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10 Un estudio sobre el mejoramiento de la producción en una fábrica de semiconductores


proporciono datos de los defectos para una muestra de 450 placas de silicio. La siguiente tabla
presenta un resumen de las respuestas a dos preguntas “¿Se encontraron partículas en el
troquel que produjo la placa?”, y “¿la placa era buena o mala?”

CONDICIONES DEL TROQUEL


CALIDAD DE LA PLACA SIN PARTICULAS CON PARTICULAS TOTAL
BUENA 320 14 334
MALA 80 36 116
TOTAL 400 50 450

a. De un ejemplo de evento simple.


RTA: Los eventos simples son: “Placa buena”, “Placa Mala”, “Troquel sin partículas” y
“Troquel con partículas”
b. De un ejemplo de evento conjunto.
RTA: El evento “Placa buena y troquel con partículas” es un evento conjunto.
c. ¿Cuál es el complemento de una placa de silicio es buena?
RTA:
d. ¿Por qué una placa buena y un troquel con partículas es un evento conjunto?
RTA: Es un evento conjunto porque el ejemplo da dos características que debe
cumplir.