARRHENIUS-ZHURKOV-WEIBULL (AZW)
MODELO………………………………………………………………....11
SIGLAS …………………………………………………..………...……12
BIOGRAFIA.………………………………………………..………..…12
1. INTRODUCION
La fuerza de materiales a menudo es evaluada hoy basado
en el modelado de su degradación (envejecida) o la
propagación de imperfecciones (grietas, dislocaciones,
etc.). Un mecanismo, cuando la tensión elevada de
temperaturas y externa se contribuye conjuntamente a la
vida finita del material o un dispositivo emplea
Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov (BAZ) el modelo [1]
𝒕 = 𝒕𝟎 𝒆𝒙𝒑 (
𝑼𝟎 − 𝛾𝜎)
𝒌𝑻
(1)
Aquí la t es la vida, la σ es la tensión aplicada, la T es la
temperatura absoluta, 𝒕𝟎 es el tiempo constante, 𝑼𝟎 es la
independiente de tensión obligatoria (la activación) la energía
(la barrera, el umbral) por la escala atómica; El parametro
caracteriza el nivel de la desorientación de la estructura
molecular del material (el producto γσ, cuando la σ es una
tensión mecánica, es la tensión por volumen de unidad y es
medido en las mismas unidades que la energía 𝑼𝟎 ), y k=
1.3807 x10^23J/0^K es Boltzmann constante calculada como
la proporción R=8.3145J/mol^0K es constante A=6.02214 ×
1023 1/mol. Boltzmann constante define la relación entre la
temperatura absoluta y la energía cinética contenida en una
molécula de un gas ideal. El factor γ caracteriza la
desorientación de la estructura molecular de un sólido y se
disminuye con un aumento de la desorientación de esta
estructura. La γ de factor es inferior para

