Prática 01: Introdução à Plataforma NI-ELVIS II

Thiago Antônio Paiva da Silva, 201312060417, thiagopaivacefet@gmail.com

Matheus Guedes Nogueira Reis, 201312060387, matheusgnreis@gmail.com
Philipe Ferreira

Centro Federal de Educação Tecnológica de Minas Gerais, Minas Gerais, Brasil, 01 de setembro de 2016.

Resumo: Esta atividade prática visa o conhecimento de

alguma das principais funcionalidades da plataforma NI-
ELVIS II. Além disso, algumas das funcionalidades
conhecidas foram comparadas com as de um multímetro
digital e outro analógico, para fazer uma comparação
quantitativa e qualitativa dos três sistemas utilizados.
INTRODUÇÃO
Nos últimos anos, os instrumentos virtuais estão cada
vez mais presentes no meio acadêmico e industrial. Isso se
explica pelo fato de que esse tipo de instrumento pode ser
facilmente programado, apresenta custo reduzido e pode ser
utilizado através de interfaces gráficas de diversos tipos.
Seguindo este padrão, a National instruments
desenvolveu a plataforma NI-ELVIS II (National
Instruments – Educational Laboratory Virtual
Instrumentation Suite), que auxilia no projeto e na
prototipagem de instrumentos virtuais, e que é empregado
no laboratório da disciplina de sistemas de medição.
Esta atividade prática irá abordar uma das principais
funções da plataforma NI-ELVIS II, como por exemplo as
funções básicas de um multímetro digital (DMM), que
compreendem: voltímetro e amperímetro AC e DC,
ôhmimetro e capacímetro. Além das funções de um
multímetro será abordado a função de osciloscópio digital,
gerador de sinais, fonte de tensão variável e gerador de
gráfico de bode.
A atividade prática será composta por quatro etapas, são
elas:
1- Medição de resistência com o NI-ELVISII e um
multímetro digital convencional;
2- Medição de tensão com o NI-ELVISII, multímetro
digital convencional e um multímetro analógico baseado
em galvanômetro;
3- Geração de um sinal senoidal e a visualização do
mesmo através do osciloscópio utilizando o NI-ELVISII;
4- Medição de um circuito RC utilizando o
osciloscópio, gerador de sinais, e o analisador de bode do
NI_ELVISII.
OBJETIVO
Esta atividade prática tem como propósito promover o
conhecimento da plataforma NI-ELVISII, bem como
realizar a comparação de alguma das funcionalidades desta
plataforma com outras duas opções presentes no mercado:
os multímetros analógicos e digitais. A comparação entre
os instrumentos é feita baseada a análise da incerteza
associada a cada instrumento de medição.
MATERIAIS E MÉTODOS
Os materiais necessários para a realização da prática foram:
• Plataforma NI_ELVISII;
• Um multímetro digital (Fluke 179);
• Um voltímetro analógico;
• Cinco resistores com os respectivos valores e
tolerâncias:100kΩ∓5%, 1kΩ∓5%, 56kΩ∓1%,
5,6kΩ∓5%, 560Ω∓5%;
• Um capacitor de 22nF∓ 10%;
• Cabos e fios.
Os métodos utilizados para a realização da atividade prática
foram:
1- Medir e comparar com os respectivos valores de
referência o valor quatro resistências utilizando o NI-
ELVIS-II e o multímetro digital Fluke 179.
2- Dado o circuito da Fig. 1, será obtido um modelo
matemático para determinar a tensão no resistor R2 (tensão
𝑉# ), em seguida será aplicada a Lei da Propagação de
Incertezas para obter a incerteza padrão combinada
associada a 𝑉# .
Fig. 1. Circuito Divisor de Tensão
3- O circuito da Fig. 1 será montado com Vf =
10±0.1V, R1 = 56kΩ∓1% e R2 = 100kΩ∓5%. Em
seguida, a tensão 𝑉# será medida através do ELVIS, do
voltímetro digital e do voltímetro analógico, e serão
comparados os valores medidos e a incerteza associada a
cada instrumento.
4- O circuito da Fig. 1 será montado com Vf =
10±0.1V, R1 = 560Ω∓1% e R2 = 1kΩ∓5%. Em seguida, a
tensão 𝑉# será medida através do ELVIS, do voltímetro
digital e do voltímetro analógico, e serão comparados os
valores medidos e a incerteza associada a cada instrumento.

