UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA

MAESTRÍA EN INGENIERÍA – ESTRUCTURAS

PATOLOGÍA DE ESTRUCTURAS
ESTUDIANTE: CESAR DAVID CASTAÑEDA INFANTE C.C. 1049630351
TAREA 2

ANÁLISIS DE MUESTRAS DE POLVO DE CEMENTO

Una parte importante de cualquier estudio de patología de una estructura de concreto es la
toma debida de muestras, a fin de determinar las causas y posibles soluciones a los diferentes
problemas de durabilidad que pueden experimentar los elementos que la conforman. En este
sentido, dependiendo del tipo de elemento estudiado, así como de la facilidad de la toma, es
posible optar por alguno de los tres tipos de muestras, cada uno de los cuales tiene su propio
nivel de complejidad. Del mismo modo, debe considerase la información que se desea obtener
a partir del estudio. En este orden de ideas, existen tres opciones principales, practicar una
regata en el elemento, extraer un núcleo de concreto o simplemente tomar una muestra de
polvo de cemento. Cada tipo de muestra aportará diferentes tipos de información al ingeniero
patólogo, dependiendo de los ensayos que se le practiquen y la aplicación de una técnica de
análisis no excluye el uso de otra; en este documento se resumen algunos de los métodos más
comunes de análisis de muestras de polvo de cemento.

1. FLUORESCENCIA DE RAYOS X
Es una de las técnicas más ampliamente utilizadas en el análisis electroquímico de muestras de
cemento, la cual se sirve de algunos fundamentos de la fisicoquímica para determinar los
minerales presentes en una muestra. En los apartados siguientes, se explica a grandes rasgos el
proceso de emisión de fluorescencia de rayos x.

De acuerdo al modelo atómico de Bohr, el átomo de cualquier elemento posee un núcleo de

carga positiva y un número determinado de electrones de carga negativa que giran alrededor
de dicho núcleo, siguiendo unas órbitas de energía definida. Cada órbita puede albergar un
número máximo de electrones, el cual aumenta conforme la órbita en cuestión está más lejos
del núcleo. Así La órbita más cercana al núcleo, denominada capa K, tiene lugar para un máximo
de 2 electrones. El siguiente orbital (capa L), puede albergar hasta 8 electrones, la capa M, aloja
un máximo de 18, etc. Como el átomo de cada elemento químico tiene un número específico de
electrones, consecuentemente posee un proporcional nivel de energía característica asociada a
cada nivel orbital, en este sentido la energía característica del átomo de un elemento específico
es diferente a la del átomo de otro elemento.

Por otro lado, cuando un átomo de un elemento específico es bombardeado con partículas
elementales con la capacidad de producir perturbaciones en su estructura electrónica, es
posible que uno de los electrones sea quitado de su respectivo nivel energético. El vacío que
deja dicho electrón es ocupado de inmediato por otro electrón de un orbital superior. Esta
“caída” de un electrón de una capa superior a una inferior causa una emisión de radiación
electromagnética, Rayos X. Las partículas usadas para bombardear y excitar el átomo en
cuestión, pueden ser de diversa naturaleza, incluso otros rayos x1, los cuales tienen la suficiente
energía para arrancar un electrón de alguno de los orbitales más bajos, más cercanos al núcleo
(Capas K, L ó M), cuando esto sucede, la radiación producida por la caída del electrón recibe el
nombre de Radiación X de fluorescencia2 (del Campo Galarza).

Figura 1. Fluorescencia de Rayos X. (What is XRF? An introduction to this versatile technology, 2018).

Una vez lograda la emisión de la fluorescencia de Rayos X, es posible traducir en tensión eléctrica
la energía radiante. La magnitud de la tensión eléctrica está en función de la cantidad de energía
radiada, y al mismo tiempo es proporcional a la concentración del elemento en la muestra
bombardeada por el haz primario de Rayos X.

Siguiendo los principios arriba descritos, es posible determinar la concentración de una

considerable gama de elementos químicos, en una muestra de cemento, haciendo uso de un
equipo conocido como Espectómetro XRF (X Ray Florescence Spectometer). Pese a que la
potencia y capacidad de los equipos puede variar, en términos generales, es posible hallar la
concentración de silicio, aluminio, hierro, calcio, magnesio, azufre, titanio y manganeso, entre
otros.

