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COMPLEMENTARIAS
1. ¿Qué características posee una tabla de propiedades para la
identificación mineral?
Una tabla de propiedades debe tener las siguientes características:
Contener información que facilita la identificación de los minerales opacos
más encontrados.
Involucrar nombre del mineral, fórmula química, sistema cristalino,
descripciones cuantitativas (reflectancia, microdureza) y descripciones
cualitativas como la dureza.
Debe derivarse de estudios previos, los cuales debería ser consultado para
mayor detalle e información de otros minerales.
Película
Laue Policromática Monocristal Simetría cristalina
fotográfica
Película
Giratorio u oscilante Monocromática Monocristal Parámetros cristalinos
fotográfica
Parámetros cristalinos
Intensidades difractadas
Difractómetro de Contador
Monocromática Polvo cristalino (Análisis cuantitativo de
polvo electrónico
fases cristalinas)
Identificación
5. ¿Cuáles son las aplicaciones de la difracción de rayos X?
La difracción de rayos X nos permite:
La difracción de rayos X es una técnica no destructiva de caracterización
de la estructura de los materiales cristalinos.
Determinar la estructura y composición de materiales.
Obtener espesores,densidad y rugosidad de películas nanométricas de
una capa y multicapas por reflectometría.
10. ¿Cuáles son las principales aplicaciones de las EMPA en las ciencias
geológicas?
Las principales aplicaciones de EMPA en geología son:
Análisis químico cuantitativo puntual de elementos mayores: con
esto se puede conocer la composición química general e identificar el
mineral.
Determinación de elementos trazas: permite la cuantificación de
elementos menores y trazas con un límite de detección entre 50 y 10 ppm.
Mapas de distribución de elementos: Se puede realizar un mapa de la
distribución de un elemento en un grano, mediante el barrido del haz
electrónico por todo el grano.
Perfiles de distribución de elementos: En este caso, el haz electrónico
o alternativamente el porta muestras, hacen un recorrido en la dirección
que se les indique y se posiciona el cristal analizador de forma que
difracte hacia el detector sólo este elemento.