1
 5- Gerar um sinal senoidal 5 V de pico a pico numa Outro fator importante a ser abordado nessa análise
frequência de 10KHz utilizando o gerador de sinais é a calibração dos instrumentos de medição utilizados e a
(FGEN) do NI-ELVISII. Em seguida, o sinal gerado será repetibilidade das medidas realizadas. Como não estão
visualizado através do osciloscópio do ELVIS. disponíveis os dados de rastreabilidade dos instrumentos,
6- Medir e comparar o valor da capacitância do capacitor não existe nenhuma garantia de que a referência dos
de 22nF através do DMM do ELVIS e do multímetro digital. medidores está de acordo com o BIPM. Sendo assim, as
Medir também a resistência de 5,6kΩ∓5%. exatidões dos dois instrumentos não estão garantidas.
7- Implementar um circuito RC série com R =
5,6KΩ e C = 22nF, conforme mostra a Fig 2. Injetar o 2- A equação (3) modela matematicamente a relação
sinal ajustado pelo gerador de sinal no item 5 na entre a entrada 𝑉F e a saída V# .
entrada(VG). Medir simultaneamente a entrada (VG) e a
saída (VO) de sinal utilizando os dois canais do R2
V2 = *Vf (3)
osciloscópio do Elvis. R1 + R2
Derivando-se a equação (3) em relação à entrada obtém-se
a equação (4).
∂V2 R
=C1= 2 (4)
∂Vf R1 + R2
Derivando-se a equação (3) em relação à 𝑅# obtém-se a
equação (5).
∂V2 R1
=C2= 2 *Vf (5)
∂R2 (R1 + R2 )
Fig. 2. Circuito RC Série.
8- Obtenha a resposta em frequência do circuito da Fig. 2 Derivando-se a equação (3) em relação à 𝑅3 obtém-se a
do circuito atrabés do Bode Analyzer do ELVIS. Para isso, equação (6).
∂V2 -R2
assuma que a entrada está em VG e a saída em VO. =C3= *Vf (6)
∂R1 (R1 + R2 )2

RESULTADOS E DISCUSSÕES A incerteza combinada em relação à tensão V2 é dada

pela equação (7), onde U(Vf) é a incerteza relativa a
1- Os valores das resistências foram medidos através do entrada, U(𝑅# ) é a incerteza relativa a 𝑅# e U(𝑅3 ) é a
DMM do NI-ELVISII, na qual a incerteza, conforme consta no incerteza relativa a 𝑅3 .
manual pode ser descrita pela equação (1).
Uc 2 V2 =C12 U Vf 2 +C22 U R 2 2 +C32 U R 1 2
(7)
)*∗,-./0/1 23#∗'45676
𝑈&' = (1)
3*8 3- Para Vf=10V±100mV, R1 = 56 kΩ∓ 560Ω e R2 =
100 kΩ∓ 5 kΩ, tem-se:
Em seguida, os mesmos valores foram medidos através do C1=0,64, C2=23,01µ, C3=-41,09µ, U Vf =
voltímetro do Fluke 179, na qual a incerteza, de acordo com 100𝑚𝑉, U R 2 = 5𝐾 e U R 1 = 560.
o manual do instrumento, pode ser representada pela equação Portanto, 𝑈 𝑉# = 133,7𝑚𝑉 para um desvio padrão.
(2). Como a incerteza é dada em dois desvios padrão, temos:
U V2 =267,4mV e, portanto, V2=6,4102 V ∓ 267,4𝑚V.
,-./0/1
𝑈&: = 0,9 ∗ +𝐷 (2)
3**
Tabela 2. Valores de tensão obtidos durante as Medições

Em que D, que representa o dígito do instrumento, que vale V2 V2 medido (em V)