2. DIFRACCIÓN DE RAYOS X
Otra técnica que permite determinar la concentración de determinados elementos en una
muestra de cemento (en general, cualquier muestra pulverizada de un material sólido cristalino)
es la Difracción de Rayos X (DRX). Dicha técnica se basa en la detección de la presencia de fases
cristalinas presentes en la muestra. Estas fases cristalinas pueden tener una composición
química diferente a la de la muestra, o bien, tener la misma composición, pero una estructura
cristalina diferente. A esto hay que sumarle la sencilla preparación de la muestra, la cual consiste

1
Se conoce como Haz Primario de Rayos X, al usado para causar la excitación de los electrones el elemento
estudiado.
2
También se le conoce como Haz Secundario de Rayos X.
en pulverizar y prensar, lo que convierte a éste, en un procedimiento fundamental en el estudio
de materiales sólidos cristalinos.

La DRX puede aplicarse como un procedimiento complementario a la fluorescencia de rayos X,

dado que las dos técnicas pueden aplicarse sobre la misma preparación (pastillas prensadas de
la muestra pulverizada). Esto resulta bastante útil en procesos donde intervienen materiales
policristalinos que han de ser controlados mediante análisis químico elemental y de fases
mineralógicas.

En laboratorios industriales como los de las fábricas de cemento, se suele contar con equipos
(difractómetros) para aplicar la técnica de DRX en muestras de producción. En un principio, esta
tecnología se implementó a fin de sustituir métodos de análisis menos eficientes en cuanto a
tiempo y recursos. Una de las primeras aplicaciones en fábricas de cemento fue el análisis
cuantitativo de CaO (cal libre) en clínker, seguida de la detección de carbonatos en los cementos,
entre otros procedimientos.

La DRX permite el análisis cualitativo y cuantitativo de diversas muestras y fases, dentro de

dichas fases pueden incluirse las fases características del clínker (C3S, C2S, C3A, C4AF).
Dependiendo del equipo disponible en el laboratorio, es posible realizar el análisis de fases de
manera automatizada, mediante un proceso de comparación con bases de datos
internacionales3, las cuales cuentan con información de una extensa variedad de fases
cristalinas; para esto se requieren programas dedicados exclusivamente a dicho propósito.

Figura 2. Ejemplo de difractograma de una muestra de cemento (Y:Yeso, CC: calcita, SC: silicatos de calcio, AC:
aluminatos tricálcicos). Tomado de (Giraldo, Mendoza, Tobón, Restrepo, & Restrepo, 2010)

El procedimiento de Difracción de Rayos X arroja una gráfica conocida como difractograma

sobre la cual se identifican las fases del cemento, presentes en la muestra. Con base en el
difractograma completo, en un amplio rango angular que contenga la mayoría de las refelxiones
de la muestra, es posible llevar a cabo un análisis cuantitativo sin la necesidad de patrones. Para
lograrlo se usan programas basados en el método de Rietveld. Dicha metodología consiste en

3
Fichero JCPDS (Joint Comittee on Powder Diffraction Standards) elaborado por el ICDD (International
Centre for Diffraction Data). Esta base de datos se actualiza anualmente e incluye un subfichero
especializado en fases del cemento.
simular difractogramas, a fin de compararlos con los difractogramas calculados y los reales
(Matesanz Saez, 1997).

3. MÉTODO DE RIETVELD
Como se mencionó anteriormente, la Difracción de Rayos X (DRX) es ampliamente utilizada en
la industria del cemento para la caracterización estructural y Análisis Cuantitativos de Fases. Sin
embargo, dicha técnica ostenta algunas dificultades a la hora de identificar las fases presentes
en muestras policristalinas4, las cuales presentan picos de difracción que se solapan, y por lo
tanto dificultan hacen difícil la identificación de su estructura cristalina. Atendiendo a ésta
dificultad, surge el método de Rietveld como una técnica de refinamiento con la capacidad de
determinar con más precisión parámetros estructurales de la muestra, a partir de la
construcción de un modelo teórico que se ajusta al patrón de difracción experimental, haciendo
uso del método de mínimos cuadrados (Ramón García, 2007).