materiales más fuertes. De verdad, la entrada de la tensión
aplicada en la fórmula (1) es inferior para materiales más
robustos, y estos son caracterizados por valores de g
inferiores. Para poliamida,
𝛾 = 1.3𝑥10−19 𝑚𝑚3 [^1].
BAZ modela beneficios de la exposición razonada que
aunque el proceso de acumulación de daños y perjuicios
sea sumamente el dependiente de temperaturas, es influido
principalmente por una carga externa (los estímulos) de
cualquier naturaleza relevante. En otras palabras, el
modelo está basado en el reconocimiento de la situación
experimentalmente observada que la fractura del producto
químico vincula en un material bajo la tensión está previsto
principalmente a esta tensión, mientras la temperatura
todavía juega un importante, pero no el decisivo, el papel.
La fórmula de BAZ (1) es una generalización del modelo
de Boltzmann [2, 3]
𝑈0
𝑡 = 𝑡0 𝑒𝑥𝑝 ( )
𝑘𝑇
(2)
En la teoría cinética de los gases . El modelo ( 2 ) es conocido
como
"Estadísticas de Boltzmann”
1 𝑈0
𝑝(𝑈0 ) = 𝑒𝑥𝑝 (− )
𝑘𝑇 𝑘𝑇
(3)
Que define la función de densidad de probabilidad para la
energía total de la cinética 𝑈0 en una muestra de gas. La
distribución
∞ mecánica estadística de Boltzmann (la física) distribuciones.
𝑈0
𝑝(𝑈0 ) = ∫ 𝑝(𝑈0 )𝑑𝑈0 = 𝑒𝑥𝑝 (− )
𝑘𝑇
𝑈0
(4)
Define la probabilidad de que el nivel de energía particular,
𝑈0 es superado.
Según Boltzmann, la medida del calor contenido en un gas es
simplemente una medida estadística de los movimientos de las
partículas individuales que constituyen el gas. Como evidente
de las relaciones (3) (y 4), la energía cinética de una partícula
de gas es una variable aleatoria exponencialmente distribuida.
La teoría de Boltzmann declara que aunque sea imposible
medir el efecto de los movimientos de unos mil millones de
partículas que chocan constantemente dentro de una muestra
de un gas particular, es sin embargo posible hacer algún
general, predicciones fundamentales y suficientemente
exactas holísticas. Así de la fórmula (4), la probabilidad P que
es el nivel dado de la energía de activación es excedido puede
ser evaluada como la función de la proporción 𝜏0 /𝜏 del tiempo
constante 𝜏0 a la t de la vida. Ya que la probabilidad no es una
variable aleatoria, la 𝜏 de la vida en el modelo de Boltzmann
no, como se supone, es una variable aleatoria tampoco. En
realidad, sin embargo, la vida es una variable aleatoria. Es
asumido por lo tanto que el valor de 𝜏 en el modelo (2)
representa el tiempo no arbitrario tacaño al fracaso (MTTF),
y, mientras ningunas otras características del tiempo-a-fracaso
arbitrario (TTF), como, p.ej., la desviación estándar, está
disponible, una ley sola paramétrica de la distribución de
probabilidad tiene que ser usada evaluar la tarifa de fracaso y
la probabilidad de no fracaso. Ley exponencial
𝑡 𝑡 𝑈0
𝑝 = 𝑝(𝑡) = 𝑒𝑥𝑝 (− ) = 𝑒𝑥𝑝 [− 𝑒𝑥𝑝 ( )]
t 𝑡0 𝑘𝑇
(5)
Para la t arbitraria TTF es una función de distribución de
probabilidad sola paramétrica con lo más grande (comparado a
otras distribuciones posibles) la entropía
𝑡 𝑡
𝐻 = −𝑃𝑙𝑛𝑃 = 𝑒𝑥𝑝 (− )
𝒕 𝒕
(6)
Y, de ahí, es la mayor parte de ley conservadora posible. La
entropía H alcanza su valor máximo
1 1
𝐻𝑚𝑎𝑥 = = 0.3679 𝑝𝑜𝑟 𝑃 = =0.3679 y t=t
𝑒 𝑒
Así, la t de la vida en el modelo de Boltzmann (2) es de verdad
el MTTF, y el momento de tiempo cuando la entropía máxima
de la degradación dependiente de tiempo el proceso
(envejecido) ocurre corresponde a la probabilidad del 36.8 % de
no fracaso.
Diecisiete años más tarde, Arrhenius [4, 5] (el premio Nobel en
la química, 1903) sugirió que el modelo de Boltzmann sea usado
para describir la dependencia de temperaturas no sólo de los
procesos termalmente inducidos físicos en un gas, pero de
reacciones químicas también. Arrhenius argumentó que los
reactantes primero deben adquirir una cantidad mínima de
energía, la energía de activación llamada, 𝑈0 , ser transformado
en productos químicos. Él argumentó también que el porcentaje
de las moléculas que tienen la energía cinética mayor que 𝑈0 en
una T absoluta de temperaturas puede ser calculado de la
El concepto de Arrhenius y el razonamiento extensamente han
sido aceptados y extensamente aplicados más tarde no sólo a
reacciones químicas, pero también a varios procesos físicos que
implican alimentos sólidos. Los inventores del transistor, J.
Bardeen, W.B. Shockley y W.H. Brattain (premio Nobel en
física, 1956), y del circuito integrado (IC), J. Kilby (premio
Nobel en física, 2000) y R. Noyce, " el Alcalde de Valle De
silicio ", era físicos, y esto es quizás uno de los motivos por qué
la relación (2) extensamente ha sido usado en problemas de
física de fiabilidad durante los cincuenta años pasados o tan
evaluar el MTTF para materiales de semiconductor y
dispositivos. En algunos usos de hoy el Boltzmann-Arrhenius la
ecuación (2) es usado para la evaluación del efecto de
temperatura sobre características de fiabilidad otras que MTTF,
digamos, para la corriente de escape o la salida ligera.
A finales de los años 1950, el físico ruso Zhurkov [1] amplió el
modelo (2) para la situación, cuando un cuerpo sólido
experimenta la acción combinada de dos estímulos principales:
temperatura elevada y carga externa mecánica. Él provino del
hecho experimental que el fracaso de un los vendido es causado,
ante todo, por la carga externa que reduce la energía de
activación eficaz, pero es realzada por el material que debilita
que debería ser atribuido a la temperatura elevada. Zhurkov y
sus colegas probaron (en la tensión axial durante un período
largo de tiempo) un número grande de especímenes hechos de
aproximadamente cincuenta materiales diferentes: metales,
aleaciones, cristales no metálicos y polímeros. Zhurkov y sus
socios vinieron
La conclusion que la ecuación (1) sostiene bien para todos los
materiales probados. Dirijas a la verificación experimental de
la fórmula (1) fue realizado en EU para materiales poliméricos
por Bueche [6].
Así del modelo de BAZ (1), esto es la energía eficaz
𝜏
𝑈 = 𝑘𝑇 𝑙𝑛 = 𝑈0 − 𝛾𝜎
𝜏0
(7)
Esto determina la aceleración aguda del proceso de
propagación de defecto en un cuerpo bajo la tensión. Cuando
esta energía es el cero, la propagación de daño se hace
barreras, repentina y de temperaturas independiente. La
relación lineal (7) resultado para ser suficientemente exacto
para muchos, metal y materiales de polímero igualmente [1].
Es significativo que en usos prácticos el modelo de BAZ
puede ser combinado con el modelo de Weibull, que
extensamente es usado hoy dirigir varia fiabilidad problemas
de la ingeniería (mirar el Apéndice).
2. OBJETIVO
Suponiendo que la degradación (envejecido, la acumulación
de daño, la propagación de defecto) el proceso puede ser vista
y tratada como un proceso de Markovian (mirar, p.ej., [8]),
tenemos la intención de mostrar que el modelo de BAZ (1)
puede ser obtenido como la solución fija con la ecuación de
Fokker-Planck en la teoría de procesos de Markovian.
Tenemos la intención de averiguar en particular, si esta
solución proporciona el peor argumento de caso, por lo que la
probabilidad de un fracaso está preocupada, y si esto hace, si
habría que considerar en la ingeniería de estimaciones el papel
de la etapa inicial (transitoria) de carga o podría escaparse con
el justo empleo del modelo de BAZ fijo.
Además, tenemos la intención de dirigir otra técnica eficaz
avanzada que, en la opinión del autor, tiene un potencial para
ser extensamente empleado en las evaluaciones de fiabilidad
de materiales electrónicos y dispositivos - la distribución de
valor extrema (EVD) el concepto (mirar, p.ej., [8]). Este
concepto asocia la acumulación de daños y perjuicios sobre
todo con acentos de alto nivel, mientras bajo nivelan la carga
podría ser inofensivo para el material o el dispositivo. El
empleo de un EVD permite evaluar el número de las cargas
que cierra el hueco entre la capacidad y la demanda, así
conduciendo al fracaso. El concepto atribuye el material y la
degradación de dispositivo y el fracaso a la acumulación de
daños y perjuicios graduales causados por un tren de cargas
secuenciales (extremas) de alto nivel (acentos).
3. ENFOQUE
La solución con la ecuación de Tablón de Fokker, mientras
esto dirige el modelo de BAZ, debería ser
termodinamicamente permitido, compatible con la segunda
ley de termodinámica, con el postulado de la existencia del
estado de equilibrio y con el postulado de relajación, así como
con la suposición de la interacción termal entre el sistema y el
entorno [7]. Estos aspectos importantes de la cinética de BAZ
son, sin embargo, más allá del alcance de nuestro análisis
adaptó a usos posibles de la ingeniería. El rasgo principal de
nuestro acercamiento no es el argumento que ninguno el (la
carga de independiente) la energía de activación, ni el
La carga sí mismo es valores deterministas, y por lo tanto el
concepto [8-12] PDFR debería ser aplicado, de una u otra
manera, evaluar el papel de la variabilidad de la energía
eficaz U=𝑈0 – gs. Por hacer así, uno coherentemente y
significativamente podría cuantificar, en la base probable, la
probabilidad de fracaso de un sólido o un dispositivo sujetado a
la acción combinada de la temperatura elevada y la carga
apreciable. Partimos de la idea de que
" Nada es perfecto " , y que la diferencia entre un
muy robusto y un material suficientemente fiable o una
dispositivo es , en efecto, "simplemente" el nivel de la
