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Cartas Contro1l
Cartas Contro1l
0.85
0.80
0.75
0.70
0.80
0.75
0.70
0.65
0.60
0.55
0.50
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 2
muestra de cada subgrupo es de cinco y se toman 25 subgrupos a intervalos de 1Hr.
0.75
0.65
0.55
0.45
Media
0.65
0.55
0.45
Media
LIC
LC
LCS 0.35
0.25
0.15
0.05
17 18 19 20 21 22 23 24 25 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19
Column L
Column L
Column M
Column N
Column O
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
Se registran el peso diario durante dos semanas. Realizar la grafica de control X -S
〖���〗 _𝑥=𝑝𝑟𝑜𝑚.𝑝𝑟𝑜𝑚�+𝐴3𝑑𝑒𝑠𝑆
〖
〖���〗 _�=𝑝𝑟𝑜𝑚�+�3𝑑𝑒𝑠�
〖� 〖 _𝑠=𝐵_4 promedesv(
�� 〗 S)
〖
〖���〗 _�=�_3 promedesv(S)
LCS S LIC LC LCS muestra: 5
14.785 0 1.5 3.7527 A2= 0.577
14.313 0 1.5 3.0528 D3= 0
14.394 0 1.5 3.3114 D4= 2.114
13.133 0 1.5 3.7527
13.622 0 1.5 3.0528
13.133 0 1.5 3.7527
30
12.831 0 1.5 3.7527
11.817 0 1.5 3.3114
25
11.886 0 1.5 3.0528
13.861 0 1.5 3.7527
20
Column H
Column I
15
Column J
#DIV/0! Column K
B4 10 Column L
2.568
2.266 5
2.089
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Column H
Column I
Column J
Column K
Column L
9 10
Se mide la pureza de un producto químico en cada lote. Las determinaciones de la pureza para 20 lotes sucesivo
control de Mediciones individuales y rangos móviles
-En la siguiente tabla tenemos el número de defectos por unidad observados en 26 muestras sucesivas
de 100 filtros de seguridad. Construir el grafico c y dar su interpretación.
Filtro Defectos Ci
1 21
2 24
3 16
4 12
5 5
6 28
7 20
8 31
9 25
10 20
11 24
12 16
13 19
14 10
15 17
16 13
17 22
18 18
19 39
20 30
21 24
22 16
23 19
24 17
25 15
n 26 muestras sucesivas
4. En una fabrica se ensamblan artículos electrónicos y al final del proceso se hace una inspección por muestreo
En la siguiente tabla se presenta el número de defectos observados en muestreos realizados en 24 lotes consecu
de control u e interpretarla.
Tamaño de
Lote Muestra Defectos encontrados
1 20 17
2 20 24
3 20 16
4 20 26
5 15 15
6 15 15
7 20 15
8 25 18
9 25 18
10 25 10
11 25 25
12 30 21
13 40 30
14 30 24
15 30 26
16 30 20
17 30 30
18 30 24
19 15 11
20 15 14
21 15 10
22 17 15
23 18 15
24 20 15
una inspección por muestreo para detectar defectos relativamente menores.
ealizados en 24 lotes consecutivos de piezas electrónicas. Construir una carta