Documenti di Didattica
Documenti di Professioni
Documenti di Cultura
1 OBJETIVOS
a. Obter uma familiarização inicial com transistores de efeito de campo (FET) do tipo metal-
óxido-semicondutor (MOSFET)
b. Analisar a resposta destes transistores
3 INTRODUÇÃO
______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
3º Quadrimestre de 2018
página 1
ESTA001-17 Dispositivos Eletrônicos
4 PROCEDIMENTOS EXPERIMENTAIS
4.1 Obtenção de pontos de operação para MOSFET Canal-N
Monte o circuito mostrado na Figura 3, utilizando o transistor MOS de canal-N que é acessível
através dos terminais 6-7-8 do chip CD4007, cuja pinagem é mostrada à direita. As conexões
mostradas entre alguns dos pinos do CI devem ser feitas para evitar que os outros transistores do
CI interfiram no resultado das medições. Nestas condições, varie a tensão Vds no intervalo de 0 a
5V enquanto mantém fixa a tensão Vgs em cada um dos seguintes quatro valores (1, 2, 3 e 4V).
Com os valores medidos, trace as correspondentes curvas Id X Vds parametrizadas por Vgs.
______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
3º Quadrimestre de 2018
página 2
ESTA001-17 Dispositivos Eletrônicos
Monte o circuito mostrado na Figura 4, utilizando o transistor MOS de canal-P que é acessível
através dos terminais 6-13-14 do chip CD4007. A correspondente pinagem é mostrada à direita e
as conexões mostradas entre os demais pinos do CI se justificam da mesma forma que no caso
anterior. Nestas condições, varie a tensão Vds no intervalo de 0 a 5V enquanto mantém fixa a
tensão Vgs em cada um dos seguintes quatro valores (1, 2, 3 e 4V). Com os valores medidos, trace
as correspondentes curvas Id X Vds parametrizadas por Vgs.
4.3 Questões
Há um valor de Vgs a partir do qual o transistor começa a conduzir?
Se sim, este valor depende do valor de Vds?
Referências:
1. BOYLESTAD, R. L.; NASHELSKY, L.; Dispositivos eletrônicos e teoria de circuitos,
Prentice-Hall, 8a Ed., 2004.
2. SEDRA, A. S.; SMITH, K. C.; "Microeletrônica", Prentice-Hall, 5a Ed., 2007.
3. MALVINO, A. P.; BATES, D. J.; "Eletrônica", vol. 1 e 2, McGraw-Hill, 7a Ed., 2007.
Notas:
• Atenção para a polaridade dos componentes.
• Em todos os experimentos, deve-se descrever o que ocorreu e explicar o motivo pelo qual
ocorreu o resultado verificado.
• Mantenha sua bancada organizada.
______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
3º Quadrimestre de 2018
página 3
ESTA001-17 Dispositivos Eletrônicos
Pré-relatório (Prática 6)
(entregar logo após a realização da experiência)
Nomes dos
Integrantes
do Grupo
______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
3º Quadrimestre de 2018
página 4