INSTRUMENTOS

ELECTRÓNICOS DE
MEDIDA

J. Arias
División de Tecnología Electrónica
Universidad Miguel Hernández

z Baja frecuencia
– Multímetro digital (DMM) Í
– Electrómetro
– Unidad fuente-medida (SMU) N
– Amplificador lock-in
D
– Medida de impedancias / LCR
– Osciloscopio I
z Radiofrecuencia
– Analizador de espectros
C
– Analizador de redes E
z Telemática
– Analizador lógico
z Comunicaciones ópticas
– Analizador de espectros óptico (OSA)
– Reflectómetro óptico en el dominio del tiempo (OTDR)

1
 MULTÍMETRO DIGITAL (DMM)
z MULTÍMETRO → Medida de varias magnitudes
– Tensión DC/AC
– Corriente DC/AC
– Resistencia
– Capacidad
– Inducción
– β de transistores
z Consejos:
– Medir lo más cerca posible del fondo de escala.
– Esperar un período de calentamiento de 1 hora aprox.
– Al inicio, comprobar la puesta a cero cortocircuitando
los cables de prueba (excepto para medidas AC)

DMM – MEDIDA VDC

Integración A/D Circuito de
elimina AC protección Divisor de entrada
acomoda la señal
dentro del margen
del amp.

amp. de
Voltajes de
entrada
referencia
DC
+
2 Vp-p AC
1.000000 VDC
DCV
1 Vdc
-

3
2
1 Vdc 2 Vp-p=
1
offset 0.707Vrms
0
Señal

2
 DMM – MEDIDA VAC
DC proporcional Condensador de
al valor RMS acoplo elimina DC;
sólo deja pasar señal
AC
Al A/D

Conversor amp./att. AC
de AC a DC

+
2 Vp-p AC
707.106 mVAC
ACV
1 Vdc
-

3
2
1 Vdc 2 Vp-p=
1
offset 0.707Vrms
0
Señal

DMM – MEDIDA I
R interna (igual para ac
Al amp. de ACI y dc)
entrada AC
DCI
Al amp. de
entrada DC
-
+
Iac+
+ Idc
1.000000 ADC -

DCI El terminal de entrada HI

NO es el mismo que
para medida de V

+
* No se deben conectar los cables Iac+
directamente a la fuente de tensión. Idc
Abrir el
circuito para
X -

medir I

3
 DMM – MEDIDA R – 2 hilos
Al amp. de
Circuito de
entrada DC
protección

Fuente de
corriente Iref

1.000000 k Rx =
Iref
2w
1k

Para eliminar la R de los cables:

Como la tensión se mide en los terminales
del panel frontal del equipo, la medida
incluye la resistencia de todo el cable de
medida.
-Cortocircuitarlas
-Pulsar el botón adecuado para
corregir el offset (Null).
Este valor será restado de cada
lectura.

DMM – MEDIDA R – 4 hilos

Circuito de Al amp. de
protección entrada DC

Fuente de
corriente Iref

1.000000 k Rx =
Iref
4w
1k

La tensión se detecta en la Rx por lo que no habrá error debido a la R de los cables

que inyectan corriente.
Tampoco habrá error por la R de los cables que miden tensión, debido a que la
impedancia de entrada del amp. de entrada DC es tan alta que prácticamente no
circula corriente por ellos.

4
 VALOR EFICAZ (RMS)
z Es una medida de la potencia media de la señal.
z La potencia instantánea disipada en una resistencia es: P = v(t)2/R.
z Para obtener la potencia media, integrar y dividir por el período

1 ⎡1 ⎤ Vef2
t 0 +T t 0 +T
1
P= ⎢ ∫t v (t )dt ⎥⎥ = R Vef = ∫v
2 2
(t )dt
R ⎢⎣ T 0 ⎦ T t0

z Una tensión AC con un determinado valor eficaz tiene el mismo efecto

de calorífico (potencia) que una tensión continua de ese mismo valor.
1.733 v
1.414 v
1v 1v 1

Waveform Sine Triangle Square DC

Vpeak 1.414 1.733 1 1
Vrms 1 1 1 All = 1 WATT
1

VERDADERO VALOR EFICAZ

z CARGAS NO LINEALES PUEDEN PRODUCIR ERRORES DE
MEDIDA
– Semiconductores de potencia, rectificadores dentro de variadores de
velocidad, reguladores de luz (dimmers), maquinas informáticas
(ordenadores, impresoras, fotocopiadoras, etc), reactancias electrónicas,
etc.

