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Microscopia de Varredura
A Microscopia do Novo Milênio
Uilian Lucas de Souza – 9803051

I. INTRODUÇÃO e as de repulsão. As primeiras, chamadas de forças de van

Desde o século 17, quando o microscópio óptico foi
inventado, até meados do século 20, quando surgiram novos
tipos desses equipamentos, era impossível a visualização de
objetos de dimensões menores que alguns milésimos de
milímetros. Porém, a invenção dos microscópios de
varredura por sonda abriu o caminho para a realização em
escala nanoscópica e tridimensional de um velho sonho do
cientista: a visualização de átomos e moléculas.
No início da década de 1980, o físico alemão Gerd
Binning e o físico suíço Heinrich Rohrer estudavam as
forças que agiam entre elétrons da superfície de um metal e
uma ponta metálica nos laboratórios da empresa IBM, em
Zurique (Suíça). A pesquisa, inicialmente voltada ao estudo
das interações da matéria, iria se transformar em um dos
aparelhos mais fantásticos que existem atualmente: o
microscópio de varredura, que, pouco depois, daria origem
a uma grande família de equipamentos semelhantes, todos
usados para observar objetos em escala atômica.
der Waals, cuja origem é química, atuam a distâncias que
variam de 100 nanômetros a algumas unidades dessa
escala. Já as forças repulsivas agem quando a ponta entra
em contato com a superfície e têm sua origem no princípio
de exclusão de Pauli – em termos práticos esse princípio
impede que dois corpos ocupem o mesmo lugar no espaço.
Um esquema simplificado do microscópio AFM é
mostrado na figura 2, onde vemos a amostra – apoiada
sobre uma cerâmica especial (piezoelétrica) que serve para
posicioná-la – cuja superfície é percorrida por uma ponteira
suportada por um braço de apoio, chamado de cantilever.
Nesse braço, incide a luz de um laser, que se reflete na
superfície do cantilever, vai para um espelho e finalmente
alcança um fotodetector de quatro secções.

Aumento meio imagem danos

Óptico 103 ar, líquidos 2-D nenhum

varredura 104 Ar 2-D mínimos

laser

feixe de 105 vácuo 2-D graves

íons
Figura 2: Esquema de um microscópio de força atômica.
SEM 106 vácuo 2-D alguns
O fotodetector mede as deflexões do braço causadas pelas
rugosidades da amostra quando ela é varrida pela ponteira.
SPM liq.,ar, Os resultados dessas medidas são transferidos para um
109 3-D mínimos
(AFM) vácuo computador que, utilizando um software especificamente
feito para isso, transforma a informação em uma imagem
Figura 1: Tabela comparativa dos meios de magnificação
da superfície. Um exemplo é mostrado na figura 3, onde
existentes.
temos a imagem de um filme de grafite.
II. MICROSCÓPIO DE FORÇA ATÔMICA (AFM)