probabilidad de su fracaso.
Las dos suposiciones siguientes principales son usadas en
nuestro análisis:
*El gradual " y el número de cargar al dependiente " EVD el
proceso de los cargar (la demanda) puede ser descrito según la
ley Weibull de dos paramétricos, o aún, en algunas situaciones,
por su caso importante especial y más simple, la ley de Rayleigh
sola paramétrica como el básico (es decir, relacionado con la
carga indivudual) la distribución.
*La energía de activación sin estrés (la capacidad) puede ser
acercado como una variable aleatoria normalmente distribuida.
*La temperatura es tratada como un parametro no arbitrario.
*La propagación de una imperfección (la grieta, la dislocación,
la deformación plástica, etc.) en un material o un dispositivo
posiblemente que conduce a un fracaso tiene que ver con el
movimiento de partículas sobre el molecular y aún sobre el
nivel atómico y que este movimiento puede ser tratado como
un proceso de Markovian.
La evaluación de la posible disminución de la tensión cero
Energía de activación (la capacidad del material) con el tiempo,
importante como podría ser, está fuera del alcance del análisis
presente. El papel del factor humano (la situación " el humano
en el lazo ") podría ser incluido en el formalismo sugerido,
cuando hay una necesidad de representar y cuantificar las
contribuciones combinadas del equipo (la instrumentación) la
fiabilidad y el funcionamiento humano a un éxito de misión
particular y la seguridad, con o sin la consideración de los
atributos de un incierto y a menudo apresurar el entorno [15,
16].
4. PROCESOS DE BAZ TRANCITORIOS Y FIJOS
Como ha sido indicado, asumimos que la propagación de una
imperfección (la grieta, la dislocación, la deformación plástica,
etc.) en un cuerpo sólido posiblemente que conduce a un fracaso
tiene que ver con el movimiento de partículas sobre el molecular
y aún sobre el nivel atómico y que este movimiento puede ser
tratado como un proceso de Markovian. La física que es la base
de tal proceso mejor puede ser entendida por examinando el
formalismo matemático del movimiento de Brownian (mirar,
p.ej., [8]). Este movimiento puede ser descrito usando Langevin
la ecuación
𝑑𝑣(𝑡)
+ 𝛼𝑣(𝑡) = 𝑛(𝑡)
𝑑𝑡
(8)
Esta ecuación se evalúa el proceso aleatorio V ( t) de la
Velocidad de una partícula en función del tiempo t. El primer
término En la parte izquierda de la ecuación (8) es la aceleración
que tiene
Que ver con las fuerzas de inercia. El segundo término considera
que el
El papel de amortiguamiento viscoso (el parametro α tiene la Puesto que 𝑣0 es la velocidad en el inicio de una arbitraria y un
dimension de frecuencia). La perturbación externa n (t) en la intervalo de tiempo muy pequeño ∆t, el sub índice "cero" en el
parte derecha de la ecuación es " del ruido blanco " el tipo, p. La ecuación (16) se omite. Teniendo en cuenta las fórmulas
ej., es un " inmejorablemente arbitraria " es decir, es un (17), la ecuación (16) se convierte
Proceso "idealmente al azar" con media cero y constante
(Infinitamente amplio) espectro de frecuencia de la potencia 𝜕𝑝(𝑣, 𝑡) 𝜕 𝜋 𝜕 2 𝑝(𝑣, 𝑡)
𝑆0 La solución general de la ecuación homogénea =𝛼 [𝑣𝑝(𝑣, 𝑡)] + 𝑆0
𝜕𝑡 𝜕𝑣 2 𝜕𝑣 2
(18)
𝑑𝑣(𝑡) y tiene la siguiente solución:
+ 𝛼𝑣(𝑡) = 0
𝑑𝑡 1 (𝑣 − 〈𝑣(𝑡)〉)2
(9) 𝑝(𝑣, 𝑡) = 𝑒𝑥𝑝 [ ]
√2𝐷𝑣 (𝑡) 2𝐷𝑣 (𝑡)
Es
𝑣(𝑡) = 𝑣0 𝑒 −∞ (19)
(10) El valor medio, 〈𝑣(𝑡)〉, y la varianza, 𝐷𝑣 (t) , del
Donde 𝑣0 es la velocidad inicial de la partícula al principio de la velocidad, V (t), son
∆𝑡
un período arbitrario y muy corto de tiempo ∆t. La solución −𝛼𝑡 −𝛼𝑡
particular con la ecuación no homogénea (8) puede ser 〈𝑣(𝑡)〉 = 𝑣0 𝑒 + 𝛼𝑒 ∫ 𝑒 𝛼𝜀 〈𝑛(𝜀)〉𝑑𝜀 = 𝑣0 𝑒 −𝛼𝑡
encontrada para cualquier intervalo de tiempo ∆t sobre la base 0
del Duhamel integral así: (20)
Y
∆𝑡 𝜋 𝑆0
𝐷𝑣 (𝑡) = (1 − 𝑒 −2𝛼𝑡 )
𝑣𝑝.𝑠. (𝑡) = 𝛼𝑒 −𝛼𝑡 ∫ 𝑒 𝛼𝜀 𝑛(𝜀)𝑑𝜀 2𝛼
(21)
0
Respectivamente. El proceso de Markov V (t) con el
(11)
Coeficientes de la derivada y la difusión expresados por las
La solución general con la ecuación (8) es por lo tanto
∆𝑡 fórmulas (17) se conoce como proceso de Ornstein-Uhlenbeck.
Como es evidente de la solución (19), que es un proceso normal
𝑣(𝑡) = 𝑣0 𝑒 𝛼𝑡 + 𝛼𝑒 𝛼𝑡 ∫ 𝑒 𝛼𝜀 𝑛(𝜀)𝑑𝜀 con el
0 1
(12) Tiempo de correlación
𝛼
El primer momento del incremento de la velocidad Cuando el tiempo t es cero, la distribución (19) es una función
v (∆t) - 𝑣0 considerando cero valor medio del ruido blanco delta-con el valor medio 𝑣0 Cuando el tiempo t tiende al infinito,
n (t), es 𝜋 𝑆0
〈𝑣(𝑡)〉 = 0. 𝐷𝑣 (𝑡) = 𝐷∞ = ,
2𝛼
〈𝑣(∆𝑡) − 𝑣0 〉 = 𝑣0 (𝑒 −𝛼∆𝑡 − 1) (22)
(13) Las soluciones de (19) da como resultado el siguiente estado de
Ya que el intervalo ∆t es pequeño, una aproximación 𝑒 −𝛼∆𝑡 = equilibrio (Maxwell) Distribución
1 − 𝛼∆𝑡 puede ser aplicada, y la fórmula (13) puede ser 1 𝑣2
𝑝(𝑣) = 𝑒𝑥𝑝 ( )
simplificada: √2𝐷∞ 2𝐷∞
(23)
〈𝑣(∆𝑡) − 𝑣0 〉 = −𝛼𝑣0 ∆𝑡 Con media cero pero con varianza finita. La función de
(14) distribución de probabilidad se puede obtener de
El segundo momento del incremento de la velocidad v(t)- 𝑣0 (19) Por integración:
puede ser encontrado como 𝑣
𝜋𝑆0 2𝛼∆𝑡 𝜋
〈[𝑣(∆𝑡) − 𝑣0 ]2 〉 ≅ 𝑣0 2 (∆𝑡)2 + 𝑒 −2𝛼∆𝑡 (𝑒 − 1) 𝐹(𝑣, 𝑡) = ∫ 𝑝(𝑣, 𝑡)𝑑𝑣 = √2𝐷∞ (1 − 𝑒 −2𝛼𝑡 )ф(𝜀(𝑡)),
2𝛼 2
2 (∆𝑡)2 0
= 𝑣0 + 𝜋𝑆0 ∆𝑡 (24)
(15) Donde
Los coeficientes A(v) y B(v) (de flujo y difusión, 𝜀
respectivamente) en la ecuación del Tablón de Fokker 2 2
ф(𝜀) = ∫ 𝑒 −𝜀 𝑑𝜀
𝜋
0
𝜕𝑝(𝑣, 𝑡) 𝜕 1 𝜕 (25)
= − [𝐴(𝑣, 𝑡)𝑝(𝑣, 𝑡)] + [𝐵(𝑣, 𝑡)𝑝(𝑣, 𝑡)]
𝜕𝑡 𝜕𝑣 2 𝜕𝑣 2 es la función de Laplace, y la notación
(16)
Para la función de densidad de probabilidad p( v, t) de la 𝑣
velocidad v(t) son: 𝜀 = 𝜀(𝑡) =
√2𝐷∞ (1 − 𝑒 −2𝛼𝑡 )
(26)
〈𝑣(∆𝑡) − 𝑣0 〉
𝐴(𝑣, 𝑡) = lim = −𝛼𝑣
∆𝑡→0 ∆𝑡
Se utiliza. La función de distribución de probabilidad F(v, t) es
〈[𝑣(𝑣, 𝑡) − 𝑣0 ]2 〉
𝐵(𝑣, 𝑡) = lim = 𝜋𝑆0 cero en el momento inicial de tiempo y tiende a
∆𝑡→0 ∆𝑡
(17)
 𝑣
𝜋 𝑣  El modelo BAZ (1) se puede obtener Como un estado
𝐹(𝑣, ∞) = ∫ 𝑝(𝑣, 𝑡)𝑑𝑣 = √2𝐷∞ ф ( ) estacionario solución a la ecuación de Fokker-Plank
2 √2𝐷∞
0 (16) y define un proceso aleatorio que describe la etapa
(27) final de un
Cuando el tiempo t tiende a infinito (en realidad, es solamente Transitorio proceso de Markov de daños (fallas,
bastante grande). Presentación de la masa efectiva de una grietas, Imperfección) de propagación.
partícula Como. 
𝑘𝑇 La solución BAZ se define por su densidad de
𝑀
𝐷∞ probabilidad Función
(28) 1 𝑈
𝑝(𝑈) = 𝑝(𝑈, ∞) = 𝑒𝑥𝑝 (− )
Su energía eficaz cinética Como, 𝑘𝑇 𝑘𝑇
𝑀(𝑣 − 〈𝑣(𝑡)〉)2 𝑘𝑇 (33)
𝑈(𝑡) = = (𝑣 − 〈𝑣(𝑡)〉)2 Y
2 2𝐷∞
𝑈
(29) 𝐹(𝑈) = 𝐹(𝑈, ∞) = 𝑒𝑥𝑝 (− )
y satisfacción de la condición 𝑘𝑇
∞ (34)
∫ 𝑝(𝑈, 𝑡)𝑑𝑈 = 1 es la probabilidad de que la energía efectiva
0
(30) 𝑈(𝑡) = 𝑈0 − 𝛾𝜎(𝑡)
a normalización de la probabilidad, se obtiene la distribución (35)
(19) como sigue: Supera un cierto nivel de U.
1  La probabilidad (32) puede ser visto como la
𝑝(𝑈, 𝑡) = probabilidad de
𝑘𝑇(1 − 𝑒 −2𝛼𝑡
fracaso de un sólido o un dispositivo con la activación
(31)
efectiva
Este resultado indica que la energía cinética de una partícula
Energía U (t). De hecho, cuando U (t) = 0, la
es una variable aleatoria que sigue a la distribución
probabilidad
exponencial. La función de distribución de densidad de
F (u, t) es igual a uno: el fracaso inevitablemente
probabilidad p (T, t) es dependiente del tiempo. La funcion
ocurrir. En el momento inicial de tiempo (t = 0) esta
probabilidad es cero: hay fracaso posiblemente podría
𝑈(𝑡)
𝐹(𝑈, 𝑡) = 𝑒𝑥𝑝 [ ] ocurrir en el a partir de la carga.
𝑘𝑇(1 − 𝑒 −2𝛼𝑡 )  . En cuanto a la densidad de probabilidad (31), esto es
(32) cero en el momento inicial de tiempo, y es descrito por
Probabilidad de que el (dependiente del tiempo) la estadística de Boltzmann cuando el proceso se hace
𝑈(𝑡)
Energía efectiva supera un cierto nivel . Esta suficientemente remoto a partir del momento cuando
𝑘𝑇
Funcion es tabulada en la table 1. la carga comienza
Las siguientes conclusiones se pueden extraer de las fórmulas  El parámetro empírico α (en el proceso de Markovian
(31) y (32), y en la Tabla 1: del movimiento de Brownian esto es el recíproco al
tiempo de correlación) describe la tarifa de
Tabla 1. Probabilidad función de distribución degradación durante la etapa transitoria de carga y
F (T, t) para puede ser determinado, si fuera necesario, sobre la base
la energía de activación del fracaso pruebas orientadas aceleradas (FOAT),
primero como una función de tiempo
𝑈(𝑡)
𝑘𝑇
0.01 0.1 0.5 1.0
∞ 1 𝑈(𝑡)
αt x x x x x 𝛼(𝑡) = − 𝑙𝑛 [1 + ]
2𝑡 𝑘𝑇 𝑙𝑛 𝐹(𝑈(𝑡))
0.01 0..6035 6.4083 1.0807 1.1679 0 (36)
E-3 E-11 E-22 Y luego promediado sobre el tiempo desde cero hasta el
0.1 0.9463 0.5760 0.06340 4.0193 0 momento t determinado por la ecuación BAZ (1).
E-3  Cuando 𝑇 → ∞, el parámetro 𝛼 → 0, la correlación
0.2 0.9701 0.7384 0.2195 4.8159 0 1
Haora infinitamente grande, y, Como se desprende
E-2 𝛼
0.5 0.9843 0.7620 0.4534 0.2056 0 de la
Fórmulas (1) y (2), el curso de la vida t es igual a 𝑡0 ,
1.0 0.9885 0.8908 0.5609 0.4146 0 es decir,
2.0 0.9899 0.9032 0.6009 0.3611 0 Extremadamente corto. Cuando 𝑇 → 0, el parametro
1
𝛼 → ∞, el tiempo de correlación → 0, y el curso de
5.0 0.9900 0.9048 0.6065 0.3679 0 𝛼
la vida 𝜏 tiende al infinito.
10.0 0.9900 0.9048 0.6065 0.3679 0  El papel Del parámetro (a) que es "responsable" para
la Proceso transitorio se vuelve insignificante cuando
∞ 0.9900 0.9048 0.6065 0.3679 0
el Producto (at) superior a 2,5. Esto significa que el
doble De distribución exponencial.
 𝑡 𝑈
𝑄(𝑡) = 1 − 𝑝(𝑡) = 1 − 𝑒𝑥𝑝 [− 𝑒𝑥𝑝 (− )]
𝑡0 𝑘𝑇
(37)