5
 VERDADERO VALOR EFICAZ
z INSTRUMENTACIÓN DE VALOR
PROMEDIO.
Con formas de onda no senoidales
puede provocar errores de hasta el
40%!

z INSTRUMENTACIÓN DE VERDADERO VALOR EFICAZ: Mide el valor de la

tensión AC a partir de una tensión DC que provoca el mismo calentamiento sobre una
resistencia R

INTERPRETANDO
ESPECIFICACIONES (I)
z Forma más común de expresar el error:
(±% lectura + ±% fondo de escala)
z Nº de dígitos: es el máximo nº de 9’s que el instrumento puede medir o
mostrar, es decir, el nº de “dígitos completos”. Normalmente, existe un dígito
parcial y se puede medir con un cierto sobrerrango.
Ej.: Un multímetro en la escala de 10 V de
6 dígitos puede medir 9,99999 V
6½ dígitos con 20% de sobrerrango puede medir 12 V

z Sensibilidad: define la habilidad para responder a pequeños cambios del nivel

de entrada. (No confundir con resolución)

z Resolución: es el cociente entre los valores máximo y mínimo que se pueden

mostrar. Se expresa en %, ppm, cuentas o bits. Ej. Un multímetro de 6½ dígitos con
20% de sobrerrango pude mostrar hasta ±1,200,000 cuentas de resolución, aprox.
0,0001% o 1 ppm del fondo de escala, 21 bits de resolución, incluyendo el bit de
signo.

6
 INTERPRETANDO
ESPECIFICACIONES (II)
z Precisión: es la diferencia entre el valor medido y el valor real. Se
deterina a partir de un patrón de calibración. Debe ir ligado a condiciones
de temperatura, humedad y tiempo.

z Calibración: es el proceso mediante en cual se determinan los valores

individuales de ganancia y offset que producen una mínima diferencia con
respecto a la señal de entrada.
Salida medida (Y)

brada
no cali
Curva
da
a libra
c
rva Y = mX + b
Cu
Entrada (X)

INTERPRETANDO
ESPECIFICACIONES (III)
z Error de ganancia: es el error en la pendiente m de la curva Vmedida versus
Ventrada. Se expresa como % o ppm de la lectura

z Error de offset: es el error en el offset b de la curva Vmedida versus Ventrada. Se

expresa como % o ppm del fondo de escala.

z Linealidad: es la habilidad del instrumento de responder de manera lineal a los

cambios del nivel de la señal de entrada. Muchas veces el error de no-linealidad se
incluye dentro de los errores de ganancia y de offset.

z Estabilidad (deriva temporal): es la habilidad de un instrumento de

conservar la precisión especificada durante un cierto período de tiempo (90 días, 1
año, ….)

z Coeficientes térmicos (deriva térmica): se usan para describir la

degradación de la precisión del instrumento cuando la temperatura de operación
excede el rango de temperatura especificado.

7
 DMM CDM250 (Tektronix-
Tektronix-no true rms)
rms)

z DC Voltage Ranges - 200 mV, 2 V, 20 V, 200 V, 500 V.

z Basic DC Volts Accuracy - ±(0.5% of reading +1 count).
z Max DC Input Voltage - 500 VDC (DC + peak AC).
z AC Voltage Ranges - 200 mV, 2 V, 20 V, 200 V, 500 V.
z Basic AC Volts Accuracy - ±(1.0% of reading +4 counts).
z Max AC Input Voltage - 350 VACRMS; 500 V (DC + peak AC).
z DC Current Ranges - 200 µA, 2 mA, 20 mA, 200 mA, 2 A, 10 A.
z Basic DC Current Accuracy - ±(1.0% of reading +1 count).
z Max DC Input Current - 2 A fused, 10 A unfused.
z AC Current Ranges - 200 µA, 2 mA, 20 mA, 200 mA, 2 A, 10 A.
z Basic AC Current Accuracy - ±(1.5% of reading +4 counts).
z Max AC Input Current Voltage - 650 V pk, current input to common.
z Resistance Ranges - 200 Ohm, 2 kilohm, 20 kilohm, 200 kilohm, 2 megaohm, 20 megaohm.
z Basic Resistance Accuracy - ±(0.75% of reading +1 count).
z Max Resistance Input Voltage - 500 V (DC + peak AC).
z Warranty - One year.
z Safety - UL1244, CSA231, EN61010-1.
z EMC - Meets Directive 89/336/EEC

5½ digit DMM 197A (Keithley-

Keithley-true rms)
rms)

8
6½ digit DMM 34401A (Agilent-
Agilent-true rms)
rms)