Nesta artigo iremos destacar o mais versátil integrante

desta família: o microscópio de força atômica (AFM). Seu
princípio de funcionamento é muito simples, e sua melhor
propriedade – não compartilhada com nenhum aparelho de
observação nessa escala – é a visão dos objetos em três
dimensões.
O AFM é composto basicamente por uma ponta (ou
sonda) que varre a superfície da amostra em estudo. Assim,
mede-se a força de interação entre os átomos da ponta e os
da superfície, e os resultados são transformados em imagens
da amostra, com a ajuda de recursos computacionais.
São várias as forças envolvidas nessa varredura, mas
fundamentalmente resumem-se em dois tipos: as de atração Figura 3: Imagem tridimensional de um filme de grafite.
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São inúmeras as aplicações que decorrem desse tipo de uma fina camada de metal pesado, por exemplo ouro, que
pesquisa. Investigar a superfície de uma amostra resulta no aumenta sua capacidade de reflexão de elétrons.
conhecimento de propriedades chamadas tribológicas, como As imagens formadas, são tridimensionais,
rugosidade, dureza, rigidez, elasticidade, atrito, entre dando conhecimento das topografias, das superfícies
outras, que serão usadas na indústria, por exemplo, para celulares ou das superfícies dos orgânulos celulares. A
obter revestimentos de alto impacto, películas protetoras, resolução do MEV está entre 3nm e 20nm, dependendo do
etc. instrumento utilizado.
A grande família de microscópios de varredura (SPM) é
conhecida também como família de sonda de campo
próximo, pois em todas as suas variações, utiliza uma
ponteira – para varrer a superfície a ser pesquisada – que
permanece muito próxima ou em contato com a superfície.
Isto permite a obtenção de imagens com resoluções que
chegam, no plano da superfície, a um domínio de
bilionésimo de metro (ou 1Å) e a 10Å na direção
perpendicular ao plano da amostra.
Com certeza, naquele início da década de 1980, Rohrer e
Binning não imaginavam que, ao investigar as forças entre
superfícies e pontas afiadíssimas, estariam criando a
microscopia do novo milênio, ao chegarem aos princípios
básicos do STM, que se consagrou como pai de toda a
família de novos microscópios. Em 1986, receberam o
Nobel de física por sua invenção.

III. OUTROS TIPOS MICROSCÓPIOS DE VARREDURA

Microscópio de força eletrostática (EFM): Quando
duas superfícies entram em contato, em geral intercambiam
cargas elétricas e, se depois se separam, ficam carregadas
com cargas opostas. Isto se observa nos eventos mais
corriqueiros do dia-a-dia, como quando passamos um pente
no cabelo. Apesar disto, os fenômenos de triboeletrificação
estão ainda por serem bem explicados.
Como resultado da interação atrativa entre a carga
superficial local e a carga imagem induzida sobre a
ponteira, o gradiente de força cresce na medida em que a
ponteira é varrida sobre a superfície carregada.
Microscópio de força magnética (MFM): Para
amostra e ponteira magnéticas, quando a ponteira se
aproxima da superfície da amostra dentro de uma distância
de 10 a 500mm, é possível perceber a interação magnética
da ponteira com o campo que emana da amostra. Neste
caso, é a força da interação magnética que determina a
deflexão do cantilever que, por sua vez, é monitorada pelo
sensor de deflexão do microscópio. A interação dipolar
magnética de longo alcance é em geral testada usando um
método de detecção de ac, ou seja, mede-se o gradiente de
força e sua derivada, enquanto se faz a imagem topográfica.
Figura 4: Imagem da estrutura atômica de um átomo de silício
IV. REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS
[1] UNESP – RIO CLARO – SP
Prof. Dr. Carlos de Almeida Nobrega e Eliana Maria Dietrich
Arrais
http://www.rc.unesp.br/igce/aplicada/labsem.html
[2] PUC – RIO DE JANEIRO – RJ
Prof. Sidnei Paciornik
http://www.dcmm.puc-rio.br/Cursos/MICQUANT/MEV/
[3] CAT - Coordenação de Atividades Técnicas – RIO DE
JANEIRO – RJ
http://mesonpi.cat.cbpf.br/e2002/cursos/NotasAula/AFM.pdf
[4] CBPF – Laboratório de Nanoscopia – Prof. Jorge Silvio
Helman
http://nanos.cbpf.br/
[5] J. I. Goldstein, Scanning Electron Microscopy and X-Rays
Microanalysis, Plenum Press, 1984.

Microscópio eletrônico de varredura (MEV): O aspecto

essencial deste tipo de microscópio é que um feixe de
elétrons extremamente estreito é usado para varrer o
espécimen, isto é, ele é movido para frente e para trás,
fazendo com que o espécimen emita elétrons, que são
chamados elétrons secundários. São estes elétrons, os
responsáveis pela formação da imagem que é construída em
seqüência no tempo, à medida que o material é varrido.
Para que este emita elétrons é necessário vaporizar sobre ele