Basado en la fórmula (5), puede ser usado para evaluar la

probabilidad de fracaso de materiales y productos
caracterizados por el modelo de BAZ. Como ha sido
mencionado, la energía de activación eficaz en la fórmula (37)
podría ser el dependiente de tiempo.
5. ENTROPIA DE EL MODELO BAZ
Si la vida en la ecuación (1) es interpretada Como el tiempo
tacaño al fracaso (MTTF), y si es asumido que la ley
(parametro simple) exponencial o la fiabilidad pueden ser
aplicadas, entonces la probabilidad de no fracaso en este
momento la t de tiempo puede ser encontrada como la
distribución de probabilidad doble exponencial
𝑡 𝑈
𝑃(𝑡) = 𝑒𝑥𝑝 [− 𝑒𝑥𝑝 (− )]
𝜏0 𝑘𝑇
(38)
La tasa de la probabilidad de fallo no con el cambio de
por lo tanto, de tiempo o de la temperatura es
𝑑𝑃 𝐻(𝑃) 𝑑𝑃 𝐻(𝑃) 𝜏
=− , = 𝑙𝑛
𝑑𝑡 𝑡 𝑑𝑇 𝑇 𝜏0
(39)
Donde H (P) =-P ln P es la entropía de la distribución (38).
Las conclusiones siguientes pueden ser dibujadas de las
fórmulas (38) (y 39):
 La probabilidad P de no fracaso distribuido
exponencialmente es igual a uno en el momento
inicial Del tiempo y disminuye exponencialmente
con un aumento en el tiempo;𝑃 → 0, cuando 𝑡 → ∞.
 La entropía H (P) de la distribución de la
probabilidad
De no fracaso es cero en el momento inicial de
1 fiabilidad causa la disminución sustancial la fiabilidad, mientras
tiempo, los aumentos a su valor máximo de =
𝑒 cuando la situación es ya mala, esto no empeora, si el mismo
0.3679, cuando Este
1
Disminuye la probabilidad de uno a la misma =
𝑒
0.3679
Valor, disminuye con la disminución suplementaria
de la probabilidad de no-fracaso, y se convierte en
cero cuando esta probabilidad se convierte en cero;
 La 𝜏 de la vida en la fórmula (1) corresponde a la
1 pasaron la existencia QT a menudo falla en el campo.
entropía máxima 𝐻𝑚𝑎𝑥 = = 0.3679 y a la
𝑒 ¿Necesitan industrias electrónicas nuevos accesos de calificar
1
probabilidad de no fracaso𝑃 = = 0.3679.
𝑒
Ciertamente, a partir de (18) se obtiene:
𝑈 asegurar que su funcionamiento en el campo será satisfactorio?
𝑡 = −𝜏0 𝑒𝑥𝑝 ( ) 𝑙𝑛𝑃 = −𝜏𝑙𝑛𝑃.
𝑘𝑇
(40)
1
Desde 𝑙𝑛𝑃 = −1, cuando 𝑃 = = 0.3679,
𝑒
tenemos 𝑡 = 𝜏.
𝑑𝑃
 La tasa en la diminution de la probabilidad P de
𝑑𝑡
el no fracaso con un aumento de la t de tiempo es
proporcional a la entropía de la distribución de la
probabilidad de no fracaso en este momento de tiempo
al tiempo que transcurrió a partir del principio de
operación (la carga); esta conclusión es válida también
para todos los derivados de tiempo más altos de la
probabilidad P de no fracaso;
𝑑𝑃
 La tasa en la diminution de la probabilidad P de
𝑑𝑡
el no fracaso con un aumento de la T de temperaturas
es proporcional a la entropía de la distribución de la
probabilidad de no fracaso en el momento dado de
tiempo al nivel de temperaturas; la relación
𝑑𝑃 𝐻(𝑃)
= ,
𝑑𝑇 𝑇
(41)
Yo. es decir, la relación similar a la primera fórmula en (17),
Cuando el nivel de energía libre de estrés medio kT se hace
igual a la energía de activación efectiva 𝑈 = 𝑈0 − 𝛾𝜎; Ya que
𝜏 𝑑𝑃
la factor es mucho mayor que la unidad, la tasa es
𝜏0 𝑑𝑇
Siempre significativo, sobre todo en condiciones bajas de
temperaturas. Esta conclusión es compatible con la situación
general y conocida en la ingeniería de fiabilidad: cuando el
sistema es sumamente confiable (y, para sistemas dependientes
de temperaturas esto ocurre, conforme a Boltzmann y los
modelos de BAZ, en condiciones bajas de temperaturas), aún un
empeoramiento insignificante en los factores que afectan la
cambio de tales factores ocurre.
6. FOAT Y SU SIGNIFICADO
La calificación que prueba (QT) es un debe. Es el comandante
quiere decir hacer un dispositivo viable en un producto
confiable. Es conocido, sin embargo, que los dispositivos que
sus dispositivos en productos? ¿Podía la existencia QT datos
específicos y prácticas ser mejorado a un grado que si el
dispositivo pasó el QT, allí un camino cuantificable es de
De otra parte, hay una percepción, quizás, uno justificado, que
algunos productos electrónicos “nunca fallan ". ¿Es ello
probablemente que tal percepción existe porque estos productos
son innecesariamente duraderos, son "sobretramados", y son
más robustos que es necesario para un uso particular y, debido
a que, son más costoso que necesario?
Para contestar estas preguntas uno tiene que poseer un constante
y un modo eficaz de cuantificar la fiabilidad. Entonces uno
podría tratar de establecer si un factible, la reducción bien
justificada y bien controlada del nivel de fiabilidad pudiera ser 1 − 𝜂12 (𝜏0 ) 1 − 𝜂12
traducida en economías de costes significativas. El PoF es = ,
1 − 𝜂13 (𝜏0 ) 1 − 𝜂13
nunca el cero, pero podría ser predicho y, si fuera necesario, (43)
reducido al mínimo,
Donde