8½ digit DMM 2002 (Keithley-

Keithley-true rms)
rms)

9
 MEDIDA DE BAJAS
CORRIENTES (< 1 mA)

ELECTRÓMETRO
z MULTÍMETRO DIGITAL DE ALTA IMPEDANCIA, BAJA
CORRIENTE.
z Los DMMs tienen limitaciones para medir bajas corrientes y para medir
de fuentes de muy alta impedancia.
z Electrómetro: impedancia de entrada de algunos Teraohmios y puede
medir corrientes de femtoamperios. Menor caída de tensión (voltage
bourden) que un dmm.

z APLICACIONES:
– Medida de fotocorrientes procedentes de
sensores.
– Medida de corriente en oscuridad.
– Medida de corrientes de fugas
– Células solares

10
 UNIDAD FUENTE–MEDIDA (SMU)
236 MODEL-KEITHLEY
z 4 INSTRUMENTOS EN UNO SOLO: FUENTE DE TENSIÓN,
FUENTE DE CORRIENTE, MEDIDOR DE TENSIÓN, MEDIDOR
DE CORRIENTE.
z FUENTE DE V DESDE 100µV A 110V
z FUENTE DE CORRIENTE DESDE 100fA A 100mA
z MEDIDA DE TENSIÓN DESDE 10µV A 110V
z MEDIDA DE CORRIENTE DESDE 10fA A 100mA
z CAPACIDAD DE MEDIDA EQUIVALENTE AL
ELECTRÓMETRO.
z SIMPLICIDAD EN LAS MEDIDAS
z PROGRAMABLE
z CONTROL REMOTO (BUS IEEE-488)

UNIDAD FUENTE–MEDIDA (SMU)

236 MODEL-KEITHLEY
z APLICACIONES:
– Caracterización de dispositivos de semiconductor (MOSFETs, diodos
GaAs, BJTs, ...)
– Medida de corrientes de fugas
– Equipos de test automatizados (ATE)

11
 MEDIDA DE SEÑALES DÉBILES:
AMPLIFICADOR LOCK-IN
z Medidas en las que la información está ligada a una frecuencia bien
conocida con un BW extremadamente pequeño. Ej.: transductor en
régimen estático con cuya salida se modula una portadora.
z Amplificación de alta ganancia (hasta 200dB) + filtrado de ancho de
banda muy estrecho + frecuencia central enclavada a una de referencia.
z Clave: detector sensible a la fase (PSD), llamado demodulador.
z La salida (DC) es función de la fase relativa entre la señal de entrada y
la señal de referencia asociada.
z Típ. hasta el orden de cientos de kHz. Máx del orden de MHz
z APLICACIONES:
– Medida de señales débiles en entornos
ruidosos (ej. señales ópticas).
– Medida de fase relativa entre dos
señales de la misma frecuencia.

MEDIDA DE IMPEDANCIA / LCR

z DEFINICIÓN DE IMPEDANCIA:
– Es la oposición global que presenta un dispositivo al paso de una corriente
periódica.
z Se necesita una señal AC de prueba (amplitud y frecuencia).
z Incluye elementos reales e imaginarios,

G
R X
B

Z=R+jX Y=G+jB

12
 DISCREPANCIAS
EXPERIMENTALES

z Factores dependientes de los componentes.

z Valor nominal (true), efectivo (effective) y
medido (indicated)
z Errores de medida
z Configuraciones de medida.

Factores dependientes de los

componentes
z PARÁSITOS DEPENDEN DE:
– Frecuencia de la señal de test.
– Nivel de la señal de test.
– Polarización DC
– Entorno (temperatura, humedad, ...)

z MODELOS REALES DE CONDENSADORES INCLUYEN

PARÁSITOS:

13
 Factor de calidad Q

z DIFERENTE DEL Q ASOCIADO A FILTROS Y RESONADORES!!

energía almacenada X S
Q = =
energía perdida RS
z CUANTO MEJOR ES EL COMPONENTES MAYOR ES Q:
– R→0 Q→∞

1
z FACTOR DE DISIPACIÓN D: D=
Q

Q se usa más para inductancias y D para condensadores.