La función que se minimiza por mínimos cuadrados se denomina residuo y se calcula con la
siguiente ecuación:

2
𝑆𝑦 = ∑ 𝑊𝑖 (𝑦𝑖(𝑜𝑏𝑠) − 𝑦𝑖(𝑐𝑎𝑙𝑐) )
𝑖

En la ecuación anterior, 𝑦𝑖(𝑜𝑏𝑠) y 𝑦𝑖(𝑐𝑎𝑙𝑐) son las intensidades experimentales y calculadas en el

punto 𝑖 del patrón de difracción, mientras que 𝑊𝑖 es el peso respectivo, dado a dichas
intensidades. La sumatoria indica que el cálculo se realiza sobre todos los puntos del patrón de
difracción. El refinamiento consiste entonces en encontrar los valores óptimos de todos los
parámetro, que conduzcan a que 𝑆𝑦 adopte un valor mínimo.

En materiales que tienen una gran cantidad de fases, como el cemento y el clínker, se da un
fenómeno denominado orientación preferencial5, la cual modifica las intensidades relativas de
ciertas reflexiones, conduciendo en ocasiones a valores porcentuales incorrectos, de
composición mineralógica obtenidos a partir de la DRX (Pannunzio Minner, Villegas Sanzana, &
Carbonio, 2003). En específico, allgunos autores han demostrado que se da una fuerte OP para
el silicato tricálcico (C3S). Usando el análisis Rietveld, es posible refinar los resultados que
presentan orientación preferencial, además de determinar con certeza la o las variedades
estructurales de cada uno de los compuestos del material.

Otra ventaja de la metodología Rietveld es la posibilidad de identificar fases minoritarias

presentes en las muestras, como sulfatos alcalinos, oxycarbonatos, etc, las cuales no
necesariamente, deberían estar presentes en el cemento.

4
Un material policristalino es un conglomerado de pequeños cristales de cualquier sustancia,
denominados cristalitas o granos cristalinos, por su forma irregular.
5
En las películas policristalinas, en ocasiones el material que se deposita, cristaliza con cierta dirección
preferencial.
4. MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO
La microscopía electrónica de barrido tiene un papel importante en la caracterización de las
microestructuras de estos materiales. El clinker de cemento, el cemento, la pasta de cemento
endurecido y el concreto se pueden estudiar en el microscopio electrónico de barrido (MEB) de
una manera similar a la microscopía óptica (MO). Si bien hay superposiciones en las capacidades,
el SEM tiene una serie de ventajas claras en la creación de imágenes y la medición, incluyendo
A) la capacidad de producir imágenes de alta resolución con una profundidad de campo
relativamente grande; B) suficiente contraste en las secciones pulidas por imágenes para
estudiar fácilmente la abundancia y distribución de la fase; C) generación de imágenes de la
distribución espacial de los elementos D) descripción cuantitativa de las imágenes mediante el
procesamiento y análisis de imágenes; y E) análisis químico cuantitativo.

El MEB produce y escanea un haz de electrones finamente enfocado a través de la muestra y

mide las señales resultantes de su interacción con ésta. Las señales comunes empleadas en el
análisis de MEB incluyen electrones secundarios para obtener imágenes de la topografía de la
superficie; electrones retrodispersados para resaltar las diferencias de composición; y rayos X
para determinar la composición elemental de la muestra (Stutzman, 1994).

La generación de imágenes a partir de electrones retrodispersados (Backscattered Electrons6)

es una técnica ideal para distinguir fases en una microestructura cuando se usan superficies
planas y pulidas, y se conoce comúnmente como generación compositiva de imágenes. El
contraste de la imagen es generado por composiciones de diferentes tipos en relación con su
número atómico promedio ponderado. La intensidad de señal BE, el coeficiente de electrones
retrodispersados, es la relación entre el número de electrones retrodispersados y el del rayo
incidente en la superficie de la muestra (Stutzman, 1994).