Controlado, especificado y aún mantenido en el campo a un 𝜏0

Nivel aceptable mediante el uso de, por ejemplo, la CRH se 𝑇2 𝑙𝑛 [− 𝑡2 ln(1 − 𝑄2 )]
𝜂12 (𝜏0 ) =
acerca y técnicas [9-14]. 𝑇1 𝑙𝑛 [− 𝜏0 ln(1 − 𝑄 )]
𝑡1 1
Mientras allí existe una intención de entender la física de
fiabilidad que es la base de un fenómeno particular o una
estructura, uno tiene que diseñar y conducir FOAT sumamente
𝜏0
enfocado y sumamente rentable para los elementos más 𝑇3 𝑙𝑛 [− 𝑡3 ln(1 − 𝑄3 )]
vulnerables del diseño de interés. FOAT, juntos con un 𝜂13 (𝜏0 ) = 1 −
modelado apropiado profético (de la tarde), es supuesto 𝑇1 𝑙𝑛 [− 𝜏0 ln(1 − 𝑄 )]
𝑡1 1
determinan la física (modos y mecanismos) de fracasos
posibles y traducir el PoF observado durante FOAT en PoF
esperado en el campo. Suficientemente planificado, con 𝜎2 𝜎3
cuidado conducido, y correctamente interpretado FOAT 𝜂12 = , 𝜂13 =
𝜎1 𝜎1
proporciona una base constante para la predicción del PoF. (44)
FOAT puede facilitar dramáticamente las soluciones con y la energía de activación 𝑈0 y el factor 𝛾 de carga
mucha ingeniería y problemas relacionados con el negocio, (potencia) en el modelo BAZ puede ser entonces calculada por
Asociado con la rentabilidad y plazo de comercialización. el fórmulas:
Vario estructural, los materiales y/o mejoras tecnológicas
pueden ser traducidos, usando los datos FOAT Y SAS, en el 𝑘𝑇1 𝜏0
PoF para la duración dada de operación bajo el servicio dado 𝑈0 = 𝑙𝑛 [− ln(1 − 𝑄1 )] [𝜂12 − 𝜂12 (𝜏0 )] =
1 − 𝜂12 𝑡1
condiciones (ambientales). FOAT debería ser conducido
además de, y, preferentemente, antes del QT. Podrían haber 𝑘𝑇1 𝜏0
también las situaciones, cuando FOAT puede ser usado como = 𝑙𝑛 [− ln(1 − 𝑄1 )] [𝜂13 − 𝜂13 (𝜏0 )],
una substitución para el QT, sobre todo para nuevos 1 − 𝜂13 𝑡1
productos, cuando normas de calificación aceptables aún no (45)
existen. FOAT, con un apropiado de la tarde, permite crear un
𝑘𝑇1 𝜏0
producto confiable con PoF predicho. = 𝑙𝑛 [− ln(1 − 𝑄1 )] [1 − 𝜂12 (𝜏0 )] =
𝜎1 − 𝜎12 𝑡1
7. LOS PARÁMETROS DEL MODELO DE BAZ
𝑘𝑇1 𝜏0
ESTABLECIDO DE LOS DATOS DE FLOAT = 𝑙𝑛 [− ln(1 − 𝑄1 )] [1 − 𝜂13 (𝜏0 )].
𝜎1 − 𝜎13 𝑡1
Ya que el modelo de BAZ (1) contiene tres parámetros (46)
empíricos, la energía de activación de tensión cero 𝑈0 la 𝛾 de
parámetro del nivel de la desorientación del molecular la 8. DISTRIBUCIÓN DE VALOR EXTREMA (EVD)
estructura del material, y el tiempo constante 𝑡0 , tres serie CONCEPTO
FOAT debería ser conducida para determinar estos
parámetros. Deje a FOATS caracterizado por sus temperaturas Otro acercamiento avanzado de entender la física que es la base
absolutas 𝑇1 , 𝑇2 𝑦 𝑇3 y tensiones aplicadas 𝜎1 , 𝜎2 𝑦 𝜎3 ser del proceso de degradación material y evaluar su fiabilidad
controlado hasta que los fracasos, y el fracaso respectivo puede estar basado en el concepto EVD (mirar, p.ej., [8]). En el
moderado timesto-(TTF) sean 𝑡1 , 𝑡2 𝑦 𝑡3, respectivamente. análisis que sigue usamos la notación 𝑋(𝑡) ≡ 𝑈0 (𝑡)
Que, con base en los porcentajes observados de dispositivos Para la energía de activación independiente que carga
fallidos, los POFs (capacidad) 𝑍(𝑡) ≡ 𝛾𝜎(𝑡) para la energía asociada con carga
Donde establecido como 𝑄1 , 𝑄2 𝑦 𝑄3 , Asumiendo que el arbitraria (demanda). Asumimos que la carga arbitraria es
modelo de BAZ y la ley exponencial de fiabilidad son caracterizada por su EVD 𝑍 ∗ (𝑡) y considera la irrevocabilidad
aplicables, definimos, usando la fórmula (5), el PoF así: de la s que carga (t) sobre el macronivel. Déjenos obtener la
circunvolución de un proceso normal X (t) (Fig 1a)
𝑡 𝑈 − 𝛾𝜎
𝑄 = 1 − 𝑒𝑥𝑝 [− 𝑒𝑥𝑝 (− )] 1 (𝑥 − ẍ)2
𝜏0 𝑘𝑇 𝑓𝑥 (𝑥) = 𝑒𝑥𝑝 [− ]
(42) √2𝜋𝐷𝑥 2𝐷𝑥
Entonces el tiempo 𝜏0 constante puede ser encontrado de la (47)
ecuación transcendental con un EVD 𝑍 ∗ (𝑡) (𝐹𝑖𝑔. 1𝑏)
 (𝑧 ∗ − Ẕ)2
𝐹𝑧 (𝑧 ∗ ) = 𝑒𝑥𝑝 [−𝑁𝑒𝑥𝑝 (− )] − 𝑒 −𝑁
2𝐷𝑥
(48)
Para un proceso inmóvil normal arbitrario la Z (t), que es la
distribución básica para este EVD [8]. El concepto
representado en
La figura 1 es la generalización de la fuerza de esfuerzo
convencional ("interferencia") Concepto de muestra y se
explica en la figura 2. En las fórmulas anteriores, el proceso
aleatorio básica Z (t) de la energía externa debido a la carga
(demanda) es un homogéneo (la probabilidad que el nivel
dado 𝑧 ∗ es excedido depiende sólo sobre la duración del
intervalo de tiempo y es independiente del momento inicial de
tiempo) ordinario (ninguno de los eventos 𝑍 > 𝑧 ∗
posiblemente pueden ocurrir simultáneamente con otro evento
similar) estacionario (las características estadísticas del
proceso 𝑍 ∗ (𝑡) son independientes del tiempo) proceso
aleatoria normal; son los valores extremos de el proceso
básico 𝑍(𝑡): N es el número de cargas durante el intervalo de
tiempo entre dos cruces adyacentes ascendentes 𝑍 > 𝑧 ∗ del
nivel 𝑍 ∗ por el proceso Z (t) (en tal situación el flujo de los
acontecimientos raros 𝑍 > 𝑧 ∗ es un proceso de Poisson), z es
el valor medio de la proceso de carga Z (t), x es el valor medio
del proceso de X (t) asociado con la energía de activación del
sistema, y 𝐷𝑧 y 𝐷𝑥 son variaciones de los procesos Z (t) y
X (t). Los eventos 𝑍 > 𝑧 ∗ de cruces el nivel es 𝑧 ∗ asumida
para ser estadísticamente independiente. Esperan el número de
cargas en la fórmula (47) para ser no muy pequeños. La
consideración del número discreto de cargas en nuestro
modelo de EVD es compatible con la teoría de Griffith que un
crecimiento de la grieta gradual, pero no se cambia del tamaño
hasta que la tensión haya alcanzado un valor crítico. Asumimos
que esto es verdadero para cualquier otra imperfección de
propagación también.
a) La función de densidad de probabilidad de la capacidad de
Porte normalmente distribuida ("la fuerza") extiende y cambia
a la izquierda como progresos de tiempo
b) El EVD (el número de cargar al dependiente) la función de
distribución de densidad de probabilidad de la demanda ("la
tensión"), extiende y cambia a la derecha, Como progresos de
tiempo
( Fig 1.) la capacidad normalmente distribuida ("la fuerza") la curva
(Fig 1a) y el EVD la demanda distribuida ("la tensión") la curva (el FIg
1b) saca la extensión en el dominio de tiempo (su aumento de
desviaciones estándar) y acerca el uno al otro, debido a la disminución
en el valor tacaño de la capacidad, causada por la degradación
material (el envejeciendo), y, a un grado menor, por el aumento del
valor tacaño de la demanda crítica.
Fuerza de tensión ("interferencia") concepto
Función de densidad
de probabilidad para La capacidad de la estructura de azulejo
un particular, en lo que concierne a la carga particular
Características mecánica o termal (puede o no poder ser
mecánica o térmica el dependiente de tiempo). En el análisis
(respuesta) corriente asumimos que la capacidad de
de la estructura de porte para una característica de fiabilidad
mosaico para el medio particular es valor constante o una
ambiente dado variable aleatoria normalmente
factor que en un distribuida con una desviación sabida
momento dado de (evaluada) tacaña y estándar ("la
tiempo ("Demanda", Capacidad", C))
D)
Más grande es la superposición de estas dos curvas, más alto es la
probabilidad de fracaso, y el más abajo es el factor de seguridad.
Después de que estas dos curvas son evaluadas (establecidas) para
cada característica de fiabilidad de interés y para cada momento
de tiempo (separadamente, para los procesos quitarás y que
aterrizan) evaluamos la probabilidad que distribuye la función, la
f (¥), para el margen de seguridad, ¥=C-D, su tacaño, ș y la
desviación estándar, la s, y el factor de seguridad, SF = ¥/ la s. No
debería ser inferior que el valor especificado, digamos, SF=1.4.
Fig 2. Fuerza de tensión convencional ("interferencia")
concepto
 9. CIRCUNVOLUCIÓN DEL EVD Y De hecho, la integral (53) tiene sentido físico sólo proporciona
DISTRIBUCIONES NORMALES Que 𝛾 ≤ 𝜀, Este requisito, a su vez, significa que la
La densidad de probabilidad y la distribución de probabilidad Condición 𝛾 ≤ 𝜀𝑚𝑖𝑛 debe ser cumplida. Dado que el mínimo
valor 𝜀𝑚𝑖𝑛 es el límite inferior de la integración en la integral
Las funciones de la diferencia arbitraria 𝑈(𝑡) = 𝑋(𝑡) − 𝑍 ∗ (t) (53), es igual a 𝛾𝑧 , de modo que el requisito 𝛾 ≤ 𝜀𝑚𝑖𝑛 es
del proceso normalmente distribuido X (t) y el proceso de equivalente al requisito 𝛾 ≤ 𝛾𝑧 Luego, utilizando la primera
EVD 𝑍 ∗ (t) es así: Fórmula (52), llegamos a la conclusión de que la condición
𝜂 ≤ 𝛾𝑥 tiene que cumplirse.
∞