Reactancia del condensador vs.

frecuencia

Capacitor Model
|X|
1
XC =
wC

X L = wL

Frequency

14
 Impedancia de resonancia de un
condensador
p vs. frecuencia
q y
A: |Z| B: 0 MKR 6 320 000.000 Hz
A MAX 50.00 MAG 47.2113 m
B MAX 100.0 deg PHASE 659.015 mdeg

A MIN 20.00 m START 1 000 000.000 Hz

B MIN -100.0 deg STOP 15 000 000.000 Hz

Variaciones de C con el nivel de la

señal de test
C vs AC Test Signal Level C vs DC Voltage Bias
SMD Capacitors, Various dielectric constants K Type I and II SMD Capacitors

High K C/%
C
2
Mid K 0 Type I
N P O (low K)
-2
Low K -4
-6
-8
-10
Type II
-20 X7R (high K)

0 50 100 Vdc
Vac

z Condensadores con constante dieléctrica (K) alta exhiben una fuerte

dependencia del nivel de la señal de test.

15
 Variaciones de C con la temperatura
Type I and II SMD Capacitors
C/%

15
10
5
Type I
0
N P O (low K)
-5
-10

-15
Type II
-20
X7R (high K)
-60 -20 20 60 100 140
T/ C

Variaciones de L con el nivel de

corriente de polarización DC
z Inductores de potencia.
L/%

2
0
-2
-4
-6
-8
-10
-20

0 50 100 Idc

16
 ¿Qué valor medimos?

TRUE

EFFECTIVE

INDICATED +/- %

Instru ment Test fixture Real world device

¿Qué valor medimos?

z NOMINAL (TRUE): viene dado por una relación matemática
dependiente de la composición física del componente. Excluye
cualquier tipo de parásito.

z EFECTIVO (EFFECTIVE): es el valor del componente real. Tiene en

cuenta los parásitos y los factores de dependencia. Este valor es el que
se quiere medir.

z MEDIDO (INDICATED): Este es el valor que realmente se mide y no

sólo tiene en cuenta el componente real sino que además incluye los
efectos del equipo medidor (errores del medidor, pérdidas,
configuraciones de medida, ...)

z HACER QUE EL VALOR MEDIDO SEA LO MÁS CERCANO

AL VALOR EFFECTIVO

17
 Sistema experimental

Port Test
DUT
Instrument Extension Fixture
Rx + j Xx

Fuentes de errores experimentales

z INEXACTITUDES EN LA TÉCNICA DE MEDIDA.
z RESIDUALES COMPLEJOS EN LA EXTENSIÓN DEL PUERTO.
z RESIDUALES DEL ADAPTADOR.
z RUIDO RFI.
z PARÁSITOS EN EL CONTACTO DEL DUT.

Technique Complex
Inaccuracies Residuals Noise
Residuals

Parasitics
Port Test
DUT
Instrument Extension Fixture
Rx + jXx

18
 Técnicas para reducir los errores
experimentales

Guarding
Port Test
DUT
Instrument Extension Fixture
R x+ jXx
Calibration LOAD
Compensation
Compensation
EShielding

Funcionamiento de un medidor de Z
Measure ?
Calculate ?
Approximate ?
I-V Method Reflection Coefficient
Method
Measured I, V x,y

Direct V
Z= Z = Zo 1 +
Calculations I 1-

Model based Ls , Lp, Cs, Cp, Rs or ESR, Rp, D, Q

Approximations Rs Cs

DUT
? Rp

Cp
H

19
 Modelos – Aproximaciones

Complete Capacitor Model

Rs,Ls,Rp,Cp ? X
P LE
C OM
O
No L Capacitor Model TO

Series model Rp Parallel model

Rs Cs

Cp

Large C Small C
Small L Large L
SMD
26

Modelos – Aproximaciones

z AMBAS APROXIMACIONES SON CORRECTAS

Cs = C p (1 + D )
2

z UNA DE ELLAS RESULTA UNA MEJOR APROXIMACIÓN

z PARA COMPONENTES CON Q ALTO O D BAJO Cs ≈ C p

20
 TÉCNICAS DE MEDIDA vs.
frecuencia
Network Analysis
100KHz

RF I-V
1 MHz 1.8 GHz

I-V
10KHz 110MHz

Resonant
22KHz 30MHz 70MHz

Auto Balancing Bridge

5HZ 40MHz

1 10 100 1K 10K 100K 1M 10M 100M 1G 10G

Frequency (Hz)