La superficie pulida necesaria para la formación de imágenes de BE también es ideal para el

análisis cuantitativo de características microestructurales. Las imágenes son monocromas ya
que reflejan el electrón o el flujo de rayos X resultante de la interacción haz / espécimen. Las
imágenes de rayos X y electrones retrodispersados son los métodos de generación de imagen,
más útiles para la microscopía. La radiación X se produce cuando una muestra es bombardeada
por electrones de alta energía. El nivel de energía de los rayos X se muestra como el número de
conteos en cada nivel de energía y se representa como un conjunto de picos sobre un fondo
continuo. Las posiciones de los picos son características de un elemento particular, por lo que la
identificación se realiza mediante las posiciones de los picos y las intensidades relativas. La señal
de rayos X se puede usar de varias maneras: A) análisis de espectro para determinar qué
elementos están presentes y en qué concentración; B) análisis de escaneo de línea para mostrar
los cambios de concentración relativa a lo largo de una línea; C) generación de imagen por rayos
X de la distribución espacial elemental y concentraciones relativas, y D) como ayuda en la
identificación de fase. La concentración de masa a unas pocas décimas de porcentaje puede
detectarse usando un detector de rayos X dispersivo de energía (Stutzman, 1994).

6
Son electrones de alta energía que se originan en el haz de electrones, que se reflejan o dispersan de
nuevo desde el volumen de interacción de la muestra mediante interacciones de dispersión elástica con
los átomos de la muestra.
El análisis microscópico de clinker y cemento brinda información no solo sobre qué fases están
presentes, sino también sobre su abundancia, distribución, forma y tamaño de los cristales, y
porosidad. La microscopía óptica se ha utilizado tradicionalmente para estudiar clinker y
cemento. Sin embargo, el grabado utilizado en microscopía óptica para ayudar a la identificación
de fase produce un alivio de la muestra a menudo mayor que la profundidad del foco. Para los
cementos, el grabado puede disolver las partículas de tamaño más fino. El examen de secciones
pulidas de clinker y partículas de cemento se puede lograr de manera similar usando imágenes
de MEB y no se requiere grabado superficial.

En resumen, la importancia de la Microscopía Electrónica de Barrido, en la petrografía de

cemento y concreto radica en su capacidad de generar imágenes y realizar mediciones en
características microestructurales y en análisis químicos cualitativos y cuantitativos. La
generación de imágenes a partir de elctrones retrodispersados y rayos X de superficies pulidas
produce imágenes con suficiente contraste como para poder observar las fases. El análisis de
imágenes por computadora facilita la caracterización de la microestructura. El análisis de rayos
X se puede utilizar para la identificación de fases y el análisis químico cualitativo y cuantitativo.
Estas capacidades hacen de la MEB una valiosa adición al laboratorio de petrografía (Stutzman,
1994).

Bibliografía
del Campo Galarza, M. (s.f.). Aplicaicón de la fluorescencia de rayos X en el Laboratorio Central
de Ensayo de Materiales de Construcción. Materiales de Conctrucción.

Giraldo, C., Mendoza, O., Tobón, J. I., Restrepo, O., & Restrepo, J. C. (2010). Durabilidad del
cemento Portland blanco adicionado con pigmento azul ultramar. Grupo del Cemento
y Materiales de Construcción - Universidad Nacional de Colombia.

Matesanz Saez, E. (1997). La difracción de rayos X en la industria del cemento. Philips

Instrumentación Electrónica S.A.año.

Pannunzio Minner, E. V., Villegas Sanzana, M. d., & Carbonio, R. E. (2003). Análisis cuantitativo
de las fases presentes en cemento portland y clínker por medio de Análisis Rietveld de
patrones de Difracción de Rayos X de polvos. Matéria.

Ramón García, L. (2007). Introducción al Método de Rietveld. Centro de Investigación en

Energía - UniversidadAutónoma de México.

Stutzman, P. E. (1994). Applications of Scanning Electron Microscopy in Cement and Concrete

Petrography. American Society for Testing and Materials.

What is XRF? An introduction to this versatile technology. (2018). Obtenido de EASTERN

applied research inc : http://www.easternapplied.com/XRF-Technology-Overview