𝑓𝑢 (𝑢) = ∫ 𝑓𝑥 (𝑥)𝑓𝑧 ∗ (𝑥 − 𝑢)𝑑𝑥, El integral (53) determina la probabilidad que la diferencia 𝑈 =

−∞
𝑋(𝑡) − 𝑍 ∗ (𝑡) es debajo de la energía de activación sin
(49) dimensiones eficaz 𝑢 = 𝜂 √2𝐷𝑥 el nivel, p. ej., determina la
probabilidad de no fracaso. Cuando 𝑁 = ∞, 𝐹𝑢 (𝑢) → 0 en una
𝑢 𝑥−𝑢
carrera larga el proceso 𝑍 ∗ (𝑡) siempre excederá el X(t) los
𝐹𝑢 (𝑢) = ∫ 𝑓𝑥 (𝑥)𝑑𝑥 ∫ 𝑓𝑧 ∗ (𝑍 ∗ )𝑑𝑍 ∗ = valores, p. ej., el fracaso siempre ocurrirán. Cuando 𝑧 → ∞
−∞ 0 entonces 𝛾𝑧 → ∞, 𝛾 → ∞ y 𝐹𝑢 (𝑢) → 0 cuando el valor tacaño
de la carga básica trata la Z (t) es significativa, El proceso EVD
𝑢
𝑍 ∗ (𝑡) siempre excederá el X (t) valores, y el fracaso se hace
∫ 𝑓𝑥 (𝑥)𝐹𝑧 ∗ (𝑥 − 𝑢)𝑑𝑥 probable. Cuando la varianza 𝐷𝑧 es pequeña, y la proporción de
−∞ varianza 𝛿 es significativa, entonces aún un número grande N
(50) de cargas no reduce considerablemente la probabilidad 𝐹𝑢 (𝑢)
En estas fórmulas los límites de integración para la energía de En el caso extremo de enfrente, cuando la varianza 𝐷𝑧 del
activación sin estrés X (t) son definidos por la gama, dentro proceso de carga básico la Z (t) excede considerablemente la
de la cual la f de función de densidad de probabilidad x (x) es varianza 𝐷𝑥 de la capacidad X (t), de
positiva. Con las distribuciones (47) (y 48) la fórmula (50) 𝐷
modo que la proporción de varianza 𝛿 = 𝑥 pueda ser puesta
producciones: 𝐷𝑧
igual para poner a cero, la probabilidad 𝐹𝑢 (𝑢) de no fracaso se
𝑢 hace muy pequeña. Dan un ejemplo de la integración numérica
1 (𝑥 − 𝑥)2
𝐹𝑢 (𝑢) = ∫ 𝑒𝑥𝑝 [− ]𝑥 del integral (53) en el ejemplo numérico en la Sección 11. Otro
√2𝜋𝐷𝑥 −∞ 2𝐷𝑧 camino que numéricamente cuenta este integral es de usar
polinomios Hermite [8].
(𝑢 − 𝑥 + 𝑧
𝑥 (𝑒𝑥𝑝 [−𝑁𝑒𝑥𝑝 (− )] − 𝑒 −𝑁 ) 𝑑𝑥 Es significativo que la evaluación del los PoF basado en la
2𝐷𝑥
(51) circunvolución de las distribuciones constituyentes es un
𝑢−𝑥+𝑧 método eficaz PDFR. Distribuciones intrincadas consideran la
Introducción de una nueva variable 𝜀 = de integración
√2𝐷𝑥 probabilidad que los extremos de factores diferentes
y utilización de la notación importantes no podrían ocurrir simultáneamente
(simultáneamente). Si el número de variables aleatorias no
𝑢 excede dos, la función de densidad de probabilidad acumulativa
𝛾 = 𝜂 + 𝛾𝑧 − 𝛾𝑥 , 𝜂 = .
√2𝐷𝑥 (CPDF) puede ser encontrada analíticamente. Si el número de
variables aleatorias es tres o más, habría que "enseñar" un
𝑥 𝑧 𝐷𝑥 ordenador como obtener CPDF apropiado.
𝛾𝑥 = , 𝛾𝑧 = ,𝛿 =
√2𝐷𝑥 √2𝐷𝑥 𝐷𝑧
(52)
10. ENFOQUE SIMPLIFICADO EVD
Obtenemos el integral (51) en la forma:
∞ El otro, más conservador y más físicamente explícito, EVD el
1 −(𝛾−𝜀)2 −𝛿𝜀 −𝑁 acercamiento puede estar basado en la fórmula siguiente para la
𝐹𝑢 (𝑢) = ∫𝑒 [exp(−𝑁𝑒 )−𝑒 ]𝑑𝜀.
√𝜋 probabilidad de fracaso:
𝛾𝑧
(53)
𝑥
Los la proporción es el factor de seguridad para la 𝑄 = 𝐹𝑥 (𝜂∗ )[1 − 𝐹𝑢 (𝜂∗ )],
√2𝐷𝑥
𝑧 (54)
tensión la energía de activación libre X (t), = 𝛾𝑧 √𝛿 es
√2𝐷𝑥 Donde
El factor de seguridad para la carga básica trata la Z (t). El
integral (53) establece la relación entre la probabilidad 𝐹𝑢 (𝑢)
y la activación sin dimensiones eficaz 1
𝐹𝑥 (𝜂∗ ) = [1 + ф(𝜂∗ − 𝛾𝑥 )]
𝑢 2
Energía 𝜂 = . para los factores de seguridad dados 𝛾𝑥 (55)
√2𝐷𝑥
𝛾𝑧 La proporción de discrepancia 𝛿 y el número N de cargas.
𝜂 El valor en el integral (53) no puede exceder el 𝛾𝑥 valor.
Es la función de distribución de probabilidad para la variable Tabla 2. Función calculada 𝒇(𝝉𝟎 ) Del tiempo
𝑢
aleatoria 𝜂∗ = ∗ y determina la probabilidad de que constante 𝝉𝟎
√2𝐷𝑥

La capacidad de soporte estará por debajo de un cierto 𝝉𝟎 ,

𝑢∗ 𝐸𝑙 nivel, y la expresión en los corchetes en la fórmula (54) ℎ𝑜𝑟𝑎𝑠 10−5 10−6 10−7 10−8
es la probabilidad de que la carga estará por encima de este
nivel. La fórmula (55) se desprende de la densidad de
probabilidad función de distribución (47), y
0.4180 0.2966 0.2299 0.1877
𝒇(𝝉𝟎 )
𝛼
2 2
ф(𝛼) = ∫ 𝑒 −𝑡 𝑑𝑡
√𝜋
0
Por interpolación se obtiene:
(56)
Es la función de Laplace (probabilidad integral). 𝜏0 = 0.2714𝑥10−6 ℎ𝑟𝑠 = 0.9769𝑥10−3 𝑠.