0,2Ω para a escala de até 600Ω ,1Ω para a escala até 6KΩ, esperado NI-ELVIS Multímetro Multímetro
10Ω para a escala até 60kΩ, 100Ω para medidas até 600KΩ
digital analógico
e 1kΩ para medidas de até 6MΩ.
6,4102V 6,3335 6,335 3,55
Tabela 1. Valores de resistência medidos com o ELVIS e o Fluke 179. ∓267,4𝑚𝑉 ∓214,006u ∓ 25,702m ∓ 60m
Resistor Valores medidos (Ω) Através da análise da Tabela 2, é possível observar que
DMM ELVIS Fluke 179 o valor de tensão obtido com voltímetro analógico destoou
100kΩ∓5kΩ 98,703k Ω∓ 8,11Ω 98,7kΩ∓988,3 Ω demasiadamente do valor esperado. Esta incoerência deve-
1kΩ∓50Ω 0,9862kΩ∓81,03𝑚Ω 0,986kΩ∓9,874Ω se principalmente pelo efeito de carga inserido pelo próprio
56kΩ∓560Ω 56,577kΩ∓ 5,16Ω 56,61kΩ∓519,4Ω voltímetro no circuito, uma vez que a resistência interna do
560Ω∓28Ω 0,57591kΩ∓52,313mΩ 575,8Ω∓ 5,3822Ω instrumento para a escala de tensão utilizada foi de 4kΩ.
Como os resistores do circuito também são da ordem de
Através da análise da Tabela 1, pode-se observar que kΩ, o voltímetro irá inserir um efeito de carga sobre o
tanto os valores medidos pelo multímetro e pelo ELVIS são circuito.
próximos ao valor nominal dos resistores. Além disso, observa-
se também que as incertezas associadas às medidas do ELVIS 4- Para R1=560Ω∓28 Ω e R2=1kΩ∓50Ω, tem-se:
são bem menores do que as indicadas pelo Fluke 179, o que C1=0,64, C2=2,3m e C3=-4,109m, U Vf =
mostra que a plataforma é mais precisa do que o multímetro 100𝑚𝑉, U R 2 = 50 e U R 1 = 28.
digital. Então 𝑈𝑐 # 𝑉# =30 e 𝑈 𝑉# = 349,6𝑚𝑉 para dois
desvios padrão.
2
 Os valores de tensão medidos estão na Tabela 3. A 7- O circuito foi montado conforme a Fig.
partir da análise da mesma, pode-se observar que como a
resistência interna do voltímetro analógico está maior do
que as dos resistores R1 e R2, o efeito de carga inserida por
esse instrumento é menor, e por isso os valores de tensão
medidos foram mais coerentes com o valor esperado do que
na tabela 2.

Tabela 3. Valores de tensão obtidos durante as Medições

V2 V2 medido (em V)
esperado NI-ELVIS Multímetro Multímetro
digital analógico
6,4102 6,3130 6,313 6,20
∓ 349,6𝑚𝑉 ∓213,329u ∓ 25,682m ∓60m Fig. 4. Sinal de entrada e saída do circuito RC.

A partir da análise do gráfico da Fig. 4 é possível inferir

As incertezas das tabelas 2 e 3 foram obtidas a partir
que a tensão do capacitor (sinal de saída) é menor e defasa
das equações (8), (9) e (10).
da tensão de entrada. O circuito se comparta como um filtro
𝑈:S7TU4 = (33 ∗ 𝑉WSXUXY + 0.5 ∗ 𝑅𝑎𝑛𝑔𝑒)/10a (8)
passa baixas.
:-./0/1 8- A resposta em frequência do circuito RC da Fig.
𝑈:F7bcS = 0,09 ∗ + 2 ∗ 0.01 (9)
3** 2 foi obtida através da função Bode Analyzer do ELVIS.
gbdXY XS S45676
𝑈:6d67ófU5Y = 0,5 ∗ (10) Na entrada do circuito foi aplicado FGEN, e a entrada do
3**
circuito foram monitoradas através dos canais analógicos
5- A Fig.3 mostra o sinal senoidal de 5Vpp e A0 e A1 respectivamente. Os dados foram salvos em
frequência de 10KHz sendo amostrado pelo osciloscópio do arquivo texto (.txt) e em seguida os dados utilizados para
plotar simultaneamente a resposta em frequência prática e a
esperada. Os gráficos podem ser vistos na Fig.5, e o
algoritmo utilizado na confecção dos mesmos se encontra
no Anexo 1.

ELVIS.
Fig. 3. Sinal gerado pelo FGEN sendo lido pelo SCOPE.

6- O capacitor e o resistor foram medidos pelos dois

instrumentos e os valores anotados na tabela 4.