TÉCNICAS DE MEDIDA –
CRITERIOS DE SELECCIÓN
z Puente auto-equilibrado: baja frecuencia, f < 40 MHz

z I-V: en circuito y puesta a tierra, frecuencias medias, 10 kHz < f <

110MHz

z RF I-V: medida de impedancia en alta frecuencia, 1 MHz < f < 1,8 GHz

z Análisis de redes: alta frecuencia, f > 1,8 GHz

z Resonante: Q alto y D bajo

z TDR: discontinuidades y características distribuidas

21
EJEMPLOS DE PRODUCTOS (HP)

Measurement Method HP Products Frequency range

Auto Balancing Bridge HP 4263A LCR Meter 100Hz to 100 kHz spot
(Four-Terminal Pair) 100Hz to 10MHz spot
HP 427xA LCR Meters
HP 4284A Precision LCR Meter 20Hz to 1MHz spot
HP 4285A Precision LCR Meter 75KHz to 30MHz
HP 4192A LF Impedance Analyzer 5Hz to 13MHz
HP 4194A Impedance/Gain-Phase 10Hz to 40MHz
Analyzer
Resonant (Q-Meter) HP 42851A Q Adapter ( with HP 4285A) 75KHz to 30 MHz

I-V (Probe) HP 41941A Impedance Probe (with 10KHz to 100MHz

HP 4194A)
HP 4193A Vector Impedance Meter 400KHz to 110MHz
RF I-V HP 4286A RF LCR Meter 1 MHz to 1 GHz
HP 4291A Impedance/Material Analyzer 1 MHz to 1.8 GHz

EJEMPLOS DE PRODUCTOS (HP)

(cont)
Measurement Method HP Products Frequency range

Network Analysis HP 4195A Network/Spectrum Analyzer 100 kHz to 500MHz

(Reflection Coefficient) with HP 41951A Impedance Test Set
HP 4396A Network/Spectrum Analyzer 100 kHz to 1.8 GHz
with HP 43961A Impedance Test Kit
HP 8751A Network Analyzer 5Hz to 500MHz
HP 8752C/8753D RF Network Analyzers 300KHz to 1.3GHz/6GHz
HP 8510B Network Analyzer 45 MHz to 100GHz
HP 8719C/8720C Network Analyzers 130MHz to 13.5GHz/20GHz

TDNA (TDR) HP 54121T Digitizing Oscilloscope and TDR

HP 8752C/8753D RF Network Analyzers
HP 8510B Network Analyzer
HP 8719C/8720C Network Analyzers

22
 OSCILOSCOPIO ANALÓGICO

z Pantalla: tubo de rayos catódicos (CRT).

z Representación dual de trazas:
– modo troceado (chopper): muestra a intervalos fijos un canal y otro.
– modo alternado (alternate): muestra por completo un canal antes de
cambiar al otro. Se pierde la sincronización entre ambas.

OSCILOSCOPIO ANALÓGICO

z Dos caminos principales de señal: vertical y horizontal.

z Todo (incluyendo el CRT) debe trabajar a la misma velocidad que la
señal de entrada;
z Los canales de entrada, generalmente, se multiplexan a un único camino
hacia el CRT (modo alternado y modo troceado).
z El camino horizontal es responsable del disparo (trigger):
z Aumentar ancho de banda significa aumentar el coste del CRT y reducir
su fiabilidad y exactitud.

23
 OSCILOSCOPIO DIGITAL

z En vez de amplificar la señal de entrada y usarla para alimentar el CRT,

el OSC digital toma muestras discretas de la señal y las reconstruye
posteriormente en la pantalla.

OSCILOSCOPIO DIGITAL
z CLAVES: conversor A/D, memoria, bloque de control, µ-procesador.
z VENTAJA FUNDAMENTAL: El CRT puede tener una ancho de
banda menor que el de la señal a medir.
z RESOLUCIÓN: dada aprox. por el número de bits utilizados para
muestrear.
V m
2 nº bits
−1
z Cada canal tiene un conversor A/D y una memoria ⇒ se pueden
muestrear a la vez todas las señales de entrada.
z MUESTREO:
– Teorema de Nyquist: 2fs < fm
– Filtrar de la señal de entrada las frecuencias mayores que fmax.
– Comprobar que la memoria almacena todas las muestras.

24
 OSCILOSCOPIO DIGITAL
z TIPOS DE MUESTREO:
– Muestreo en tiempo real (no repetitivo)
Vemos la señal tal cual es
Detectar cambios no permanentes
Señales no periódicas
Frecuencia máxima de señal limitada por ley de Nyquist.
– Muestreo aleatorio (repetitivo)
– Muestreo secuencial (repetitivo)
z MUESTREO REPETITIVO: supone que la señal se repite periódicam.
 Se suele incrementar la frecuencia de muestreo limitándola a la
resolución en la medida de los retardos ⇒ aumentar la frecuencia
máxima de las señales de entrada.
La señal a muestrear debe ser periódica.
Se pierden los ruidos o variaciones que pueda haber en un período.

25