11. EJEMPLOS NUMÉRICOS Entonces nos encontramos con:

Modelo BAZ 𝑈 𝑇1 𝜏0
= 𝑙𝑛 [− 𝑙𝑛(1 − 𝑄1 )] [𝑛12 − 𝜂12 (𝜏0 )] =
Deje, p.ej. El FOAT ser realizado hasta la mitad de los 𝑘 1 − 𝜂12 𝑡1
suspensos demográficos 𝑄1= 𝑄2 = 𝑄3 = 0.5 y otros datos de
entrada son así: = 19422𝑥(−20.0505)[0.9744 − 10.472] =

1) Cuando la temperatura de pruebas era 𝑇1 = 2250 𝐶 = = 28343.6𝐾

498𝐿, y la proporción de la potencia aplicada (la energía) para
𝜎
la constante de Boltzmann 𝑘 = 1.381𝑥10−23 𝐽/𝐾 , era 1 =
𝑘 1 1 − 𝜂12 𝑈
3.9𝑥1023 𝐾 el tiempo de lamzamiento al fracaso (TTF) era 𝛾=𝜎 =
1 𝑛12 − 𝜂12 𝑘
𝑡1 = 96ℎ𝑟𝑠 = 345600𝑠𝑒𝑐. ; 𝑘
2) Cuando la temperatura de pruebas era 𝑇2 = 2000 𝐶 = 1 1 − 1.0472
473𝐾, y la proporción de la potencia aplicada (la energía) para = 23
28343.6 =
𝜎
3.9𝑥10 0.9744 − 1.0472
la constante de Boltzmann 2 = 3.8𝑥1023 𝐾 el TTF era 𝑡2 =
𝑘
750ℎ𝑟𝑠 = 2700000𝑠𝑒𝑐. ; = 4711.9538𝑥10−23

3) Cuando la temperatura de pruebas era 𝑇3 = 1750 𝐶 = Si, en la condición de operación real,

448𝐾, y la proporción de la potencia aplicada (la energía) 𝜎
𝜎
para la constante de Boltzmann 3 = 3.5𝑥1023 𝐾 El tiempo 𝑇 = 1100 𝐶 = 383𝐾, 𝑦 = 3.0𝑥1023 𝐾,
𝑘 𝑘
TTF era 𝑡3 = 2000ℎ𝑟𝑠 = 7200000𝑠𝑒𝑐. la ecuación para el
tiempo constante 𝜏0 es Entonces la probabilidad predicha de fracaso es

𝑡 𝑈 − 𝛾𝜎
𝑄 = 1 − 𝑒𝑥𝑝 [− 𝑒𝑥𝑝 (− )] = 1 −
𝜏0 𝑘𝑇
ln(0.0009242𝜏0 )
1 − 0.9498
ln(0.001392𝜏0 ) 𝑡 283436 − 141359
𝑓(𝜏0 ) = = 0.25 −𝑒𝑥𝑝 [− 𝑒𝑥𝑝 (− )] =
ln(0.0003466𝜏0 ) 0.9769𝑥10 −3 383
1 − 0.8996
ln(0.001392𝜏0 )
= 1 − exp(−7.9359𝑥10−14 𝑡

Los valores calculados de la función 𝑓(𝜏0 ) se muestran en la
Tabla 2:
Después del tiempo de operación
𝑡 = 10𝑎ñ𝑜𝑠 = 3.1536𝑥108 sec, el PoF es tan bajo Como
𝑄 = 2.5026𝑥10−5 .
Después 𝑡 = 1𝑎ñ𝑜 = 3.1536𝑥107 𝑠𝑒𝑐 en la operación el PoF
es diez veces más abajo: 𝑄 = 2.5026𝑥10−6 ,

Modelo EVD
Datos de entrada:
Relación entre la energía media capacidad de la media (básico)
𝑥
La energía de carga = 2.000; factor de seguridad para la
𝑧
capacidad
 1
𝑥 𝐹= ∆𝜀 ∑ =
Energía 𝛾𝑥 proporción de varianza de energía √𝜋
√2𝐷𝑥
𝐷𝑥
(capacidad-a-carga) 𝛿 = = 0.0200; número de cargas
𝐷𝑧
N = 10 = 0.5642𝑥0.10𝑥2.4625𝑥10−5

= 1.3894𝑥10−6 ;
Datos computarizados:
Factor de seguridad para la energía de carga (límite inferior 11. CONCLUCION
de la integración)

𝑧 𝑧 𝑥
𝛾𝑧 = = = 0.5𝑥2.0 = 1.000 Dos técnicas alternativas, el modelo de BAZ y el modelo de
√2𝐷𝑥 𝑥 √2𝐷𝑥 EVD, Han sido considerados, dentro Del Marco del
Entonces acercamiento de PDFR general, para la evaluación de la
degradación (la acumulación de daño) el proceso en la
𝛾 = 𝜂 + 𝛾𝑧 − 𝛾𝑥 = 𝜂 + 1 − 2 = 𝜂 − 1 electrónica aeroespacial. Los modelos sugerido (formalismos)
podrían ser provechosos en la ganancia de la mejor comprensión
El ejemplo debajo es realizado, por la simplicidad, para el de la transición del microproceso de la ruptura de obligaciones
caseh 𝜂 = 1. Espera que la probabilidad de no fracaso será químicas en un cuerpo sólido al macroproceso de fractura u otro
bastante baja para una energía de activación tan bajas tipo de degradación (envejecida) de un material o un
dimensiones. Los cálculos son realizados en la Tabla 3. dispositivo. El futuro trabajo debería incluir el uso de los
modelos sugeridos a varios materiales electrónicos, fotonico y
Tabla 3. Probabilidad calculada de fracaso dispositivos, con un énfasis sobre la consideración de la
usando el modelo EVD disminución en la energía de activación de tensión cero debido
2 a envejecido, así como sobre la comparación de los resultados
𝜀 exp(−𝜀 ) 𝑓(𝜀) obtenidos usando los modelos sugeridos otros modelos de
1.00 0.367879 0.365728E-5 fiabilidad posibles, como, p.ej., Bayesianos o técnicas de
1.10 0.298197 0.35662E-5 simulación de Monte Carlo.
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∆𝜀 = 0.10; ∑ = 2.6466𝑥10−5 Electrónica ", Sociedad americana para Calidad, División de
∑ −5
= 2.6466𝑥10 ( 𝑒𝑣𝑎𝑙𝑢𝑎𝑑𝑜 𝑐𝑜𝑚𝑜 𝑙𝑎 𝑠𝑢𝑚𝑎 Fiabilidad, Seminario web curso corto,
𝑐𝑜𝑟𝑟𝑒𝑐𝑡𝑜 http://www.slideshare.net/ASQwebinars/probabilisticdesig
n-for-reliability-pdfr-in-electronics-part2of2
∑ 𝑚𝑒𝑛𝑜𝑠 𝑙𝑎 𝑚𝑖𝑡𝑎𝑑 𝑑𝑒 𝑙𝑎 𝑠𝑢𝑚𝑎 𝑑𝑒 𝑙𝑎𝑠 𝑜𝑟𝑑𝑒𝑛𝑎𝑑𝑎𝑠 𝑒𝑥𝑡𝑟𝑒𝑚𝑎𝑠) El 03-06 de enero de 2011
la probabilidad de no fracaso es tan baja como
[12] E.Suhir, R.Mahajan, A.E.Lucero, L. Bechou, " Diseño- 𝑎−1