Tabela 4. Valores de capacitância obtidos durante as Medições

Capacitância e Medições (em F e Ω

Resistencia respectivamente)
(Respectivamente) Plataforma Multímetro
NI-Elvis Digital
Cap 22nF∓2.2nF 22,6n∓ 0,226n 23n∓ Fig. 5. Resposta em frequência prática e esperada.
2,276n
5,6276 Os gráficos da Fig.5 mostra que os valores práticos são
Res 5,6kΩ∓5% 5.630kΩ∓5
discrepantes com relação aos valores esperados. Isto ocorre
kΩ∓0,514mΩ 1,67Ω
porque os componentes apresentam suas não idealidades,
ou seja, tanto o resistor quanto o capacitor apresentam
indutâncias, capacitâncias e resistências. Como essas não
idealidades não foram previstas no modelo teórico, é de se
esperar que os dois gráficos sejam diferentes.

CONCLUSÃO
Através da realização dessa atividade prática foi visto
que em um processo de medição se faz importante conhecer
os instrumentos utilizados. Isso porque é necessário saber
se o instrumento apresenta uma escala adequada para medir
3
o resultado esperado, se o instrumento está calibrado, as phase=phase';
incertezas envolvidas no processo e se o instrumento é ou figure(1)% Plot dos valores medidos e do esperado
não rastreável por alguma entidade competente. subplot(2,1,1);
Além disso, é preciso estar atento aos efeitos que os semilogx(Freq, Ganho,Freq,mag,'r')
instrumentos de medição podem provocar na grandeza que legend('Grafico de magnitude real','Grafico de
se deseja medir. Fenômenos como o efeito de carga e ação magnitude esperado')
dos intempéries vão comprometer a exatidão do ylabel('Magnitude(dB)')
instrumento. xlabel('Frequencia (Hz)')
Outro ponto importante a se destacar nesta atividade title('Diagrama de Bode')
prática foi a plataforma NI-ELVISII, que apresenta uma subplot(2,1,2);
incerteza associada relativamente pequena, e além disso, a semilogx(Freq, Fase,Freq, phase,'r')
interface amigável e simples de operar torna esse tipo de legend('Grafico de fase real','Grafico de fase
plataforma bastante convidativo para os profissionais da esperado')
área de Engenharia Elétrica e/ou Eletrônica. ylabel('Fase(º)')
xlabel('Frequencia (Hz)')
REFERÊNCIAS
[1] National Instruments, NI Educational Laboratory Virtual figure(2)%Plote do diagrama de bode completo
Instrumentation Suite II (NI-ELVIS II) User Manual, 2009, disponível bode(G)
em www.ni.com/manuals em 30/08/2015.
title('Diagrama de Bode esperado - Completo')
[2] National Instruments, NI-ELVIS II Specifications, 2009, disponível
em www.ni.com/manuals em 30/08/2015.

[3] S. Tumanski, Principles of electrical measurement, CRC Press,

2006.

[4] I. Lira, Evaluating the measurement uncertainty: Fundamentals and

practical guidance, Institute of Physics Publishing, 2002.

[5] J. W. Nilsson & S. A. Riedel, Circuitos Elétricos, 5ª Ed., LTC, 1999.

[6] Santos,Guilherme Vianna, Prática 01: Introdução à Plataforma NI

–ELVIS. Setembro 2015.

ANEXO 1
Programa método 8.

clear all
clc
close all
% Nesta parte o arquivo é aberto e armazenado na
variável A
arquivo = fopen('BODE.txt');
A = fscanf(arquivo,'%f',[3 Inf]);
fclose(arquivo);
A=A';%Transposta de A. Agora A tem 3 colunas.
%Separa a matriz A em 3 vetores referentes a
Frequencia, Ganho e Fase do sinal
Freq=A(1:107,1);
Ganho=A(1:107,2);
Fase=A(1:107,3);
G=tf(1,[560*22e-9 1]);%Função de transferencia
esperada
%Aqui as informações de frequencia, ganho e fase
da função G são tratados
%para podermos plotar num mesmo gráfico a
resposta esperada e a medida
[mag1,phase1] = bode(G,Freq);
for i=1:107
mag(i)=20*log10(mag1(i));
phase(i)=phase1(i);
end
mag=mag';