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Los rayos X son una radiación electromagnética de la misma naturaleza que las ondas de
radio, las ondas de microondas, los rayos infrarrojos, la luz visible, los rayos ultravioleta y
los rayos gamma. La diferencia fundamental con los rayos gamma es su origen: los rayos
gamma son radiaciones de origen nuclear que se producen por la des excitación de
un nucleón de un nivel excitado a otro de menor energía y en la desintegración de isótopos
radiactivos, mientras que los rayos X surgen de fenómenos extra nucleares, a nivel de la
órbita electrónica, fundamentalmente producidos por desaceleración de electrones. La
energía de los rayos X en general se encuentra entre la radiación ultravioleta y los rayos
gamma producidos naturalmente. Los rayos X son una radiación ionizante porque al
interactuar con la materia produce la ionización de los átomos de la misma, es decir, origina
partículas con carga (iones).
Es una técnica aue sirve par determinar la estructura detallada de una material, es
decir, permite conocer la posición que ocupan os atomos,iones o moléculas que lo
forman, debido a este ordenamiento podemos determinar propiedades tanto físicas
como químicas de los materiles.
La difracción de rayos x puede proporcionar información detallada de la estructura
tridimensional en estado solido de muestran cristalinas de compuestos organicos,
inorgánicos y organometálicos, consistiendoes la descripción geométrica en
términos de distancias y angulos de enlace, angulos de torcion, etc.
También se puede obtener información sobre empaquetamientos, interacciones
intermoleculares,etc.
Los productos de petróleo son esenciales para casi todo el mundo. Para poder
mantener a las industrias petroleras andando, se necesita reducir la
acumulación de sarro. Ya sea que su interés sea en los sarros, recortes,
cementos, o lodos en la industria de extracción; el análisis de identificación de
fase mediante Difracción de Rayos X (DRX o XRD) es una herramienta muy
importante para la industria. La meta primaria de esta aplicación es
rápidamente identificar las fases contenidas dentro del material de muestra. Es
fácil efectuar la recopilación de datos con el MiniFlex en combinación con los
datos de reducción y el análisis de Búsqueda/Coincidencia usando el paquete
software Jade de MDI. Usando los estándares de referencia de la base de datos
del Centro Internacional de Datos de Difraccion (CIDD o ICDD), se pueden usar
las posiciones de los picos para determinar las fases contenidas dentro del
material analizado. En el patrón de difracción de rayos X a continuación, se
presenta una muestra primariamente compuesta de calcita. Sin embargo, si
uno no evalúa los datos cuidadosamente, podría no ver la moscovita. El cuadro
izquierdo es un acercamiento a la línea de 100% de moscovita contenida dentro
de la muestra.
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1 Ingeniería y Universidad
2 ISSN 0123-2126