para-fiabilidad Probable (PDfR) Concepto y Acercamiento 𝑎 𝑥

𝑓(𝑥, 𝑇) = ( ) 𝑥
Nuevo a Calificación de Productos Aeroespaciales 𝑈0 − 𝛾𝜎 𝑈0 − 𝛾𝜎
𝜏0 𝑒𝑥𝑝 ( ) 𝜏0 exp
Electrónicos ", conferencia IEEE Aeroespacial, Cielo Grande, 𝑘𝑇 𝑘𝑇
Montana, marzo de 2012
[13] E. Suhir, " Especificaciones de Calificación Deberían (A-5)
𝑎
Considerar el Uso (s) Más probable de un Producto de 𝑥 − 𝑥0
Electrónica ", Revisiones de Chip Scale, agosto-julio, 201 𝑥𝑒𝑥𝑝 [− ( )]
𝑈 − 𝛾𝜎
[14] E. Suhir, “Cuando la Fiabilidad es Imperativa ", IMAPS 𝜏0 𝑒𝑥𝑝 ( 0 )
𝑘𝑇
Microelectrónica Avanzada, 2012, ser publicado
[15] E. Suhir, " Helicóptero Consiguiendo Barco: Fuerza de
Tren de aterrizaje y el Papel del Factor Humano ", ASME 𝑎
OMAE Conferencia, el 1-9 de junio, Honolulu, Hawai, 2009; 𝑥 − 𝑥0
𝐹(𝑥, 𝑇) = 1 − 𝑒𝑥𝑝 [− ( )]
mirar también ASME OMAE Diario, febrero de 2010 𝑈 − 𝛾𝜎
𝜏0 𝑒𝑥𝑝 ( 0 )
[16] E.Suhir, " humano en el lazo ": La probabilidad de unos 𝑘𝑇
los Automóviles " el éxito de misión y la seguridad ", y el
Papel del Factor Humano ", Empapelan ID 1168, 2011 (A-6)
IEEE/AIAA la Conferencia Aeroespacial, el Cielo Grande,
Montana, el 5-12 de marzo de 2011; Valor medio y la desviación estándar de la distribución AZW
Son
ANEXO
𝑈0 − 𝛾𝜎 1
ARRHENIUS-ZHURKOV-WEIBULL (AZW) MODEL 𝑥 = 𝜏0 𝑒𝑥𝑝 ( ) Γ (1 + ) + 𝑥0,
𝑘𝑇 𝑎
Weibull la distribución que extensamente es usada en la (A-7)
ingeniería de fiabilidad es definido por la función de
densidad de distribución de probabilidad siguiente (la f (x)) y
la función de distribución de probabilidad (la F (t)): 𝑈0 − 𝛾𝜎 Γ (1 + 2) − Γ 2 (1 + 1)
√𝐷𝑥 = 𝜏0 𝑒𝑥𝑝 ( )√ 𝑎 𝑎
𝑘𝑇
𝑎 𝑥 𝑎−1 𝑥 − 𝑥0 𝑎
𝑓(𝑡) = ( ) 𝑒𝑥𝑝 [− ( )] , (A-8)
𝑏 𝑏 𝑏
La probabilidad que un cierto nivel 𝑥∗, es excedido (la función
𝑥 − 𝑥0 𝑎 de fiabilidad) puede ser encontrada como
𝐹(𝑡) = 1 − 𝑒𝑥𝑝 [− ( )]
𝑏
(A-1)
Aquí a es el parámetro de forma, b es el parámetro de escala,
𝑎
𝑥0 es el parámetro de cambio (el valor mínimo posible de la
𝑥∗ − 𝑥0
variable X). El valor medio x, y la desviación estándar √𝐷𝑥 𝑅(𝑥𝑇) = 𝑒𝑥𝑝 [− ( )]
𝑈 − 𝛾𝜎
son 𝜏0 𝑒𝑥𝑝 ( 0 )
𝑘𝑇
(A-9)
1
𝑥 = 𝑏Γ (1 + ) + 𝑥0 ,
𝑎 BIBLIOGRAFIA
El Doctor Suhir está sobre la facultad del Departamento
2 1 Ingeniería eléctrico, la Universidad de California, Santa Cruz,
√𝐷𝑥 = 𝑏√Γ (1 + ) − Γ 2 (1 + ) CA. Él es también, en la base permanente, Visitando al
𝑎 𝑎
Profesor, el Departamento de Materiales Electrónicos, el
(A-2) Instituto de Viena de Tecnología, Viena, Austria. El Doctor
Donde Suhir es el Miembro de pleno derecho Extranjero (el
𝛼
Académico) del ational la Academia de Ingeniería, Ucrania;
Fulbright Erudito en Informaciónes Tecnologuicas, Muchacho
Γ(a) = ∫ 𝑡 𝛼−1 𝑒 −𝑡 𝑑𝑡 del Instituto de los Eléctricos e Ingenieros electrónicos
0 (IEEE), la Sociedad americana Física (APS), la Sociedad
(A-3) americana de Ingenieros Mecánicos (ASME), el Instituto de
Es la función Gama. El Parámetro de escala b se puede ver Física (IoP), el Reino Unido, Microelectrónica Internacional y
Como una "vida característica". Presentación Sociedad de Embalaje (IMAPS), la Sociedad de Ingenieros
Ópticos (SPIE) y la Sociedad de Ingenieros de Plásticos
𝑈0 − 𝛾𝜎 (SPE). Él es un cofundador del Diario ASME de Embalaje
𝑏 = 𝜏0 𝑒𝑥𝑝 ( )
𝑘𝑇 Electrónico y servido como su Redactor jefe durante ocho
(A-4) años (1993-2001). El Doctor Suhir sostiene 22 patentes
En la fórmula (A-1) obtenemos Arrhenius-siguiente estadounidenses y ha escrito aproximadamente 300
Zhurkov-Weibull la función de densidad de distribución de publicaciones técnicas (papeles, capítulos de libro, libros). Él
probabilidad y la función de distribución de probabilidad: es el redactor de la serie de libro de Springer sobre la física,
la mecánica, el diseño-forreliability y el embalaje de sistemas
micro electrónicos y fotonicos. El Doctor Suhir presentó la
numerosa tónica e invitó conversaciones por todo el mundo,
y recibió muchos premios profesionales, incluyendo 2004
ASME Worcester la Caña Warner la Medalla por
contribuciones excepcionales a la literatura permanente de
tramar (él es el tercer americano ruso, después de la S.
Timoshenko y yo. Sikorsky, quien recibió este premio
prestigioso); 2001 John A. Wagnon IMAPS Premio de Logro
Técnico; 2000 IEEE-CPMT Premio de Contribución
Excepcional Sostenido Técnico; 2000 SPE Internacional De
la ingeniería (Fred O. Conley) Premio; 1999 ASME y
Premio de Carlos Russ Richards Memorial Pi-Tau-Sigma; y
1996 Laboratorios de Campana Distinguieron al Miembro
de Premio de Personal Técnico.

Siglas y notaciones
AT= Pruebas Aceleradas
BAZ= Modelo Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov's
CPDF= Función de Densidad de Probabilidad
Acumulativa

EVD= Distribución de Valor Extrema

FOAT= Fracaso Orientó Pruebas Aceleradas
MTTF= Tiempo medio hasta el fallo
QT= Pruebas de Calificación
PDfR= Diseño probabilístico para Confiabilidad
PM= Modelado predictivo
PoF= Probabilidad de fallo
SA= Análisis de sensibilidad
TTF= Tiempo a Fracaso
1.3807 x 10 J/ K -23 0 k =Boltzmann constante
8.3145J/mol K 0 R =Gas constante
A=6.02214 × 1023 1/mol. = constante de Avogadro
H = entropía
0 U = energía de activación de tensión cero

T Temperatura absoluta
V= tensión aplicada (no necesariamente mecánico)

= factor que caracteriza a la desorientación

De la estructura molecular de una sólida,
O un factor que considera que el producto 𝛾𝜎
Se mide en unidades de energía
1/tiempo de correlación
𝜏0 =constante de tiempo en la ecuación BAZ

: NASSER ANTONIO VERGARA DAVILA